本发明专利技术涉及一种石墨导瓦内圆精研测量装置，底座(1)与表架支座(8)通过螺栓和定位销固定，底座(1)上固定有第一挡板(3)、第二挡板(4)，可调支座(2)位于两个表架支座(8)之间，通过第一挡板(3)和第二挡板(4)上带有螺钉，第一挡板(3)上的第一螺钉(18)顶装在可调支座(2)横向位置，第二挡板(4)上的第二螺钉(19)顶装在调支座(2)纵向位置。本发明专利技术采用将导轴承瓦基固定在可调支座上，通过微调可调支座位置至导轴承瓦基圆弧轴线与百分表的转轴轴线重合，再将石墨导瓦装入导轴承瓦基，利用摇柄带动转轴上连接的百分表转动实现测量石墨导瓦内圆的目的。的目的。的目的。
【技术实现步骤摘要】
石墨导瓦内圆精研测量装置
[0001]本专利技术涉及一种石墨导瓦内圆精研测量装置
技术介绍
[0002]电机轴承石墨导瓦内圆弧面加工是轴承加工过程中的关键工序，研磨精度直接影响轴承的性能以及使用寿命，整圆的石墨导瓦内圆加工难度相对较小，通过精密加工设备可以保证石墨导瓦内圆的尺寸和形位公差精度，但大型电机石墨导瓦通常采用分体结构，分体后加工易产生变形。现有石墨导瓦精研有以下方法实现：将石墨导瓦在产品轴或工具轴上滑动研磨，实现研磨内圆的目的，每次精研后要利用产品轴套或工具轴外圆涂抹着色剂，利用石墨导瓦内圆与轴套外圆接触查看着色区域来检查高点和低点区域，再通过标记后利用精研轴对高点区域进行研磨，此工艺方法耗时较长，通常需要反复多次涂抹并擦除着色剂，来查看研磨效果，工作效率较低。
技术实现思路
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[0003]本专利技术的目的是提供一种石墨导瓦内圆精研测量装置，能够解决石墨导瓦研磨圆弧面检测效率低的问题。
[0004]本专利技术目的技术方案为：一种石墨导瓦内圆精研测量装置，底座(1)与表架支座(8)通过螺栓和定位销固定，底座(1)上固定有第一挡板(3)、第二挡板(4)，可调支座(2)位于两个表架支座(8)之间，通过第一挡板(3)和第二挡板(4)上带有螺钉，第一挡板(3)上的第一螺钉(18)顶装在可调支座(2)横向位置，第二挡板(4)上的第二螺钉(19)顶装在调支座(2)纵向位置；可调支座(2)上端是V型支架结构，V型支架上安装固定挡板(6)和轴向固定挡板(7)用于固定导轴承瓦基(11)，可调支座(2)四角位置安装用于微调可调支座(2)水平的调节螺钉(5)，第三螺钉(15)配装在可调支座(2)与底座(1)之间，表架支座(8)之间安装转轴(10)。
[0005]转轴(10)上套有滑套(14)，通过旋钮(12)将转轴(10)与滑套(14)两者固定，百分表(11)通过可调表架(13)与滑套(14)进行连接，转轴(10)一端安装摇柄(9)。
[0006]本专利技术工作原理：
[0007]如图1所示，本专利技术利用百分表(11)测量石墨导瓦(17)内圆圆柱度，通过将导轴承瓦基(16)与可调支座(2)固定，利用底座(1)上固定的第一挡板(3)和Y轴挡板(4)上的螺钉对导轴承瓦基(16)进行微调，并利用可调支座(2)四角上的调节螺钉(5)调节导轴承瓦基(16)轴线水平，将导轴承瓦基(16)内圆轴线调整至于转轴(10)轴线重合后，利用螺钉(15)将可调支座(2)与底座(1)固定，将石墨导瓦(17)滑入导轴承瓦基(16)内，通过旋转转轴(10)利用百分表(11)测量石墨导瓦(17)内圆圆柱度，通过松开旋钮(12)，滑动滑套(14)可测量沿转轴(10)轴向各点不同截面的圆度，并得出石墨导瓦(17)内圆圆柱度，利用记号笔标记高点区域，将石墨导瓦(17)从导轴承瓦基(16)滑出后，对高点区域进行研磨，研磨后重新进行测量。
[0008]本专利技术工作过程：
[0009]首先将导轴承瓦基(16)位于可调支撑(2)上，利用圆周固定螺钉(6)和轴向固定螺钉(7)进行限位，利用第一挡板(3)和第二挡板(4)上螺钉以及调节螺钉(5)调整，配合沿转轴(10)旋转百分表(11)，将导轴承瓦基(16)内圆中心调整至于转轴(10)同轴，利用螺钉(15)将可调支撑(2)与底座(1)进行固定，将石墨导瓦(17)滑入导轴承瓦基(16)内，使石墨导瓦(17)外圆与导轴承瓦基(16)内圆完全贴合，转动摇柄(9)利用百分表(11)测量石墨导瓦(17)内圆，测量后标记石墨导瓦(17)高点区域，将石墨导瓦(17)从导轴承瓦基(16)滑出后进行研磨，研磨后重复之前利用百分表(11)测量石墨导瓦(17)内圆测量过程，直至内圆圆柱度测量合格，至此完成全部操作过程。
[0010]本专利技术具有的有益效果：
[0011]1、通过一次调整导轴承瓦基(16)操作，可实现对石墨导瓦(17)的多次反复测量，并且测量操作简单，从而减少了制造周期。
[0012]2、相较与现有表面着色的研磨检查方法，利用百分表(11)检测可取得高低点的数值，可以为石墨导瓦(17)的研磨提供参考。
[0013]本专利技术通过将导轴承瓦基(16)与可调支座(2)进行限位，通过调整可调支座(2)与表架支座(8)上转轴(10)轴线与导轴承瓦基(16)轴线重合，转动摇柄(9)带动百分表(11)测量石墨导瓦(17)内圆圆柱度的方式，实现对石墨导瓦(17)研磨工序的配合测量操作，通过简化了测量操作过程，减少了石墨导瓦(17)内圆研磨工序中测量所需时间，降低了石墨导瓦的制造成本。
附图说明
[0014]图1为本专利技术的结构示意图；
具体实施方式
[0015]如图1所示，一种石墨导瓦内圆精研测量装置，底座1与表架支座8通过螺栓和定位销固定，底座1上固定有第一挡板3、第二挡板4，可调支座2位于两个表架支座8之间，通过第一挡板3和第二挡板4上带有螺钉，第一挡板3上的第一螺钉18顶装在可调支座2横向位置，第二挡板4上的第二螺钉19顶装在调支座2纵向位置；可调支座2上端是V型支架结构，V型支架上安装固定挡板6和轴向固定挡板7用于固定导轴承瓦基11，可调支座2四角位置安装用于微调可调支座2水平的调节螺钉5，第三螺钉15配装在可调支座2与底座1之间，表架支座8之间安装转轴10。
[0016]转轴10上套有滑套14，通过旋钮12将转轴10与滑套14两者固定，百分表11通过可调表架13与滑套14进行连接，转轴10一端安装摇柄9。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种石墨导瓦内圆精研测量装置，其特征是：底座(1)与表架支座(8)通过螺栓和定位销固定，底座(1)上固定有第一挡板(3)、第二挡板(4)，可调支座(2)位于两个表架支座(8)之间，通过第一挡板(3)和第二挡板(4)上带有螺钉，第一挡板(3)上的第一螺钉(18)顶装在可调支座(2)横向位置，第二挡板(4)上的第二螺钉(19)顶装在调支座(2)纵向位置；可调支座(2)上端是V型支架结构，V型支架上安装固定挡板(6)和轴向固定挡板(7)用...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄秀波，于勇，李函霖，尚书鹏，王均馗，曲建，曹磊，
申请(专利权)人：哈尔滨电气动力装备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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