本发明专利技术公开了一种用于北斗导航芯片的插口测试装置，属于插口测试装置技术领域。一种用于北斗导航芯片的插口测试装置，包括测试主体，测试主体左侧下端设有调节盒，转盘上侧呈环形等间距设有多个固定块，夹板内侧夹设有待测插口，缺口圆盘圆周外壁一侧设有摇臂，转轴中部套接有半球形槽轮，半球形槽轮上侧圆周外壁呈环形等间距开设有过个弧形槽，弧形槽与缺口圆盘滑动连接，结构间的紧密配合，使其可以对多个芯片插口进行间接测试，有效的避免了每次测试完一个插口再更换一个的情况，从而提高了芯片插口测试的效率，减轻了工作人员的负担，同时避免了反复更换造成芯片插口损坏的情况，有效得节约了成本。有效得节约了成本。有效得节约了成本。
【技术实现步骤摘要】
一种用于北斗导航芯片的插口测试装置
[0001]本专利技术涉及插口测试装置
，更具体地说，涉及一种用于北斗导航芯片的插口测试装置。
技术介绍
[0002]随着科技的进步和发展，芯片的发展迅速，芯片，又称微电路(microcircuit)、微芯片(microchip)、集成电路(英语：integrated circuit,IC)。是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分。芯片一般是指集成电路的载体，也是集成电路经过设计、制造、封装、测试后的结果，通常是一个可以立即使用的独立的整体。
[0003]近年来，随着我国卫星导航定位技术的快速发展和应用，北斗芯片作为卫星导航定位技术的基础和核心，北斗芯片包含了RF射频芯片，基带芯片及微处理器的芯片组，相关设备通过北斗芯片，可以接受由北斗卫星发射的信号，从而完成定位导航的功能，不同领域对北斗芯片需求量越来越大，为了保证北斗芯片的功能和性能，北斗芯片出厂前的测试必不可少，所以一种既安全又操作方便的北斗芯片测试装置显得尤为重要。现有技术公开号为CN111649928A的文献提供一种用于北斗导航芯片的插口测试装置，该装置存在下列问题：1、该装置通过设置芯片插口公母件，再通过对准来插入测试，结构极其复杂，作用意义很小，会出现对不准的情况，直接造成芯片插口公母件的损坏，导致不仅不能完成测试，还造成了严重的损失；2、该装置每次测试一个后再刚换一个芯片插口，效率极低，满足不了需求；3、该装置在测试完毕待测插口后，需对待测插口进行一定的装置调节，不能自动收回到原位，从而进行下一个待测插口的测试，降低了测试的效率，鉴于此，我们提出一种用于北斗导航芯片的插口测试装置。
技术实现思路
[0004]1.要解决的技术问题
[0005]本专利技术的目的在于提供一种用于北斗导航芯片的插口测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006]2.技术方案
[0007]一种用于北斗导航芯片的插口测试装置，包括测试主体，所述测试主体左侧上端设有检测插头，所述测试主体左侧下端设有调节盒，所述调节盒上方设有转盘，所述转盘上侧呈环形等间距设有多个固定块，所述固定块内部对称设有两个夹板，所述夹板内侧夹设有待测插口，所述固定块底面呈对角结构设有两个套筒，所述套筒上侧设有伸缩杆，所述伸缩杆下端穿过套筒上壁延伸至内部并固设有限位板，所述限位板下方设有弹簧A，所述调节盒左侧中部后端设有摇把，所述摇把右端穿过调节盒外壁延伸至内部并套接有凸轮，所述摇把右端套接有缺口圆盘，所述缺口圆盘圆周外壁一侧设有摇臂，所述摇臂外侧固设有限位柱，所述摇把右侧圆周外壁固设有指针，所述调节盒内部中间位置转动连接有转轴，所述转轴上端穿过调节盒内壁延伸至外部并与所述转盘底面中部连接固定，所述转轴中部套接
有半球形槽轮，所述调节盒内部左侧中间位置固设有固定耳，所述固定耳上侧通过销轴对称转动连接有两个活动杆，位于内侧的所述活动杆右端套接有调节柱，所述调节柱后端套接有调节块，所述调节块上方设有杠杆，所述杠杆左侧上端设有推杆，所述调节盒左侧外壁后端呈环形等间距设有多个刻度线。
[0008]优选地，所述夹板外侧通过套柱对称设接有两个弹簧B，所述弹簧B外端与所述固定块内部开设的孔内壁连接固定。
[0009]优选地，所述凸轮呈上大下小的弧形结构，所述凸轮与位于外侧的所述活动杆紧密压合。
[0010]优选地，所述半球形槽轮上侧圆周外壁呈环形等间距开设有过个弧形槽，所述弧形槽与缺口圆盘滑动连接。
[0011]优选地，所述限位柱为倾斜结构设置，所述限位柱与所述半球形槽轮上侧圆周外壁呈环形等间距开设的条形槽滑动连接。
[0012]优选地，所述调节块右侧上方通过固定杆上下两端均固设有铰座，位于下端的所述铰座通过销轴与所述调节块右端转动连接，位于上端的所述铰座通过销轴与所述杠杆右侧转动连接。
[0013]优选地，所述杠杆右端通过销轴与所述调节盒内壁的孔转动连接，所述杠杆右端上侧开设有限位槽，所述限位槽内壁通过销轴与所述推杆下端转动连接，所述推杆上端依次穿过调节盒内部及转盘内部延伸至外部并与固定块底面相抵触。
[0014]3.有益效果
[0015]相比于现有技术，本专利技术的优点在于：
[0016]1.本专利技术通过在测试主体左侧下端设有调节盒，转盘上侧呈环形等间距设有多个固定块，夹板内侧夹设有待测插口，缺口圆盘圆周外壁一侧设有摇臂，转轴中部套接有半球形槽轮，半球形槽轮上侧圆周外壁呈环形等间距开设有过个弧形槽，弧形槽与缺口圆盘滑动连接，限位柱与半球形槽轮上侧圆周外壁呈环形等间距开设的条形槽滑动连接，结构间的紧密配合，使其可以对多个芯片插口进行间接测试，有效的避免了每次测试完一个插口再更换一个的情况，从而提高了芯片插口测试的效率，减轻了工作人员的负担，同时避免了反复更换造成芯片插口损坏的情况，有效得节约了成本。
[0017]2.本专利技术通过在固定耳上侧通过销轴对称转动连接有两个活动杆，位于内侧的活动杆右端套接有调节柱，调节块上方设有杠杆，杠杆左侧上端设有推杆，杠杆右端上侧开设有限位槽，限位槽内壁通过销轴与推杆下端转动连接，推杆上端依次穿过调节盒内部及转盘内部延伸至外部并与固定块底面相抵触，实现了芯片插口在转动到检测插头正下方的同时，可以自动的将芯片插口通过推杆与检测插头进行插接测试，实现了精确的插接，避免了插接不准确造成损坏的情况。
[0018]3.本专利技术通过在调节盒左侧中部后端设有摇把，摇把右端穿过调节盒外壁延伸至内部并套接有凸轮，凸轮呈上大下小的弧形结构，凸轮与位于外侧的活动杆紧密压合，凸轮的巧妙设置，使得凸轮下压活动杆时，通过杠杆的杠杆原理并通过推杆将待测插口推到检测插头内进行检测，结构简单，且功能齐全，避免了每次插接的情况，有效的节约了人力物力。
[0019]4.本专利技术通过在固定块内部对称设有两个夹板，夹板内侧夹设有待测插口，固定
块底面呈对角结构设有两个套筒，套筒上侧设有伸缩杆，伸缩杆下端穿过套筒上壁延伸至内部并固设有限位板，限位板下方设有弹簧A，弹簧A的设计使得在测试完毕待测插口后，待测插口可自动收回到原为，从而进行下一个待测插口的测试，提高了测试的效率。
[0020]5.本专利技术通过在摇把右侧圆周外壁固设有指针，调节盒左侧外壁后端呈环形等间距设有多个刻度线，使得工作人员通过刻度就可以控制待测插口的插接测试，并通过转动到相应的刻度进行下一个待测插口的检测。
附图说明
[0021]图1为本专利技术的整体结构示意图；
[0022]图2为本专利技术的整体结构剖面图；
[0023]图3为本专利技术的调节盒内部结构剖面图；
[0024]图4为本专利技术的半球形槽轮结构示意图；
[0025]图5为本专利技术的凸轮结构拆分图；
[0026]图6为本专利技术的A处结构放大图；
[0027]图中标号说明：1、测试主体；2、检测插头；3、调节盒；301、转轴；302、半球形槽轮；303、弧形槽；304、条形槽本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于北斗导航芯片的插口测试装置，包括测试主体(1)，其特征在于：所述测试主体(1)左侧上端设有检测插头(2)，所述测试主体(1)左侧下端设有调节盒(3)，所述调节盒(3)上方设有转盘(4)，所述转盘(4)上侧呈环形等间距设有多个固定块(5)，所述固定块(5)内部对称设有两个夹板(501)，所述夹板(501)内侧夹设有待测插口(503)，所述固定块(5)底面呈对角结构设有两个套筒(401)，所述套筒(401)上侧设有伸缩杆(402)，所述伸缩杆(402)下端穿过套筒(401)上壁延伸至内部并固设有限位板(403)，所述限位板(403)下方设有弹簧A(404)，所述调节盒(3)左侧中部后端设有摇把(6)，所述摇把(6)右端穿过调节盒(3)外壁延伸至内部并套接有凸轮(601)，所述摇把(6)右端套接有缺口圆盘(602)，所述缺口圆盘(602)圆周外壁一侧设有摇臂(603)，所述摇臂(603)外侧固设有限位柱(604)，所述摇把(6)右侧圆周外壁固设有指针(605)，所述调节盒(3)内部中间位置转动连接有转轴(301)，所述转轴(301)上端穿过调节盒(3)内壁延伸至外部并与所述转盘(4)底面中部连接固定，所述转轴(301)中部套接有半球形槽轮(302)，所述调节盒(3)内部左侧中间位置固设有固定耳(7)，所述固定耳(7)上侧通过销轴对称转动连接有两个活动杆(701)，位于内侧的所述活动杆(701)右端套接有调节柱(702)，所述调节柱(702)后端套接有调节块(703)，所述调节块(703)上方设有杠杆(704)，所述杠杆(704)左侧上端设有推杆(706)，所述调节盒(3)左侧外壁后端呈环形等间距设有多个刻度线(3...
【专利技术属性】
技术研发人员：梁远威，
申请(专利权)人：梁远威，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。