粗硫磺脱水提纯工艺及装置制造方法及图纸

技术编号:28215140 阅读:27 留言:0更新日期:2021-04-24 14:57
本发明专利技术涉及一种粗硫磺脱水提纯工艺,该工艺包括:将粗硫磺置于真空蒸馏炉内,去除粗硫磺内的水分,形成粗硫磺固体;将粗硫磺固体与煤油进行混合后置于搅拌箱内;连接真空抽滤器,将搅拌箱内的溶液进行抽滤,滤除搅拌箱内的杂质,保留溶于煤油中单质硫;冷却结晶,使得溶于煤油中的单质硫结晶析出;中控单元分别与液位高度计、煤油管道上设置的阀门和搅拌箱内设置的搅拌装置分别连接,利用不同的搅拌速度对粗硫磺固体和煤油进行搅拌,在搅拌过程中,对液位高度的变化进行实时检测,并根据检测的高度和滤除杂质的质量是否满足预设要求,根据液位高度和杂质的质量确定冷却的温度,实现提纯过程中对粗硫磺的提纯效率,缩短反应时间。缩短反应时间。缩短反应时间。

【技术实现步骤摘要】
粗硫磺脱水提纯工艺及装置


[0001]本专利技术涉及化工提纯领域,尤其涉及一种粗硫磺脱水提纯工艺及装置。

技术介绍

[0002]随着人们生活水平的提高,人们对于资源的开采需求量大大增加,煤化工得到了大力发展,在煤气化和焦化工艺过程中,煤中的硫大部分已硫化氢的形式存在于煤气中,在煤气的湿法脱硫工艺中,硫化氢转变为单质硫泡沫,以硫磺的形式回收,但是,煤气中的其他杂质,如煤焦油等会部分进入硫磺中,得到的硫磺纯度不高,色泽较差,掺入杂质的硫磺为粗硫磺。
[0003]在实际生产中,粗硫磺一般以固定废弃物的形式堆放在工厂中,但是随着我国煤化工的快速发展,粗硫磺的产量会日益增多,造成了硫磺资源的浪费,因此如何高效提纯粗硫磺中的硫磺,成为化工领域亟待解决的问题。

技术实现思路

[0004]为此,本专利技术提供一种粗硫磺脱水提纯工艺,可以解决现有技术中提纯效率不高的技术问题。
[0005]为实现上述目的,本专利技术提供一种粗硫磺脱水提纯工艺,包括:
[0006]脱水:将粗硫磺置于真空蒸馏炉内,去除粗硫磺内的水分,形成粗硫磺固体;
[0007]混合:将所述粗硫磺固体与煤油进行混合后置于搅拌箱内,以使粗硫磺固体完全溶于煤油;
[0008]抽滤:连接真空抽滤器,将所述搅拌箱内的溶液进行抽滤,滤除搅拌箱内的杂质,保留溶于煤油中单质硫;
[0009]结晶:冷却结晶,使得溶于煤油中的单质硫结晶析出;
[0010]调节:中控单元分别与液位高度计、煤油管道上设置的阀门和搅拌箱内设置的搅拌装置分别连接,中控单元设置有提纯矩阵A(Wi,Vi,Hi,Mi,Ti),其中Wi表示在脱水过程中湿度的变化量,Vi表示在混合过程中的搅拌速度,Hi表示在抽滤过程中液位高度的变化,Mi表示抽滤过程中滤除杂质的质量,Ti表示结晶过程中的温度;在所述中控单元内设置有湿度变化量矩阵W(W1,W2,W3)和搅拌矩阵V(V1,V2,V3,V4),其中W1表示第一湿度变化量,W2表示第二湿度变化量,W3表示第三湿度变化量,且W1>W2>W3,V1表示第一搅拌速度,V2表示第二搅拌速度,V3表示第三搅拌速度,V4表示第四搅拌速度;
[0011]在脱水过程中,若湿度的变化量Wi≥第一湿度变化量W1,则在混合过程中采用第一搅拌速度V1,若在搅拌过程中,液位高度的变化量低于第一预设标准变化量H10,则检测滤除杂质的质量是否为第一质量M1,若杂质的质量≥第一质量M1,则降低结晶温度,否则维持标准结晶温度T10;
[0012]若第一湿度变化量W1>湿度的变化量Wi≥第二湿度变化量W2,则在混合过程中采用第二搅拌速度V2,若在搅拌过程中,液位高度的变化量低于第二预设标准变化量H20,则
检测滤除杂质的质量是否为第二质量M2,若杂质的质量≥第二质量M2,则降低结晶温度,否则维持标准结晶温度T20;
[0013]若第二湿度变化量W2>湿度的变化量Wi≥第三湿度变化量W3,则在混合过程中采用第三搅拌速度V3,若在搅拌过程中,液位高度的变化量低于第三预设标准变化量H30,则检测滤除杂质的质量是否为第三质量M3,若杂质的质量≥第三质量M3,则降低结晶温度,否则维持标准结晶温度T30;
[0014]若湿度的变化量Wi<第三湿度变化量W3,则在混合过程中采用第四搅拌速度V4,若在搅拌过程中,液位高度的变化量低于第四预设标准变化量H40,则检测滤除杂质的质量是否为第四质量M4,若杂质的质量≥第四质量M4,则降低结晶温度,否则维持标准结晶温度T40。
[0015]进一步地,在所述中控单元内设置有搅拌速度补偿矩阵P(P1,P2,P3,P4),其中P1表示第一补偿系数,P2表示第二补偿系数,P3表示第三补偿系数,P4表示第四补偿系数,且P1>P2>P3>P4,所述搅拌速度补偿矩阵中的参数用于对搅拌速度进行补偿;
[0016]当杂质的质量<第一质量M1时,则采用第一补偿系数P1对搅拌矩阵V(V1,V2,V3,V4)中的第一搅拌速度、第二搅拌速度、第三搅拌速度和第四搅拌速度进行补偿;
[0017]当杂质的质量<第二质量M2时,则采用第二补偿系数P2对搅拌矩阵V(V1,V2,V3,V4)中的第一搅拌速度、第二搅拌速度、第三搅拌速度和第四搅拌速度进行补偿;
[0018]当杂质的质量<第三质量M3时,则采用第三补偿系数P3对搅拌矩阵V(V1,V2,V3,V4)中的第一搅拌速度、第二搅拌速度、第三搅拌速度和第四搅拌速度进行补偿;
[0019]当杂质的质量<第四质量M4时,则采用第四补偿系数P4对搅拌矩阵V(V1,V2,V3,V4)中的第一搅拌速度、第二搅拌速度、第三搅拌速度和第四搅拌速度进行补偿。
[0020]进一步地,在所述中控单元内设置有高度矩阵H(H1,H2)和结晶温度调节矩阵b(b1,b2),其中H1表示第一高度,H2表示第二高度,且H1>H2>H10,b1表示第一调节系数,b2表示第二调节系数,且b1>b2,
[0021]在搅拌过程中,若搅拌箱内的液位高度≥第一高度H1时,降低搅拌速度,且采用第一调节系数b1对结晶温度进行调节;
[0022]若第一高度H1>搅拌箱内的液位高度≥第二高度H2时,则维持当前的搅拌速度,无需对结晶温度进行调整;
[0023]若搅拌箱内的液位高度<第二高度H2时,则提高搅拌速度,且采用第二调节系数对结晶温度进行调节。
[0024]进一步地,当采用第一调节系数b1对结晶温度进行调节时,根据析出晶体的质量调节结晶时长,若析出晶体的质量在不断增加,则延长结晶时长为原来的b1/b0倍,若析出的晶体的质量不变,在停止对温度的调节;
[0025]当采用第二调节系数b2对结晶温度进行调节时,根据析出晶体的质量调节结晶时长,若析出晶体的质量在不断增加,则延长结晶时长为原来的b2/b0倍,若析出的晶体的质量不变,在停止对温度的调节,其中
[0026]进一步地,在结晶过程后,还包括:
[0027]蒸馏:将结晶析出的单质硫置于蒸馏瓶内,进行蒸馏,
[0028]收集:所述蒸馏瓶与收集瓶通过蒸馏管连接,将蒸馏后的单质硫经过所述蒸馏管
输送至所述收集瓶内,得到纯度较高的硫单质,在所述蒸馏管上设置有纯度检测装置,用以检测经过蒸馏后的单质硫的纯度,在所述蒸馏管上还设置有阀门,用以对单质硫进入收集瓶内的质量进行控制,在中控单元内设置有纯度矩阵C(C1,C2,C3)和阀门开合度矩阵K(K1,K2,K3,K4),其中C1表示第一纯度,C2表示第二纯度,C3表示第三纯度,且,C1>C2>C3>C0,C0为标准纯度,K1表示第一开合度,K2表示第二开合度,K3表示第三开合度,本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种粗硫磺脱水提纯工艺,其特征在于,包括:脱水:将粗硫磺置于真空蒸馏炉内,去除粗硫磺内的水分,形成粗硫磺固体;混合:将所述粗硫磺固体与煤油进行混合后置于搅拌箱内,以使粗硫磺固体完全溶于煤油;抽滤:连接真空抽滤器,将所述搅拌箱内的溶液进行抽滤,滤除搅拌箱内的杂质,保留溶于煤油中单质硫;结晶:冷却结晶,使得溶于煤油中的单质硫结晶析出;调节:中控单元分别与液位高度计、煤油管道上设置的阀门和搅拌箱内设置的搅拌装置分别连接,中控单元设置有提纯矩阵A(Wi,Vi,Hi,Mi,Ti),其中Wi表示在脱水过程中湿度的变化量,Vi表示在混合过程中的搅拌速度,Hi表示在抽滤过程中液位高度的变化,Mi表示抽滤过程中滤除杂质的质量,Ti表示结晶过程中的温度;在所述中控单元内设置有湿度变化量矩阵W(W1,W2,W3)和搅拌矩阵V(V1,V2,V3,V4),其中W1表示第一湿度变化量,W2表示第二湿度变化量,W3表示第三湿度变化量,且W1>W2>W3,V1表示第一搅拌速度,V2表示第二搅拌速度,V3表示第三搅拌速度,V4表示第四搅拌速度;在脱水过程中,若湿度的变化量Wi≥第一湿度变化量W1,则在混合过程中采用第一搅拌速度V1,若在搅拌过程中,液位高度的变化量低于第一预设标准变化量H10,则检测滤除杂质的质量是否为第一质量M1,若杂质的质量≥第一质量M1,则降低结晶温度,否则维持标准结晶温度T10;若第一湿度变化量W1>湿度的变化量Wi≥第二湿度变化量W2,则在混合过程中采用第二搅拌速度V2,若在搅拌过程中,液位高度的变化量低于第二预设标准变化量H20,则检测滤除杂质的质量是否为第二质量M2,若杂质的质量≥第二质量M2,则降低结晶温度,否则维持标准结晶温度T20;若第二湿度变化量W2>湿度的变化量Wi≥第三湿度变化量W3,则在混合过程中采用第三搅拌速度V3,若在搅拌过程中,液位高度的变化量低于第三预设标准变化量H30,则检测滤除杂质的质量是否为第三质量M3,若杂质的质量≥第三质量M3,则降低结晶温度,否则维持标准结晶温度T30;若湿度的变化量Wi<第三湿度变化量W3,则在混合过程中采用第四搅拌速度V4,若在搅拌过程中,液位高度的变化量低于第四预设标准变化量H40,则检测滤除杂质的质量是否为第四质量M4,若杂质的质量≥第四质量M4,则降低结晶温度,否则维持标准结晶温度T40。2.根据权利要求1所述的粗硫磺脱水提纯工艺,其特征在于,在所述中控单元内设置有搅拌速度补偿矩阵P(P1,P2,P3,P4),其中P1表示第一补偿系数,P2表示第二补偿系数,P3表示第三补偿系数,P4表示第四补偿系数,且P1>P2>P3>P4,所述搅拌速度补偿矩阵中的参数用于对搅拌速度进行补偿;当杂质的质量<第一质量M1时,则采用第一补偿系数P1对搅拌矩阵V(V1,V2,V3,V4)中的第一搅拌速度、第二搅拌速度、第三搅拌速度和第四搅拌速度进行补偿;当杂质的质量<第二质量M2时,则采用第二补偿系数P2对搅拌矩阵V(V1,V2,V3,V4)中的第一搅拌速度、第二搅拌速度、第三搅拌速度和第四搅拌速度进行补偿;当杂质的质量<第三质量M3时,则采用第三补偿系数P3对搅拌矩阵V(V1,V2,V3,V4)中的第一搅拌速度、第二搅拌速度、第三搅拌速度和第四搅拌速度进行补偿;
当杂质的质量<第四质量M4时,则采用第四补偿系数P4对搅拌矩阵V(V1,V2,V3,V4)中的第一搅拌速度、第二搅拌速度、第三搅拌速度和第四搅拌速度进行补偿。3.根据权利要求2所述的粗硫磺脱水提纯工艺,其特征在于,在所述中控单元内设置有高度矩阵H(H1,H2)和结晶温度调节矩阵b(b1,b2),其中H1表示第一高度,H2表示第二高度,且H1>H2>H10,b1表示第一调节系数,b2表示第二调节系数,且b1>b2,在搅拌过程中,若搅拌箱内的液位高度≥第一高度H1时,降低搅拌速度,且采用第一调节系数b1对结晶温度进行调节;若第一高度H1>搅拌箱内的液位高度≥第二高度H2时,则维持当前的搅拌速度,无需对结晶温度进行调整;若搅拌箱内的液位高度<第二高度H2时,则提高搅拌速度,且采用第二调节系数对结晶温度进行调节。4.根据权利要求3所述的粗硫磺脱水提纯工艺,其特征在于,当采用第一调节系数b1对结晶温度进行调节时,根据析出晶体的质量调节结晶时长,若析出晶体的质量在不断增加,则延长结晶时长为原来的b1/b0倍,若析出的晶体的质量不变,在停止对温度的调节;当采用第二调节系数b2对结晶温度进行调节时,根据析出晶体的质量调节结晶时长,若析出晶体的质量在不断增加,则延长结晶时长为原来的b2/b0倍,若析出的晶体的质量不变,在停止对温度的调节,其中5.根据权利要求4所述的粗硫磺脱水提纯工艺,其特征在于,在结晶过程后,还包括:蒸馏:将结晶析出的单质硫置于蒸...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴廷友钱国法王立洋李童
申请(专利权)人:北京惠博普能源技术有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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