【技术实现步骤摘要】
一种晶体振荡器测试装置和系统
[0001]本专利技术实施例涉及自动测试技术，尤其涉及一种晶体振荡器测试装置和系统。
技术介绍
[0002]随着通信技术的发展，晶体振荡器在通信行业的应用越来越广泛，所以对晶体振荡器的测试也越来越重要。对晶体振荡器的测试包括：晶体振荡器的拐点调试、频率准确度调试、频率准确度测试、电源特性测试、牵引范围测试、启动电流、稳定电流、低温启动电流测量、起振时间测试、低温通断电测试、温度特性测试、高低温测试和温度补偿等，上述测试都属于晶体振荡器的基本测试工序，使用不同的测试系统在不同的测试工位上分别完成这些测试工序。
[0003]晶体振荡器基本测试工序比较繁杂，将其分成多个工位进行测试，这样在产品在各个工位流转、装夹、下料都消耗掉很多时间、及人力，生产效率较低；特别是恒温晶体振荡器在各个工位的测试前烧钟时间也是对成本、人力及时间的消耗。
技术实现思路
[0004]本专利技术提供一种晶体振荡器测试装置和系统，以实现对晶体振荡器的全面自动化测试。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种晶体振荡器测试装置，晶体振荡器测试装置包括：
[0006]控制模块，频率测试电路，以及至少一个测试模块；
[0007]控制模块，与控制终端和测试模块连接，用于接收控制终端发送的测试控制信息，并将测试控制信息转换为控制指令控制测试模块启动工作；
[0008]测试模块，与待测晶体振荡器连接，用于向待测晶体振荡器供电，以使待测晶体振荡器输出晶体频率信号；>[0009]频率测试电路，与频标源、控制模块和待测晶体振荡器连接，用于接收频标源输出的参考频率信号和待测晶体振荡器输出的晶体频率信号，根据参考频率信号和晶体频率信号确定待测晶体振荡器的频率，并发送给控制模块，以便控制模块将待测晶体振荡器的频率发送给控制终端实现对待测晶体振荡器的测试。
[0010]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种晶体振荡器测试系统，该晶体振荡器测试系统包括：本专利技术实施例中任一的一种晶体振荡器测试测试装置、供电电源，控制终端、待测晶体振荡器和频标源；
[0011]晶体振荡器测试测试装置，用于接收控制终端发送的测试控制信息对待测晶体振荡器进行测试，根据频标源的参考频率信号确定待测晶体振荡器的频率以及确定电流值和起振时间，并发送至控制终端；
[0012]控制终端，用于根据接收到的频率、电流值和起振时间对应确定待测晶体振荡器的测试结果；
[0013]供电电源，用于对晶体振荡器测试测试装置进行供电。
[0014]本专利技术实施例提供了一种晶体振荡器测试装置和系统，该装置包括：控制模块，频率测试电路，以及至少一个测试模块；控制模块，与控制终端和测试模块连接，用于接收控制终端发送的测试控制信息，并将测试控制信息转换为控制指令控制测试模块启动工作；测试模块，与待测晶体振荡器连接，用于向待测晶体振荡器供电，以使待测晶体振荡器输出晶体频率信号；频率测试电路，与频标源、控制模块和待测晶体振荡器连接，用于接收频标源输出的参考频率信号和待测晶体振荡器输出的晶体频率信号，根据参考频率信号和晶体频率信号确定待测晶体振荡器的频率，并发送给控制模块，以便控制模块将待测晶体振荡器的频率发送给控制终端实现对待测晶体振荡器的测试。通过测试模块连接待测晶体振荡器，为待测晶体振荡器供电，以使待测晶体振荡器向频率测试电路输出晶体频率信号，频率测试电路通过将频标源输出的参考频率信号作为对照标准，与晶体频率信号进行比较，确定待测晶体振荡器的频率，并发送给控制模块，控制模块将所述待测晶体振荡器的频率发送给控制终端，控制终端通过对待测晶体振荡器的频率进行判断，完成对待测晶体震荡器的测试，解决了现有技术中对待测晶体振荡器进行测试时使用不用的测试系统、在不同的测试工位上进行测试所导致的测试工序复杂，浪费时间的问题，通过本专利技术实施例提供的晶体振荡器测试装置，实现了待测晶体振荡器的全面测试，所有测试工序在一个工位上即可完成，产品无需在各个测试工位流转，并且仅需要对待测晶体振荡器进行一次烧钟，节省时间和人力，提高了生产效率。
附图说明
[0015]图1是本专利技术实施例一中的一种晶体振荡器测试装置的结构示意图；
[0016]图2是本专利技术实施例二中的一种晶体振荡器测试装置的结构示意图；
[0017]图3是本专利技术实施例二中的另一种晶体振荡器测试装置的结构示意图；
[0018]图4是本专利技术实施例三中的一种晶体振荡器测试系统的结构示意图；
[0019]图5是本专利技术实施例三中的一种测试流程示意图。
具体实施方式
[0020]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。
[0021]实施例一
[0022]图1为本专利技术实施例一提供的一种晶体振荡器测试装置的结构示意图，本实施例可适用于对晶体振荡器进行测试的情况，该装置包括：控制模块11，频率测试电路12，以及至少一个测试模块13；
[0023]控制模块11，与控制终端14和测试模块13连接，用于接收控制终端14发送的测试控制信息，并将测试控制信息转换为控制指令控制测试模块13启动工作；
[0024]测试模块13，与待测晶体振荡器15连接，用于向待测晶体振荡器15供电，以使待测晶体振荡器15输出晶体频率信号；
[0025]频率测试电路12，与频标源16、控制模块11和待测晶体振荡器15连接，用于接收频
标源16输出的参考频率信号和待测晶体振荡器15输出的晶体频率信号，根据参考频率信号和晶体频率信号确定待测晶体振荡器15的频率，并发送给控制模块11，以便控制模块11将待测晶体振荡器15的频率发送给控制终端11实现对待测晶体振荡器15的测试。
[0026]在本实施例中，控制模块11可以理解为可实现控制功能，可以根据指令执行相应操作或者控制其他设备或器件执行相应操作的模块，例如，单片机，单片机是一种的嵌入式微控制器，可以实现控制功能，由运算器，控制器，存储器，输入输出设备等构成，相当于一个微型的计算机。频率测试电路12可以理解为用来测试晶体振荡器频率的电路；测试模块13可以理解为协助控制模块11实现晶体振荡器测试的模块，测试模块13可以在控制模块11的控制下启动工作，为待测试晶体振荡器供电；控制终端14可以理解为具备通信功能和数据处理功能的计算机终端设备，例如PC计算机，用于与晶体振荡器测试装置连接，与其进行信息交互，实现对待测晶体振荡器15的测试。待测晶体振荡器15可以理解为具有测试需求的晶体震荡器，晶体振荡器在生产完投入使用前，需要对其进行测试，确定其是否符合使用标准。频标源16可以理解为一个可以产生高准确度和高稳定度标准频率信号的设备，可以在测量一些设备时提供标准频率信号基准。
[0027]测试控制信息可以理解为对待测晶体振荡器15进行测试时，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种晶体振荡器测试装置，其特征在于，包括：控制模块，频率测试电路，以及至少一个测试模块；所述控制模块，与控制终端和测试模块连接，用于接收控制终端发送的测试控制信息，并将所述测试控制信息转换为控制指令控制所述测试模块启动工作；所述测试模块，与待测晶体振荡器连接，用于向所述待测晶体振荡器供电，以使所述待测晶体振荡器输出晶体频率信号；所述频率测试电路，与频标源、控制模块和待测晶体振荡器连接，用于接收所述频标源输出的参考频率信号和所述待测晶体振荡器输出的晶体频率信号，根据所述参考频率信号和晶体频率信号确定所述待测晶体振荡器的频率，并发送给所述控制模块，以便所述控制模块将所述待测晶体振荡器的频率发送给控制终端实现对所述待测晶体振荡器的测试。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制模块，与所述待测晶体振荡器连接，还用于：根据所述控制终端发送的晶体控制信息对应调整所述待测晶体振荡器的寄存器中的寄存器值，以实现对所述待测晶体振荡器的测试；根据接收的测试结果对相应的寄存器值进行通信读写，所述测试结果由所述控制终端根据所述待测晶体振荡器的频率确定。3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试模块，包括：晶振供电单元和开关控制单元；所述晶振供电单元，与供电电源、所述控制模块和开关控制单元连接，用于根据所述控制模块发送的控制指令中的电压输出指令将供电电源的电压转换为晶体供电电压并输出；所述开关控制单元，与所述控制模块和待测晶体振荡器连接，用于根据所述控制模块发送的控制指令中的开关通断指令确定工作状态。4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述测试模块，还包括：数模转换器；所述数模转换器，与所述控制模块和待测晶体振荡器连接，用于根据所述控制模块发送的控制指令中的压控电压指令控制所述待测晶体振荡器调整压控电压。5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述测试模块，还包括：采样电阻、放大电路和模数转换器；所述采样电阻，与所述开关控制单元和待测晶体振荡器连接；所述放大电路，与所述采样电阻连接，用于对流经所述采样电阻的电流形成的压差进行放大；所述模数转换器，与所述放大电路和控制模块连接，用...
【专利技术属性】
技术研发人员：王伟，罗仲康，赵浩翔，刘朝胜，赵伟，
申请(专利权)人：广东大普通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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