本发明专利技术公开了一种系统耗时测试方法，该方法通过复制的待测系统的进出光纤信号，进入待测系统的光纤信号与复制的光纤信号间几乎没有时间差，可以实现精准耗时测试；且在复制源数据光纤信号时，对源数据基本无任何影响，既避免了对于待测系统实际运行的影响，又可以实现对于系统真实耗时的测量；而且由于数据接收以及处理均由运行于待测系统外的设备来执行，因此测量环境对于待测系统的资源也没有任何影响，可以实现对于待测系统实际运行状态的精准测试，同时只要待测系统的网络输入输出为光纤接入方式，均可采用本方案进行测量，可以实现不同被测系统的精准测试。本发明专利技术还公开了一种系统耗时测试装置、系统及可读存储介质，具有相应的技术效果。有相应的技术效果。有相应的技术效果。
【技术实现步骤摘要】
一种系统耗时测试方法、装置、设备及可读存储介质
[0001]本专利技术涉及系统测试
，特别是涉及一种系统耗时测试方法、装置、设备及可读存储介质。
技术介绍
[0002]在高速程序化系统中，系统各个模块的延迟/速度的测试，一直是评估程序化交易系统中各个模块性能的重要方法。精确的速度测试，能够精确反应出系统各个模块的耗时，并为系统优化调试提供准确的优化方向。
[0003]现阶段由于软硬件技术发展，程序化系统的系统耗时已经进入到了个位数微秒(microsecond)甚至纳秒(nanosecond)级别，比如金融证券产品的程序化交易系统，其中的行情转发系统已经能做到逼近100纳秒的耗时。
[0004]由于程序化/量化系统中，进出一个子系统/模块，其处理耗时是最为重要的系统性能指标之一，因此这类系统往往都会在开发、使用过程中，反复采用各种手段进行耗时测量，因此如何进行高精度、无干扰的测量一直是本领域的重要课题。
[0005]对于程序化系统的开发者而言，其可以在系统内部，使用软件来获取较为精确的时间戳，并在需要测量的关键路径点中，将时间戳记录下来，并配合合适的数据导出、统计方式，来解析、统计所记录的时间戳，来得到测量数据。
[0006]由于整个系统的耗时已经非常小，软件测试过程自身所带来的性能消耗已经无法忽略，并且需要额外消耗系统自身的CPU/内存资源来执行对应功能，会对系统本身性能带来明显的影响，即测量方法影响到了测量对象本身，测量结果不能较为精确反应测量对象本身的性能，检测精准度较低；而且，在测量一个子系统/模块网络层面上进/出系统的时间时，该方法要求的时间戳必须是同一个参考系(比如同一台服务器)的时间戳，但是通过软件进入待测系统和出系统的网段存在不同的情况，进系统和出系统记录的时间戳不在同一个绝对时间轴，而不同参考系下时间戳的差异较大，无法体现系统自身的处理耗时；此外，一旦系统需要修改，极有可能影响到这些测量代码本身，需要同步修改；另外，如图1所示为一种传统软件处理耗时测试方法实现示意图，可见采用软件进行处理耗时的测量只能实现系统应用层的耗时测量无法统计出网络硬件层，硬件驱动层，系统内核层，系统协议栈这四层双向穿越的时间，无法实现待测系统整体处理耗时的精准度量。
[0007]综上所述，如何在避免对被待测系统自身运行影响较多的同时实现系统整体耗时的精准测量，减少系统变动下的系统耗时测试修改成本，是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。
技术实现思路
[0008]本专利技术的目的是提供一种系统耗时测试方法、装置、设备及可读存储介质，可以在避免对被待测系统自身运行影响较多的同时实现系统整体耗时的精准测量，减少系统变动下的系统耗时测试修改成本。
[0009]为解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：
[0010]分别复制输入以及输出待测系统的光纤信号，得到输入光纤信号以及输出光纤信号；
[0011]确定输入测试信号以及所述输入测试信号对应的输出测试信号；
[0012]在所述输入光纤信号中识别所述输入测试信号；
[0013]若在所述输入光纤信号中识别到所述输入测试信号，记录输入时间；
[0014]在所述输出光纤信号中识别所述输出测试信号；
[0015]若在所述输出光纤信号中检测到所述输出测试信号，记录输出时间；
[0016]根据所述输入时间与所述输出时间间的时间差进行处理耗时的计算。
[0017]可选地，所述确定输入测试信号以及所述输入测试信号对应的输出测试信号，包括：
[0018]确定所述待测系统的数据处理逻辑；
[0019]确定输入测试信号；
[0020]将所述输入测试信号按照所述数据处理逻辑进行数据处理，将所述数据处理得到的信号作为所述输出测试信号。
[0021]本申请还提供了一种系统耗时测试装置，包括：
[0022]光信号复制单元，用于分别复制输入以及输出待测系统的光纤信号，得到输入光纤信号以及输出光纤信号；
[0023]测试信号确定单元，用于确定输入测试信号以及所述输入测试信号对应的输出测试信号；
[0024]输入识别单元，用于在所述输入光纤信号中识别所述输入测试信号；
[0025]输入记录单元，用于若在所述输入光纤信号中识别到所述输入测试信号，记录输入时间；
[0026]输出识别单元，用于在所述输出光纤信号中识别所述输出测试信号；
[0027]输出记录单元，用于若在所述输出光纤信号中检测到所述输出测试信号，记录输出时间；
[0028]耗时计算单元，用于根据所述输入时间与所述输出时间间的时间差进行处理耗时的计算。
[0029]本申请还提供了一种系统耗时测试系统，包括：光信号复制设备以及延时测量计时设备，其中，所述光信号复制设备连接所述延时测量计时设备的光纤接口；
[0030]其中，所述光信号复制设备，用于分别复制输入以及输出待测系统的光纤信号，并将复制得到的输入光纤信号的线路以及输出光纤信号的线路接入至所述延时测量计时设备；
[0031]所述延时测量计时设备，用于确定输入测试信号以及所述输入测试信号对应的输出测试信号；在所述输入光纤信号中识别所述输入测试信号；若在所述输入光纤信号中识别到所述输入测试信号，记录输入时间；在所述输出光纤信号中识别所述输出测试信号；若在所述输出光纤信号中检测到所述输出测试信号，记录输出时间；根据所述输入时间与所述输出时间间的时间差进行处理耗时的计算。
[0032]可选地，所述光信号复制设备为：无源分光器。
[0033]可选地，所述无源分光器为：2路分光无源分光器。
[0034]可选地，所述延时测量计时设备包括：时间记录设备以及数据处理设备；
[0035]其中，所述时间记录设备，用于在所述输入光纤信号中识别所述输入测试信号；若在所述输入光纤信号中识别到所述输入测试信号，记录输入时间；在所述输出光纤信号中识别所述输出测试信号；若在所述输出光纤信号中检测到所述输出测试信号，记录输出时间；
[0036]所述数据处理设备，用于确定输入测试信号以及所述输入测试信号对应的输出测试信号；根据所述输入时间与所述输出时间间的时间差进行系统处理耗时的计算。
[0037]可选地，所述时间记录设备为：FPGA板卡，所述光信号复制设备的输入光纤信号的线路以及输出光纤信号的线路接入所述FPGA板卡的光纤插槽。
[0038]可选地，所述FPGA板卡具有万兆光纤插槽，所述光信号复制设备的输入光纤信号的线路以及输出光纤信号的线路接入所述万兆光纤插槽。
[0039]本申请还提供了一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述系统耗时测试方法的步骤。
[0040]本专利技术实施例所提供的方法，通过复制的待测系统的进出光纤信号，进入待测系统的光纤信号与复制的光纤信号间几乎没有时间差，因此对于复制光纤信号的检测可以实现精准的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种系统耗时测试方法，其特征在于，包括：分别复制输入以及输出待测系统的光纤信号，得到输入光纤信号以及输出光纤信号；确定输入测试信号以及所述输入测试信号对应的输出测试信号；在所述输入光纤信号中识别所述输入测试信号；若在所述输入光纤信号中识别到所述输入测试信号，记录输入时间；在所述输出光纤信号中识别所述输出测试信号；若在所述输出光纤信号中检测到所述输出测试信号，记录输出时间；根据所述输入时间与所述输出时间间的时间差进行处理耗时的计算。2.根据权利要求1所述的系统耗时测试方法，其特征在于，所述确定输入测试信号以及所述输入测试信号对应的输出测试信号，包括：确定所述待测系统的数据处理逻辑；确定输入测试信号；将所述输入测试信号按照所述数据处理逻辑进行数据处理，将所述数据处理得到的信号作为所述输出测试信号。3.一种系统耗时测试装置，其特征在于，包括：光信号复制单元，用于分别复制输入以及输出待测系统的光纤信号，得到输入光纤信号以及输出光纤信号；测试信号确定单元，用于确定输入测试信号以及所述输入测试信号对应的输出测试信号；输入识别单元，用于在所述输入光纤信号中识别所述输入测试信号；输入记录单元，用于若在所述输入光纤信号中识别到所述输入测试信号，记录输入时间；输出识别单元，用于在所述输出光纤信号中识别所述输出测试信号；输出记录单元，用于若在所述输出光纤信号中检测到所述输出测试信号，记录输出时间；耗时计算单元，用于根据所述输入时间与所述输出时间间的时间差进行处理耗时的计算。4.一种系统耗时测试系统，其特征在于，包括：光信号复制设备以及延时测量计时设备，其中，所述光信号复制设备连接所述延时测量计时设备的光纤接口；其中，所述光信号复制设备，用于分别复制输入以及输出待测系统的光纤信号，并将复制得到的输入光纤信号的线路以及输出光纤信号的线路接入至所述延...
【专利技术属性】
技术研发人员：顾焕峰，周游，周虎，
申请(专利权)人：盛立金融软件开发杭州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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