一种提高集成电路测试覆盖率的方法及装置制造方法及图纸

本申请公开一种提高集成电路测试覆盖率的方法及装置，涉及集成电路设计领域。该方法包括：获取集成电路中的不可控输入寄存器，包括，根据集成电路中任一可观测的第一输出寄存器，确定以第一输出寄存器为输出的第一输入寄存器中的第一不可控输入寄存器；根据第一不可控输入寄存器，确定以第一不可控输入寄存器为输入的第二输出寄存器；根据第N输出寄存器，确定以第N输出寄存器为输出的第N输入寄存器中的第N不可控输入寄存器；对不可控输入寄存器进行修复，包括：在不可控输入寄存器处分别添加可控输入寄存器，进行修复。通过分析、搜索集成电路中不可控输入寄存器，并在不可控输入寄存器处添加可控输入寄存器，以提高集成电路测试覆盖率。试覆盖率。试覆盖率。

【技术实现步骤摘要】
一种提高集成电路测试覆盖率的方法及装置


[0001]本申请涉及集成电路设计领域，尤其涉及一种提高集成电路测试覆盖率的方法及装置。

技术介绍

[0002]集成电路设计过程的每一个环节都有可能是由一个人或者几个人共同完成。在集成电路设计过程中，有一个阶段叫做可测性设计。这个可测试性设计实际上是为了芯片量产服务的。在几百万、数千万芯片在量产的时候，需要将其中的不良品挑选出来丢弃，从而保证芯片出货后的可靠性。
[0003]可测性设计(DFT，Design For Testability)是指设计人员在设计系统和电路的同时，考虑到测试的要求，通过增加一定的硬件开销，获得最大可测性的设计过程。简单来说，可测性设计即是指为了达到故障检测目的所做的辅助性设计，这种设计为基于故障模型的结构测试服务，用来检测生产故障。目前，主要的可测性设计方法有扫描通路测试、内建自测试和边界扫描测试等。
[0004]可控制性(Controllability)和可观测性(Observability)是可测性设计中的重要概念。可控制性表示通过电路初始化输入端控制电路内部节点逻辑状态的难易程度，如果电路内部节点可被驱动为任何值，则称该节点是可控的。可观测性表示通过控制输入变量，将电路内部节点的故障传播到输出端以便对其进行观察的难易程度。如果电路内部节点的取值可以传播到电路的输出端，且其值是预知的，则称该节点是可观测的。一般来说芯片内部可控制和可观测的比例越高，那么整个芯片的测试覆盖率就越高。
[0005]在现有技术中，集成电路的芯片中有的寄存器由于需要持续工作，其无法连接到扫描链上；例如，时钟分频电路需要持续工作，从而为系统的工作提供时钟。有的寄存器的状态是不能动的，否则会大范围影响整个芯片的状态；例如，控制供电电路状态的寄存器。有的IP没有功能模型导致在测试的时候这些IP的输出状态无法预测，那么与这些IP相关的逻辑也就无法观测。因此无法真正做到集成电路芯片内部100％的节点都可控制和可观测的。

技术实现思路

[0006]本申请针对现有技术中，无法做到对集成电路芯片内部所有寄存器进行控制或观测的问题，提供一种提高集成电路测试覆盖率的方法及装置，找出集成电路中不可控的寄存器，并将其所在电路进行相应调整，使得集成电路中的寄存器可控，进而提高集成电路测试覆盖率。
[0007]为实现上述目的，本申请采用的一个技术方案是：提供一种提高集成电路测试覆盖率的方法，其包括：获取集成电路中的不可控输入寄存器，包括，根据集成电路中任一可观测的第一输出寄存器，确定以第一输出寄存器为输出的第一输入寄存器中的第一不可控输入寄存器；根据第一不可控输入寄存器，确定以第一不可控输入寄存器为输入的第二输
出寄存器，其中，第二输出寄存器不包括第一输出寄存器；根据第N输出寄存器，确定以第N输出寄存器为输出的第N输入寄存器中的第N不可控输入寄存器，其中，第N不可控输入寄存器不包括第N
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1不可控输入寄存，N为大于或等于2的自然数；根据第N不可控输入寄存器，确定以第N不可控输入寄存器为输入的第N+1输出寄存器，其中，第N+1输出寄存器不包括第一输出寄存器与前N输出寄存器；对不可控输入寄存器进行修复，包括：在不可控输入寄存器处分别添加可控输入寄存器，进行修复。
[0008]本申请采用另一个技术方案是：提供一种提高集成电路测试覆盖率的装置，其包括：用于获取集成电路中的不可控输入寄存器的模块，其中，通过用于获取集成电路中的不可控输入寄存器的模块，根据集成电路中任一可观测的第一输出寄存器，确定以第一输出寄存器为输出的第一输入寄存器中的第一不可控输入寄存器，根据第一不可控输入寄存器，确定以第一不可控输入寄存器为输入的第二输出寄存器，其中，第二输出寄存器不包括第一输出寄存器，根据第N输出寄存器，确定以第N输出寄存器为输出的第N输入寄存器中的第N不可控输入寄存器，其中，第N不可控输入寄存器不包括第N
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1不可控输入寄存，N为大于或等于2的自然数，根据第N不可控输入寄存器，确定以第N不可控输入寄存器为输入的第N+1输出寄存器，其中，第N+1输出寄存器不包括第一输出寄存器与前N输出寄存器；用于对不可控输入寄存器进行修复的模块，其在不可控输入寄存器处分别添加可控输入寄存器，进行修复。
[0009]本申请的有益效果是：提供一种提高集成电路测试覆盖率的方法及装置，通过分析找出集成电路中的不可控寄存器，并对不可控寄存器所在电路添加相应的可控寄存器，使得其电路的相关器件可控，进而提高集成电路测试覆盖率。
附图说明
[0010]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0011]图1是本申请的提高集成电路测试覆盖率的方法中集成电路设计的结构示意图；
[0012]图2是本申请的提高集成电路测试覆盖率的方法的一个具体实施方式的流程示意图；
[0013]图3是本申请的提高集成电路测试覆盖率的方法的一个具体实施例中可控集成电路的逻辑电路图；
[0014]图4是本申请的提高集成电路测试覆盖率的方法的一个具体实施例中可观测集成电路的逻辑电路图；
[0015]图5是本申请的提高集成电路测试覆盖率的方法的一个具体实施例中逻辑锥结构的示意图；
[0016]图6是本申请的提高集成电路测试覆盖率的方法的一个具体实例中可观测输出寄存器所在逻辑锥结构的示意图；
[0017]图7是本申请的提高集成电路测试覆盖率的方法的一个具体实例中不可控输入寄存器相关的逻辑锥结构的示意图；
[0018]图8是本申请的提高集成电路测试覆盖率的方法的一个具体实例中经修复的不可控输入寄存器相关的逻辑锥结构示意图；
[0019]图9是本申请的一种提高集成电路测试覆盖率的装置的一个具体实施方式组成的示意图。
[0020]通过上述附图，已示出本申请明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本公开构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本公开的概念。
具体实施方式
[0021]下面结合附图对本申请的较佳实施例进行详细阐述，以使本申请的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本申请的保护范围做出更为清楚明确的界定。
[0022]需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种提高集成电路测试覆盖率的方法，其特征在于，包括：获取集成电路中的不可控输入寄存器，包括，根据所述集成电路中任一可观测的第一输出寄存器，确定以所述第一输出寄存器为输出的第一输入寄存器中的第一不可控输入寄存器；根据所述第一不可控输入寄存器，确定以所述第一不可控输入寄存器为输入的第二输出寄存器，其中，所述第二输出寄存器不包括所述第一输出寄存器；根据第N输出寄存器，确定以所述第N输出寄存器为输出的第N输入寄存器中的第N不可控输入寄存器，其中，所述第N不可控输入寄存器不包括第N
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1不可控输入寄存，所述N为大于或等于2的自然数；根据所述第N不可控输入寄存器，确定以所述第N不可控输入寄存器为输入的第N+1输出寄存器，其中，所述第N+1输出寄存器不包括所述第一输出寄存器与前N输出寄存器；对所述不可控输入寄存器进行修复，包括：在所述不可控输入寄存器处分别添加可控输入寄存器，进行修复。2.如权利要求1所述的提高集成电路测试覆盖率的方法，其特征在于，还包括：获取集成电路中的不可观测输出寄存器，包括，对所述第二输出寄存器、所述第N+1输出寄存器的观测性进行判断，获取所述第二输出寄存器、所述第N+1输出寄存器中的所述不可观测输出寄存器；对所述不可观测输出寄存器进行修复，包括：在所述不可观测输出寄存器处分别添加可观测输出寄存器，进行修复。3.如权利要求1所述的提高集成电路测试覆盖率的方法，其特征在于，所述获取集成电路中的不可控输入寄存器的过程，包括：分别确定以所述第一输出寄存器、所述第N输出寄存器为最终输出的逻辑锥结构，根据所述逻辑锥结构确定所述第一不可控输入寄存器和所述第N不可控输入寄存器，其中，所述逻辑锥结构为以所述第一输出寄存器或所述第N输出寄存器为输出的所述集成电路的局部电路。4.如权利要求1
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3任一所述的提高集成电路测试覆盖率的方法，其特征在于，所述对所述不可控输入寄存器进行修复的过程包括：在所述不可控输入寄存器与所述不可控输入寄存器为输入的第一个逻辑器件之间插入一可控输入寄存器，对所述不可控输入寄存器进行修复。5.如权利要求1
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2任一所述的提高集成电路测试覆盖率的方法，其特征在于，所述对所述不可观测输出寄存器进行修复的过程包括：在所述不可观测输出寄存器与所述不可观测输出寄存器为输出的最后一个逻辑器件之间插入一可观测输出寄存器，对所述不可观测输出寄存器进...

【专利技术属性】
技术研发人员：葛颖峰，李孙华，徐祎喆，朱勇，
申请(专利权)人：重庆百瑞互联电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：