复介电常数测量方法、射频器件、集成电路及无线电器件技术

本申请实施例公开了一种复介电常数测量方法、射频器件、集成电路及无线电器件。用于测试复介电常数的天线结构包括：依次叠置的天线层、介质层和金属地层；设置在天线层中的辐射单元；与辐射单元连接的馈线；以及设置在馈线上或者临近馈线设置的谐振结构；其中，辐射单元用于辐射无线电信号，以基于无线电信号在预设频段范围的极值增益得到谐振结构的实测谐振频率；以及基于实测谐振频率和极值增益可得到介质层的复介电常数。本申请实施例提供的复介电常数测量方法，操作简单，效果直观，精度较高。高。高。

【技术实现步骤摘要】
复介电常数测量方法、射频器件、集成电路及无线电器件


[0001]本申请实施例涉及电子
，尤其涉及一种复介电常数测量方法、射频器件、集成电路及无线电器件。

技术介绍

[0002]高频介质作为重要的电磁波传输媒质，被广泛的应用于各种高频电路、天线等各个领域设计、中。高频介质材料的电磁参数一般指复介电常数和复磁导率，通常以复数的形式表示。实际天线设计中，复介电常数往往采用介电常数和损耗正切两个参数来衡量。不同厂家或者同一厂家不同批次的微波介质的复介电常数往往存在差异，影响产品的设计、调试和生产。因此快速精确得测量微波介质的复介电常数对于射频天线的设计至关重要。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供一种复介电常数测量方法、射频器件、集成电路及无线电器件，以实现快速精确得测量微波介质的复介电常数的效果。
[0004]本申请实施例提供了一种用于测试复介电常数的天线结构，所述天线结构包括：
[0005]依次叠置的天线层、介质层和金属地层；
[0006]设置在所述天线层中的辐射单元；
[0007]与所述辐射单元连接的馈线；以及
[0008]设置在所述馈线上或者临近所述馈线设置的谐振结构；
[0009]其中，所述辐射单元用于辐射无线电信号，以基于所述无线电信号在预设频段范围的极值增益得到所述谐振结构的实测谐振频率；以及
[0010]基于所述实测谐振频率和所述极值增益可得到所述介质层的复介电常数。
[0011]本申请实施例提供的用于测试复介电常数的天线结构，通过在其内设置谐振结构，且通过辐射单元辐射的无线电信号在预设频段范围内的极值增益得到该谐振结构的实测谐振频率，进而基于实测谐振频率和极值增益可得到介质层的复介电常数，即通过该天线结构即可确定介质层的复介电常数，操作简单，效果直观，精度较高。
[0012]在一个可选的实施例中，所述谐振结构自身构成电感结构，所述谐振结构与所述馈线构成电容结构。
[0013]在一个可选的实施例中，所述谐振结构的形状可为圆环形、椭圆环形或多边环形等。
[0014]可以理解的是，谐振结构的形状包括但不限于上述示例，本领域技术人员可以根据实际情况设置谐振结构的形状。
[0015]本申请实施例还提供了一种天线结构中介质层的复介电常数测量方法，所述天线结构中设置有谐振结构，所述复介电常数测量方法包括：
[0016]获取在预设频段范围内所述天线结构所辐射无线电信号的极值增益，以及该极值增益所对应所述无线电信号的频率；以及
[0017]基于所述极值增益和该极值增益所对应所述无线电信号的频率得到所述介质层的复介电常数。
[0018]本申请实施例提供的天线结构中介质层的复介电常数测量方法，通过在天线结构内设置谐振结构，基于该谐振结构获取在预设频段范围内天线结构所辐射无线电信号的极值增益，以及该极值增益所对应无线电信号的频率，进而基于该极值增益和该极值增益所对应所述无线电信号的频率得到介质层的复介电常数，操作简单，效果直观，精度较高。
[0019]在一个可选的实施例中，还包括：
[0020]预置参考数据库；以及
[0021]基于所述极值增益和该极值增益所对应所述无线电信号的频率从所述参考数据库中获取所述介质层的复介电常数；
[0022]其中，所述参考数据库包括所述复介电常数与信号频率和信号增益对应的多组数据。
[0023]在一个可选的实施例中，所述复介电常数包括介电常数和损耗正切；所述参考数据库包括第一数据对和第二数据对，所述第一数据对包括所述介电常数与对应的信号频率，所述第二数据对包括各所述信号频率下所述损耗正切与对应的信号增益；
[0024]其中，所述基于所述极值增益和该极值增益所对应所述无线电信号的频率从所述参考数据库中获取所述介质层的复介电常数，包括：
[0025]基于所述极值增益和所述第一数据对获取所述介电常数；
[0026]基于所述极值增益所对应所述无线电信号的频率和所述第二数据对获取所述损耗正切。
[0027]在一个可选的实施例中，还包括：
[0028]基于仿真数据获取所述参考数据库。
[0029]本领域技术人员可以理解，所述参考数据库的获取并不限于仿真数据获取，现有任意一种能够获取该参考数据库的方式均落入本专利技术的保护范围，在此不再赘述。
[0030]在一个可选的实施例中，所述天线结构为如上述任一实施例所述的天线结构。
[0031]本申请实施例还提供了一种射频器件，所述射频器件包括：
[0032]高频介质；以及
[0033]基于所述高频介质的复介电常数设计的射频结构，设置在所述高频介质上；
[0034]其中，基于如上述任一实施例所述的复介电常数测量方法得到所述高频介质的复介电常数。
[0035]本申请实施例提供的射频器件，不仅可以测试出该射频器件中的高频介质的复介电常数，同时还可以用于无线通信，即无需在射频器件中预留额外的测试结构，即可完成对高频介质的复介电常数的测试，同时还不会影响射频器件的射频性能，操作简单，效果直观，精度高。
[0036]在一个可选的实施例中，所述射频结构包括：
[0037]天线，用于辐射无线电信号；以及
[0038]馈线，与所述天线电连接。
[0039]在一个可选的实施例中，所述射频结构还包括：
[0040]用于滤波的谐振结构，设置在所述馈线上或者临近所述馈线设置的谐振结构；
[0041]其中，所述谐振结构设置在所述馈线上时，所述谐振结构的谐振频率与所述射频器件所发射无线电信号的中心频率一致；以及
[0042]所述谐振结构临近所述馈线设置时，所述谐振结构的谐振频率与所述射频器件所发射无线电信号的中心频率相异。
[0043]本申请实施例中，通过在射频结构内设置谐振结构，通过谐振结构将天线所发射的预设频段之外的所有信号进行滤除。
[0044]本申请实施例还提供了一种集成电路，所述集成电路包括：
[0045]如上述任一实施例所述的射频器件，用于收发无线电信号；以及
[0046]信号处理模块，用于对所接收的无线电信号进行信号处理，以实现通信和/或目标检测。
[0047]本申请实施例提供的集成电路，包括上述实施例中的所述射频器件，且由于该射频器件不仅可以测试出该射频器件中的高频介质的复介电常数，同时还可以用于无线通信，即无需在射频器件中预留额外的测试结构，即可完成对高频介质的复介电常数的测试，同时还不会影响集成电路的性能，操作简单，效果直观，精度高。
[0048]在一个可选的实施例中，所述集成电路为毫米波雷达芯片。
[0049]在一个可选的实施例中，所述集成电路为AiP芯片。
[0050]本申请实施例还提供了一种无线电器件，该无线电器件包括：
[0051]承载体；以及
[0052]如上述任一实施例所述的集成电路，设置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测试复介电常数的天线结构，其特征在于，包括：依次叠置的天线层、介质层和金属地层；设置在所述天线层中的辐射单元；与所述辐射单元连接的馈线；以及设置在所述馈线上或者临近所述馈线设置的谐振结构；其中，所述辐射单元用于辐射无线电信号，以基于所述无线电信号在预设频段范围的极值增益得到所述谐振结构的实测谐振频率；以及基于所述实测谐振频率和所述极值增益可得到所述介质层的复介电常数。2.根据权利要求1所述的天线结构，其特征在于，所述谐振结构自身构成电感结构，所述谐振结构与所述馈线构成电容结构。3.根据权利要求1或2所述的天线结构，其特征在于，所述谐振结构的形状为圆环形、椭圆环形或多边环形。4.一种天线结构中介质层的复介电常数测量方法，其特征在于，所述天线结构中设置有谐振结构，所述复介电常数测量方法包括：获取在预设频段范围内所述天线结构所辐射无线电信号的极值增益，以及该极值增益所对应所述无线电信号的频率；以及基于所述极值增益和该极值增益所对应所述无线电信号的频率得到所述介质层的复介电常数。5.根据权利要求4所述的复介电常数测量方法，其特征在于，还包括：预置参考数据库；以及基于所述极值增益和该极值增益所对应所述无线电信号的频率从所述参考数据库中获取所述介质层的复介电常数；其中，所述参考数据库包括所述复介电常数与信号频率和信号增益对应的多组数据。6.根据权利要求5所述的复介电常数测量方法，其特征在于，所述复介电常数包括介电常数和损耗正切；所述参考数据库包括第一数据对和第二数据对，所述第一数据对包括所述介电常数与对应的信号频率，所述第二数据对包括各所述信号频率下所述损耗正切与对应的信号增益；其中，所述基于所述极值增益和该极值增益所对应所述无线电信号的频率从所述参考数据库中获取所述介质层的复介电常数，包括：基于所述极值增益和所述第一数据对获取所述介电常数；基于所述极值增益所对应所述无线电信号的频率和所述第二数据对获取所述损耗正切。7.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：庄凯杰，李珊，陈哲凡，王典，
申请(专利权)人：加特兰微电子科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：