本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试装置，包括测试仪本体，所述测试仪本体的顶部设有方杆，所述方杆的内部设有滚球，所述方杆上设有滑杆，所述滑杆的端部设有第一连接块，所述第一连接块的侧面设有连接杆，所述连接杆的端部设有滑动块，所述滑动块的内部设有第二连接块、弹簧，所述滑动块的侧面设有支撑块，所述滑动块的顶部设有方盖，所述方盖的内部设有扭簧，所述扭簧穿出方盖的端部上设有压块，所述滑动块的表面设有限位杆；测试仪上连接的导线置于支撑块上，导线位于支撑块、压块之间及导线被限位固定，避免在测试过程中发生集成电路元件移动而扯动导线的情况。元件移动而扯动导线的情况。元件移动而扯动导线的情况。
【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试装置
[0001]本技术属于电子元件测试仪器
，具体涉及一种集成电路测试装置。
技术介绍
[0002]集成电路板测试仪具有高速度、高精度、多功能、多参数和宽测量范围等诸多特点。电路板测试仪在计算机的控制下，能自动完成激励、测量、数据处理、显示或输出测试结果，电路板测试仪应用较为广泛。
[0003]现有的电路板测试仪在对集成电路元件进行测试时，测试仪与元件之间连接有导线，测试过程中会碰触元件，元件移动及扯动导线，导线连接不够稳定及降低了导线的灵敏性的问题，为此我们提出一种集成电路测试装置。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种集成电路测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的测试仪与元件之间连接有导线，测试过程中碰触元件，元件移动及扯动导线，导线连接不够稳定及降低了导线的灵敏性的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成电路测试装置，包括测试仪本体，所述测试仪本体的顶部设有方杆，所述方杆的内部设有滚球，所述方杆上设有滑杆，所述滑杆的端部设有第一连接块，所述第一连接块的侧面设有连接杆，所述连接杆的端部设有滑动块，所述滑动块的内部设有第二连接块、弹簧，所述滑动块的侧面设有支撑块，所述滑动块的顶部设有方盖，所述方盖的内部设有扭簧，所述扭簧穿出方盖的端部上设有压块，所述滑动块的表面设有限位杆。
[0006]优选的，所述方杆的内部开设有滑腔，所述滚球位于滑腔内，所述滑杆与滚球连接，所述滑杆与方杆滑动连接。
[0007]优选的，所述第一连接块的内部设有第一滑块、滑槽，所述连接杆一端穿过第一连接块并与第一滑块连接，所述连接杆与第一连接块滑动连接，所述连接杆与滑动块滑动连接。
[0008]优选的，所述第一连接块的侧面开设有圆形的定位槽，所述限位杆为“L”型结构，所述限位杆与定位槽匹配。
[0009]优选的，所述连接杆依次穿过滑动块、弹簧的端部与第二连接块连接，所述方盖内设有盲孔，所述扭簧的两端与方盖内表面连接及中间部分与压块连接，所述方盖中间位置开设有弧槽。
[0010]优选的，所述支撑块、压块对立的表面上均开设有半圆柱形的放置槽，支撑块、压块贴合时组成一个整圆的线槽。
[0011]优选的，所述测试仪本体的底部设有稳固块、两个固定板，所述稳固块的底部转动连接有“L”型结构的转杆，所述转杆的端部设有放置盒，所述放置盒上设有磁铁，所述磁铁与固定板吸附连接，所述放置盒表面开设有安放槽，安放槽位于两个磁铁之间，所述放置盒
位于安放槽内设有分隔板。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0013]1.通过设置的支撑块、压块、扭簧，测试仪上连接的导线置于支撑块上，导线位于支撑块、压块之间及导线被限位固定，避免在测试过程中发生集成电路元件移动而扯动导线的情况。
[0014]2.通过设置的放置盒，放置盒上设有安放槽及安放槽内设有分隔板，便于将导线置于放置盒内，且不同颜色、长短的导线可分隔开放置，放置盒转动连接，便于旋转放置盒，利于取放导线。
附图说明
[0015]图1为本技术的结构示意图；
[0016]图2为本技术的第一连接块剖视结构示意图；
[0017]图3为本技术的方杆剖视结构示意图；
[0018]图4为本技术的放置盒俯视结构示意图；
[0019]图中：1、测试仪本体；2、方杆；3、第一连接块；4、连接杆；5、滑动块；6、支撑块；7、方盖；8、扭簧；9、压块；10、限位杆；11、稳固块；12、转杆；13、放置盒；14、固定板；15、第二连接块；16、弹簧；17、滚球；18、滑杆；19、磁铁。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0021]实施例
[0022]请参阅图1至图4，本技术提供一种技术方案：一种集成电路测试装置，包括测试仪本体1，测试仪本体1的顶部设有方杆2，方杆2的内部设有滚球17，方杆2上设有滑杆18，滑杆18的端部设有第一连接块3，第一连接块3的侧面设有连接杆4，连接杆4的端部设有滑动块5，滑动块5的内部设有第二连接块15、弹簧16，滑动块5的侧面设有支撑块6，滑动块5的顶部设有方盖7，方盖7的内部设有扭簧8，扭簧8穿出方盖7的端部上设有压块9，滑动块5的表面设有限位杆10，测试仪上连接的导线置于支撑块6上，导线位于支撑块6、压块9之间及导线被限位固定，避免在测试过程中发生集成电路元件移动而扯动导线的情况，测试仪本体1的底部设有稳固块11、两个固定板14，稳固块11的底部转动连接有“L”型结构的转杆12，转杆12的端部设有放置盒13，放置盒13上设有磁铁19，放置盒13表面开设有安放槽，放置盒13位于安放槽内设有分隔板，便于将导线置于放置盒13内，且不同颜色、长短的导线可分隔开放置，放置盒13转动连接，便于旋转放置盒13，利于取放导线。
[0023]本实施例中，方杆2的内部开设有滑腔，滚球17位于滑腔内，滑杆18与滚球17连接，滑杆18与方杆2滑动连接，便于调节滑杆18、第一连接块3的水平位置。
[0024]本实施例中，第一连接块3的内部设有第一滑块、滑槽，连接杆4一端穿过第一连接块3并与第一滑块连接，连接杆4与第一连接块3位于竖直方向上滑动连接，连接杆4与滑动
块5位于水平方向上滑动连接，便于调节滑动块5的竖直位置。
[0025]本实施例中，第一连接块3的侧面开设有圆形的定位槽，限位杆10为“L”型结构，限位杆10与定位槽匹配，限位杆10嵌入第一连接块3，滑动块5被限位固定。
[0026]本实施例中，连接杆4依次穿过滑动块5、弹簧16的端部与第二连接块15连接，方盖7内设有盲孔，扭簧8的两端与方盖7内表面连接及中间部分与压块9连接，方盖7中间位置开设有弧槽，扭簧8的中间位置穿过弧槽，扭簧8可旋转，便于调节压块9的位置。
[0027]本实施例中，支撑块6、压块9对立的表面上均开设有半圆柱形的放置槽，支撑块6、压块9贴合时组成一个整圆的线槽，测试仪上连接导线时，导线置于线槽内及导线被限位固定，避免在测试过程中发生集成电路元件移动而扯动导线的情况。
[0028]本实施例中，磁铁19与固定板14吸附连接，放置盒13表面开设有安放槽，安放槽位于两个磁铁19之间，放置盒13位于安放槽内设有分隔板，便于将导线置于放置盒13内，利于取放导线。
[0029]本技术的工作原理及使用流程：
[0030]在使用测试仪对集成电路元件进行测试时，将第一连接块3沿方杆2的长度方向滑动至适宜位置，滑杆18随第一连接块3滑动，拉动滑动块5及弹簧16处于收缩本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试装置，包括测试仪本体(1)，其特征在于：所述测试仪本体(1)的顶部设有方杆(2)，所述方杆(2)的内部设有滚球(17)，所述方杆(2)上设有滑杆(18)，所述滑杆(18)的端部设有第一连接块(3)，所述第一连接块(3)的侧面设有连接杆(4)，所述连接杆(4)的端部设有滑动块(5)，所述滑动块(5)的内部设有第二连接块(15)、弹簧(16)，所述滑动块(5)的侧面设有支撑块(6)，所述滑动块(5)的顶部设有方盖(7)，所述方盖(7)的内部设有扭簧(8)，所述扭簧(8)穿出方盖(7)的端部上设有压块(9)，所述滑动块(5)的表面设有限位杆(10)。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述方杆(2)的内部开设有滑腔，所述滚球(17)位于滑腔内，所述滑杆(18)与滚球(17)连接，所述滑杆(18)与方杆(2)滑动连接。3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述第一连接块(3)的内部设有第一滑块、滑槽，所述连接杆(4)一端穿过第一连接块(3)并与第一滑块连接，所述连接杆(4)与第一连接块(3)滑动连接，所述连接杆(4)与滑动块(5)滑动连接。4.根据权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员：叶钧戊，李明正，胡刚，
申请(专利权)人：深圳兴磊科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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