一种主板核心电源的测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种主板核心电源的测试系统，对于没有专门的电源测试治具的待测主板，通过转接板将英特尔电源测试治具的电源信号、地信号和控制信号转换为待测主板对应的信号，继而实现通过测试主机基于目前技术成熟的英特尔电源测试治具对国产大电流芯片的核心电源质量进行测试，并通过信号检测器自英特尔电源测试治具获取待测主板的反馈信号，规避了现有国产大电流芯片核心电源测试时只能通过电源输出端进行测试导致无法测得真实的电源质量的问题，且相较于电子负载动态抽载更能够模拟出实际应用场合中的电源负载变化，解决了现阶段由于没有专门测试国产大电流芯片核心电源质量的硬件环境所导致的国产大电流芯片核心电源质量测试不准确的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种主板核心电源的测试系统
本专利技术涉及电源测试
，特别是涉及一种主板核心电源的测试系统。
技术介绍
为减少甚至摆脱国内对进口芯片的依赖，现今国家越来越重视国产芯片的发展。电源作为芯片正常工作的动力，其质量直接决定芯片能否稳定工作。在对大电流芯片(例如CPU、GPU等)的核心电源进行测试时，由于进口芯片具有成熟和完善的核心电源测试治具和测试规范，目前在国内仍在广泛应用，而国产芯片还未具有专门测试大电流芯片核心电源质量的硬件环境。图1为现有国产CPU核心电源的测试系统示意图。如图1所示，待测CPU的电源输出端设有电容C和电感L，电感L的第一端连接电源控制器，电感L的第二端连接电容C的第一端和待测CPU的电源输出端，电容C的第二端接地。目前对国产芯片的核心电源进行测试时，通过电子负载101在待测主板的电源输出端(电容C两端)焊接负载来抽载，测试位置也只能在电源输出端，分别测试静态和动态下的电源稳定性。由于电源输出端到待测CPU距离较远，寄生参数复杂，无法测到真实的电源质量，且电子负载动态抽载很慢，无法测到真实的快速负载变化。在现阶段，如何对国产大电流芯片的核心电源质量进行准确的测试，是本领域技术人员需要解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种主板核心电源的测试系统，用于解决现阶段由于没有专门测试国产大电流芯片核心电源质量的硬件环境的情况所导致的国产大电流芯片核心电源质量测试不准确的问题。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种主板核心电源的测试系统，包括：转接板，与所述转接板的第一端连接的英特尔电源测试治具，与所述英特尔电源测试治具的信号输出引脚连接的信号检测器以及与所述英特尔电源测试治具的控制端连接的测试主机；其中，所述转接板的第二端用于连接待测主板，所述转接板用于将所述英特尔电源测试治具的测试信号转换为所述待测主板的测试信号；所述测试信号包括电源信号、地信号和控制信号；所述测试主机用于控制所述英特尔电源测试治具对所述待测主板的核心电源进行测试；所述信号检测器用于获取所述待测主板的反馈信号。可选的，所述转接板具体为四层板卡；其中，所述转接板的第一层设有与所述英特尔电源测试治具对应连接的第一电源引脚、第一地引脚和第一控制引脚；所述转接板的第四层设有与所述待测主板对应连接的第二电源引脚、第二地引脚和第二控制引脚；所述转接板的第二层设有与所述第一电源引脚对应连接的第一电源信号装置，与所述第一地引脚对应连接的第一地信号装置，以及与所述第一控制引脚对应连接的第一控制信号装置；所述转接板的第三层设有与所述第二电源引脚对应连接的第二电源信号装置，与所述第二地引脚对应连接的第二地信号装置，以及与所述第二控制引脚对应连接的第二控制信号装置；分别通过电路板导孔，所述第一电源信号装置与所述第二电源信号装置对应连接，所述第二地信号装置与所述第二地信号装置对应连接，所述第一控制信号装置与所述第二控制信号装置对应连接。可选的，用于连接所述第一电源信号装置与所述第二电源信号装置的电路板导孔具体为外径20密耳、内径10密耳的电路板导孔，一个所述电路板导孔传输0.5安的电流。可选的，所述第一电源引脚的数量、所述第一地引脚的数量、所述第二电源引脚的数量和所述第二地引脚的数量一致。可选的，所述第一控制引脚和所述第二控制引脚均具体包括：与所述核心电源一一对应的辅助电压监控引脚，与所述核心电源一一对应的时钟引脚，与所述核心电源一一对应的数据引脚以及所述核心电源一一对应的告警引脚。可选的，所述转接板的各层之间均设有绝缘层。可选的，所述信号检测器具体为示波器；所述示波器的信号输入端与所述英特尔电源测试治具的辅助电压监控引脚连接。可选的，所述信号检测器的信号输出端与所述测试主机的信号输入端连接；所述测试主机控制所述英特尔电源测试治具对所述待测主板的核心电源进行测试，具体包括：所述测试主机向所述英特尔电源测试治具下发输出电压命令，以使所述英特尔电源测试治具通过所述转接板向所述待测主板的电源控制器输出与所述输出电压命令对应的电压控制信号，接收所述信号检测器获取的所述电源控制器输出电压的第一检测值，若所述第一检测值与对应的所述输出电压命令的电压设定值的误差在第一预设范围内，则确定所述核心电源通过电压测试，若存在误差超出所述第一预设范围的所述第一检测值，则确定所述核心电源未通过所述电压测试；所述测试主机向所述英特尔电源测试治具下发稳定负载电流命令，以使所述英特尔电源测试治具根据所述稳定负载电流命令通过所述转接板对所述待测主板的电源控制器抽载电流，测试0％到100％十阶负载电流时所述信号检测器获取的所述电源控制器输出电压的第二检测值，若所述第二检测值与对应的所述稳定负载电流命令的电压设定值之间的误差在第二预设范围内，则确定所述核心电源通过稳定负载电流测试，若存在误差超出所述第二预设范围的所述第二检测值，则确定所述核心电源未通过所述稳定负载电流测试；所述测试主机向所述英特尔电源测试治具下发动态负载电流命令，以使动态负载电流命令通过所述转接板控制所述待测主板的电源控制器的负载电流以与所述动态负载电流命令对应的范围和变化速率进行动态变化，接收所述信号检测器获取的所述电源控制器输出电压的第三检测值，若所述第三检测值与对应的所述动态负载电流命令的电压设定值之间的误差在第三预设范围内，则确定所述核心电源通过动态负载电流测试，若存在误差超出所述第三预设范围的所述第三检测值，则确定所述核心电源未通过所述动态负载电流测试。可选的，所述待测主板具体为待测CPU。本专利技术所提供的主板核心电源的测试系统，包括：转接板，与转接板的第一端连接的英特尔电源测试治具，与英特尔电源测试治具的信号输出引脚连接的信号检测器以及与英特尔电源测试治具的控制端连接的测试主机；对于没有专门的电源测试治具的待测主板来说，通过转接板将英特尔电源测试治具的电源信号、地信号和控制信号转换为待测主板对应的信号，继而实现通过测试主机基于目前技术成熟的英特尔电源测试治具对国产大电流芯片的核心电源质量进行测试，并通过信号检测器自英特尔电源测试治具获取待测主板的反馈信号，规避了现有国产大电流芯片核心电源测试时只能通过电源输出端进行测试导致无法测得真实的电源质量的问题，且相较于电子负载动态抽载更能够模拟出实际应用场合中的电源负载变化，解决了现阶段由于没有专门测试国产大电流芯片核心电源质量的硬件环境的情况所导致的国产大电流芯片核心电源质量测试不准确的问题。附图说明为了更清楚的说明本专利技术实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为现有国产CPU核心电源的测试系统示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种主板核心电源的测试系统的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种主板核心电源的测试系统，其特征在于，包括：转接板，与所述转接板的第一端连接的英特尔电源测试治具，与所述英特尔电源测试治具的信号输出引脚连接的信号检测器以及与所述英特尔电源测试治具的控制端连接的测试主机；/n其中，所述转接板的第二端用于连接待测主板，所述转接板用于将所述英特尔电源测试治具的测试信号转换为所述待测主板的测试信号；所述测试信号包括电源信号、地信号和控制信号；/n所述测试主机用于控制所述英特尔电源测试治具对所述待测主板的核心电源进行测试；/n所述信号检测器用于获取所述待测主板的反馈信号。/n

【技术特征摘要】
1.一种主板核心电源的测试系统，其特征在于，包括：转接板，与所述转接板的第一端连接的英特尔电源测试治具，与所述英特尔电源测试治具的信号输出引脚连接的信号检测器以及与所述英特尔电源测试治具的控制端连接的测试主机；
其中，所述转接板的第二端用于连接待测主板，所述转接板用于将所述英特尔电源测试治具的测试信号转换为所述待测主板的测试信号；所述测试信号包括电源信号、地信号和控制信号；
所述测试主机用于控制所述英特尔电源测试治具对所述待测主板的核心电源进行测试；
所述信号检测器用于获取所述待测主板的反馈信号。


2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述转接板具体为四层板卡；
其中，所述转接板的第一层设有与所述英特尔电源测试治具对应连接的第一电源引脚、第一地引脚和第一控制引脚；
所述转接板的第四层设有与所述待测主板对应连接的第二电源引脚、第二地引脚和第二控制引脚；
所述转接板的第二层设有与所述第一电源引脚对应连接的第一电源信号装置，与所述第一地引脚对应连接的第一地信号装置，以及与所述第一控制引脚对应连接的第一控制信号装置；
所述转接板的第三层设有与所述第二电源引脚对应连接的第二电源信号装置，与所述第二地引脚对应连接的第二地信号装置，以及与所述第二控制引脚对应连接的第二控制信号装置；
分别通过电路板导孔，所述第一电源信号装置与所述第二电源信号装置对应连接，所述第二地信号装置与所述第二地信号装置对应连接，所述第一控制信号装置与所述第二控制信号装置对应连接。


3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，用于连接所述第一电源信号装置与所述第二电源信号装置的电路板导孔具体为外径20密耳、内径10密耳的电路板导孔，一个所述电路板导孔传输0.5安的电流。


4.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述第一电源引脚的数量、所述第一地引脚的数量、所述第二电源引脚的数量和所述第二地引脚的数量一致。


5.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述第一控制引脚和所述第二控制引脚均具体包括：与所述核心电源一一对应的辅助电压监控引脚，与所述核心电源一一对应的时钟引脚，与所述核心电源一一对应的数据引脚以及所述核心电源一一对应的告警...

【专利技术属性】
技术研发人员：冀荣福，
申请(专利权)人：浪潮电子信息产业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37