本实用新型专利技术通过提供一种新型重力式测试编带机,包括位于上料工位和编带工位之间的测试部,测试部包括:第一传输部,第二传输部,第一测试机构,第二测试机构,第三测试机构,第四测试机构。上料工位包括上料电机,编带工位包括第一检测机构和第二检测机构。本实用新型专利技术的目的是为了解决现有的测试编带机主要为单端进料的效率已经远远不能满足实际需要。并且现有的设备还存在上料速度慢,故障率高,制造成本高,电子元器件测试等待时间过长,电子元器件不良率高的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种新型重力式测试编带机
本技术涉及编带机领域,尤其涉及一种新型重力式测试编带机。
技术介绍
现有的针对电子元器件的检测过程和封装过程所采用的测试编带机,一般是将入料过程、测试过程和编带过程等多个工位组合到一个工位。现有的测试编带机相比于原有的人工操作,提高了设备的工作效率,减轻了工人工作压力,也节约了劳务成本。现有的测试编带机因提高工作,成本低而受到广泛推广。目前市面上现有的测试编带机主要为单端进料,随着生产的需要,单端进料设备的效率已经远远不能满足实际需要。
技术实现思路
基于此,本技术专利针对现有设备效率低,上料速度慢,设备故障率高,电子元器件测试等待时间过长,电子元器件不良率高的问题,提供一种新型重力式测试编带机。包括:位于上料工位和编带工位之间的测试部,其特征在于,测试部包括:第一传输部,第二传输部和测试机构;第一传输部和第二传输部纵向并列,第一传输部和第二传输部将电子元器件从上料工位传输至测试机构。测试机构包括纵向并列的第一测试机构、第二测试机构、第三测试机构和第四测试机构,位于第一传输部和第二传输部下方。第一测试机构、第二测试机构、第三测试机构和第四测试机构从第一传输部和第二传输部接收电子元器件并进行电性测试。上料工位包括第一接料口和第二接料口;第一接料口和第二接料口位于第一传输部和第二传输部上方,将电子元器件输送至第一传输部和第二传输部。具体的,设置第一接料口和第二接料口,有效降低了设备的故障率,降低了设备的制造成本。具体的,上料工位还包括空管放置料盒,同步轮,上料电机,第一接料口推管气缸,第二接料口推管气缸,第一产品立柱,第二产品立柱,上料托盘和滑块。具体的,上料电机安装在上料工位一侧,将电子元器件驱动至上料工位。具体的,通过上料电机加快上料的速度,提高了设备工作的效率,使得上料的速度满足第一接料口和第二接料口的接料速度。具体的,第一产品立柱和第二产品立柱内放置料管,料管用于放置电子元器件。具体的,上料电机驱动上料托盘将料管传送到第一接料口推管气缸和第二接料口推管气缸。具体的,第一接料口推管气缸和第二接料口推管气缸在同步轮的带动下同时工作,同时将电子元器件推入第一接料口和第二接料口。具体的,滑块用于将上料托盘在运动中保持平稳。测试部还包括位于第一传输部和第二传输部下方的第一分料梭机构,第一分料梭机构将电子元器件从第一传输部和第二传输部分配给第一测试机构、第二测试机构、第三测试机构和第四测试机构。第一传输部包括沿纵向依次排列的第一翻转机构、第一旋转机构和第一分离机构;第一翻转机构将从第一接料口传入的电子元器件翻转至第一旋转机构,第一旋转机构将电子元器件旋转至第一分离机构,第一分离机构将电子元器件传输至第一测试机构和第二测试机构。第二传输部包括沿纵向依次排列的第二翻转机构、第二旋转机构和第二分离机构;第二翻转机构将从第二接料口传入的电子元器件翻转至第二旋转机构,第二旋转机构将电子元器件旋转至第二分离机构,第二分离机构将电子元器件传输至第三测试机构和第三测试机构。具体的,第一翻转机构和第二翻转机构工作结构一致,工作原理相同;第一旋转机构和第二旋转机构工作结构一致,工作原理相同;第一分离机构和第二分离机构工作结构一致,工作原理相同。具体的,第一翻转机构和第二翻转机构均包括入料轨道,入料压管气缸,入料滑块,入料翻转部件,入料翻转限位部件。具体的,第一旋转机构和第二旋转机构均包括皮带、旋转固定底座、旋转马达、旋转阻挡气缸以及旋转轨道。具体的,旋转马达运行,由皮带带动旋转轨道,将轨道水平旋转180°,电子元器件旋转完成。旋转阻挡气缸打开,电子元器件进入分离机构。具体的,第一分离机构和第二分离机构均包括轨道、产品分离器、分离气缸和胶棒。具体的,气缸带动产品分离器上下交替动作,将电子元器件分离,用胶棒压住上一颗电子元器件,保持电子元器件一颗一颗地分离。具体的,第一测试机构、第二测试机构、第三测试机构和第四测试机构均包括测试轨道,第一测试缓冲部件,第二测试缓冲部件,测试固定部件。具体的,电子元器件首先在测试轨道上进入第一测试缓冲部件,等待电性检测,然后在测试固定部件进行电性测试,完成电性测试后进入第二测试缓冲部件。测试部还包括位于测试机构下方的第二分料梭机构和不良排料机构,第二分料梭机构将经过测试机构测试的电子元器件筛选为良品电子元器件和不良品电子元器件;不良排料机构将不良品电子元器件收纳,良品电子元器件被传输至编带部。具体的,不良排料机构设置有多个并排的不良料管插槽,根据不良品电子元器件的类型不同,对不同的不良品电子元器件进行分类和收纳。进一步的,当不良料管插槽中收纳的当不良品电子元器件达到预设好的数量后,设备停止运转,对不良排料机构的不良料管进行更换。编带工位设置位于测试部下方的第一检测机构和第二检测机构,第一检测机构位于第二检测机构上方,第一检测机构和第二检测机构对经过测试机构处理的电子元器件进行物理检测。具体的,第一检测机构和第二检测机构包括三维检测、二维检测等维度检测。进一步的,第一检测机构和第二检测机构包括CCD等检测方法。编带工位还设置编带入料机构和载带机构;编带入料机构位于第一检测机构和第二检测机构之间,载带机构位于第二检测机构左侧,编带入料机构将良品电子元器件传输至载带机构,载带机构将良品电子元器件放入载带中。编带工位还设置封装机构、切刀机构和收料机构;封装机构、切刀机构和收料机构依次安装在编带工位下部;封装机构将放入载带中的良品电子元器件进行封装处理后,切刀机构对封装处理后的良品电子元器件进行切刀处理,收料机构对切断处理后的良品电子元器件进行收纳整理。本技术有益效果如下:本新型重力式测试编带机采用第一传输部、第二传输部的双传输结构、第一测试机构、第二测试机构、第三测试机构和第四测试机构提高了电子元器件的传输效率,节省了设备的制造成本;采用电机进行上料,提高了上料的速率,与双传输结构匹配;采用第一检测机构和第二检测机构双重物理检测,极大减少电子元器件中的不合格产品。附图说明图1为一实施例提供的新型重力式测试编带机整体结构图。图2为一实施例提供的上料机构的俯视结构图。图3为一实施例提供的测试部的示意图。图4为一实施例提供的编带工位的结构图。图5为一实施例提供的上料机构的右视结构图。图6为一实施例提供的测试结构的结构图。图7为一实施例提供的翻转机构的结构图。图8为一实施例提供的旋转机构的结构图。图9为一实施例提供的分离机构的结构图。图10为一实施例提供的第一分料梭的结构图。图11为一实施例提供的不良排料机构的结构图。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本技术进行进一本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种新型重力式测试编带机,包括位于上料工位和编带工位之间的测试部,其特征在于,所述测试部包括:第一传输部,第二传输部和测试机构;所述第一传输部和所述第二传输部纵向并列,所述第一传输部和所述第二传输部将电子元器件从所述上料工位传输至所述测试机构。/n
【技术特征摘要】
1.一种新型重力式测试编带机,包括位于上料工位和编带工位之间的测试部,其特征在于,所述测试部包括:第一传输部,第二传输部和测试机构;所述第一传输部和所述第二传输部纵向并列,所述第一传输部和所述第二传输部将电子元器件从所述上料工位传输至所述测试机构。
2.如权利要求1所述的新型重力式测试编带机,其特征在于:所述测试机构包括纵向并列的第一测试机构、第二测试机构、第三测试机构和第四测试机构,位于所述第一传输部和所述第二传输部下方;
所述第一测试机构、所述第二测试机构、所述第三测试机构和所述第四测试机构从所述第一传输部和所述第二传输部接收所述电子元器件并进行电性测试。
3.如权利要求2所述的新型重力式测试编带机,其特征在于:包括安装在所述上料工位的上料机构,所述上料机构包括上料电机,第一接料口和第二接料口;所述上料电机安装在所述上料工位一侧,将所述电子元器件驱动至所述上料工位;所述第一接料口和所述第二接料口位于所述第一传输部和所述第二传输部上方,将所述电子元器件输送至所述第一传输部和所述第二传输部。
4.如权利要求3所述的新型重力式测试编带机,其特征在于:所述测试部还包括位于所述第一传输部和所述第二传输部下方的第一分料梭机构,所述第一分料梭机构将所述电子元器件从所述第一传输部和所述第二传输部分配给所述第一测试机构、所述第二测试机构、所述第三测试机构和所述第四测试机构。
5.如权利要求4所述的新型重力式测试编带机,其特征在于:包括安装在所述编带工位上的检测机构,所述检测机构包括位于所述测试部下方的第一检测机构和第二检测机构,所述第一检测机构位于所述第二检测机构上方,所述第一检测机构和所述第二检测机构依次对经过所述测试机构处理的所述电子元器件进行物理检测。
6.如权利要求5所述的新型重力...
【专利技术属性】
技术研发人员:谢国清,
申请(专利权)人:东莞市华越自动化设备有限公司,
类型:新型
国别省市:广东;44
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。