一种引信安全与引爆系统自动测试装置制造方法及图纸

一种引信安全与引爆系统自动测试装置，包括中央控制单元MCU、状态检查单元、延时测试单元、电阻测试单元、数据处理AD单元、数据存储显示单元以及串行数据通讯单元，本实用新型专利技术将中央控制单元MCU、状态检查单元、延时测试单元、电阻测试单元、数据处理AD单元、数据存储显示单元以及串行数据通讯单元进行连接，并使用LCD屏进行显示，在中央控制板、信号转换板以及测量装置板上合理的安装多个单元，对引信安全与引爆系统的自动测试提供了良好的硬件基础，为引信安全与引爆系统检测的安全性提供了保障，可大大提高测试效率，同时，测试模块较为完善，也为优化测试方式，简化测试方法提供了更为优良的硬件环境。

【技术实现步骤摘要】
一种引信安全与引爆系统自动测试装置
本技术涉及一种引信安全与引爆系统自动测试装置。
技术介绍
引信安全与引爆系统测试装置是由测试电路、开关、数码管和指示灯组成。开关的使用，导致产品的测试没有办法做到时序控制，容易发生输出错误的测试信号，误操作等问题；数码管和指示灯显示具有局限性，无法明确显示所有测试项目，导致测试覆盖性不够全面。目前引信安全与引爆系统测试装置是测试人员通过拨动开关进行产品的功能性能测试，造成了测试安全性差、效率低、测试方法繁琐等问题，另外，测试人员误操作的行为，给被测产品带来损伤；不断的拨动开关，降低了测试装置的使用寿命，增加了更换测试装置的几率。随着科学技术和市场经济的发展，电子装备对测试保障的要求都有所提高，传统的测试设备和技术已经不能满足新时代下电子装备的发展需要。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本技术提供了一种引信安全与引爆系统自动测试装置，可运用自动控制程序，进行系统科学的逻辑处理和数学运算，自动化程度高、测试时间短、具有防误操作设计，能够有效提升测试效率、可靠性和安全性。本技术通过以下技术方案得以实现。本技术提供的一种引信安全与引爆系统自动测试装置，包括中央控制单元MCU、状态检查单元、延时测试单元、电阻测试单元、数据处理AD单元、数据存储显示单元以及串行数据通讯单元；其中，所述中央控制单元MCU与状态检查单元、延时测试单元、电阻测试单元、数据处理AD单元、数据存储显示单元以及串行数据通讯单元连接，串行数据通讯单元还与数据存储显示单元连接；>所述数据存储显示单元包括LCD屏，LCD屏通过串行数据通信单元与中央控制单元MCU连接。进一步的，还包括一个电源变换单元与数据处理单元以及中央控制单元MCU连接。进一步的，还包括中央控制板、信号转换板以及测量装置板，所述状态检查单元、延时测试单元以及电阻测试单元安装于测量装置板上；串行数据通讯单元安装于信号转换板上；中央控制单元MCU与数据处理AD单元安装于中央控制板上。进一步的，所述数据存储显示单元除LCD屏外均安装于中央控制板上。进一步的，所述中央控制板通过两个80芯的连接器与信号转换板相互连接。进一步的，所述测量装置板通过一个20芯的连接器以及一个10芯的连接器与信号转换板相连。进一步的，所述LCD屏为触摸显示屏，中央控制单元MCU接收来自LCD触摸显示屏发送的控制指令。进一步的，所述LCD屏与信号转换板之间采用RS-232串口进行连接。进行测试时，延时测试单元、状态检查单元以及电阻测试单元可接收经过中央控制单元MCU处理的控制信号进行引信安全与引爆系统的测试，并将相关数据信息反馈至中央控制单元MCU，中央控制单元MCU将数据发送至数据处理AD单元进行数据处理，并将相关数据经过串行数据通讯单元传输至存储显示单元进行存储，同时，中央控制单元MCU对经过数据处理AD单元处理的数据进行分析，将分析结果通过LCD屏进行显示。本技术的有益效果在于：通过本技术的实施，将中央控制单元MCU、状态检查单元、延时测试单元、电阻测试单元、数据处理AD单元、数据存储显示单元以及串行数据通讯单元进行连接，并使用LCD屏进行显示，在中央控制板、信号转换板以及测量装置板上合理的安装多个单元，对引信安全与引爆系统的自动测试提供了良好的硬件基础，为引信安全与引爆系统检测的安全性提供了保障，可大大提高测试效率，同时，测试模块较为完善，也为优化测试方式，简化测试方法提供了更为优良的硬件环境。附图说明图1是本技术的结构示意图；图2是本技术的电路板连接结构示意图。具体实施方式下面进一步描述本技术的技术方案，但要求保护的范围并不局限于所述。如图1-2，一种引信安全与引爆系统自动测试装置，包括中央控制单元MCU、状态检查单元、延时测试单元、电阻测试单元、数据处理AD单元、数据存储显示单元以及串行数据通讯单元；其中，所述中央控制单元MCU与状态检查单元、延时测试单元、电阻测试单元、数据处理AD单元、数据存储显示单元以及串行数据通讯单元连接，串行数据通讯单元还与数据存储显示单元连接；所述数据存储显示单元包括LCD屏，LCD屏通过串行数据通信单元与中央控制单元MCU连接。还包括一个电源变换单元与数据处理单元以及中央控制单元MCU连接。还包括中央控制板、信号转换板以及测量装置板，所述状态检查单元、延时测试单元以及电阻测试单元安装于测量装置板上；串行数据通讯单元安装于信号转换板上；中央控制单元MCU与数据处理AD单元安装于中央控制板上。所述数据存储显示单元除LCD屏外均安装于中央控制板上。所述中央控制板通过两个80芯的连接器与信号转换板相互连接。所述测量装置板通过一个20芯的连接器以及一个10芯的连接器与信号转换板相连。所述LCD屏为触摸显示屏，中央控制单元MCU接收来自LCD触摸显示屏发送的控制指令。所述LCD屏与信号转换板之间采用RS-232串口进行连接。进行测试时，延时测试单元、状态检查单元以及电阻测试单元可接收经过中央控制单元MCU处理的控制信号进行引信安全与引爆系统的测试，并将相关数据信息反馈至中央控制单元MCU，中央控制单元MCU将数据发送至数据处理AD单元进行数据处理，并将相关数据经过串行数据通讯单元传输至存储显示单元进行存储，同时，中央控制单元MCU对经过数据处理AD单元处理的数据进行分析，将分析结果通过LCD屏进行显示。本测试装置采用LCD触摸屏来代替需要鼠标操作的显示器，与比较笨重的显示器相比，触摸屏可节省测试装置的体积，方便携带；同时，进行实际测试是，测试装置可设置为自动测试和手动测试两种模式，方便被测产品的调试和故障定位；此外，中央控制板和测量装置板可采用通用设计的方法，在后续的产品开发中无需重新设计，可反复使用，大大减少了设计的工作量，缩短产品的开发周期。引信安全与引爆系统自动测试装置是以FPGA为核心处理控制器，实现对测试电压产生和继电器开关的控制，通过对测试时序的控制优化，缩短了测试时间；进行了模块化设计，提高了本装置的适用性和可扩展性；基于XilinxISE14.7和VGUS4.3平台完成了软件开发，能够完成人机交互,测试结果判读，数据处理和显示；通过RS232串口实现了上位计算机和测试装置的数据传输。本测试装置主要是对引信安全与引爆系统进行状态检查、电阻测试和延时测试。测试装置加电自检正常后即可开始对引信安全与引爆系统进行测试，此时测试装置可通过RS-232串口接收控制命令来实现自动化测试功能。测试装置按顺序对引信安全与引爆系统的状态，绝缘和延时进行检测。测试过程中，自动完成被测信号的测量通道切换，并对数据采集芯片AD采集的测量数据进行处理、存储和显示，通过通讯端口将数据上传至LCD屏显示。引信安全与引爆系统自动化测试装置的系统组成如图1所示，主要包括以下几个部分：电源本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种引信安全与引爆系统自动测试装置，其特征在于：包括中央控制单元MCU、状态检查单元、延时测试单元、电阻测试单元、数据处理AD单元、数据存储显示单元以及串行数据通讯单元；/n其中，所述中央控制单元MCU与状态检查单元、延时测试单元、电阻测试单元、数据处理AD单元、数据存储显示单元以及串行数据通讯单元连接，串行数据通讯单元还与数据存储显示单元连接；/n所述数据存储显示单元包括LCD屏，LCD屏通过串行数据通信单元与中央控制单元MCU连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种引信安全与引爆系统自动测试装置，其特征在于：包括中央控制单元MCU、状态检查单元、延时测试单元、电阻测试单元、数据处理AD单元、数据存储显示单元以及串行数据通讯单元；
其中，所述中央控制单元MCU与状态检查单元、延时测试单元、电阻测试单元、数据处理AD单元、数据存储显示单元以及串行数据通讯单元连接，串行数据通讯单元还与数据存储显示单元连接；
所述数据存储显示单元包括LCD屏，LCD屏通过串行数据通信单元与中央控制单元MCU连接。


2.如权利要求1所述的引信安全与引爆系统自动测试装置，其特征在于：还包括一个电源变换单元与数据处理单元以及中央控制单元MCU连接。


3.如权利要求1所述的引信安全与引爆系统自动测试装置，其特征在于：还包括中央控制板、信号转换板以及测量装置板，所述状态检查单元、延时测试单元以及电阻测试单元安装于测量装置板上；串行...

【专利技术属性】
技术研发人员：任宇，
申请(专利权)人：贵州航天电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：贵州;52