摄像装置、摄像方法及程序制造方法及图纸

本发明专利技术获得一种能够精确地校正抖动的摄像装置、摄像方法及程序。摄像装置(10)具备成像透镜(14)、包括拍摄通过成像透镜(14)的光学像的成像元件(22)的摄像装置主体(12)、利用校正用透镜进行图像抖动的校正的第1校正部及利用摄像装置主体(12)进行图像抖动的校正的第2校正部，进行如下控制：通过第1校正部或第2校正部校正图像抖动的抖动量中小于规定频率的低频部分，并且通过第1校正部及第2校正部分担校正规定频率以上的高频部分。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】摄像装置、摄像方法及程序
本专利技术涉及一种摄像装置、摄像方法及程序。
技术介绍
已知，以往为了手抖动校正等而在成像透镜及摄像装置主体都具有抖动校正功能的摄像装置。作为与这种摄像装置有关的技术，公开了一种摄像装置主体和成像透镜不分频带而分担进行抖动的校正的摄像装置(参考专利文献1)。并且，公开了一种摄像装置，其通过摄像装置主体的抖动校正功能来校正图像抖动的抖动量中的低频部分，并通过成像透镜的抖动校正功能来校正高频部分(参考专利文献2)。以往技术文献专利文献专利文献1：日本特开2010-091792号公报专利文献2：日本特开2017-161891号公报
技术实现思路
专利技术要解决的技术课题然而，在摄像装置主体和成像透镜不分频带而分担进行抖动校正的技术中，检测到的抖动中可能会存在无法校正的部分，结果可能无法精确地校正抖动。另一方面，在摄像装置主体和成像透镜进行不同的频带的抖动的校正的技术中，存在抖动量较大的情况等无法精确地校正抖动的情况。本专利技术是鉴于以上情况而完成的，其目的在于提供一种能够精确地校正抖动的摄像装置、摄像方法及程序。用于解决技术课题的手段为了实现上述目的，本专利技术的摄像装置具备：成像透镜；摄像装置主体，包括拍摄通过成像透镜的光学像的成像元件；第1校正部，利用校正用透镜进行图像抖动的校正的；第2校正部，利用摄像装置主体进行图像抖动的校正；及控制部，进行如下控制：通过第1校正部或第2校正部校正图像抖动的抖动量中小于规定频率的低频部分，并且通过第1校正部及第2校正部分担校正规定频率以上的高频部分。另外，本专利技术的摄像装置还具备检测成像透镜的抖动量的第1检测部及检测摄像装置主体的抖动量的第2检测部，当由第1检测部检测的抖动量的检测性能和由第2检测部检测的抖动量的检测性能不同时，控制部可以作为图像抖动的抖动量使用通过第1检测部检测到的抖动量及通过第2检测部检测到的抖动量中的至少一个来进行上述控制。并且，本专利技术的摄像装置中，控制部可以进行如下控制：当由第1检测部检测的抖动量的检测性能高于由第2检测部检测的抖动量的检测性能时，通过第1校正部来校正低频部分，当由第2检测部检测的抖动量的检测性能高于由第1检测部检测的抖动量的检测性能时，通过第2校正部来校正低频部分。并且，本专利技术的摄像装置中，第1检测部及第2检测部包括高通滤波器，上述规定频率可以为第1检测部及第2检测部中抖动量的检测性能较低的检测部的高通滤波器的截止频率。并且，本专利技术的摄像装置中，控制部可以包括设置于成像透镜且控制第1校正部的第1控制部及设置于摄像装置主体且控制第2校正部的第2控制部。并且，本专利技术的摄像装置中，控制部可以利用由第1校正部校正的校正量的最大值与由第2校正部校正的校正量的最大值之比，进行通过第1校正部及第2校正部分担校正高频部分的控制。另一方面，为了实现上述目的，本专利技术的摄像方法为由摄像装置执行的摄像方法，所述摄像装置具备成像透镜、包括拍摄通过成像透镜的光学像的成像元件的摄像装置主体、利用校正用透镜进行图像抖动的校正的第1校正部及利用摄像装置主体进行图像抖动的校正的第2校正部，所述摄像方法中进行如下控制：通过第1校正部或第2校正部来校正图像抖动的抖动量中小于规定频率的低频部分，并且通过第1校正部及第2校正部来分担校正规定频率以上的高频部分。并且，为了实现上述目的，本专利技术的程序用于使控制具备成像透镜、包括拍摄通过成像透镜的光学像的成像元件的摄像装置主体、利用校正用透镜进行图像抖动的校正的第1校正部及利用摄像装置主体进行图像抖动的校正的第2校正部的摄像装置的计算机执行如下控制的处理：通过第1校正部或第2校正部来校正图像抖动的抖动量中小于规定频率的低频部分，并且通过第1校正部及第2校正部来分担校正规定频率以上的高频部分。并且，本专利技术的摄像装置备：成像透镜；摄像装置主体，包括拍摄通过成像透镜的光学像的成像元件；第1校正部，利用校正用透镜进行图像抖动的校正的；第2校正部，利用摄像装置主体进行图像抖动的校正；存储器，存储用于供计算机执行的命令；及处理器，构成为执行所存储的命令，处理器进行如下控制：通过第1校正部或第2校正部校正图像抖动的抖动量中小于规定频率的低频部分，并且通过第1校正部及第2校正部分担校正规定频率以上的高频部分。专利技术效果根据本专利技术，能够精确地校正抖动。附图说明图1是用于说明通过OIS及BIS不分频带而分担进行抖动的校正时的问题点的图。图2是通过OIS及BIS进行不同频带的抖动的校正的处理的概念图。图3是用于说明通过OIS及BIS进行不同频带的抖动的校正时的问题点的图。图4是表示实施方式所涉及的摄像装置的硬件结构的一例的框图。图5是实施方式所涉及的摄像装置中包括的成像透镜的硬件结构的一例的框图。图6是表示实施方式所涉及的第1检测部及第2检测部的结构的一例的框图。图7是表示实施方式所涉及的成像透镜中包括的透镜侧主控制部的二次存储部的存储内容的一例的概念图。图8是表示实施方式所涉及的摄像装置主体中包括的主体侧主控制部的二次存储部的存储内容的一例的概念图。图9是表示实施方式所涉及的抖动校正处理的一例的流程图。图10是用于说明实施方式所涉及的抖动校正处理的图。图11是用于说明实施方式所涉及的抖动校正处理的图。具体实施方式以下，参考附图详细说明用于实施本专利技术的技术的形态例。另外，以下将通过成像透镜进行的抖动校正称为OIS(OpticalImageStabilizer：光学影像稳定器)，并将通过摄像装置主体进行的抖动校正称为BIS(BodyImageStabilizer：机身影像稳定器)。首先，在说明实施方式的详细内容之前，对通过OIS及BIS不分频带而分担进行抖动的校正时的问题点和通过OIS及BIS进行不同频带的抖动的校正时的问题点进行说明。另外，在此，为了便于说明，以BIS能够校正0.1Hz以上的频率的抖动，OIS能够校正0.3Hz以上的频率的抖动的情况为例进行说明。该OIS及BIS能够校正抖动的频带的下限值例如根据由摄像装置主体及成像透镜分别具备的、检测抖动的检测部的抖动的检测性能来确定。如图1所示，不划分频率而以规定的分担比率(图1的例中为1：1)分担通过OIS及BIS进行抖动的校正时，0.1Hz以上且小于0.3Hz的频带的抖动只能校正50％。这是因为OIS无法校正小于0.3Hz的频率的抖动。另外，在图1中，以虚线的矩形来表示无法进行0.1Hz以上且小于0.3Hz的频带的抖动的校正的部分。另一方面，如图2所示，考虑检测到的抖动中、通过OIS校正0.3Hz以上的高频部分，并且通过BIS校正0.1Hz以上且小于0.3Hz的低频部分的情况。在此情况下，如图3所示，抖动量较大时，无法校正超过OIS中的抖动的校正量的最大值及BIS中的抖动的校正量的最大值的部分的抖动。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种摄像装置，其具备：/n成像透镜；/n摄像装置主体，包括拍摄通过所述成像透镜的光学像的成像元件；/n第1校正部，利用校正用透镜进行图像抖动的校正；/n第2校正部，利用所述摄像装置主体进行图像抖动的校正；及/n控制部，其进行如下控制：通过所述第1校正部或所述第2校正部校正图像抖动的抖动量中小于规定频率的低频部分，并且通过所述第1校正部及所述第2校正部分担校正所述规定频率以上的高频部分。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180830 JP 2018-1616511.一种摄像装置，其具备：
成像透镜；
摄像装置主体，包括拍摄通过所述成像透镜的光学像的成像元件；
第1校正部，利用校正用透镜进行图像抖动的校正；
第2校正部，利用所述摄像装置主体进行图像抖动的校正；及
控制部，其进行如下控制：通过所述第1校正部或所述第2校正部校正图像抖动的抖动量中小于规定频率的低频部分，并且通过所述第1校正部及所述第2校正部分担校正所述规定频率以上的高频部分。


2.根据权利要求1所述的摄像装置，其还具备：
第1检测部，检测所述成像透镜的抖动量；及
第2检测部，检测所述摄像装置主体的抖动量，
当由所述第1检测部检测的抖动量的检测性能和由所述第2检测部检测的抖动量的检测性能不同时，所述控制部作为所述图像抖动的抖动量使用通过所述第1检测部检测到的抖动量及通过所述第2检测部检测到的抖动量中的至少一个来进行所述控制。


3.根据权利要求2所述的摄像装置，其中，
所述控制部进行如下控制：当由所述第1检测部检测的抖动量的检测性能高于由所述第2检测部检测的抖动量的检测性能时，通过所述第1校正部来校正所述低频部分，当由所述第2检测部检测的抖动量的检测性能高于由所述第1检测部检测的抖动量的检测性能时，通过所述第2校正部来校正所述低频部分。


4.根据权利要求2或3所述的摄像装置，其中，
所述第1检测部及所述第2检测部包括高通滤波器，
所述规定频率为所述第1检测部及所...

【专利技术属性】
技术研发人员：栗林宏辅，
申请(专利权)人：富士胶片株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP