错误检测和校正制造技术

本公开的实施例涉及错误检测和校正。一种方法测试至少三个设备，每个设备都包括测试链，测试链具有存储测试数据的多个位置。测试包括：比较在设备中的每个设备的测试链的最后一个位置中的测试数据，以及使在设备中的每个设备的测试链中的测试数据移位，并且将比较的结果存储在设备中的每个设备的测试链的第一位置中。比较以及移位和存储被重复，直到所有存储的测试数据都已经被比较为止。至少三个设备可以具有相同的功能性和相同的结构。

【技术实现步骤摘要】
错误检测和校正
本公开总体上涉及在电子设备中的错误检测和校正，并且更具体地涉及一种通过比较电子设备来进行错误检测和校正的方法。本公开还涉及一种能够在电子设备中实现这种错误检测和校正方法的设备。
技术介绍
在电子设备中，诸如处理器、微处理器、集成系统、存储器等电子设备的使用越来越受到性能和可靠性的限制。为了符合某些标准和/或质量许可，这样的设备通常与错误检测和/或校正设备耦合。更确切地说，可以在执行这些设备中的一个设备时出现操作错误，并且干扰这些设备的操作和/或包括这些设备的电子系统的总体操作。数种类型的错误或故障可以在电子设备中发生。作为示例，某些错误(SPF(单点故障))直接导致安全目标的违反。该安全目标通常是基于规范的安全目标，例如关于安全系统的ISO26262规范。通过对设备和/或系统的观察，很容易识别这些错误。其他错误，所谓的潜在错误(LFM(潜伏故障度量))，不会立即导致故障，但是可能会在例如稍后或当它们与其他错误合并时导致故障。这样的错误更难检测，因此也更难被校正，这是因为对设备或系统操作的简单观察通常是不够的。
技术实现思路
实施例促进克服已知的错误检测和校正方法以及实现这样的方法的设备中的全部或部分缺点。在实施例中，方法包括：测试至少三个设备，每个设备都包括测试链，测试链具有存储测试数据的多个位置，测试包括：比较在设备中的每个设备的测试链的最后一个位置中的测试数据；使设备中的每个设备的测试链中的测试数据移位，以及将比较的结果存储在设备中的每个设备的测试链的第一位置中；以及重复比较以及移位和存储，直到对所有被存储的测试数据都进行了比较为止。在实施例中，每个测试数据都被存储在测试点中。在实施例中，测试点是寄存器或触发器。在实施例中，测试数据是二进制字。在实施例中，测试数据是全部具有相同尺寸的二进制字。在实施例中，测试数据是具有不同尺寸的二进制字。在实施例中，设备各自包括多个测试链。在实施例中，方法包括：测试多于三个的设备。在实施例中，至少三个设备具有相同的结构和相同的功能。在实施例中，比较的结果是在移位之前被存储在至少三个设备中的两个或更多个的设备的测试链的最后一个位置中的值。在实施例中，设备包括：比较器；以及控制电路装置，耦合到比较器，其中，控制电路装置在操作中控制对至少三个电子电路的测试，每个电子电路都包括测试链，测试链具有存储测试数据的多个位置，测试包括：比较在电子电路中的每个电子电路的测试链的最后一个位置中的测试数据；以及使在电子电路中的每个电子电路的测试链中的测试数据移位，以及将比较的结果存储在电子电路中的每个电子电路的测试链的第一位置中，其中，重复比较以及移位和存储，直到对所有存储的测试数据都进行了比较为止。在实施例中，控制电路装置包括至少三个反馈环路，每个反馈环路都耦合比较器的输出和三个电子电路中的一个电子电路的测试链的输入。在实施例中，每个反馈环路都包括多路复用器。在实施例中，系统包括：至少三个电子设备，每个电子设备都包括测试链，测试链具有存储测试数据的多个位置，以及测试电路装置，该测试电路装置在操作中测试至少三个电子设备，测试包括：比较在至少三个电子设备中的每个电子设备的测试链的最后一个位置中的测试数据；以及使在至少三个电子设备中的每个电子设备的测试链中的测试数据移位，以及将比较的结果存储在设备中的每个设备的测试链的第一位置中，其中，重复比较以及移位和存储，直到对所有存储的测试数据都进行了比较为止。在实施例中，每个测试数据都存储在测试链的测试点中。在实施例中，测试点是寄存器或触发器。在实施例中，测试数据是二进制字。在实施例中，测试数据是全部具有相同尺寸的二进制字。在实施例中，测试数据是不同尺寸的二进制字。在实施例中，电子设备各自包括多个测试链。在实施例中，至少三个电子设备具有相同的结构和相同的功能性。在实施例中，测试电路装置包括比较器和多个反馈环路，该反馈环路将比较器的一个或多个输出耦合到测试链的输入。在实施例中，比较的结果是在移位之前被存储在至少三个设备中的两个或更多个设备的测试链的最后一个位置中的值。实施例提供了一种错误检测和校正方法，该方法包括比较至少三个功能相同的设备，每个设备都包括至少一个测试数据链，该方法包括以下步骤：(a)比较在所述至少三个设备的所述链中的最后一个位置中的测试数据；(b)使其他测试数据在它们的链中向前移位一个位置；(c)将比较步骤的结果写入在所述链中的第一位置中，重复步骤(a)、步骤(b)和步骤(c)，直到对所述链的所有测试数据都进行了比较为止。根据实施例，每个测试数据都存储在测试点中。根据实施例，测试点是寄存器或触发器。根据实施例，测试数据是二进制字。根据实施例，测试数据是全部具有相同尺寸的二进制字。根据实施例，测试数据是不同尺寸的二进制字。根据实施例，设备各自包括至少两个测试数据链。根据实施例，方法是比较多于三个的相同电子设备的方法。另一实施例提供了一种适用于执行上述方法的比较设备。根据实施例，设备是比较至少三个相同的电子设备的设备，每个电子设备都包括至少一个测试数据链，该设备包括比较器电路和至少三个反馈环路，每个反馈环路都耦合比较器电路的输出和所述测试链中的一个测试链的输入。根据实施例，经由多路复用器，每个反馈环路都耦合比较器电路的输出和所述链中的一个链的输入。另一实施例提供了一种电子系统，该电子系统包括：至少三个相同的电子设备，每个电子设备都包括至少一个测试数据链，电子系统包括：上述比较设备。附图说明上述和其他特征和优点将结合附图在对具体实施例的下列非限制性描述中进行详细讨论，在附图中：图1以框的形式示意性地示出了电子设备；图2以框的形式非常示意性地示出了在图1的设备的类型的电子设备中的错误检测和校正设备的实施例；以及图3是图示了图2的实施例的操作的示例的流程图。具体实施方式在不同的图中，相同的元素用相同的参考数字来指定。具体地，不同的实施例通用的结构和/或功能元素可以用相同的参考数字来指定，并且可以具有相同的结构、尺寸和材料特性。为了清楚起见，只示出和详述那些对理解所描述的实施例有用的步骤和元素。贯穿本公开，术语“连接”用于指定电路元件之间除导体外没有中间元件的直接电气连接，而术语“耦合”用于指定电路元件之间可以是直接的或可以是经由一个或多个中间元件的电气连接。在下面的描述中，当参考修饰绝对位置的术语(诸如术语“前”、“后”、“上”、“下”、“左”、“右”)、修饰相对位置的术语(诸如术语“上面”、“下面”、“上部”、“下部”)或修饰方向的术语(诸如术语“水平”、“竖直”)时，除非另有说明，否则它均指的是图的定向。在本文中使用术语“大约”、“大体上”和“近似的”来指定考虑中的值的正负10％或正负5％的公差。图1以框的形式示意性地示出了电子设备100。例如，电子设备100是处理器、微处理器、集成系统、控制单元、存储器等。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种方法，包括：/n测试至少三个设备，每个设备都包括测试链，所述测试链具有存储测试数据的多个位置，所述测试包括：/n比较在所述设备中的每个设备的所述测试链的最后一个位置中的测试数据；/n使在所述设备中的每个设备的所述测试链中的测试数据移位，并且将比较的结果存储在所述设备中的每个设备的所述测试链的第一位置中；以及/n重复比较以及移位和存储，直到所有被存储的所述测试数据都已经被比较为止。/n

【技术特征摘要】
20190927 FR 19107071.一种方法，包括：
测试至少三个设备，每个设备都包括测试链，所述测试链具有存储测试数据的多个位置，所述测试包括：
比较在所述设备中的每个设备的所述测试链的最后一个位置中的测试数据；
使在所述设备中的每个设备的所述测试链中的测试数据移位，并且将比较的结果存储在所述设备中的每个设备的所述测试链的第一位置中；以及
重复比较以及移位和存储，直到所有被存储的所述测试数据都已经被比较为止。


2.根据权利要求1所述的方法，包括：将多个测试数据存储在测试点中。


3.根据权利要求2所述的方法，其中所述测试点是寄存器或触发器。


4.根据权利要求2所述的方法，其中所述测试数据包括二进制字。


5.根据权利要求1所述的方法，其中所述测试数据包括二进制字，每个二进制字都具有相同的尺寸。


6.根据权利要求1所述的方法，其中所述测试数据包括不同尺寸的二进制字。


7.根据权利要求1所述的方法，其中所述设备各自包括多个测试链。


8.根据权利要求1所述的方法，包括：测试多于三个的设备。


9.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少三个设备具有相同的结构和相同的功能。


10.根据权利要求1所述的方法，其中比较的所述结果是在移位之前存储在所述至少三个设备中的两个或更多个设备的测试链的最后一个位置中的值。


11.一种设备，所述设备包括：
比较器；以及
被耦合到所述比较器的控制电路装置，其中所述控制电路装置在操作中控制对至少三个电子电路的测试，每个电子电路都包括测试链，所述测试链具有存储测试数据的多个位置，所述测试包括：
比较所述电子电路中的每个电子电路的所述测试链的最后一个位置中的测试数据；以及
使所述电子电路中的每个电子电路的所述测试链中的测试数据移位，并且将比较的结果存储在所述电子电路中的每个电子电路的所述测试链的第一位置中，其中比较以及移位和存储被重复，直到所有存储的所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：R·戈梅兹·戈梅兹，S·克勒克，
申请(专利权)人：意法半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：法国;FR