光测距装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及光测距装置。光测距装置(10)具备：光源部(20)，对测定范围照射照射光；受光部(30)，具有受光面(32)，上述受光面(32)具有能够接受与照射光的照射对应的来自包含测定范围的范围的反射光的多个受光要素，上述受光部(30)按每个受光要素输出与反射光的受光状态对应的信号；以及测定部(40)，使用从受光部输出的信号来测定到测定范围中的物体的距离。而且，受光部具有通过选择输出信号的受光要素来使接受反射光的受光位置可变的功能，并针对反射光的位置，将受光位置向多个位置变更。将受光位置向多个位置变更。将受光位置向多个位置变更。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光测距装置
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请基于在2018年8月9日申请的日本申请号2018
‑
150303号，并在此处引用其记载内容。


[0003]本公开涉及光测距装置。

技术介绍

[0004]关于光测距装置，例如在专利文献1所记载的雷达装置中，在呈二维矩阵状排列有多个像素的受光面中检测从光源照射的激光的反射光。由激光照射的激光的照射面形成为矩形，反射光照射到受光面的范围也成为矩形。在该装置中，通过在受光面中禁止受光范围外的像素的动作来抑制由光的误检测导致的影响。
[0005]专利文献1：日本特开2015
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78953号公报
[0006]专利文献2：日本特开2004
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157044号公报
[0007]专利文献3：日本特开平7
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191148号公报
[0008]在这样的光测距装置中，由于光测距装置所使用的透镜、支架、粘着剂等的温度特性，根据周边温度，反射光相对于受光面的受光位置有可能变动。这样，无法在受光范围内适当地接受反射光，测距性能有可能降低。

技术实现思路

[0009]本公开能够作为以下的方式来实现。
[0010]根据本公开的一个方式，提供一种光测距装置。该光测距装置具备：光源部，对测定范围照射照射光；受光部，具有受光面，上述受光面具有能够接受与上述照射光的照射对应的来自包括上述测定范围的范围的反射光的多个受光要素，上述受光部按每个上述受光要素输出与上述反射光的受光状态对应的信号；以及测定部，使用从上述受光部输出的上述信号来测定到上述测定范围中的物体的距离。而且，上述受光部具有通过选择输出上述信号的受光要素而使接受上述反射光的受光位置可变的功能，针对上述反射光的位置，将上述受光位置向多个位置变更。
[0011]根据该方式的光测距装置，由于将受光部中的反射光的受光位置向多个位置变更，因此能够适当地接受反射光的可能性提高。因此，在反射光相对于受光面的受光位置根据周边温度而变动的情况下，能够减少测距性能降低的可能性。
[0012]另外，根据本公开的另一方式，提供一种光测距装置。该光测距装置具备：受光部，具有受光面，上述受光面具有能够接受来自测定范围的反射光的多个受光要素，上述受光部按每个上述受光要素输出与上述反射光的受光状态对应的信号；光源部，使照射照射光的方位变更并对上述测定范围照射上述照射光，使得上述反射光在上述受光面上移动；以及测定部，使用从上述受光部输出的上述信号来测定到上述测定范围中的物体的距离。而
且，上述受光部使受光位置朝向预先决定的方向移动并进行上述反射光的接受，该受光位置是接受上述反射光的受光要素的位置，上述光源部针对进行上述反射光的接受的一个上述受光位置，将照射上述照射光的方位向多个方位变更。
[0013]根据该方式的光测距装置，由于针对进行反射光的接受的一个受光位置，将照射照射光的方位向多个方位变更，因此能够适当地接受反射光的可能性提高。因此，在反射光相对于受光面的受光位置根据周边温度而变动的情况下，能够减少测距性能降低的可能性。
[0014]本公开也能够通过光测距装置以外的各种方式来实现。例如，能够通过光测距方法、搭载光测距装置的车辆、控制光测距装置的控制方法等方式来实现。
附图说明
[0015]参照附图并通过下述的详细描述，关于本公开的上述目的以及其它目的、特征、优点变得更加明确。其附图是：
[0016]图1是表示光测距装置的简要结构的图，
[0017]图2是表示光测距装置的结构的图，
[0018]图3是表示受光面中的反射光的位置与受光位置的关系的图，
[0019]图4是表示反射光的位置与受光位置的关系的图，
[0020]图5是表示反射光的位置与受光位置的关系的比较例的图，
[0021]图6是表示直方图的一个例子的图，
[0022]图7是表示第二实施方式中的光测距装置的结构的图，
[0023]图8是表示根据温度来变更受光位置的移动量的图，
[0024]图9是表示受光面中的反射光的位置与受光位置的关系的图，
[0025]图10是表示第三实施方式中的反射光的位置与受光位置的关系的图，
[0026]图11是表示第四实施方式中的光测距装置的结构的图，
[0027]图12是表示第四实施方式中的光测距装置的其它结构的图，
[0028]图13是表示第五实施方式中的光测距装置的结构的图，
[0029]图14是表示第六实施方式中的光测距装置的结构的图。
具体实施方式
[0030]A.第一实施方式
[0031]如图1所示，作为本公开中的第一实施方式的光测距装置10具备框体15、光源部20、受光部30以及测定部40。光源部20和受光部30例如通过粘着剂固定于框体15。光源部20对测定范围MR射出照射光IL。在本实施方式中，光源部20在扫描方向SD上扫描照射光IL。照射光IL形成为与扫描方向SD正交的方向成为长边方向的矩形。受光部30接受与照射光IL的照射对应的来自包含测定范围MR的范围的反射光，并输出与反射光的受光状态对应的信号。测定部40使用从受光部30输出的信号来测定到存在于测定范围MR内的物体的距离。光测距装置10例如搭载于车辆，用于障碍物的检测、测定到障碍物的距离。
[0032]图2示出光测距装置10的更具体的结构。如图2所示，光测距装置10除了图1所示的光源部20、受光部30以及测定部40之外，还具备控制部50。控制部50构成为具备CPU和存储
器的计算机，并控制光源部20和受光部30。
[0033]光源部20具备激光光源21和第一扫描部22。激光光源21由半导体激光二极管构成，照射脉冲激光作为照射光。从激光光源21射出的照射光通过未图示的光学系统形成为图1所示那样的纵长的照射光IL。第一扫描部22通过使反射镜222以旋转轴221为中心转动，从而在测定范围MR内进行照射光IL的一维扫描。反射镜222例如由MEMS反射镜构成。反射镜222的转动由控制部50控制。通过第一扫描部22进行照射光IL的一维扫描，从而光源部20一边变更对测定范围MR照射照射光IL的方位一边照射照射光IL。此外，在本实施方式中，使用激光二极管元件18作为光源部20的光源，但也可以使用固体激光等其它光源。
[0034]由光源部20照射的照射光被测定范围MR内的物体OB反射。被物体OB反射的反射光被受光部30接受。在本实施方式中，受光部30通过受光透镜接受反射光，该受光透镜构成为受光面32中的反射光大小小于受光面32的大小。此外，反射光也可以以其一部分(例如，长边方向的端部)从受光面32溢出的方式被受光部30接受。
[0035]如图2和图3所示，受光部30在被照射反射光的受光面32呈二维排列状具备多个像素31。将像素31也称为“受光要素”。各像素31具有多个受光元件，该受光元件能够本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种光测距装置，是光测距装置(10)，具备：光源部(20)，对测定范围照射照射光；受光部(30)，具有受光面(32)，所述受光面(32)具有能够接受与所述照射光的照射对应的来自包含所述测定范围的范围的反射光的多个受光要素，所述受光部(30)按每个所述受光要素输出与所述反射光的受光状态对应的信号；以及测定部(40)，使用从所述受光部输出的所述信号来测定到所述测定范围中的物体的距离，所述受光部具有通过选择输出所述信号的受光要素来使接受所述反射光的受光位置可变的功能，并针对所述反射光的位置，将所述受光位置向多个位置变更。2.根据权利要求1所述的光测距装置，其中，所述受光面上的所述反射光的大小小于所述受光面的大小。3.根据权利要求1或2所述的光测距装置，其中，所述光源部在多个方位中使方位变更并对所述测定范围照射所述照射光，使得照射所述照射光的方位朝向预先决定的方向移动。4.根据权利要求1～3中任意一项所述的光测距装置，其中，所述光源部在多个方位中使照射所述照射光的方位变更并对所述测定范围照射所述照射光，使得所述反射光在所述受光面上朝向预先决定的第一方向移动，所述受光部针对被照射所述照射光的一个方位，将接受所述反射光的受光要素的位置、即受光位置在所述第一方向上向多个位置变更。5.根据权利要求4所述的光测距装置，其中，所述受光部通过使所述受光位置朝向所述第一方向移动而将所述受光位置向多个位置变更。6.根据权利要求5所述的光测距装置，其中，所述受光部使所述受光位置以比所述反射光在所述受光面上移动的速度快的速度移动。7.根据权利要求6所述的光测距装置，其中，每当完成对于所述照射光对所述一个方位的照射的受光处理时，所述受光部使所述受光位置向所述第一方向的相反方向移动。8.根据权利要求7所述的光测距装置，其中，所述受光部使所述受光位置向所...

【专利技术属性】
技术研发人员：尾崎宪幸，清野光宏，木村祯祐，柏田真司，
申请(专利权)人：株式会社电装，
类型：发明
国别省市：