【技术实现步骤摘要】
测量三维尺寸的方法、装置、系统、电子设备和存储介质
[0001]本申请涉及机器视觉
,具体而言,涉及一种测量三维尺寸的方法、装置、系统、电子设备和存储介质。
技术介绍
[0002]在工业生产中,为了保证成型工件的质量,需要对工件的尺寸进行测量,以确保生产出的工件为符合尺寸要求的工件。且对于生产线而言,为了保证生产效率,需要有较快的测量速度和较高的测量精度。
[0003]对于上表面各处高度不同的工件,尺寸测量难度相对较大。现有技术中可以通过设置多个与上表面相对的激光测距仪,多个激光测距点分布在工件的上表面,通过多个激光测距仪分别测量各点的高度进而确定工件尺寸。为了保证较好的测量效果需要数量较多的激光测距仪,成本较高且测量效率较低。
技术实现思路
[0004]本申请实施例的目的在于提供一种测量三维尺寸的方法、装置、系统、电子设备和存储介质,能够既快捷又成本较低地测量工件尺寸。
[0005]第一方面,本申请实施例提供了一种测量三维尺寸的方法,用于测量具有斜面的工件的三维尺寸,所述斜面为所述工件的相对基准面具有斜度的表面,包括:以第一方向采集工件的第一图像,所述第一方向垂直于工件的基准面或与所述基准面的法线的夹角在第一预设值以内;以第二方向采集所述工件的第二图像,所述第二方向与最大梯度投影线平行或与所述最大梯度投影线的夹角在第二预设值以内,所述最大梯度投影线是指所述斜面上距离所述基准面最远顶点与距离所述基准面最近顶点连线形成的最大梯度线在所述基准面上的投影线;根据所述第一图像和所述第二图 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测量三维尺寸的方法,用于测量具有斜面的工件的三维尺寸,所述斜面为所述工件的相对基准面具有斜度的表面,其特征在于,包括:以第一方向采集工件的第一图像,所述第一方向垂直于工件的基准面或与所述基准面的法线的夹角在第一预设值以内;以第二方向采集所述工件的第二图像,所述第二方向与最大梯度投影线平行或与所述最大梯度投影线的夹角在第二预设值以内,所述最大梯度投影线是指所述斜面上距离所述基准面最远顶点与距离所述基准面最近顶点连线形成的最大梯度线在所述基准面上的投影线;根据所述第一图像和所述第二图像,确定所述工件的三维尺寸。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一预设值为15
°
,和/或,所述第二预设值为30
°
。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第一预设值为10
°
,和/或,所述第二预设值为20
°
。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第一预设值为5
°
,和/或,所述第二预设值为10
°
。5.根据权利要求1
‑
4任一项所述的方法,其特征在于,根据所述第一图像和所述第二图像,确定所述工件的三维尺寸,包括:根据所述第一图像确定所述斜面的特征点的二维坐标;基于所述特征点的二维坐标和所述第二图像,确定所述特征点中第一部分特征点的三维坐标;基于所述斜面为平面和所述第一部分特征点的三维坐标,拟合得到第二部分特征点的三维坐标;根据所述第一部分特征点的三维坐标和所述第二部分特征点的三维坐标,得到所述工件的三维尺寸。6.根据权利要求1
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4任一项所述的方法,其特征在于,根据所述第一图像和所述第二图像,确定所述工件的三维尺寸,包括:获取所述斜面的曲率;根据所述第一图像确定所述斜面的特征点的二维坐标;基于所述特征点的二维坐标和所述第二图像,确定所述特征点中部分特征点的三维坐标;基于所述斜面的曲率和所述部分特征点的三维坐标,拟合得到所述斜面的三维模型;基于所述斜面的三维模型,确定所述工件的三维尺寸。7.根据权利要求1
‑
4任一项所述的方法,其特征在于,以第二方向采集所述工件的第二图像,包括:以多个第二方向采集所述工件的第二图像,所述多个第二方向与所述最大梯度投影线的夹角不同,和/或,所述多个第二方向上采集点的位置距所述工件的距离不同。8.一种测量三维尺寸的装置,用于测量具有斜面的工件的三维尺寸,所述斜面为所述工件的相对基准面具有斜度的表面,其特征在于,包括:第一图像采集模块,被配置为以第一方向采集工件的第一图像,所述第一方向垂直于
工件的基准面或与所述基准面的法线的夹角在第一预设值以内;第二图像采集模块,被配置为以第二方向采集所述工件的第二图像,所述第二方向与最大梯度投影线平行或与所述最大梯度投影线...
【专利技术属性】
技术研发人员:凌云,崔忠伟,
申请(专利权)人:北京领邦智能装备股份公司,
类型:发明
国别省市:
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