检测设备及其测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种检测设备及其测试装置，是一种用于天线检测作业的检测设备及其测试装置，其测试装置将第一线路结构、承载件、支撑件以及第二线路结构依序可拆式相叠，以于针对不同目标测试物进行检测时，只需拆换该承载件、第一线路结构、第二线路结构或支撑件，而无需同时更换整组测试装置，因而能达到可模块化置换及节省成本的功效。换及节省成本的功效。换及节省成本的功效。

【技术实现步骤摘要】
检测设备及其测试装置


[0001]本专利技术关于一种检测设备，特别是关于一种用于无线(over the air)检测作业的检测设备及其测试装置。

技术介绍

[0002]现行通讯传输处于第四代(4G)阶段，但随着无线通信发展迅速及网路资源流量日趋庞大，所需的无线传输频宽也越来越大，故第五代(5G)通讯传输的研发已成趋势。而5G系统最高频率的目标频段是毫米波频段(
㎜
Wave)，其频率范围从28GHz至52.6GHz(3gpp R15)之间，甚至可高达73GHz的频段。
[0003]相比于现行4G的天线测试于系统端(如手机、平板电脑等)进行测试，于5G阶段，因
㎜
Wave频段改为AiP(Antenna in Package)封装设计，故天线测试需于封测端进行测试。
[0004]如图1所示，现有用于天线的检测设备1包括：一具有开口100的腔体10、一盖设于该开口100上且具有通孔110的盖体11、一设于该盖体11上的测试座(socket)13、以及一连接该测试座13的作动件(handler)12。于进行天线的无线(over the air,OTA)检测作业时，将一目标测试物9设于该测试座13上，再以该作动件12压合于该测试座13上，且该目标测试物9的天线结构90朝向该腔体10的金属作用板10a并完全露出而无任何屏蔽。
[0005]然而，现有检测设备1于检测作业中，针对不同半导体封装产品(如QFN型、LGA型、SiP型、FCBGA型、FCCSP或其它等)的天线结构90(每种封装产品的天线形式也有不同大小的规格)需更换不同的作动件12，故需客制化不同的作动件12，造成该检测设备1的成本大幅提高。
[0006]因此，设计一套可适用于OTA测试环境，以满足天线测试需求且毋须客制化作动件的检测设备，已成目前亟欲解决的课题。

技术实现思路

[0007]鉴于上述现有技术的缺陷，本专利技术提供一种检测设备及其测试装置，能达到可模块化置换及节省成本的功效。
[0008]本专利技术的测试装置，包括：承载件，其具有相对的第一侧与第二侧，且该承载件中配置有至少一连通该第一侧与第二侧的导电元件；第一线路结构，其可拆式设于该承载件的第一侧上并电性连接该导电元件；支撑件，其松配合于该承载件的第二侧上；以及第二线路结构，其可拆式设于该支撑件上并电性连接该导电元件。
[0009]前述的测试装置中，该承载件的第二侧上具有凹槽。例如，该承载件的第一侧上具有连通该凹槽的作用孔。进一步，该第一线路结构具有对应该作用孔的穿孔。
[0010]前述的测试装置中，形成该承载件的材料为非金属材。
[0011]前述的测试装置中，该导电元件为探针结构。
[0012]前述的测试装置中，该导电元件穿过该支撑件以电性连接该第二线路结构。
[0013]前述的测试装置中，该第一线路结构螺接该承载件。
[0014]前述的测试装置中，该第二线路结构螺接该支撑件。
[0015]前述的测试装置中，该支撑件卡接该承载件。
[0016]前述的测试装置中，该支撑件中具有电性连接该第二线路结构的导电体。例如，该导电体为探针结构。
[0017]前述的测试装置中，形成该支撑件的材料为非金属材。
[0018]前述的测试装置中，还包括设于该第一线路结构上的电性连接件，其电性连接该第一线路结构。
[0019]本专利技术还提供一种检测设备，包括：腔体，其具有开口；盖体，其盖设于该腔体的开口上；前述的测试装置，其以该第一线路结构设于该盖体上；以及作动件，其设于该测试装置的第二线路结构上。
[0020]前述的检测设备中，该第一线路结构可拆式设于该盖体上。
[0021]前述的检测设备中，该作动件可拆式设于该第二线路结构上。
[0022]前述的检测设备中，该盖体具有外露该承载件的通孔。
[0023]前述的检测设备中，还包括固接该作动件的位移装置。例如，该位移装置包含至少一机械手臂。
[0024]前述的检测设备中，该腔体包含金属材。
[0025]由上可知，本专利技术的检测设备，主要经由该测试装置的可拆式设计，即采用可拆式组装该承载件、第一线路结构、第二线路结构或支撑件等四个板体，以于针对不同目标测试物进行检测时，只需拆换该承载件、第一线路结构、第二线路结构或支撑件，而无需同时更换整组该测试装置，因而能达到可模块化置换及节省成本的功效，故相比于现有技术，本专利技术的检测设备针对不同目标测试物，可使用单一实施例的作动件，而无需客制化该作动件，因而能降低检测设备的成本。
附图说明
[0026]图1为现有检测设备的侧视示意图。
[0027]图2为本专利技术的检测设备的侧视示意图。
[0028]图3为本专利技术的检测设备于使用中的局部侧视示意图。
[0029]图4为本专利技术的检测设备于使用前的局部侧视示意图。
[0030]附图标记说明
[0031]1,2
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检测设备
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10,20
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腔体
[0032]10a
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金属作用板
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100,200 开口
[0033]11,21
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盖体
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110,210 通孔
[0034]12,22
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作动件
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13
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测试座
[0035]20a
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作用面
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23
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位移装置
[0036]23a,23b机械手臂
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测试装置
[0037]30
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承载件
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30a
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第一侧
[0038]30b
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第二侧
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300
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凹槽
[0039]301
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作用孔
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302
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凹部
[0040]31
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第一线路结构
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31a
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线路层
[0041]310
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穿孔
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32
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第二线路结构
[0042]32a
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线路层
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
33
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支撑件
[本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：承载件，其具有相对的第一侧与第二侧，且该承载件中配置有至少一连通该第一侧与第二侧的导电元件；第一线路结构，其以可拆的方式设于该承载件的第一侧上并电性连接该导电元件；支撑件，其松配合于该承载件的第二侧上；以及第二线路结构，其以可拆的方式设于该支撑件上并电性连接该导电元件。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该承载件的第二侧上具有凹槽。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，该承载件的第一侧上具有连通该凹槽的作用孔。4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，该第一线路结构具有对应该作用孔的穿孔。5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，形成该承载件的材料为非金属材。6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该导电元件为探针结构。7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该导电元件穿过该支撑件以电性连接该第二线路结构。8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该第一线路结构螺接该承载件。9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该第二线路结构螺接该支撑件。10.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该支撑件卡接该承载件。11.根据权利要求1所述的测试装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：方柏翔，陈冠达，林欣柔，
申请(专利权)人：矽品精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：