当前位置: 首页 > 专利查询>SKF公司专利>正文

显示标称圆形表面的轨道和偏差的设备和方法技术

技术编号:2774153 阅读:225 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及显示机械物体(7)的标称圆形表面的至少一条轨道、以及相对于标称圆形表面的偏差,这是通过基于覆盖标称圆形表面的距离数据集产生和显示偏差剖面图(21);每个距离数据集包含至少三个距离,在旋转方向上测量的距离,到标称圆形表面的距离以及关于角度的距离,这至少三个距离已经在测距角上被测量;以及与测距角相关的加权值。本发明专利技术可用来显示表面/机械物体的品质,或显示制造装备的状态。本发明专利技术还涉及一种包含该方法的计算机程序产品,一种包含该计算机程序产品的载体,包含距离数据的存储设备,以及一种用于测量被用作根据第一方面的设备的输入的距离数据的设备。

Apparatus and method for displaying tracks and deviations of nominal circular surfaces

The present invention relates to a display of mechanical objects (7) nominal circular surface of at least one track, and the relative deviation of the nominal circular surface, which is set by generating and displaying deviation of profile data covering distance based on nominal circular surface (21); each distance data set containing at least three distance measurement in the direction of rotation the distance to the nominal circular surface distance and the distance of angle, the distance of at least three has been measured in the range and angle angle; ranging related weighted value. The present invention can be used to display the quality of a surface / mechanical object, or to display the condition of a manufacturing device. The invention also relates to a computer program product including the same, a carrier comprising the computer program product, storage device containing distance data, and a method for measuring data to be used according to the distance of the first aspect of the equipment input device.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及多个方面,现在对此作以说明。根据本专利技术的第一方面,它涉及一种用于显示机械物体的标称圆形表面的至少一条轨道、以及相对于标称圆形表面的偏差的设备。根据本专利技术的第二方面,它涉及一种用于显示标称圆形表面的品质的设备。根据本专利技术的第三方面,它涉及一种用于显示机械物体的标称圆形表面的至少一条轨道、以及相对于标称圆形表面的偏差的方法。根据本专利技术的第四方面,它涉及一种用于显示标称圆形表面的品质的方法。根据本专利技术的第五方面,它涉及一种包含根据第三方面的方法的计算机程序产品。根据本专利技术的第六方面,它涉及一种包含根据第四方面的计算机程序产品的载体。根据本专利技术的第七方面,它涉及一种包含可用于根据第一方面的设备的距离数据的存储设备。根据本专利技术的第八方面,它涉及一种用于测量被用作根据第一方面的装置的输入的测量距离数据集的设备。
技术介绍
在US 5077908中公开了用于一种测量物体表面的圆度的装置。该装置包含以旋转方式安装在受载弹簧力臂上的分叉磁头。该磁头具有可与旋转中的物体的外围正切接触的两个导边板。当该磁头与不同直径的物体接触时,与导边板的接触点沿位置轨迹线前进,朝一个方向延伸时与顶点相交。安装在磁头上的位移仪上有一个弹簧受载活塞,该活塞具有的探针与物体的外围接触并检测其误差。US 5077908中公开的装置仅限于测量具面的圆度。US 4084324中公开了一种表面测量装置。在这种类型的装置中,有一传感器沿与待测的元件表面相接触或临近的路径行进。该传感器具有三个或更多的变换器,它们在描述的实施例中物理地接触待测表面并在沿着待测元件表面上的相同路径通过时产生特有的信号。变换器产生的信号放大后以这种方式合并,即这样产生的合成信号独立于装置沿待测元件的表面行进时变换器实体的位置变化,因此允许使用未安装在预先准确地形成的数据判决装配上的传感器,如平板机床或精密转轴。US 4084324中公开的装置仅限于测量具面。US 4048849中公开了一种用于测量材料的平面平坦度的方法和装置。其中,一组三个不接触的空隙检测器以预定的正则间隔平行于或朝着材料的表面平坦度测量的方向排列,材料和每个检测器之间的空隙连续地被测量和计算,以连续地测量和显示材料的表面平坦度而不受材料的总体曲线的影响,还测量材料平坦度中的缺陷出现的周期。US 4048849中公开的装置仅限于测量具面平坦度。US 5022267中公开了一种滚子量具,它包含用于转动滚子的设备,用于测量围绕滚子圆周的直径变化并把滚子的直径变化转换为作为所述的直径变化的函数的电信号的力电变换设备;以及电信号转换系统和加权电路。US 5022267中公布的装置仅限于测量滚子表面的直径变化。US 4625429中公开了一种用于检验旋转物体的圆度的装置。这种用于检验物体的圆度的装置包含用来支撑使待检验物体围绕水平轴线旋转的电动转轴的基座,固定在基座上的支柱,旋转式地连接到该支柱以便围绕相关的水平轴线旋转的控制杠杆和支撑元件,连接到杠杆和支撑元件的测量设备,以及处理设备。该测量设备包含垂直悬挂在杠杆上并旋转式地连接到支撑元件上的构件,固定到该构件上且适于安置在该物体上的V形设备,以及两个测量磁头,该磁头具有的活动探针适于接触物体的直径上相对的点。处理设备连接到测量磁头上以提供对物体直径及不圆程度的测量。US 4625429中公开的装置仅限于测量具面圆度。US 6272762中公开了一种椭圆度测量工具。该工具测量测量圆周可变形的圆柱形元件的椭圆度,该元件具有圆柱形元件支架,用于可相对于该圆柱形元件径向移动的穿过该圆柱形元件的圆周的感应元件,以及在该感应元件穿过圆柱形元件的圆周时读取其移动的量的读出装置。US 6272762中公开的装置仅限于测量具面的椭圆度。EP 1043564A2中公开了一种具有能分析工件圆度的控制单元的电机控制计量系统。该控制单元控制研磨机的控制器,从而根据测量磁头测量到的数据把工件用机械加工到希望的尺寸。控制单元根据测量侧头测量到的数据分析该工件的圆度并在触摸板上显示该圆度。EP1043564A2中公开的专利技术仅限于仅显示工件的圆度。
技术实现思路
本专利技术涉及的问题用以显示●机械物体的标称圆形表面的一条轨道,●相对于机械物体的标称圆形表面的偏差,●机械物体的标称圆形表面的轨道、以及相对于标称圆形表面的偏差的组合。本专利技术提供了解决以上问题的一种易于使用、快捷、可靠、灵活的可能。本专利技术可有利地用于这样一种情况,即涉及由于待测量具面被部分地阻挡或该物体太大从而难于接近的表面。即使机械物体进行轨道运动,本专利技术也可以提供测量该机械物体的圆度的可能,能够区分轨道运动和表面圆度的本专利技术可以完成该测量。它甚至能够把轨道运动分为x分量和y分量。另一优点是可以在单次测量中完成测量必需项。测量后,它能够决定显示项机械物体的轨道、相对于标称圆形表面的偏差,或者二者的组合。由于一旦数据被获取,就能够一次或多次使用该数据来显示机械物体的轨道,相对于标称圆形表面的偏差、或者二者的组合,所以上面所说的是可行的。此外,它的操作不需要大量劳动。另一优点是它非常廉价,因为其元件的成本相当低。另一优点是相对于机械物体的标称圆形表面的偏差可用来提供对产品品质的指示。在角度稳定性方面,在测量具面时,本专利技术对来自预期的测量角度的小的偏差很不敏感。表面的轨道在这里被考虑为机械物体的表面的平移运动或中心移动。本专利技术可以用在分析包括弯曲表面连接区的圆度时,例如ISO(例如ISO 1132-12000和ISO 10816-1)和ANSI/ASME(ANSI/ASMEB89.3.4M-1985)所定义的。根据本专利技术的第一方面,这里公开了一种用于显示机械物体的标称圆形表面的至少一条轨道、以及相对于标称圆形表面的偏差的设备。该机械物体大体上不必是圆形的,而是仅仅分析其表面。这里的标称圆形是指它计划是圆形的但实际并非是这种情况。该设备包含处理器和输出装置,且该处理器被配置以产生描述相对于表面的圆形外形的偏差的偏差剖面图。该偏差剖面图是基于等距离地覆盖在标称圆形表面上的距离数据集。距离数据集是逻辑上相链接的多个距离。每个距离数据集都包含至少三个距离,优选地被同时测量,并由至少三个测距计在旋转的方向上对标称圆形表面进行测量,并涉及一定角度。计量的例子是基于接触和非接触。本专利技术的关键特征是一旦标称圆形表面已被测量,那么信息就可用来显示机械物体的标称圆形表面的至少一条轨道、以及相对于标称圆形表面的偏差。这意味者单次测量产生显示圆度和轨道中的至少一项,或者同时显示圆度和轨道。此外,根据本专利技术,还能够选择是产生机械物体的轨道还是圆度。偏差剖面图在这里被标识为圆度和轨道中的一项或两者的组合。这至少三个距离已经在测距角上被测量并且在旋转的方向上被测量。同样,该距离也在旋转的方向上被测量。该测距角优选地但并非必须显示已经测得至少三个距离的测距角度。测距角被预置并在距离测量期间保持恒定。处理器还被配置以使用输出装置把偏差剖面图直接或间接地显示给用户,例如通过令处理器写入计算机文件,或者通过使用通信性能把偏差剖面图传送到另一位置进行存储或后续处理,或远端显示。可选地,该偏差剖面图可以被传送并存储到移动媒介中。应当指出,偏差剖面图的产生不必现场发本文档来自技高网
...

【技术保护点】
用于显示机械物体(7)的标称圆形表面的至少一条轨道、以及相对于标称图形表面的偏差的设备,该设备包含处理器(9)和输出装置(11),其特征在于,处理器被配置以:-基于覆盖标称圆形表面的距离数据集产生偏差剖面图(21);每个距离数据集包 含至少三个距离,即在旋转方向上测量的距离,到标称圆形表面的距离以及关于角度的距离,这至少三个距离已经在测距角上被测量;以及-使用输出装置(13)显示偏差剖面图。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:简奥罗夫班克斯多姆约兰加布里埃尔森安德斯戈斯伯格
申请(专利权)人:SKF公司
类型:发明
国别省市:SE[瑞典]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1