光学级PET离型膜分切工艺质量监控系统技术方案

本发明专利技术公开了光学级PET离型膜分切工艺质量监控系统，涉及PET离型膜技术领域，包括采集模块、判断模块、处理模块和预警模块，其中；所述判断模块用于对膜厚判断并传输判断指令至所述处理模块，所述处理模块接收指令并通过所述采集模块采集膜厚参数并验证所述判断模块判断指令，验证完成后通过所述预警模块进行预警，所述采集模块包括光源发射单元、信号接收单元和计算单元。本发明专利技术通过判断模块对膜厚判断并传输判断指令至处理模块，处理模块接收指令并通过采集模块采集膜厚参数并验证判断模块判断指令，验证完成后通过预警模块进行预警，实现对PET离型膜分切工艺膜厚进行监控，不仅提高了生产效率，而且提高了产品质量，降低了生产成本。

【技术实现步骤摘要】
光学级PET离型膜分切工艺质量监控系统
本专利技术涉及PET离型膜
，具体来说，涉及光学级PET离型膜分切工艺质量监控系统。
技术介绍
PET离型膜是热转印常用到的一种材料，底材是PET，经过涂布硅油而成所以也叫硅油膜。常规厚度从25um至150um。有冷热撕和光哑面之分，经过防静电和防划伤处理，产品具有很好的吸附性和贴合性。PET离型膜分切工艺中，依经验来判断所述膜厚是否异常，此无法有效判断出膜厚是否异常，存在一定的次品率。针对相关技术中的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
针对相关技术中的问题，本专利技术提出光学级PET离型膜分切工艺质量监控系统，通过判断模块对膜厚判断并传输判断指令至处理模块，处理模块接收指令并通过采集模块采集膜厚参数并验证判断模块判断指令，验证完成后通过预警模块进行预警，实现对PET离型膜分切工艺膜厚进行监控，以克服现有相关技术所存在的上述技术问题。本专利技术的技术方案是这样实现的：光学级PET离型膜分切工艺质量监控系统，包括采集模块、判断模块、处理模块和预警模块，其中；所述判断模块用于对膜厚判断并传输判断指令至所述处理模块，所述处理模块接收指令并通过所述采集模块采集膜厚参数并验证所述判断模块判断指令，验证完成后通过所述预警模块进行预警，其中；所述采集模块包括光源发射单元、信号接收单元和计算单元，其中；所述光源发射单元，用于向预涂滚筒表面发射入射光；所述信号接收单元，在涂布涂层前用于接收入射光经预涂滚筒表面反射后的第一反射光，在涂布涂层后用于接收入射光经预涂滚筒上的涂层表面反射后的第二反射光；所述计算单元，获取反射光信号得到预涂滚筒上的涂层厚度。进一步的，所述判断模块包括：向涂布机输入工艺参数K，表现式为K＝V/P，K为工艺参数，V为光学膜的涂布速度，P为喷嘴的吐出压力，其中；当M值稳定时，涂布机判定膜厚均匀，当M值不稳定时，涂布机判定膜厚异常。进一步的，还包括当V曲线与P曲线吻合时，涂布机判定膜厚均匀，以及当V曲线与P曲线不吻合时，涂布机判定膜厚异常。进一步的，还包括涂布机判定膜厚偏差小于或等于0.05为无风险。进一步的，还包括涂布机判定膜厚大于0.05为有风险。进一步的，还包括存储模块，用于建立存储预涂滚筒上的涂层厚度和基板上的涂层厚度的对应关系。本专利技术的有益效果：本专利技术通过判断模块对膜厚判断并传输判断指令至处理模块，处理模块接收指令并通过采集模块采集膜厚参数并验证判断模块判断指令，验证完成后通过预警模块进行预警，实现对PET离型膜分切工艺膜厚进行监控，不仅提高了生产效率，而且提高了产品质量，降低了生产成本。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是根据本专利技术实施例的光学级PET离型膜分切工艺质量监控系统的流程示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。根据本专利技术的实施例，提供了光学级PET离型膜分切工艺质量监控系统。如图1所示，根据本专利技术实施例的光学级PET离型膜分切工艺质量监控系统，包括采集模块1、判断模块2、处理模块3和预警模块4，其中；所述判断模块2用于对膜厚判断并传输判断指令至所述处理模块3，所述处理模块3接收指令并通过所述采集模块1采集膜厚参数并验证所述判断模块2判断指令，验证完成后通过所述预警模块4进行预警，其中；所述采集模块1包括光源发射单元5、信号接收单元6和计算单元7，其中；所述光源发射单元5，用于向预涂滚筒表面发射入射光；所述信号接收单元6，在涂布涂层前用于接收入射光经预涂滚筒表面反射后的第一反射光，在涂布涂层后用于接收入射光经预涂滚筒上的涂层表面反射后的第二反射光；所述计算单元7，获取反射光信号得到预涂滚筒上的涂层厚度。其中，所述判断模块2包括：向涂布机输入工艺参数K，表现式为K＝V/P，K为工艺参数，V为光学膜的涂布速度，P为喷嘴的吐出压力，其中；当M值稳定时，涂布机判定膜厚均匀，当M值不稳定时，涂布机判定膜厚异常。其中，进一步还包括当V曲线与P曲线吻合时，涂布机判定膜厚均匀，以及当V曲线与P曲线不吻合时，涂布机判定膜厚异常。其中，还包括涂布机判定膜厚偏差小于或等于0.05为无风险。其中，还包括涂布机判定膜厚大于0.05为有风险。其中，还包括存储模块，用于建立存储预涂滚筒上的涂层厚度和基板上的涂层厚度的对应关系。借助于上述技术方案，通过判断模块2对膜厚判断并传输判断指令至处理模块3，处理模块3接收指令并通过采集模块1采集膜厚参数并验证判断模块2判断指令，验证完成后通过预警模块4进行预警，实现对PET离型膜分切工艺膜厚进行监控，不仅提高了生产效率，而且提高了产品质量，降低了生产成本。另外，具体的，膜厚偏差大于0.05以及小于或等于0.1为低风险；膜厚偏差大于0.1以及小于或等于0.2为中风险；膜厚偏差大于0.2为高风险。另外，设定K值与目标值的偏差在0.05以内。另外，具体的，目标值的上限可设定为所述匀速K值+0.2％，目标值的下限可设定为所述匀速K值-9.8％，可以保证品质安全。另外，所述光源发射单元包括光源以及沿所述光源发出的光的前进方向上依次设置的狭缝和第一会聚镜，所述信号接收单元包括沿光的反射方向上依次设置的第二会聚镜和线性传感器，其线性传感器包括受光单元和放大器，受光单元用于接收所述第一反射光和所述第二反射光，放大器用于放大受光单元接收到的光信号。另外，光源发射单元还包括第一折光组件，所述第一折光组件、第一会聚镜和狭缝组成同光轴系统。而所述信号接收单元还包括第二折光组件，所述第二折光组件、第二会聚镜和线性传感器组成同光轴系统。综上所述，借助于本专利技术的上述技术方案，通过判断模块2对膜厚判断并传输判断指令至处理模块3，处理模块3接收指令并通过采集模块1采集膜厚参数并验证判断模块2判断指令，验证完成后通过预警模块4进行预警，实现对PET离型膜分切工艺膜厚进行监控，不仅提高了生产效率，而且提高了产品质量，降低了生产成本。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例而已，并不用以限制本专利技术，凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.光学级PET离型膜分切工艺质量监控系统，其特征在于，包括采集模块(1)、判断模块(2)、处理模块(3)和预警模块(4)，其中；/n所述判断模块(2)用于对膜厚判断并传输判断指令至所述处理模块(3)，所述处理模块(3)接收指令并通过所述采集模块(1)采集膜厚参数并验证所述判断模块(2)判断指令，验证完成后通过所述预警模块(4)进行预警，其中；/n所述采集模块(1)包括光源发射单元(5)、信号接收单元(6)和计算单元(7)，其中；/n所述光源发射单元(5)，用于向预涂滚筒表面发射入射光；/n所述信号接收单元(6)，在涂布涂层前用于接收入射光经预涂滚筒表面反射后的第一反射光，在涂布涂层后用于接收入射光经预涂滚筒上的涂层表面反射后的第二反射光；/n所述计算单元(7)，获取反射光信号得到预涂滚筒上的涂层厚度。/n

【技术特征摘要】
1.光学级PET离型膜分切工艺质量监控系统，其特征在于，包括采集模块(1)、判断模块(2)、处理模块(3)和预警模块(4)，其中；
所述判断模块(2)用于对膜厚判断并传输判断指令至所述处理模块(3)，所述处理模块(3)接收指令并通过所述采集模块(1)采集膜厚参数并验证所述判断模块(2)判断指令，验证完成后通过所述预警模块(4)进行预警，其中；
所述采集模块(1)包括光源发射单元(5)、信号接收单元(6)和计算单元(7)，其中；
所述光源发射单元(5)，用于向预涂滚筒表面发射入射光；
所述信号接收单元(6)，在涂布涂层前用于接收入射光经预涂滚筒表面反射后的第一反射光，在涂布涂层后用于接收入射光经预涂滚筒上的涂层表面反射后的第二反射光；
所述计算单元(7)，获取反射光信号得到预涂滚筒上的涂层厚度。


2.根据权利要求1所述的光学级PET离型膜分切工艺质量监控系统，其特征在于，所述判断模块(2)包括：

【专利技术属性】
技术研发人员：赵波，夏克彬，王亮亮，范兴宝，许显成，
申请(专利权)人：四川羽玺新材料股份有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51