【技术实现步骤摘要】
一种直流测试中解决直流测试带来的温度效应的电路
本技术涉及测量电路
,具体为一种直流测试中解决直流测试带来的温度效应的电路。
技术介绍
现有的产品测试,如现有直流测试,一般都需要长时间的直流进行测试。直流测试时,单一电流流过被测件时,长时间测试,产品会发热,由于温度效应会导致电气参数发生改变,从而测试值发生变化。有时候,甚至会造车被测件的损坏,或引起火灾等灾害。
技术实现思路
为了避免直流测试产品测试时产生的这个问题,或者危害,特研究了本这技术。它既满足它基本的被测件测试要求,又避免了被测件的温度效应,且成本低廉。为实现以上目的,本技术通过以下技术方案予以实现:一种直流测试中解决直流测试带来的温度效应的电路,电路中包括数模转换芯片,运算放大器,差分4通道数字控制模拟开关,电容,电阻;数模转换芯片输入端与单片机等控制设备相连,通过单片机等编程,从而在输出端产生想要的电压。数模转换芯片的输出端和数字模拟开关第一输入第一通道相连;同时,数模转换芯片的输出端和经电阻和运算放大器的方向端相连,运算放大器的同向端接地,运算放大器的反向端经电阻和运算放大器的输出端相连,从而形成了一个反向跟随电路,和数字模拟开关的第一输入的第二通道相连;数字模拟开关的通道选择信号A,B经过单片机等编程,从而可在工作的时候数字模拟开关的X输出端,交替选择数字模拟开关第一输入第一通道和数字模拟开关的第一输入的第二通道,因为模拟开关第一输入第一通道和数字模拟开关的第一输入的第二通道电平正好相反,从而在数字模拟开关的X输出端会 ...
【技术保护点】
1.一种直流测试中解决直流测试带来的温度效应的电路,包括数模转换芯片,其特征在于:所述数模转换芯片的VOUT输出连到数字模拟开关U3的X1脚,同时数模转换芯片的VOUT输出(V1)通过电阻R1连到运算放大器U2的反向输入端,运算放大器U2的同向输入端接地,运算放大器U2的反向端通过电阻R2接到运算放大器U2的输出端,运算放大器U2输出端输出电压(V2)接到U3的X2脚,数字模拟开关U3的X0脚接地,此外U3的不用脚X3,Y0,Y1,Y2,Y3,Y接地,数模转换芯片的输出端和数字模拟开关U3第一输入第一通道相连。/n
【技术特征摘要】
1.一种直流测试中解决直流测试带来的温度效应的电路,包括数模转换芯片,其特征在于:所述数模转换芯片的VOUT输出连到数字模拟开关U3的X1脚,同时数模转换芯片的VOUT输出(V1)通过电阻R1连到运算放大器U2的反向输入端,运算放大器U2的同向输入端接地,运算放大器U2的反向端通过电阻R2接到运算放大器U2的输出端,运算放大器U2输...
【专利技术属性】
技术研发人员:王永生,林建龙,
申请(专利权)人:常州市优策电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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