一种电容式触摸按键并行抗干扰方法及装置制造方法及图纸

技术编号:27615890 阅读:17 留言:0更新日期:2021-03-10 10:46
本发明专利技术提供一种电容式触摸按键并行抗干扰方法及装置,包括获取当前触摸按键模块的干扰信号;分析干扰信号波形的幅值在第一预设时间段内是否小于设置的阈值,若幅值在第一预设时间段内小于阈值,则开启触摸扫描单元获取当前触摸按键模块相邻控制端口的另一触摸按键模块的扫描数据;同时开启干扰检测器,获取扫描期间的干扰信号;通过第一干扰检测器、第二干扰检测器、第三干扰检测器、第四干扰检测器和第五干扰检测器根据设置的检测阈值对干扰信号进行分段检测,分析干扰信号的干扰强度是否小于预设干扰强度;若干扰信号的干扰强度小于预设干扰强度,则保留扫描数据,处理器根据扫描数据控制对应的设备动作;否则丢弃扫描数据。据。据。

【技术实现步骤摘要】
一种电容式触摸按键并行抗干扰方法及装置


[0001]本专利技术涉及触控
,具体而言,涉及一种电容式触摸按键并行抗干扰方法及装置。

技术介绍

[0002]随着电容触摸按键在家用电器等电子产品上的日益普及,越来越多的用户通过电容触摸按键对电子产品进行操作,以享受电容触摸按键为生活带来的便利,电容触摸按键主要利用人体自带电容会改变按键上的电容量,通过检测电容的电荷量改变或者电容改变引发的电压电流改变来确定触摸是否触发,是否准确判断触摸发生决定了触摸按键使用的精准度。但是在实际使用过程中出现的干扰往往会导致处理器误判触摸动作,从而造成产品执行错误操作。现有方法是通过判断多个按键前后时刻基值差值的大小来判断当前环境是否存在干扰。但是这种方式在有干扰时,触摸操作不进行判断,导致触摸按键失效。所以需要提供一种方案以降低干扰的影响,提高电容触摸按键判断的准确性。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种电容式触摸按键并行抗干扰方法及装置,用以实现降低干扰的影响的同时提高电容触摸按键判断的准确性的技术效果。
[0004]第一方面,本专利技术提供一种电容式触摸按键并行抗干扰方法,包括:获取当前触摸按键模块的干扰信号;分析所述干扰信号波形的幅值在第一预设时间段内是否小于设置的阈值,若所述幅值在第一预设时间段内小于所述阈值,则开启触摸扫描单元获取当前触摸按键模块相邻控制端口的另一触摸按键模块的扫描数据;同时开启干扰检测器,获取扫描期间的干扰信号;通过第一干扰检测器、第二干扰检测器、第三干扰检测器、第四干扰检测器和第五干扰检测器根据设置的检测阈值对所述干扰信号进行分段检测,分析所述干扰信号的干扰强度是否小于预设干扰强度;若所述干扰信号的干扰强度小于预设干扰强度,则保留所述扫描数据,处理器根据所述扫描数据控制对应的设备动作;否则丢弃所述扫描数据。
[0005]进一步地,所述方法还包括:若所述幅值在第一预设时间段内大于所述阈值且持续时间大于第二预设时间段,则增大所述阈值,直至所述幅值在第一预设时间段内均小于当前阈值。
[0006]进一步地,所述通过第一干扰检测器、第二干扰检测器、第三干扰检测器、第四干扰检测器和第五干扰检测器根据设置的检测阈值对所述干扰信号进行分段检测,分析所述干扰信号的干扰强度是否小于预设干扰强度的步骤包括:按照等差数列排布的方式设置第一干扰检测器至第五干扰检测器的检测阈值;其中,所述第三干扰检测器的检测阈值等于所述环境判断模块设置的阈值;根据各个所述检测阈值对所述干扰信号进行分段检测和计数,并根据各个所述检测阈值和计数的结果计算所述干扰信号的干扰强度是否小于预设干扰强度。
[0007]进一步地,所述第一干扰检测器至所述第五干扰检测器的检测阈值从大到小依次设置;分析所述干扰信号的干扰强度是否小于预设干扰强度;若所述干扰信号的干扰强度小于预设干扰强度,则保留所述扫描数据的步骤包括:若所述干扰信号的幅值最大值小于所述第三干扰检测器的第一检测阈值,则干扰强度Z表示为:Z=(C-D)*Pd+(E-C)*Pc+Pd*D,若Z小于预设干扰强度Zmin,则保留所述扫描数据;式中,E表示第三干扰检测器的第一检测阈值,C表示第四干扰检测器的第二检测阈值,D表示第五干扰检测器的第三检测阈值,Pd表示所述干扰信号中幅值大于第三检测阈值的第一计数值,Pc表示所述干扰信号中幅值大于第二检测阈值的第二计数值。
[0008]进一步地,分析所述干扰信号的干扰强度是否小于预设干扰强度;若所述干扰信号的干扰强度小于预设干扰强度,则保留所述扫描数据的步骤还包括:若所述干扰信号的幅值最小值大于所述第三干扰检测器的第一检测阈值,且幅值最大值小于所述第一干扰检测器的第四检测阈值,则干扰强度Z表示为:Z=(B-E)*Pe+(A-B)*Pb+E*Pe,若Z<Zmin且Pa<0.7*Qa且Pa*A<Zmin,则保留所述扫描数据;式中,A表示第一干扰检测器的第四检测阈值,B表示第二干扰检测器的第五检测阈值,Pe表示所述干扰信号中幅值大于第一检测阈值的第三计数值,Pb表示所述干扰信号中幅值大于第五检测阈值的第四计数值,Pa表示所述干扰信号中幅值大于第四检测阈值的第五计数值,Qa表示所述干扰信号中幅值小于第四检测阈值的第六计数值。
[0009]进一步地,分析所述干扰信号的干扰强度是否小于预设干扰强度;若所述干扰信号的干扰强度小于预设干扰强度,则保留所述扫描数据的步骤还包括:若所述干扰信号的幅值最大值小于所述第一干扰检测器的第四检测阈值,且幅值最小值大于所述第五干扰检测器的第三检测阈值,则干扰强度Z表示为:Z=(C-D)*Pd+(E-C)*Pc+(B-E)*Pe+(A-B)*Pb+Pd*D;当Z<Zmin时,保留所述扫描数据。
[0010]进一步地,所述方法还包括:若所述干扰信号的幅值最小值大于所述第一干扰检测器的检测阈值,则丢弃所述扫描数据,开启触摸按键模块的下一轮触摸检测。
[0011]进一步地,所述方法还包括:若所述干扰信号的幅值最大值小于所述第五干扰检测器的检测阈值,则无需计算所述干扰信号的干扰强度,直接保留所述扫描数据。
[0012]第二方面,本专利技术提供一种电容式触摸按键并行抗干扰装置,包括控制芯片以及与所述控制芯片的控制端口一一对应连接的多个触摸按键模块;所述控制芯片包括处理器,与所述处理器连接的触摸扫描单元,与所述触摸扫描单元和所述触摸按键模块连接的环境判断模块,以及与所述环境判断模块连接的干扰检测模块;所述干扰检测模块包括第一干扰检测器、第二干扰检测器、第三干扰检测器、第四干扰检测器和第五干扰检测器;所述环境判断模块用于分析各个触摸按键模块检测到的干扰波形的幅值在第一预设时间段内是否小于设置的阈值,若所述幅值在第一预设时间段内小于所述阈值,则开启所述触摸扫描单元,获取该触摸按键模块相邻控制端口的另一触摸按键模块的扫描数据,同时开启所述干扰检测模块,并获取扫描期间的干扰信号;所述第一干扰检测器、所述第二干扰检测器、所述第三干扰检测器、所述第四干扰检测器和所述第五干扰检测器根据设置的检测阈值对所述干扰信号进行分段检测,分析所述干扰信号的干扰强度是否小于预设干扰强度;若所述干扰信号的干扰强度小于预设干扰强度,则保留所述扫描数据,所述处理器根据所述扫描数据控制对应的设备动作;否则丢弃所述扫描数据。
[0013]本专利技术能够实现的有益效果是:本专利技术以各个触摸按键模块相邻控制端口的相邻触摸按键模块检测干扰信号,当干扰信号波形的幅值在设置的时间段内连续小于设置的阈值时再启动触摸扫描单元获取用户按键期间触摸按键模块的扫描数据,同时开启干扰检测模块,获取扫描期间的干扰信号;通过干扰检测模块的多个干扰检测器对干扰信号进行分段检测,分析干扰信号的干扰强度是否小于预设干扰强度;当干扰信号的干扰强度小于预设干扰强度时,处理器根据扫描数据控制对应的设备动作,否则丢弃扫描数据。通过这种方式在降低干扰的影响的同时提高了电容触摸按键判断的准确性。
附图说明
[00本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电容式触摸按键并行抗干扰方法,其特征在于,包括:获取当前触摸按键模块的干扰信号;分析所述干扰信号波形的幅值在第一预设时间段内是否小于设置的阈值,若所述幅值在第一预设时间段内小于所述阈值,则开启触摸扫描单元获取当前触摸按键模块相邻控制端口的另一触摸按键模块的扫描数据;同时开启干扰检测器,获取扫描期间的干扰信号;通过第一干扰检测器、第二干扰检测器、第三干扰检测器、第四干扰检测器和第五干扰检测器根据设置的检测阈值对所述干扰信号进行分段检测,分析所述干扰信号的干扰强度是否小于预设干扰强度;若所述干扰信号的干扰强度小于预设干扰强度,则保留所述扫描数据,处理器根据所述扫描数据控制对应的设备动作;否则丢弃所述扫描数据。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:若所述幅值在第一预设时间段内大于所述阈值且持续时间大于第二预设时间段,则增大所述阈值,直至所述幅值在第一预设时间段内均小于当前阈值。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过第一干扰检测器、第二干扰检测器、第三干扰检测器、第四干扰检测器和第五干扰检测器根据设置的检测阈值对所述干扰信号进行分段检测,分析所述干扰信号的干扰强度是否小于预设干扰强度的步骤包括:按照等差数列排布的方式设置第一干扰检测器至第五干扰检测器的检测阈值;其中,所述第三干扰检测器的检测阈值等于所述环境判断模块设置的阈值;根据各个所述检测阈值对所述干扰信号进行分段检测和计数,并根据各个所述检测阈值和计数的结果计算所述干扰信号的干扰强度是否小于预设干扰强度。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第一干扰检测器至所述第五干扰检测器的检测阈值从大到小依次设置;分析所述干扰信号的干扰强度是否小于预设干扰强度;若所述干扰信号的干扰强度小于预设干扰强度,则保留所述扫描数据的步骤包括:若所述干扰信号的幅值最大值小于所述第三干扰检测器的第一检测阈值,则干扰强度Z表示为:Z=(C-D)*Pd+(E-C)*Pc+Pd*D,若Z小于预设干扰强度Zmin,则保留所述扫描数据;式中,E表示第三干扰检测器的第一检测阈值,C表示第四干扰检测器的第二检测阈值,D表示第五干扰检测器的第三检测阈值,Pd表示所述干扰信号中幅值大于第三检测阈值的第一计数值,Pc表示所述干扰信号中幅值大于第二检测阈值的第二计数值。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,分析所述干扰信号的干扰强度是否小于预设干扰强度;若所述干扰信号的干扰强度小于预设干扰强度,则保留所述扫描数据的步骤还包括:若所述干扰信号的幅值最小值大于所述第三干扰检测器的第一检测阈值,且幅值最大值小于所述第一干扰检测器的第四检测阈值,则干扰强度Z表示为:Z=(B-E)*Pe+(A-B)*Pb+E*Pe,若Z<Zmin且Pa<0.7*Qa且Pa*A<Zmin,则保留所述扫描数据;式中,A表示第一干扰检测器的第四检测阈值,B表示第二干扰检测器的第五检测阈值,P...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱栩杨勇周留洋黄科苗小雨陈晓丁然
申请(专利权)人:四川中微芯成科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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