本申请涉及计量设备领域,尤其是涉及一种塞尺,包括上铰接杆与下铰接杆,上铰接杆与下铰接杆交叉设置,上铰接杆与下铰接杆在交叉处铰接;上铰接杆从铰接点分为下探测部和上手柄部,下铰接杆从铰接点分为上探测部和下手柄部;上手柄部与下手柄部均设有刻度线。塞尺通过铰接点分为两个部分,一部分伸入零件内部测量尺寸,位于零件外的一部分能够显示读数。本申请具有测量零件内部尺寸的效果。申请具有测量零件内部尺寸的效果。申请具有测量零件内部尺寸的效果。
【技术实现步骤摘要】
一种塞尺
[0001]本申请涉及计量设备领域,尤其是涉及一种塞尺。
技术介绍
[0002]塞尺是用于检验间隙的测量器具之一,在机加工方面,加工出来的零件需要用到塞尺对其尺寸进行测量。
[0003]现有的单片塞尺是由一组具有不同厚度等级差的薄钢片组成的量规,横截面为直角三角形,斜边上有刻度,用于锐角正弦直接将短边的长度表示在斜边上。使用时,将一片或数片重叠插入间隙,以稍感拖滞为宜,读出塞尺上的读数。
[0004]针对上述中的相关技术,专利技术人认为上述塞尺以塞入间隙的方式来测量间隙的大小,但对于内部尺寸大、开口小的零件,上述塞尺无法测量零件内部尺寸。
技术实现思路
[0005]为了能够测量零件的内部尺寸,本申请提供一种塞尺。
[0006]本申请提供的一种塞尺采用如下的技术方案:
[0007]一种塞尺,包括上铰接杆与下铰接杆,所述上铰接杆与下铰接杆交叉设置,所述上铰接杆与下铰接杆在交叉处铰接;所述上铰接杆从铰接点分为下探测部和上手柄部,所述下铰接杆从铰接点分为上探测部和下手柄部;所述上手柄部与下手柄部均设有刻度线。
[0008]通过采用上述技术方案,塞尺通过铰接点分为两个部分,一部分伸入零件内部测量尺寸,位于零件外的一部分能够显示读数。具体的,上探测部与下探测部抵住零件的内部,通过上手柄部与下手柄部之间的读数来查看零件内部的尺寸。
[0009]可选的,所述上探测部与下探测部均包括延伸部,每一延伸部的一端均与铰接点相连;所述上探测部上的延伸部远离铰接点的一端向上弯折形成有上弯折部,所述下探测部上的延伸部远离铰接点的一端向下弯折形成有下弯折部。
[0010]通过采用上述技术方案,延伸部用来增加长度,使上探测部与下探测部能够伸到零件内部,上弯折部与下弯折部能够探测到零件内的顶部和底部。
[0011]可选的,所述上弯折部和下弯折部远离对应延伸部的一端均设有球形探头。
[0012]通过采用上述技术方案,在零件内部表面有毛刺的情况下,球形探头能够与滑过毛刺,减少上弯折部和下弯折部的端部被毛刺勾住的情况。
[0013]可选的,铰接点垂直于两个球形探头所连成的直线。
[0014]通过采用上述技术方案,当塞尺水平检测时,上弯折部和下弯折部相互转动的情况下,两个球形探头能够在同一竖直线上,增加检测的准确度。
[0015]可选的,所述上弯折部与对应的延伸部形成有钝角,所述下弯折部与对应的延伸部形成有角度相同的钝角。
[0016]通过采用上述技术方案,相对于直角的设置方式,钝角的设置方式能够使上弯折部与下弯折部向前倾斜,将塞尺向后移动时,减少上弯折部与下弯折部的端部勾在零件内
部的毛刺上的情况。
[0017]可选的,所述上弯折部以及下弯折部与对应的延伸部之间均设有加强板。
[0018]通过采用上述技术方案,加强板能够增加上弯折部以及下弯折部与对应的延伸部之间的稳定性,减少上弯折部以及下弯折部与对应的延伸部之间相对位置变化的情况,增加检测的准确度。
[0019]可选的,所述上手柄部与下手柄部远离铰接点的一端均设有指环。
[0020]通过采用上述技术方案,使用时,操作人员能够将手指套于指环内,以便于操作上手柄部与下手柄部相对转动。
[0021]可选的,所述上手柄部上的刻度线设置在上手柄部与下手柄部贴合的侧壁上,所述下手柄部上的刻度线设置在下手柄部与上手柄部贴合的侧壁上。
[0022]通过采用上述技术方案,测量时,上探测部与下探测部伸入到零件内进行测量,上手柄部与下手柄部位于零件的外侧,可以通过读出上手柄部与下手柄部交界处的数值来确定零件内部的尺寸。
[0023]综上所述,本申请包括以下至少一种有益技术效果:
[0024]1.通过将塞尺设置成剪刀的形状,塞尺通过铰接点分为两个部分,一部分伸入零件内部测量尺寸,位于零件外的一部分能够显示读数,塞尺能够测量零件内部的尺寸;
[0025]2.通过球形探头的设置,在零件内部表面有毛刺的情况下,球形探头能够与滑过毛刺,减少上弯折部和下弯折部的端部被毛刺勾住的情况。
附图说明
[0026]图1是本申请实施例的塞尺的整体示意图;
[0027]图2是图1中A处的放大图。
[0028]附图标记说明:1、上铰接杆;2、下铰接杆;3、刻度线;4、指环;5、延伸部;6、球形探头;7、加强板;11、上手柄部;12、下探测部;121、下弯折部;21、下手柄部;22、上探测部;221、上弯折部。
具体实施方式
[0029]以下结合附图1-2对本申请作进一步详细说明。
[0030]本申请实施例公开一种塞尺。参照图1,塞尺呈剪刀状,包括上铰接杆1和下铰接杆2,上铰接杆1与下铰接杆2交叉设置并在交叉处铰接。其中,上铰接杆1从铰接点分为下探测部12和上手柄部11,下铰接杆2从铰接点分为上探测部22和下手柄部21。上手柄部11与下手柄部21贴合的侧壁上均设有刻度线3。塞尺通过铰接点分为两个部分,一部分伸入零件内部测量尺寸,位于零件外的一部分能够显示读数。
[0031]参照图1,上探测部22与下探测部12均包括延伸部5,每一延伸部5的一端均与铰接点相连,延伸部5的作用在于将探测部延长,使对应的探测部伸入零件内部。上探测部22上的延伸部5远离铰接点的一端向上弯折形成有上弯折部221,下探测部12上的延伸部5远离铰接点的一端向下弯折形成有下弯折部121。测量时,上弯折部221可以抵住零件内的顶部,下弯折部121可以抵住零件内的底部。
[0032]参照图1,上弯折部221与对应的延伸部5之间形成有钝角,下弯折部121与对应的
延伸部5之间形成有角度相同的钝角。相对于直角设置的方式,钝角的设置使得上弯折部221与下弯折部121可以顺着对应延伸部5向前方倾斜探测。
[0033]参照图1和图2,上弯折部221以及下弯折部121与对应的延伸部5之间均设有加强板7,加强板7增加上弯折部221以及下弯折部121与对应的延伸部5的稳定性,减少上弯折部221以及下弯折部121与对应延伸部5之间变形的情况。上弯折部221以及下弯折部121远离对应延伸部5的一端均设有球形探头6,零件的内表面粗糙有毛刺,上弯折部221以及下弯折部121在与零件内部接触时,球形探头6能够很好地滑过零件内部的毛刺部分,减少上弯折部221以及下弯折部121的端部被毛刺勾住,导致测量不准确的情况。铰接点垂直于两个球形探头6所连成的直线,塞尺水平检测零件时,上弯折部221与下弯折部121相对转动时,上弯折部221与下弯折部121端部的球形探头6能够保持在同一竖直线上。
[0034]参照图1,上手柄部11与下手柄部21远离铰接点的一端均设有指环4,使用时,操作人员将手指穿在指环4内,带动上铰接杆1和下铰接杆2相对转动。上手柄部11上的刻度线3设置在上手柄部11与下手柄部21贴合的侧壁上,下手柄部21上的刻度线3同样设置在下手柄部21与上手本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种塞尺,其特征在于:包括上铰接杆(1)与下铰接杆(2),所述上铰接杆(1)与下铰接杆(2)交叉设置,所述上铰接杆(1)与下铰接杆(2)在交叉处铰接;所述上铰接杆(1)从铰接点分为下探测部(12)和上手柄部(11),所述下铰接杆(2)从铰接点分为上探测部(22)和下手柄部(21);所述上手柄部(11)与下手柄部(21)均设有刻度线(3)。2.根据权利要求1所述的塞尺,其特征在于:所述上探测部(22)与下探测部(12)均包括延伸部(5),每一延伸部(5)的一端均与铰接点相连;所述上探测部(22)上的延伸部(5)远离铰接点的一端向上弯折形成有上弯折部(221),所述下探测部(12)上的延伸部(5)远离铰接点的一端向下弯折形成有下弯折部(121)。3.根据权利要求2所述的塞尺,其特征在于:所述上弯折部(221)和下弯折部(121)远离对应延伸部(5)...
【专利技术属性】
技术研发人员:陆文明,吴卫强,张欣星,
申请(专利权)人:苏州广德浩建筑工程管理咨询有限公司,
类型:新型
国别省市:
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