本发明专利技术公开了一种非易失芯片擦写数据检查方法、装置、存储介质和终端，在待测设计擦写操作完成后会将待测设计内所有数据写到一个数据存储文件中去，写完之后打开该数据存储文件并将全部数据导过来，与参考模型全部数据做对比，若对比相同则证明擦写成功，若对比不同则证明擦写失败；本技术方案无需在待测设计每次擦写操作完成后执行全芯片读操作，通过导出数据存储文件中的数据实现自动擦写数据的检查，检查操作瞬间完成，几乎不消耗仿真时间，大大节省了仿真时间，提高了仿真验证效率。提高了仿真验证效率。提高了仿真验证效率。
【技术实现步骤摘要】
非易失芯片擦写数据检查方法、装置、存储介质和终端
[0001]本专利技术涉及非易失芯片仿真
，尤其涉及的是一种非易失芯片擦写数据检查方法、装置、存储介质和终端。
技术介绍
[0002]非易失存储器仿真验证时需要对擦写结果进行检查，看擦写结果是否正常，传统的做法是每次擦写完成都要对芯片仿真模型进行发送读指令读出全芯片的数据，来确认擦写结果是否正确，但全芯片读出指令操作耗时长，浪费仿真时间，导致仿真效率低下。
[0003]因此，现有的技术还有待于改进和发展。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于提供一种非易失芯片擦写数据检查方法、装置、存储介质和终端，旨在解决现有的非易失存储器仿真验证擦写结果时，需要对芯片仿真模型进行发送读指令读出全芯片数据，耗时长，仿真效率低下的问题。
[0005]本专利技术的技术方案如下：一种非易失芯片擦写数据检查方法，其中，具体包括以下步骤：预设数据存储文件；向待测设计和参考模型发送仿真激励；待测设计根据仿真激励执行相应操作，参考模型根据仿真激励执行相应操作；将执行相应操作后的待测设计内的所有数据写入数据存储文件内；导出数据存储文件内的全部数据；对比导出的所述数据存储文件内的全部数据与参考模型的全部数据是否相同，若相同，操作成功，输出仿真结果；若不相同，操作失败，输出仿真结果。
[0006]所述的非易失芯片擦写数据检查方法，其中，所述相应操作为擦操作和写操作。
[0007]所述的非易失芯片擦写数据检查方法，其中，所述待测设计为与待测非易失芯片的存储单元一致的模型。
[0008]所述的非易失芯片擦写数据检查方法，其中，所述仿真激励包括操作指令和对应存储单元的地址。
[0009]一种非易失芯片擦写数据检查装置，其中，包括：文件预设模块，预设数据存储文件；仿真激励发送模块，向待测设计和参考模型发送仿真激励；待测设计，根据仿真激励执行相应操作；参考模型，根据仿真激励执行相应操作；数据写入模块，将执行相应操作后的待测设计内的所有数据写入数据存储文件内；数据导出模块，导出数据存储文件内的全部数据；
数据对比模块，对比导出的所述数据存储文件内的全部数据与参考模型的全部数据是否相同；仿真结果输出模块，输出仿真结果。
[0010]所述的非易失芯片擦写数据检查装置，其中，所述非易失芯片擦写数据检查装置采用验证平台实现。
[0011]所述的非易失芯片擦写数据检查装置，其中，所述非易失芯片擦写数据检查装置采用UVM验证平台实现。
[0012]所述的非易失芯片擦写数据检查装置，其中，所述数据存储文件为UVM验证平台内用于存储数据的存储空间。
[0013]一种存储介质，其中，所述存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行上述任一项所述的方法。
[0014]一种终端，其中，包括处理器和存储器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器通过调用所述存储器中存储的所述计算机程序，用于执行上述任一项所述的方法。
[0015]本专利技术的有益效果：本专利技术通过提供一种非易失芯片擦写数据检查方法、装置、存储介质和终端，在待测设计擦写操作完成后会将待测设计内所有数据写到一个数据存储文件中去，写完之后打开该数据存储文件并将全部数据导过来，与参考模型全部数据做对比，若对比相同则证明擦写成功，若对比不同则证明擦写失败；本技术方案无需在待测设计每次擦写操作完成后执行全芯片读操作，通过导出数据存储文件中的数据实现自动擦写数据的检查，检查操作瞬间完成，几乎不消耗仿真时间，大大节省了仿真时间，提高了仿真验证效率。
附图说明
[0016]图1是本专利技术中非易失芯片擦写数据检查方法的步骤流程图。
[0017]图2是本专利技术中非易失芯片擦写数据检查装置的示意图。
[0018]图3是本专利技术中终端的示意图。
具体实施方式
[0019]下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0020]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0021]如图1所示，一种非易失芯片擦写数据检查方法，具体包括以下步骤：S1：预设数据存储文件；S2：向待测设计和参考模型发送仿真激励；
S3：待测设计根据仿真激励执行相应操作，参考模型根据仿真激励执行相应操作；S4：将执行相应操作后的待测设计内的所有数据写入数据存储文件内；S5：导出数据存储文件内的全部数据；S6：对比导出的所述数据存储文件内的全部数据与参考模型的全部数据是否相同，若相同，则跳转至S7，若不相同，则跳转至S8；S7：操作成功，输出仿真结果；S8：操作失败，输出仿真结果。
[0022]在某些具体实施例中，所述相应操作为擦操作和写操作。
[0023]其中，所述待测设计为和待测非易失芯片的存储单元具备行为一样。假设待测非易失芯片的存储单元由控制块和多个存储块组成，一般的仿真验证主要针对控制块进行验证，存储块在出厂前会完成对应的测试。
[0024]在某些具体实施例中，所述仿真激励包括操作指令和对应存储单元的地址。
[0025]如图2所示，一种非易失芯片擦写数据检查装置，包括：文件预设模块101，预设数据存储文件；仿真激励发送模块102，向待测设计和参考模型发送仿真激励；待测设计103，根据仿真激励执行相应操作；参考模型104，根据仿真激励执行相应操作；数据写入模块105，将执行相应操作后的待测设计内的所有数据写入数据存储文件内；数据导出模块106，导出数据存储文件内的全部数据；数据对比模块107，对比导出的所述数据存储文件内的全部数据与参考模型的全部数据是否相同；仿真结果输出模块108，输出仿真结果。
[0026]在某些具体实施例中，所述非易失芯片擦写数据检查装置采用UVM验证平台实现。
[0027]其中，所述数据存储文件为UVM验证平台内用于存储数据的存储空间。
[0028]请参照图3，本专利技术实施例还提供一种终端。如示，终端300包括处理器301和存储器302。其中，处理器301与存储器302电性连接。处理器301是终端300的控制中心，利用各种接口和线路连接整个终端的各个部分，通过运行或调用存储在存储器302内的计算机程序，以及调用存储在存储器302内的数据，执行终端的各种功能和处理数据本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种非易失芯片擦写数据检查方法，其特征在于，具体包括以下步骤：预设数据存储文件；向待测设计和参考模型发送仿真激励；待测设计根据仿真激励执行相应操作，参考模型根据仿真激励执行相应操作；将执行相应操作后的待测设计内的所有数据写入数据存储文件内；导出数据存储文件内的全部数据；对比导出的所述数据存储文件内的全部数据与参考模型的全部数据是否相同，若相同，操作成功，输出仿真结果；若不相同，操作失败，输出仿真结果。2.根据权利要求1所述的非易失芯片擦写数据检查方法，其特征在于，所述相应操作为擦操作和写操作。3.根据权利要求1所述的非易失芯片擦写数据检查方法，其特征在于，所述待测设计为与待测非易失芯片的存储单元一致的模型。4.根据权利要求1所述的非易失芯片擦写数据检查方法，其特征在于，所述仿真激励包括操作指令和对应存储单元的地址。5.一种非易失芯片擦写数据检查装置，其特征在于，包括：文件预设模块，预设数据存储文件；仿真激励发送模块，向待测设计和参考模型发送仿真激励；待测设计，根据仿真激励执行相应操作；参考模型，根据仿真激励...
【专利技术属性】
技术研发人员：张新展，陈胜源，朱雨萌，张宇，
申请(专利权)人：深圳市芯天下技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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