一种获取发射机测试参数的方法和装置以及存储介质制造方法及图纸

本申请实施例公开了一种获取发射机测试参数的方法和装置以及存储介质，能够获得采样电信号的电平幅度对应的噪声量，不限制使用发射测试参数进行发射机一致性测试的接收机类型。该方法包括：对发射机发送的光信号进行波形采样，以得到采样电信号；根据预设的初始噪声比例参数和采样电信号的电平幅度获得采样电信号对应的第一噪声量，其中，采样电信号的电平幅度大于最小电平且小于最大电平，初始噪声比例参数为最大噪声量与最小噪声量之间的比值，第一噪声量为大于最小噪声量且小于最大噪声量的噪声量；根据初始噪声比例参数和理想电信号的电平幅度获得理想电信号对应的第二噪声量；第一噪声量和第二噪声量用于对发射机进行一致性测试。进行一致性测试。进行一致性测试。

【技术实现步骤摘要】
一种获取发射机测试参数的方法和装置以及存储介质


[0001]本申请涉及光通信
，尤其涉及一种获取发射机测试参数的方法和装置以及存储介质。

技术介绍

[0002]在光通信网络中，为了实现一个接收机和不同类型的发射机进行通信，接收机需要对不同类型的发射机进行一致性测试。目前对发射机进行一致性测试的方法主要包括：眼图模板(Eye Mask)、发射机色散代价(transmitter dispersion penalty，TDP)、发射机色散眼图闭合代价(transmitter dispersion eye closure penalty，TDEC)。
[0003]在对发射机进行一致性测试时，可以通过如下方案获取发射机测试参数：首先使用示波器对发射机发送的光信号进行波形采样，得到采样电信号，然后获取采样电信号对应的噪声量，无论采样电信号为1电平还是0电平都会获取到相同的噪声量，采样电信号对应的噪声量作为发射机测试参数，可用于评估接收机容忍噪声的能力。
[0004]在获取发射机测试参数的方案中，对于所有的采样电信号都会对应相同的噪声量，这种方案通常只适用于PIN接收机，但是不适用于雪崩光电二极管(avalanche photo diode，APD)接收机，原因是APD接收机中受到散弹噪声的影响，不同幅度的采样电信号对应的噪声量是不一样的，例如1电平的信号会比0电平的信号需要有更多的噪声，APD接收机按照前述的获取发射机测试参数的方案，所有采样电信号都会对应相同的噪声量，只能使用相同的噪声量作为发射机测试参数，会导致发射机一致性测试结果无法反映真实的发射机性能。上述获取发射机测试参数的方案只能适用于PIN接收机，因此目前的方案限制了所能应用的接收机类型。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提供了一种获取发射机测试参数的方法和装置以及存储介质，能够获得采样电信号的电平幅度对应的噪声量，不限制使用发射测试参数进行发射机一致性测试的接收机类型。
[0006]为解决上述技术问题，本申请实施例提供以下技术方案：
[0007]第一方面，本申请实施例提供一种获取发射机测试参数的方法，包括：对发射机发送的光信号进行波形采样，以得到采样电信号；根据预设的初始噪声比例参数和所述采样电信号的电平幅度获得所述采样电信号对应的第一噪声量，其中，所述采样电信号的电平幅度大于最小电平且小于最大电平，所述初始噪声比例参数为最大噪声量与最小噪声量之间的比值，所述最大噪声量为所述最大电平的电信号对应的噪声量，所述最小噪声量为所述最小电平的电信号对应的噪声量，所述第一噪声量为大于所述最小噪声量且小于所述最大噪声量的噪声量；根据所述初始噪声比例参数和理想电信号的电平幅度获得所述理想电信号对应的第二噪声量，其中，所述理想电信号与所述采样电信号具有相同的光学调制幅度，且所述理想电信号的电平幅度为所述最大电平或者所述最小电平；其中，所述第一噪声
量和所述第二噪声量用于对所述发射机进行一致性测试。在该方案中，由于本申请实施例中可以根据预设的初始噪声比例参数和采样电信号的电平幅度获得采样电信号对应的第一噪声量，并且确定出的第一噪声量为大于最小噪声量且小于最大噪声量的噪声量，因此本申请实施例中不同电平幅度的采样电信号对应的噪声量不相同，即可以获得采样电信号的电平幅度对应的噪声量，因此适用于不同类型的接收机，本申请实施例不限制使用发射测试参数进行发射机一致性测试的接收机类型。
[0008]在本申请的一些实施例中，所述根据预设的初始噪声比例参数和所述采样电信号的电平幅度获得所述采样电信号对应的第一噪声量，包括：确定所述采样电信号的电平幅度处于所述最大电平和所述最小电平之间；以所述最大噪声量和所述最小噪声量作为插值条件，根据所述初始噪声比例参数对所述采样电信号的电平幅度进行插值计算，得到所述第一噪声量。在该方案中，获取到采样电信号的电平幅度之后，判断采样电信号的电平幅度是否处于最大电平和最小电平之间，例如最大电平为1，最小电平为0，则采样电信号的电平幅度可以是0.8或者0.9或者0.6等。以最大噪声量和最小噪声量作为插值条件，即最大噪声量和最小噪声量作为插值算法的两个端点值，根据初始噪声比例参数对采样电信号的电平幅度进行插值计算，得到第一噪声量。其中，当采样电信号的电平幅度越大时，采样电信号对应的第一噪声量就越大，当采样电信号的电平幅度越小时，采样电信号对应的第一噪声量就越小。插值算法是指已知最大噪声量和最小噪声量的情况下采用插值函数计算出结果的算法。本申请实施例中采用的插值算法可以有多种，例如该插值算法可以是线性插值，或者最邻近插值、或者双线性插值等。
[0009]在本申请的一些实施例中，所述以所述最大噪声量和所述最小噪声量作为插值条件，根据所述初始噪声比例参数对所述采样电信号的电平幅度进行插值计算，得到所述第一噪声量，包括：获取所述采样电信号在预设的采样点能容忍的噪声量σ
G
；通过如下方式确定所述最大电平的电信号对应的最大噪声σ
max
：σ
max
＝Mσ
G
，其中，所述M表示所述初始噪声比例参数；确定所述最小电平的电信号对应的最小噪声量为所述σ
G
；在所述最大电平和所述最小电平之间量化出N个电平值，所述N个电平值都处于所述最大电平和所述最小电平之间，所述N为正整数；使用预设的插值算法计算出所述N个电平值分别对应的N个噪声量；确定所述采样电信号的电平幅度为所述N个电平值中的第一电平值；根据所述N个电平值与N个噪声量的对应关系，获取与所述第一电平值对应的第一噪声量。在该方案中，根据最大电平和最小电平进行电平幅度量化，在最大电平和最小电平之间量化出N个电平值，使用预设的插值算法计算出N个电平值分别对应的N个噪声量，即针对量化出的N个电平值中的每个电平值都使用插值算法计算出一个噪声量，则针对N个电平值可以计算出N个噪声量。例如电平幅度与噪声量对应关系中可以包括N个电平值分别对应的N个噪声量。确定采样电信号的电平幅度为N个电平值中的第一电平值，则第一电平值是属于N个电平值中的某一个电平值，最后根据N个电平值与N个噪声量的对应关系，获取与第一电平值对应的第一噪声量。本申请实施例中，确定采样电信号的电平幅度为N个电平值中的第一电平值，使用该第一电平值查找N个电平值与N个噪声量的对应关系来确定采样电信号对应的第一噪声量，本申请实施例中，针对采样电信号的不同电平幅度，可以确定不同的噪声量，本申请实施例中提供了获得采样电信号的不同电平幅度对应的精细化噪声量的方案，因此本申请实施例中可以模拟出发射机发射的不同光信号的真实光功率衰减情况，以测试出发射机的真实性能。本申
请实施例中不同电平幅度的采样电信号对应的噪声量不相同，即可以获得采样电信号的电平幅度对应的噪声量，因此适用于不同类型的接收机，本申请实施例不限制使用发射测试参数进行发射机一致性测试的接收机类型。
[0010]在本申请的一些实施例中，所述根据预设的初始噪声比例参数和所述采样电信号的电平幅度获本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种获取发射机测试参数的方法，其特征在于，包括：对发射机发送的光信号进行波形采样，以得到采样电信号；根据预设的初始噪声比例参数和所述采样电信号的电平幅度获得所述采样电信号对应的第一噪声量，其中，所述采样电信号的电平幅度大于最小电平且小于最大电平，所述初始噪声比例参数为最大噪声量与最小噪声量之间的比值，所述最大噪声量为所述最大电平的电信号对应的噪声量，所述最小噪声量为所述最小电平的电信号对应的噪声量，所述第一噪声量为大于所述最小噪声量且小于所述最大噪声量的噪声量；根据所述初始噪声比例参数和理想电信号的电平幅度获得所述理想电信号对应的第二噪声量，其中，所述理想电信号与所述采样电信号具有相同的光学调制幅度，且所述理想电信号的电平幅度为所述最大电平或者所述最小电平；其中，所述第一噪声量和所述第二噪声量用于对所述发射机进行一致性测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据预设的初始噪声比例参数和所述采样电信号的电平幅度获得所述采样电信号对应的第一噪声量，包括：确定所述采样电信号的电平幅度处于所述最大电平和所述最小电平之间；以所述最大噪声量和所述最小噪声量作为插值条件，根据所述初始噪声比例参数对所述采样电信号的电平幅度进行插值计算，得到所述第一噪声量。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述以所述最大噪声量和所述最小噪声量作为插值条件，根据所述初始噪声比例参数对所述采样电信号的电平幅度进行插值计算，得到所述第一噪声量，包括：获取所述采样电信号在预设的采样点能容忍的噪声量σ
G
；通过如下方式确定所述最大电平的电信号对应的最大噪声σ
max
：σ
max
＝Mσ
G
，其中，所述M表示所述初始噪声比例参数；确定所述最小电平的电信号对应的最小噪声量为所述σ
G
；在所述最大电平和所述最小电平之间量化出N个电平值，所述N个电平值都处于所述最大电平和所述最小电平之间，所述N为正整数；使用预设的插值算法计算出所述N个电平值分别对应的N个噪声量；确定所述采样电信号的电平幅度为所述N个电平值中的第一电平值；根据所述N个电平值与N个噪声量的对应关系，获取与所述第一电平值对应的第一噪声量。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据预设的初始噪声比例参数和所述采样电信号的电平幅度获得所述采样电信号对应的第一噪声量，包括：根据预设的初始噪声比例参数、所述最大噪声量和所述最小噪声量获取电平幅度与噪声量对应关系，其中，所述电平幅度与噪声量对应关系包括：大于最小电平且小于最大电平的每一个电平幅度对应的噪声量；使用所述采样电信号的电平幅度查找所述电平幅度与噪声量对应关系，从而得到所述第一噪声量。5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述对发射机发送的光信号进行波形采样，以得到采样电信号之后，所述方法还包括：使用均衡器对所述采样电信号进行时域均衡处理，得到均衡后的电信号。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据预设的初始噪声比例参数和所述采样电信号的电平幅度获得所述采样电信号对应的第一噪声量，包括：获取所述均衡器对应的均衡参数，所述均衡参数包括：所述均衡器的抽头长度和所述均衡器的抽头系数；根据所述采样电信号的电平幅度、所述均衡参数、所述初始噪声比例参数获得所述均衡后的电信号对应的第一噪声量。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述采样电信号的电平幅度、所述均衡参数、所述初始噪声比例参数获得所述均衡后的电信号对应的第一噪声量，包括：根据所述采样电信号的电平幅度、所述均衡参数、所述初始噪声比例参数获取连续采样点电平幅度与噪声量对应关系；根据所述连续采样点电平幅度与噪声量对应关系确定所述最大电平的电信号对应的第三噪声量，以及为所述最小电平的电信号对应的第四噪声量；根据所述第三噪声量和所述第四噪声量对所述初始噪声比例参数进行修正，得到修正后的噪声比例参数；根据所述均衡参数获取噪声增强因子，其中，所述噪声增强因子用于表征所述均衡器对噪声的增强程度；根据所述采样电信号的电平幅度、所述修正后的噪声比例参数、所述噪声增强因子和平均光功率获得所述均衡后的电信号对应的第一噪声量，所述平均光功率为所述采样电信号在不同电平幅度下的光功率平均值。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据所述采样电信号的电平幅度、所述修正后的噪声比例参数、所述噪声增强因子和平均光功率获得所述均衡后的电信号对应的第一噪声量，包括：通过如下方式计算所述均衡后的电信号对应的第一噪声量σ
DUT_estimated
：其中，所述y表示所述采样电信号所在采样点采集到的信号功率，所述P
th
表示所述平均光功率，所述f
u
(y)为光功率大于所述P
th
的采样点的幅度分布，f
l
(y)为光功率小于所述P
th
的采样点的幅度分布，所述M(y)表示所述修正后的噪声比例参数，所述C
eq
为所述噪声增强因子，所述BER
target
为误码率门限，所述Q表示标准正态分布的尾函数。9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据所述均衡参数获取连续采样点电平幅度与噪声量对应关系，包括：确定所述均衡器中P个抽头对应的P个连续采样点，所述P的取值为正整数；通过如下的方式计算第n个采样点的均衡后的噪声量noise
eq
(n)：
其中，所述L表示所述均衡器的抽头长度，所述h
eq
表示所述均衡器的抽头系数，所述noise(n-m)表示第(n-m)个采样点在时域均衡处理之前的噪声量，所述σ
average
为不同电平幅度下的平均噪声量；将所述采样电信号的电平幅度量化为W个等级，所述W为正整数；根据所述noise
eq
(n)的计算方式获取所述连续采样点电平幅度与噪声量对应关系，其中，所述连续采样点电平幅度与噪声量对应关系包括：与P个连续采样点的电平幅度相对应的W
P
个噪声量。10.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述初始噪声比例参数和理想电信号的电平幅度获得所述理想电信号对应的第二噪声量，包括：通过如下方式计算获得理想电信号对应的第二噪声量通过如下方式计算获得理想电信号对应的第二噪声量其...

【专利技术属性】
技术研发人员：张阔，周雷，李博睿，李胜平，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：