本实用新型专利技术提出一种籽晶,该籽晶包括连接于一体的柱体部和顶部,所述顶部向远离柱体部方向凸起,所述顶部凸起的曲率半径为柱体部横截面半径的倍。采用本籽晶,所制备得到的III
【技术实现步骤摘要】
籽晶
[0001]本技术涉及晶体生长
,尤其涉及一种用于半导体晶体生长的籽晶。
技术介绍
[0002]随着科技的进步和发展,越来越多的半导体晶体,因其在集成电路、光电系统中的突出作用,得到人们广泛的重视。特别是III-V族化合物半导体晶体和晶片,因其高电阻率、高电子迁移率等优势,被广泛的应用在需要具有高频、高温、低温性能好、噪声小、抗辐射能力强等特点的半导体器件制造之中。
[0003]制备这些半导体单晶材料的方法有多种,主要包括提拉法、VGF法、VB法等。其中VGF法因其设备成本低、温度梯度小、原料利用率高、晶体位错少、污染少等优点,逐渐成为III-V族化合物半导体晶体的主流晶体生长方法。但同时,由于III-V族化合物半导体晶体普遍具有层错能低的缺点,在VGF法生长过程中,极易产生孪晶等缺陷,严重影响晶体的成品率。而且,由于VGF法温度梯度小,III-V族化合物半导体晶体的结晶潜热不易散发,在晶体生长过程中容易形成凹界面,进而影响晶体品质。
[0004]因此,需要设计一种新型结构的籽晶,来减少孪晶,维持晶体生长界面,从而提高晶体的质量。
技术实现思路
[0005]本技术的目的在于克服上述技术问题,提出一种新型结构的籽晶,减少孪晶,维持晶体生长界面,从而提高晶体的质量。
[0006]为实现前述目的,本技术采用如下技术方案:一种籽晶,该籽晶包括连接于一体的柱体部和顶部,所述顶部向远离柱体部方向凸起,所述顶部凸起的曲率半径为柱体部横截面半径的倍。
[0007]作为本技术的进一步改进,所述顶部凸起的曲率半径为71~100mm。
[0008]作为本技术的进一步改进,所述顶部呈球冠状。
[0009]作为本技术的进一步改进,所述柱体部为一圆柱体。
[0010]作为本技术的进一步改进,所述柱体部横截面半径为所生长的晶体横截面半径的0.8~1倍。
[0011]作为本技术的进一步改进,所述籽晶为III-V族化合物晶体的籽晶。
[0012]作为本技术的进一步改进,所述III-V族化合物包括砷化镓、磷化铟、砷化铟。
[0013]采用本籽晶,所制备得到的III-V族化合物晶体位错密度低,且无孪晶缺陷,晶体质量高。
附图说明
[0014]图1为本技术籽晶的实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0015]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
[0016]在本技术的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“左”、“右”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
[0017]应当理解的是,本技术中采用术语“第一”、“第二”等来描述各种信息,但这些信息不应限于这些术语,这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如,在不脱离本技术范围的情况下,“第一”信息也可以被称为“第二”信息,类似的,“第二”信息也可以被称为“第一”信息。
[0018]在本技术的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0019]请参阅图1,本技术提供一种籽晶100,该籽晶100包括连接于一体的柱体部110和顶部120,所述顶部120向远离柱体部110方向凸起,所述顶部120凸起的曲率半径为柱体部横截面半径的倍。凸起的顶部120 在生长晶体时,有利于多晶料与籽晶的接触,从而有利于晶体生长。
[0020]作为本专利技术的进一步改进,所述顶部120凸起的曲率半径为71~100mm。
[0021]作为本专利技术的进一步改进,所述顶部120呈球冠状。
[0022]作为本专利技术的进一步改进,所述柱体部110为一圆柱体。
[0023]作为本专利技术的进一步改进,所述柱体部横截面半径为所生长的晶体横截面半径的0.8~1倍。如脱离上述倍数关系,将对最终成型的晶体质量产生负面影响,例如出现孪晶。
[0024]作为本专利技术的进一步改进,所述籽晶为III-V族化合物晶体的籽晶。
[0025]作为本专利技术的进一步改进,所述III-V族化合物包括砷化镓、磷化铟、砷化铟。
[0026]实施例1。
[0027]本实施例提出一种籽晶100,用于生长砷化镓(GaAs)单晶,该籽晶100 包括连接于一体的柱体部110和顶部120,柱体部110为横截面为的圆柱体,顶部120呈球冠状,顶部的曲率半径为71mm。采用VGF法制备GaAs单晶:将该籽晶装入坩埚中,之后将高纯GaAs多晶和B2O3液封剂置于坩埚中,升温化料开始晶体生长,最终制备得到GaAs单晶。对所得到的GaAs单晶进行检索,晶体质量良好,位错密度≤300cm-2
,且无孪晶等缺陷。
[0028]实施例2。
[0029]本实施例提出一种籽晶100,用于生长磷化铟(InP)单晶,该籽晶100包括连接于一体的柱体部110和顶部120,柱体部110为横截面为的圆柱体,顶部120呈球冠状,顶部的曲率半径为100mm。采用VGF法制备InP单晶:将该籽晶装入坩埚中,之后将高纯InP多晶和
B2O3液封剂置于坩埚中,升温化料开始晶体生长,最终制备得到InP单晶。对所得到的InP单晶进行检索,晶体质量良好,位错密度≤100cm-2
,且无孪晶等缺陷。
[0030]实施例3。
[0031]本实施例提出一种籽晶100,用于生长砷化铟(InAs)单晶,该籽晶100 包括连接于一体的柱体部110和顶部120,柱体部110为横截面为的圆柱体,顶部120呈球冠状,顶部的曲率半径为80mm。采用VGF法制备InAs单晶:将该籽晶装入坩埚中,之后将高纯InAs多晶和B2O3液封剂置于坩埚中,升温化料开始晶体生长,最终制备得到InAs单晶。对所得到的InAs单晶进行检索,晶体质量良好,位错密度≤200cm-2
,且无孪晶等缺陷。
[0032]综上所示,采用本籽晶,所制备得到的III-V族化合物晶体位错密度低,且无孪晶缺陷,晶体质量高。
[0033]尽管为示例目的,已经公开了本技术的优选实施方式,但是本领域的普通技术人员将意识到,在不脱离由所附的权利要求书公开的本技术的范围和精神的情况下,各种改进、增加以及取代是可能的。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种籽晶,其特征在于:该籽晶包括连接于一体的柱体部和顶部,所述顶部向远离柱体部方向凸起,所述顶部凸起的曲率半径为柱体部横截面半径的倍。2.根据权利要求1所述的籽晶,其特征在于:所述顶部凸起的曲率半径为71~100mm。3.根据权利要求1所述的籽晶,其特征在于:所述顶部呈球冠状。4.根据权利要求1所述的籽晶,其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员:狄聚青,朱刘,刘运连,薛帅,崔博,方义林,
申请(专利权)人:广东先导先进材料股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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