本实用新型专利技术公开了一种X射线设备用成像质量测试装置，涉及X射线设备检测领域，其包括用于吸收X射线形成测试图像的基体和用于吸收X射线并反射可见光的荧光体，其中基体设有条纹区域并且荧光体可形成X射线的指示区域。在X射线设备摄像质量的检测过程中，本实用新型专利技术可便于隔室直观观察基体的X射线辐射状况，便于判断异常出现位置，利用测试人员可观察到X射线的指示区域，简化测试的操作，提高测试的准确性，且装置本体具有较低的成本，适合于机构日常对X射线设备的自行检测，确保X射线设备的运行成像质量，便于及时发现设备问题，也为第三方检测前便于机构自行提前校正，整体提高X射线设备管理的效率。线设备管理的效率。线设备管理的效率。
【技术实现步骤摘要】
一种X射线设备用成像质量测试装置
[0001]本技术涉及X射线设备检测领域，具体是一种X射线设备用成像质量测试装置。
技术介绍
[0002]X射线，也称为X光，其具有0.01-100埃的极短的波长，因而极具穿透性，并且根据所穿透物质在密度和厚度上的差异，呈现出X射线被吸收的程度不同，由此可得到不同的影像。基于该原理，X射线被广泛地应用于医学诊断、行李检测及工业探伤等。特别地，在医疗的诊断和治疗领域，X射线设备的成像稳定性关乎到病患的诊疗安全。如《放射诊疗管理规定》中规定，需要定期进行稳定性洁厕、矫正和维护保养，并由资质认证的机构利用专用测试装置定期进行状态检测。例如瑞典RTI公司的多功能无损X射线机检测仪或者国产RMP检测相。除了第三方机构，X射线设备所有的机构也需要定期进行自检。
[0003]无论是第三方还是机构自检，据需要使用X射线检测用拍摄的对象，诸如模体或测试卡。在现有技术中，如测试卡包括有不同种类的材质与不同的厚度尺寸的条纹结构，且若干条纹结构设置成不同的位置结构。X射线设备通过对这些装置的拍摄，可直观简单地反应如图像的分辨率、MTF曲线等的图形质量性能指标。由于X射线摄影设备主要包括X射线发生器和X射线强度感应器两个核心部分，当其发生成像问题时往往难以判断是发生器还是感应器出现问题，而X射线的不可见的特点，检修人员无法借助模体或测试卡得出该问题的症结所在。第三方的专用检测设备可分别检测出发生器的X射线发生质量，和感应器对标准强度X射线的成像质量。但医院等机构没有条件也不适合配置这些价格昂贵的专用检测设备。因而现有技术面临着机构自检的效果不高和采用第三方检测的成本太高的矛盾。
技术实现思路
[0004]为了解决上述现有技术的问题,本技术旨在提供了一种X射线设备用成像质量测试装置,可利用较低成本的测试装置，便于机构自行检测X射线设备的成像质量，并使测试装置具备发现成像质量问题产生位置功能，提高成像质量检测的准确性和稳定性。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用如下的技术方案：
[0006]一种X射线设备用成像质量测试装置，包括装置本体，所述装置本体包括用于吸收X射线形成测试图像的基体，所述基体设有形成测试图案的条纹区域，所述装置本体还包括用于吸收X射线并反射可见光的荧光体，以显现出投射于装置本体的X射线。
[0007]上述成像质量测试装置，作为优选地，所述荧光体设置为指示区域，所述指示区域包括两个以上强度显示块，所述强度显示块设有所述荧光体，各所述强度显示块的荧光体设置密度不同，以形成反射可见光强度差异。
[0008]上述成像质量测试装置，进一步地，所述强度显示块包括若干荧光点，不同的所述强度显示块的荧光点排列为相同的阵列，不同的所述强度显示块的荧光点尺寸不同。
[0009]上述成像质量测试装置，进一步地，所述指示区域包括两组所述强度显示块，两组
所述强度显示块分别设置于所述基体的两侧。
[0010]上述成像质量测试装置，作为优选地，所述荧光体设置为指示区域，所述指示区域包括边界显示块，所述边界显示块由所述荧光体构成并突出于所述基体的边缘。
[0011]上述成像质量测试装置，进一步地，所述边界显示块设置有至少两个，两所述边界显示块相对地设置于所述基体的两侧，两所述边界显示块印制有指示刻度。
[0012]上述成像质量测试装置，作为优选地，所述荧光体设置为指示区域，所述指示区域包括荧光显示块，所述荧光显示块由所述荧光体构成并覆盖于所述基体表面，所述基体还设置有对比色卡，所述对比色卡印制有两种以上与荧光体在不同强度X射线下反射可见光相对应的颜色，所述对比色卡设置于荧光显示块的一旁。
[0013]上述成像质量测试装置，作为优选地，所述装置本体还包括保护体，所述保护体包裹地设置于基体之外，所述荧光体设置于基体与保护体之间，或设置于保护体之外。
[0014]上述成像质量测试装置，进一步地，所述基体由可吸收X射线材料制成板状结构，所述荧光体由荧光材料制成并重合或边缘突出于所述基体。
[0015]上述成像质量测试装置，作为优选地，所述基体设有以厚度或密度差异形成测试图案的条纹区域，所述条纹区域包括由条纹结构构成的平行排列结构、非平行排列结构、垂直排列结构和星形排列结构中的一种或两种以上组合，所述条纹区域还包括标注结构，所述标注结构由材质厚度或异材质密度形成标注信息。
[0016]与现有技术相比，本技术有益效果如下：
[0017](1)本技术在基体设置条纹区域，可通过X射线设备拍摄测试其成像质量，并在基体上设置荧光体，并利用荧光体形成指示区域，使得成像质量的检测过程中，在隔室中的测试人员可远距离直观观察基体上受X射线照射的状况，当设备测试过程或者测试结果出现异常，可直观判断异常出现的位置，是X射线发生器还是X射线成像器，同时利用测试人员可观察到X射线的指示区域，简化测试的操作，提高测试的准确性，且装置本体具有较低的成本，适合于机构日常对X射线设备的自行检测，确保X射线设备的运行成像质量，便于及时发现设备问题，也为第三方检测前便于机构自行提前校正，整体提高X射线设备管理的效率。
[0018](2)本技术进一步通过设置不同密度的荧光体，形成可只是X射线强度的强度显示块，使测试人员可直观判断X射线的强度，并利用强度辅助成像质量的测试和判断，进而可完成传统需要专业测试设备才能获得的检测结构。
[0019](3)本技术进一步通过设置突出基体边缘的边界显示块，可完全覆盖X射线的照射区域，便于操作人员对X射线发生器的控制，便于精确地使X射线发生器对正以及焦距对准装置本体进行拍摄。
[0020](4)本技术进一步通过设置荧光显示块，可远距离显现X射线的有无，并且通过比对色卡辅助判断X射线的强度，提示和辐照测试人员的测试操作。
[0021]下面结合附图对本技术作进一步的说明。
附图说明
[0022]图1为本技术测试装置的第一实施例的主视结构示意图；
[0023]图2为本技术测试装置的第一实施例的局部剖面侧结构示意图；
[0024]图3为本技术测试装置的第二实施例的主视结构示意图；
[0025]图4为本技术第二实施例在低强度X射线辐射状态局部直观示意图；
[0026]图5为本技术第二实施例在中强度X射线辐射状态局部直观示意图；
[0027]图6为本技术第二实施例在高强度X射线辐射状态局部直观示意图；
[0028]图7为本技术第二实施例在X射线边界显示状态局部直观示意图。
[0029]附图标记为：100、基体；200、荧光体；300、保护体；1、条纹区域；11、条纹结构；12、标注结构；2、指示区域；21、强度显示块；211、荧光点；22、边界显示块；221、指示刻度；23、荧光显示块；231、对比色卡。
具体实施方式
[0030]为更好的说明本技术的目的、本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种X射线设备用成像质量测试装置，包括装置本体，其特征在于，所述装置本体包括用于吸收X射线形成测试图像的基体(100)，所述基体(100)设有形成测试图案的条纹区域(1)，所述装置本体还包括用于吸收X射线并反射可见光的荧光体(200)，以显现出投射于装置本体的X射线。2.根据权利要求1所述的X射线设备用成像质量测试装置，其特征在于，所述荧光体(200)设置为指示区域(2)，所述指示区域(2)包括两个以上强度显示块(21)，所述强度显示块(21)设有所述荧光体(200)，各所述强度显示块(21)的荧光体(200)设置密度不同，以形成反射可见光强度差异。3.根据权利要求2所述的X射线设备用成像质量测试装置，其特征在于，所述强度显示块(21)包括若干荧光点(211)，不同的所述强度显示块(21)的荧光点(211)排列为相同的阵列，不同的所述强度显示块(21)的荧光点(211)尺寸不同。4.根据权利要求2所述的X射线设备用成像质量测试装置，其特征在于，所述指示区域(2)包括两组所述强度显示块(21)，两组所述强度显示块(21)分别设置于所述基体(100)的两侧。5.根据权利要求1所述的X射线设备用成像质量测试装置，其特征在于，所述荧光体(200)设置为指示区域(2)，所述指示区域(2)包括边界显示块(22)，所述边界显示块(22)由所述荧光体(200)构成并突出于所述基体(100)的边缘。6.根据权利要求5所述的X射线设备用成像质量测试装置，其特征在于，所述边界显示块(22)设置有至少两个，两所述边界显示块(22)...
【专利技术属性】
技术研发人员：周利，谢卫华，
申请(专利权)人：广东德鑫医疗科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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