本实用新型专利技术为一种新型PCIE信号一致性测试工具，包括PCB板及金手指，PCB板上连接有Rx外环及Tx外环，PCB板上还连接有Rx接线柱及Tx接线柱，Rx接线柱及Tx接线柱分别与Rx外环、Tx外环电连接；PCB板上连接有Rx焊盘和Tx焊盘，Rx、Tx焊盘均与金手指电连接；Rx外环上方可转动连接有旋钮，旋钮底面分别连接有Rx外环导头和Tx外环导头，Rx外环导头、Tx外环导头分别与Tx外环、Rx外环接触连接；旋钮底面上还连接有Rx焊盘导头和Tx焊盘导头，Rx焊盘导头与、Tx焊盘导头分别与Rx外环导头、外环导头电连接。本工具仅通过旋转旋钮就能够实现PCIE每一条lane的Data信号的测试，使用方便。使用方便。使用方便。
【技术实现步骤摘要】
一种新型PCIE信号一致性测试工具
[0001]本技术涉及PCIE设备测试领域，具体为一种新型PCIE信号一致性测试工具。
技术介绍
[0002]PCIE是Intel提出的一种高速串行计算机拓展总线标准，可以实现点对点的双通道高速高带宽的数据传输，具有数据传输速率高、抗干扰能力强、传输距离远、低功耗等优点。一个PCIE连接可以被配置成x1，x2，x4，x8，x12，x16的数据带宽。PCIE链路由双向单向差分链路组成，通道Lane由两个差分信号对组成，一对用于接收数据 Rx，另一对用于发送Tx，实现为发送对和接收对，并使用编码方案嵌入数据时钟Clock以实现非常高的数据速率。到如今PCIE已发展到4.0 传输速率高达16Gb/s，为了保证在高速传输数据的发送和接收不出错， PCIE的信号一致性测试变得尤为重要。
[0003]目前对PCIE进行的传输信号一致性测试的主要方法大致如图1所示，通过CLB治具插入待测主板的PCIE信号插槽，将链路信号的Clock 和Data引到示波器中，用软件进行分析，最终得到链路链路终端，即 PCIE插槽处的信号质量眼图。
[0004]由于在PCIE测试需要对每条Lane的信号进行验证，要频繁地切换 Tx和Rx Lane，即切换Data连接线与CLB治具上不同的连接孔的连接，这很容易给Data连接线(SMP电缆)和连接孔造成损伤，并且连接孔与 SMP电缆连接是不牢固的嵌入式结构，在测试过程中很容易脱落。
技术实现思路
[0005]为克服现有技术中存在的上述问题，本技术提供了一种新型 PCIE信号一致性测试工具，仅通过旋转旋钮就能够实现PCIE每一条 lane的Data信号的测试，不需要再通过频繁地插拔SMP电缆连接头来切换Tx和Rx Lane，使用更加方便。
[0006]本技术是通过如下技术方案实现的：
[0007]一种新型PCIE信号一致性测试工具，包括PCB板及连接在PCB 板下端的金手指，金手指上设有若干个Rx lane导电触片和Tx lane 导电触片，所述PCB板上分别连接有环形的Rx外环及Tx外环，Rx外环及Tx外环同轴设置，PCB板上还连接有Rx接线柱及Tx接线柱，所述Rx接线柱与Rx外环电连接，所述Tx接线柱与Tx外环电连接；所述PCB板上连接有若干个沿着Rx外环或Tx外环的轴线等半径分布的 Rx焊盘，所述Rx焊盘与金手指的Rx lane导电触片电连接；所述PCB 板上连接有若干个沿着Rx外环或Tx外环的轴线等半径分布的Tx焊盘，所述Tx焊盘的数量与Rx焊盘相同，Tx焊盘与金手指的Tx lane 导电触片电连接；所述Rx外环的轴线位置可转动连接有旋钮，所述旋钮底面上分别连接有Rx外环导头和Tx外环导头，所述Rx外环导头与Rx外环接触连接，所述Tx外环导头与Tx外环接触连接；所述旋钮底面上还分别连接有Rx焊盘导头和Tx焊盘导头，所述Rx焊盘导头与Rx外环导头电连接，所述Tx焊盘导头与Tx外环导头电连接，通过旋转旋钮可使Rx焊盘导头与Rx焊盘、Tx焊盘导头与Tx焊盘分别接触导通；所述PCB板上还连接有Clock接线柱，所述Clock接线柱与金手指电连接。
41-Rx焊盘、5-Tx外环、51-Tx焊盘、6-Clock接线柱、61-Rx接线柱、62-Tx接线柱、7-数字盘。
具体实施方式
[0033]为使本领域技术人员能够更好的理解本技术，下面将结合附图对本技术技术方案做进一步的说明。
[0034]如图1所示，现有技术中是通过CLB治具11插入待测主板10的 PCIE插槽15中，将链路的信号通过Clock连接线13和Data连接线 12将Clock和Data引到示波器14中，用软件进行分析，最终得到链路链路终端，即PCIE插槽处的信号质量眼图。为了减少Data连接线 12在CLB治具11上的插拔次数，参照图2至图5所示，本技术为一种新型PCIE信号一致性测试工具，采用旋转旋钮来代替插拔。
[0035]本技术为一种新型PCIE信号一致性测试工具，包括PCB板2 及连接在PCB板2下端的金手指1，金手指1插入到主板10的PCIE 插槽15中，本技术以X16的PCIE为实施例，金手指1上设有对应16对发送数据端Tx lane和16对接受数据端Rx lane的Rx lane 导电触片和Tx lane导电触片，分别分布在金手指的正反面。PCB板 2上分别连接有环形的Rx外环4及Tx外环5，Rx外环4及Tx外环5 同轴设置，PCB板2上还连接有Rx接线柱61及Tx接线柱62，Rx接线柱61与Rx外环4电连接，Tx接线柱62与Tx外环5电连接，具体连接方式为Rx接线柱61与Rx外环4、Tx接线柱62与Tx外环5均通过PCB内层走线连接，布线空间更大，能够绕开PCB表层的结构与焊盘连接。
[0036]PCB板2上连接有若干个沿着Rx外环4或Tx外环5的轴线等半径分布的Rx焊盘41和Tx焊盘51，Rx焊盘41与金手指1的Rx lane 导电触片电连接，Tx焊盘51与金手指1的Tx lane导电触片电连接，具体连接方式也为PCB内层走线连接；本实施中，Tx焊盘51的数量与Rx焊盘41相同，都为16个，且对应标号的Tx焊盘51和Rx焊盘 41在同一角度线上。PCB板2上从外向内依次为RX外环4、Tx焊盘 51、Tx外环5及Rx焊盘41。
[0037]Rx外环4的轴线位置可转动连接有旋钮3，旋钮3底面上分别连接有Rx外环导头33和Tx外环导头35，Rx外环导头33与Rx外环4 接触连接，所述Tx外环导头35与Tx外环5接触连接，旋转旋钮3 时，Rx外环导头33、Tx外环导头35一直与Rx外环4、Tx外环5滑动接触。
[0038]旋钮3底面上还分别连接有Rx焊盘导头34和Tx焊盘导头36， Rx焊盘导头34与Rx外环导头33电连接，Tx焊盘导头36与Tx外环导头35电连接，具体的为通过金属连接片连接。通过旋转旋钮3驱动Rx焊盘导头34与Rx焊盘41、Tx焊盘导头36与Tx焊盘51分别对齐接触导通，则该Rx lane从金手指先后经过Rx焊盘41、Rx焊盘导头34、Rx外环导头33、Rx外环4到达Rx接线柱61，通过Data连接线12连接到示波器14；同样Tx lane从金手指先后经过Tx焊盘 51、Tx焊盘导头36、Tx外环导头35、Tx外环5到达Tx接线柱62，通过Data连接线12连接到示波器14。本实施例中有16个焊盘，通过旋转可以实现Tx和Rx的lane0-lane15的信号测试。
[0039]Rx外环4外侧设有同轴的数字盘7，对应着Tx和Rx的 lane0-lane15，方便PCIE的每一条lane的发送和接收到的Data信号质量的记录，同时起到了一定的防错防漏的作用。如在图2中指示头37指向4，则代表Tx和Rx的lane4的测试。
[0040]旋钮3包括旋钮体31及固定在旋钮体31下端的旋钮柱32，旋钮体(31)的材料为绝缘材料，具体为塑料，旋钮柱32与Rx外环4的轴线同本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种新型PCIE信号一致性测试工具，包括PCB板(2)及连接在PCB板(2)下端的金手指(1)，金手指(1)上设有若干个Rxlane导电触片和Tx lane导电触片，其特征在于：所述PCB板(2)上分别连接有环形的Rx外环(4)及Tx外环(5)，Rx外环(4)及Tx外环(5)同轴设置，PCB板(2)上还连接有Rx接线柱(61)及Tx接线柱(62)，所述Rx接线柱(61)与Rx外环(4)电连接，所述Tx接线柱(62)与Tx外环(5)电连接；所述PCB板(2)上连接有若干个沿着Rx外环(4)或Tx外环(5)的轴线等半径分布的Rx焊盘(41)，所述Rx焊盘(41)与金手指(1)的Rx lane导电触片电连接；所述PCB板(2)上连接有若干个沿着Rx外环(4)或Tx外环(5)的轴线等半径分布的Tx焊盘(51)，所述Tx焊盘(51)的数量与Rx焊盘(41)相同，Tx焊盘(51)与金手指(1)的Tx lane导电触片电连接；所述Rx外环(4)的轴线位置可转动连接有旋钮(3)，所述旋钮(3)底面上分别连接有Rx外环导头(33)和Tx外环导头(35)，所述Rx外环导头(33)与Rx外环(4)接触连接，所述Tx外环导头(35)与Tx外环(5)接触连接；所述旋钮(3)底面上还分别连接有Rx焊盘导头(34)和Tx焊盘导头(36)，所述Rx焊盘导头(34)与Rx外环导头(33)电连接，所述Tx焊盘导头(36)与Tx外环导头(35)电连接，通过旋转旋钮(3)可使Rx焊盘导头(34)与Rx焊盘(41)、Tx焊盘导头(36)与Tx焊盘(51)分别接触导通；所述PCB板(2)上还连接有Clock接线柱(6)，所述Clock接线柱(6)...
【专利技术属性】
技术研发人员：韦江涛，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。