本实用新型专利技术公开了一种用于光学晶体的角度检验装置，其中包括定位工装，所述定位工装用于固定待测光学晶体；靶盘，所述靶盘与所述定位工装间隔设置，所述靶盘朝向待测光学晶体反射面的表面上设置有多个标记圈，多个所述标记圈同心设置；光源，所述光源设置在所述定位工装及靶盘之间并用于朝向待测光学晶体反射面发射光线。从而直接读取该待测光学晶体的端面倾斜角度的范围，是否在满足合格标准，本方案设备的结构简单，测量的角度值不需要通过计算而直接读取，提高检测效率，适用于批量化检测。测。测。
【技术实现步骤摘要】
一种用于光学晶体的角度检验装置
[0001]本技术涉及光学设备领域，尤其涉及的是一种用于光学晶体的角度检验装置。
技术介绍
[0002]光纤通信中需要运用到大量的光学晶体，例如：光纤适配器插芯、准直器玻璃毛细管、FA产品、光隔离器等。光学晶体在运用时会与光线呈一定角度设置，以光隔离器为例：在半导体激光器及光放大器等对来自连接器、熔接点、滤波器等的反射光非常敏感，并导致性能恶化；因此需要用光隔离器阻止反射光。光隔离器是一种只允许光沿一个方向通过而在相反方向阻挡光通过的光无源器件。通过光纤回波反射的光能够被光隔离器很好的隔离。光隔离器通常被使用在光路中用来避免光路中的回波对光源，泵浦源以及其他发光器件造成的干扰和损害。
[0003]在自由空间型光隔离器中，光隔离器一般由隔离器，在隔离器上套设的磁环组成，装配时隔离器朝向发射光的端面与磁环倾斜一定角度，即射入的光线并不是垂直射到隔离器的端面，而是与之间形成一定的锐角角度，当角度低于使用下限时，反射光增多，对信号造成干扰；超出使用上限时，加剧横向错位而造成的信号损耗，因此需要保证光隔离器中的隔离器的端面的倾斜角度在规定范围内。为方便描述，本方案中隔离器的端面的倾斜角度也作为光隔离器的倾斜角度。
[0004]为检测该角度，目前采用的方案一般为测量角度面多点的高低XYZ坐标轴位置，通过软件自带的三角函数公式计算出角度，如尼康的影像测量仪，该方案设备价格较高，测量耗时较长(约30s/pcs)，不适用批量化生产方案。
[0005]因而现有技术还有待改进和提高。
技术实现思路
[0006]鉴于上述现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种用于光学晶体的角度检验装置，通过把射到待测光学晶体端面的光线反射到靶盘面上，通过反射点所在位置位于靶盘上不同标记圈所形成的区域，通过反射点位于靶盘上不同标记圈之间的区域，不同标记圈之间所形成的区域代表的不同角度范围，从而直接读取该待测光学晶体的端面倾斜角度，本方案设备的结构简单，测量的角度值不需要通过计算而直接读取，测量精度可达到0.1
°
，测量耗时约7s/pcs，从而提高检测效率，适用于批量化检测。
[0007]本技术的技术方案如下：
[0008]一种用于光学晶体的角度检验装置，包括：定位工装，所述定位工装用于固定待测光学晶体；
[0009]靶盘，所述靶盘与所述定位工装间隔设置，所述靶盘朝向待测光学晶体反射面的表面上设置有多个标记圈，多个所述标记圈同心设置；
[0010]光源，所述光源设置在所述定位工装及靶盘之间并用于朝向待测光学晶体反射面
发射光线。
[0011]上述方案中，通过光源产生光线，光线射到待测光学晶体的倾斜端面，光隔离器的端面把射过来的光线反射到靶盘面上，由于待测光学晶体的端面倾斜，反射光线与入射光线呈一定角度反射出去，反射光线射到靶盘上，从而在靶盘上能看到反射点，同时在靶盘上设置有不同的标记圈，根据靶盘距离定位工装的位置从而预设计算出各标记圈所代表的倾斜端面的角度，通过反射点位于靶盘上不同标记圈之间的区域，不同标记圈之间所形成的区域代表的不同角度范围，从而直接读取该待测光学晶体的端面倾斜角度的范围，是否在满足合格标准，本方案设备的结构简单，测量的角度值不需要通过计算而直接读取，测量精度可达到0.1
°
，测量耗时约 7s/pcs，从而提高检测效率，适用于批量化检测。
[0012]可选地，所述角度检验装置还包括有三轴调节滑台，所述三轴调节滑台固定连接所述定位工装。
[0013]上述方案中，通过三轴调节滑台，可以根据定位工装所固定的不同规格的光学晶体来调整光学晶体的端面到光源中心的位置，从而适用于不同规格的光学晶体的角度尺寸检测，提高角度检验装置的适用性。
[0014]可选地，所述角度检验装置还包括有底座，固定设置在所述底座上的滑台支撑柱，所述三轴调节滑台固定连接在所述滑台支撑柱上。
[0015]上述方案中，底座对滑台支撑柱固定支撑，固定支撑座支撑起三轴调节滑台，从而使位于三轴调节滑台上的定位工装离底座有一段距离，这样避免反射光线由于高度距离太小而照射到底座上，从而导致反射光线不能在靶盘上形成反射点。
[0016]可选地，所述底座上固定连接有光源支柱，所述光源固定连接在所述光源支柱上；
[0017]所述底座上固定连接有靶立柱，所述靶盘固定设置在所述靶立柱上；
[0018]所述光源中心与所述靶盘中心位于竖直方向的同一高度。
[0019]上述方案中，光源支柱撑起光源，靶立柱撑起靶盘，这样避免反射光线由于高度距离太小而照射到底座上，从而导致反射光线不能在靶盘上形成反射点。而光源中心与所述靶盘中心位于竖直方向的同一高度时，反射过来的光线位于靶盘中心圆周分布，便于确定各标记圈所代表的倾斜角度的标准值。后续操作均可以标记圈所代表的倾斜角度的标准值来读取出待测光学晶体的倾斜角度。
[0020]可选地，所述定位工装包括固定板，固定设置在固定板上的凸台，开设在所述凸台上的安装孔，所述待测光学晶体卡嵌在所述安装孔中。
[0021]上述方案中，通过固定板使定位工装固定到三轴调节滑台上，安装孔中用于卡嵌固定待测光学晶体，凸台的设置使待测光学晶体凸出三轴调节滑台一段距离，避免其他一些连接件对待测光学晶体的安装造成干扰。
[0022]可选地，所述安装孔包括第一安装孔，所述第一安装孔的内壁上固定设置有定位软套，所述定位软套内设置有定位筋。
[0023]上述方案中，第一安装孔内用于安装带有光插座结构的待测光学晶体，光插座的尾端尺寸固定，可直接插接进第一安装孔，定位筋用于卡嵌在光插座并对光插座进行定位，同时定位软套可以对待测光学晶体进行保护，避免待测光学晶体的外壁与第一安装孔的内壁刚性接触，造成损伤。
[0024]可选地，所述安装孔还包括第二安装孔，所述凸台上开设有避空槽，所述避空槽连
通所述第二安装孔的孔口。
[0025]上述方案中，第二安装孔比第一安装孔的内径要小，这样第二安装孔可以安装微型的待测光学晶体，如光隔离器。避空槽的设置便于取放微型的待测光学晶体，如采用夹子夹取微型的待测光学晶体后，夹子前端可以位于避空槽中，这样便于把微型的待测光学晶体放置到第二安装孔中，同理，避空槽也便于取出第二安装孔中的微型的待测光学晶体。
[0026]可选地，所述第二安装孔设置有多个，多个所述第二安装孔的直径大小不相等。微型的待测光学晶体有不同的尺寸大小，多个所述第二安装孔的直径大小不相等可以卡嵌不同规格的待测光学晶体，提高工装的适用性。
[0027]可选地，所述固定板上开设有通孔，所述通孔用于穿设螺钉与所述三轴调节滑台固定连接。
[0028]上述方案中，所述三轴调节滑台上设置有螺纹孔，螺钉穿过所述通孔与所述三轴调节滑台固定连接。
[0029]可选地，所述光源为红光光源。红光光源在靶盘上的形成红色反射点，便于人眼识别。
[00本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于光学晶体的角度检验装置，其特征在于，包括：定位工装，所述定位工装用于固定待测光学晶体；靶盘，所述靶盘与所述定位工装间隔设置，所述靶盘朝向待测光学晶体反射面的表面上设置有多个标记圈，多个所述标记圈同心设置；光源，所述光源设置在所述定位工装及靶盘之间并用于朝向待测光学晶体反射面发射光线。2.根据权利要求1所述的用于光学晶体的角度检验装置，其特征在于，所述角度检验装置还包括有三轴调节滑台，所述三轴调节滑台固定连接所述定位工装。3.根据权利要求2所述的用于光学晶体的角度检验装置，其特征在于，所述角度检验装置还包括有底座，固定设置在所述底座上的滑台支撑柱，所述三轴调节滑台固定连接在所述滑台支撑柱上。4.根据权利要求3所述的用于光学晶体的角度检验装置，其特征在于，所述底座上固定连接有光源支柱，所述光源固定连接在所述光源支柱上；所述底座上固定连接有靶立柱，所述靶盘固定设置在所述靶立柱上；所述光源的...
【专利技术属性】
技术研发人员：钟进，庞寿彬，郁建科，
申请(专利权)人：东莞市翔通光电技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。