影像测量机台光源校正系统及方法技术方案

一种影像测量机台光源校正方法，该方法包括步骤：导入影像光源标准清晰度曲线图表；读取所述图表中标准的坐标位置；根据所述坐标位置，将标准测试工件及电荷耦合装置移到该坐标位置；启动发光装置使其发光，并使电荷耦合装置对标准测试工件进行影像扫描以获得该标准测试工件的影像；根据扫描获得的标准测试工件影像，计算出在不同亮度值下对应的清晰度的值，在标准清晰度曲线图表中生成一条新的曲线；判断影像光源标准清晰度曲线与新生成的曲线上横坐标每一个点的纵坐标误差是否在设定的范围之内；当两条曲线上横坐标的任何一个点的纵坐标误差不在设定的范围之内时，调节发光装置变阻器的阻值大小以确保其误差在设定的范围之内。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种影像量测系统及方法，尤其是一种。
技术介绍
影像量测是目前精密量测领域中最广泛使用的量测方法，该方法不仅精度高，而且量测 速度快。影像量测主要用于零件或者部件的尺寸物差和形位误差的测量，对保证产品质量起 着重要的作用。传统的影像量测方法是采用工业光学镜头搭配高分辨率的电荷耦合装置(Charged Coupled Device, CCD)，透过影像撷取卡取得待测工件或者部件的影像，该量测方法对工 件或者部件的很多精密量测都达到了很高的精度。但是在以前的图像处理中，由于影像测量机台上发光装置所发出的影像光源会有差异， 例如，强度、亮度等都会不同，即使是相同种类的发光装置(如同一种规格的光源装置) 发出的影像光源也会不同，在对CCD影像进行处理时，就会对获取的影像清晰度产生很大的 偏差，从而导致不同的机台对相同的工件进行影像测量时的重复性差，从而导致精度不高。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提出一种影像测量机台光源校正系统，其可以对影像测量机台上 的发光装置变阻器的阻值大小进行调节，其发出的影像光源使标准测试工件产生的影像清晰 度与标准的影像清晰度一致。鉴于以上内容，还有必要提出一种影像测量机台光源校正方法，其可以对影像测量机台 上的发光装置变阻器的阻值大小进行调节，其发出的影像光源使标准测试工件产生的影像清 晰度与标准的影像清晰度一致。一种影像测量机台光源校正系统，包括计算机及影像量测机台，所述计算机包括影像撷 取卡，所述影像量测机台安装有电荷耦合装置，所述电荷耦合装置搭配一个光学镜头，用于 获取待测工件的影像，并将该影像传送至计算机的影像撷取卡中，所述影像量测机台还包括 一发光装置，所述计算机还包括导入模块，用于导入影像光源标准清晰度曲线图表；读取 模块，用于读取所述图表中标准的坐标位置，所述标准的坐标位置是指在制作影像光源标准 清晰度曲线图表时，标准测试工件及电荷耦合装置在影像量测机台上的坐标位置；位置确定 模块，用于根据所述坐标位置，将标准测试工件及电荷耦合装置移到该坐标位置；启动扫描模块，用于启动发光装置使其发光，并使电荷耦合装置对标准测试工件进行影像扫描以获得 该标准测试工件的影像；计算显示模块，用于根据扫描获得的标准测试工件影像，计算出在 不同亮度值下对应的清晰度的值，在标准清晰度曲线图表中生成一条新的曲线；判断模块， 用于判断影像光源标准清晰度曲线与新生成的曲线上横坐标的每一个点的纵坐标误差是否在 设定的范围之内；调节模块，用于当两条曲线上横坐标的任何一个点的纵坐标误差不在设定 的范围之内时，调节发光装置变阻器的阻值大小以确保其误差在设定的范围之内。一种影像测量机台光源校正方法，该方法包括步骤导入影像光源标准清晰度曲线图表 ;读取所述图表中标准的坐标位置，所述标准的坐标位置是指在制作影像光源标准清晰度曲 线图表时，标准测试工件及电荷耦合装置在影像量测机台上的坐标位置；根据所述坐标位置 ，将标准测试工件及电荷耦合装置移到该坐标位置；启动发光装置使其发光，并使电荷耦合 装置对标准测试工件进行影像扫描以获得该标准测试工件的影像；根据扫描获得的标准测试 工件影像，计算出在不同亮度值下对应的清晰度的值，在标准清晰度曲线图表中生成一条新 的曲线；判断影像光源标准清晰度曲线与新生成的曲线上横坐标每一个点的纵坐标误差是否 在设定的范围之内；当两条曲线上横坐标的任何一个点的纵坐标误差不在设定的范围之内时 ，调节发光装置变阻器的阻值大小以确保其误差在设定的范围之内。相较于现有技术，本专利技术所提供的其可以对影像测量 机台上的发光装置变阻器的阻值大小进行调节，其发出的影像光源使标准测试工件产生的影 像清晰度与标准的影像清晰度一致，从而提高影像量测机台的准确率。附图说明图l是本专利技术影像测量机台光源校正系统较佳实施例的硬体架构图。 图2是图1中影像测量机台光源校正程序的功能模块图。 图3是本专利技术影像测量机台光源校正方法较佳实施例的实施流程图。 图4是本专利技术标准的影像光源清晰度在坐标系中的曲线图表。 图5是本专利技术影像经过CCD截图放大后的示意图。图6是本专利技术标准影像光源清晰度曲线及新生成的影像光源清晰度曲线在同一个图表中 的示意图。具体实施例方式参阅图1所示，是本专利技术影像测量机台光源校正系统较佳实施例的硬体架构图。该影像 测量机台光源校正系统包括计算机1及放置标准测试工件5的影像量测机台2。其中，所述影 像量测机台2的Z轴上安装有用于采集连续影像的电荷耦合装置(Charged Coupled Device,CCD) 3，所述CCD 3装有工业光学镜头(图中未示出)，所述CCD 3搭配该工业光学镜头可以 使标准测试工件5成像；所述影像量测机台2的Z轴上还安装有发光装置4，所述发光装置4用 于为标准测试工件5成像提供影像光源。所述的发光装置4可以是灯管及任意合适的能够提供 光源的发光体。所述计算机1装有影像撷取卡10及影像测量机台光源校正程序11。其中CCD 3通过一条影 像数据线与所述影像撷取卡10相连，将从影像量测机台2获取的标准测试工件5的影像传送到 影像撷取卡10上，并可以显示于计算机l的显示屏幕(图中未示出)上。所述影像测量机台 光源校正程序11连接上述发光装置4，主要用于控制所述发光装置4，并对发光装置4的变阻 器进行调节，发光装置4发出的影像光源使标准测试工件5产生的影像清晰度与标准的影像清 晰度一致。参阅图2所示，是图l中光源校正程序ll的功能模块图。本专利技术所称的各模块是所述光源 校正程序ll中完成特定功能的各个程序段，比程序本身更适合于描述软件在计算机中的执行 过程，因此本专利技术对软件的描述都以模块描述。所述光源校正程序ll主要包括导入模块110、读取模块lll、位置确定模块112、启动 扫描模块113、计算显示模块114、判断模块115及调节模块116。所述导入模块110用于导入影像光源标准清晰度曲线图表，并将其显示在与计算机l相连 的显示器(图中未示出)上。所述影像光源标准清晰度曲线图表包括标准清晰度曲线及标准 测试工件5在影像量测机台2上标准的坐标位置等信息。具体而言，如图4所示，为标准清晰 度曲线图表显示在显示器(图中未示出)上的示意图，图中纵坐标表示获得图像清晰度的值 ，值越大所获得的图像越清晰，在发光装置电阻不变动的情况下，横坐标每个值对应发光装 置4发光时的亮度值。所述标准的坐标位置是在制作影像光源标准清晰度曲线图表时影像量 测机台2的CCD3及标准测试工件5的坐标位置，如图4所示，X轴坐标310、 Y轴坐标311及Z轴 坐标312。此外，由于标准测试工件5只是放置在一个平面上(如图l所示)，因此标准测试 工件5在影像量测机台2上只有X轴坐标310、 Y轴坐标311，具体而言，假设标准清晰度曲线图 表上标准的坐标位置为(1， 2， 3)，则CCD3的坐标为(1， 2， 3)，而标准测试工件5坐标 为(1， 2)。进一步的，由于不同的工件在进行测试时所得到的上述的曲线不同，差异很大 ，因此在获得标准影像光源清晰度曲线图表及调试其它同规格影像量测机台2的影像光源时 使用同一个标准测试工件5，以提高检测的准确率。所述读取模块lll用于读取所述标准清晰度曲线图表中标准的坐标本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种影像测量机台光源校正系统，包括计算机及影像量测机台，所述计算机包括影像撷取卡，所述影像量测机台安装有电荷耦合装置，所述电荷耦合装置搭配一个光学镜头，用于获取待测工件的影像，并将该影像传送至计算机的影像撷取卡中，其特征在于，所述影像量测机台还包括一发光装置，所述计算机还包括：　导入模块，用于导入影像光源标准清晰度曲线图表；　读取模块，用于读取所述图表中标准的坐标位置，所述标准的坐标位置是指在制作影像光源标准清晰度曲线图表时，标准测试工件及电荷耦合装置在影像量测机台上的坐标位置；　位置确定模块，用于根据所述坐标位置，将标准测试工件及电荷耦合装置移到该坐标位置；　启动扫描模块，用于启动发光装置使其发光，并使电荷耦合装置对标准测试工件进行影像扫描以获得该标准测试工件的影像；　计算显示模块，用于根据扫描获得的标准测试工件影像，计算出在不同亮度值下对应的清晰度的值，在标准清晰度曲线图表中生成一条新的曲线；　判断模块，用于判断影像光源标准清晰度曲线与新生成的曲线上横坐标的每一个点的纵坐标误差是否在设定的范围之内；及调节模块，用于当两条曲线上横坐标的任何一个点的纵坐标误差不在设定的范围之内时，调节发光装置变阻器的阻值大小以确保其误差在设定的范围之内。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张旨光，陈贤艺，袁忠奎，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]