本发明专利技术公开了一种面粉加工用谷物综合预处理装置，包括谷物通道，以及设置在谷物通道内集筛选、磁选和去浮尘于一体的过滤机构，过滤机构按照过滤顺序依次由粗筛选组件、吹尘组件和细筛选组件组成，粗筛选组件清理的大颗粒杂质和金属杂质均集中下落到细筛选组件统一清理，粗筛选组件通过改变过滤孔径调控对筛选尺寸，且粗筛选组件同时磁吸筛选金属杂质，且粗筛选组件在改变过滤孔径大小的过程中将大颗粒杂质清除下落至细筛选组件表面收集，且粗筛选组件改变过滤孔径大小后通过转动拨动金属杂质下落至细筛选组件表面统一收集和清理。本发明专利技术能够有效的清理谷物中的金属杂质。本发明专利技术能够有效的清理谷物中的金属杂质。本发明专利技术能够有效的清理谷物中的金属杂质。
【技术实现步骤摘要】
一种面粉加工用谷物粗选装置
[0001]本专利技术涉及面粉加工
，具体涉及一种面粉加工用谷物粗选装置。
技术介绍
[0002]粮食加工设备工艺流程二是把小麦、玉米、大麦、荞麦、莜麦等原粮去掉皮层和胚芽，研磨成成品粉。一般小麦加工成面粉不是单纯靠一台小麦面粉机就能完成所有工序，小麦要先经圆筒初清筛、清粮机去杂，再经往复振动筛、高速振动筛、比重去石机和磁选设备等清除各种杂质后，进入洗麦机或润麦机。
[0003]清理后的净麦再经磁选设备除去磁性杂质后进入磨粉机研磨成粉，经平筛筛理后提取面粉，中间物料再进入另一台面粉机研磨，如此反复提取面粉，后将麸皮经刷麸机和圆筛处理后排出。在制作特等或上等面粉时，还使用清粉机，从磨粉机和平筛排出的中间物料中分离出纯的和较纯的胚乳颗粒，进一步研磨成特等和上等小麦面粉。
[0004]对谷物去杂处理全过程统称为谷物预处理，但是现有的谷物在制备过程中可能混入金属杂质，但是缺乏对金属杂质的处理。
技术实现思路
[0005]本专利技术的目的在于提供一种面粉加工用谷物粗选装置，以解决现有技术中谷物在制备过程中可能混入金属杂质，但是缺乏对金属杂质的处理的技术问题。
[0006]为解决上述技术问题，本专利技术具体提供下述技术方案：
[0007]本专利技术提供了一种面粉加工用谷物粗选装置，包括谷物通道，以及集成设置在所述谷物通道内且上下层叠分布的隔位下板、过滤中板和调控上板，所述过滤中板固定安装在所述谷物通道内，且所述调控上板和所述隔位下板分别活动安装在所述过滤中板的上下表面，所述过滤中板设有多个均匀分布的切割过滤辐条，两个相邻的所述切割过滤辐条之间设有用于吸附金属杂质的磁吸区域。
[0008]作为本专利技术一种优选地方案，所述隔位下板设有多个均匀分布且与所述切割过滤辐条一一对应的调径板块，所述调径板块用于调控每个所述切割过滤辐条的间隔尺寸以改变对谷物的过滤孔径。
[0009]作为本专利技术一种优选地方案，每个所述调径板块主要由隔条扇形块和下落孔条组成。
[0010]作为本专利技术一种优选地方案，每个所述调径板块的所述下落孔条的尺寸与所述切割过滤辐条一一对应，在转动所述下落孔条与所述切割过滤辐条位置匹配对应过程中清理所述调径板块过滤出的大颗粒杂质，且在所述下落孔条与所述切割过滤辐条位置匹配对应后转动所述调控上板以清理所述磁吸区域的金属杂质。
[0011]作为本专利技术一种优选地方案，在所述隔位下板上划分的所述调径板块的数量与所述切割过滤辐条的数量相同，且所述调径板块的面积为所述切割过滤辐条的三倍。
[0012]作为本专利技术一种优选地方案，所述隔条扇形块内设有多个均匀分布的长隔条，且
相邻两个所述长隔条之间设有至少一个短隔条，所述隔位下板在转动时通过调控所述长隔条和所述短隔条对应在所述切割过滤辐条的位置来改变所述切割过滤辐条的过滤孔径。
[0013]作为本专利技术一种优选地方案，所述长隔条的长度为所述短隔条的长度的两倍，所述下落孔条的宽度以及所述短隔条的长度分别均与所述切割过滤辐条的宽度相同。
[0014]作为本专利技术一种优选地方案，所述谷物通道的侧表面设有第一开口条，所述隔位下板的侧曲面上设有穿过所述第一开口条的第一推板，所述隔位下板以所述长隔条正对所述切割过滤辐条的位置为起点按照固定方向转动，所述隔条扇形块过滤的大颗粒杂质在将所述下落孔条转动至所述切割过滤辐条的正下方位置时下落。
[0015]本专利技术与现有技术相比较具有如下有益效果：
[0016]本专利技术通过调径板块改变每个切割过滤辐条的间隔尺寸以调控对谷物的过滤孔径，且隔位下板在旋转调径板块的下落孔条时与切割过滤辐条的位置匹配对应过程中清理调径板块过滤出的大颗粒杂质，且在下落孔条与切割过滤辐条位置匹配对应后转动调控上板以清理磁吸区域的金属杂质。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术的实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是示例性的，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图引伸获得其它的实施附图。
[0018]图1为本专利技术实施例提供的谷物预处理装置的整体结构示意图；
[0019]图2为本专利技术实施例提供的调控上板的俯视结构示意图；
[0020]图3为本专利技术实施例提供的隔位下板的俯视结构示意图；
[0021]图4为本专利技术实施例提供的谷物通道的侧曲面结构示意图；。
[0022]图中的标号分别表示如下：
[0023]1-谷物通道；2-粗筛选组件；3-细筛选组件；4-第一开口条；5-第一推板；6-分隔加固条；7-第二开口条；8-第二推板；9-增重稳定块；10-上延长卡块；11-下延长卡块；
[0024]21-隔位下板；22-过滤中板；23-调控上板；24-切割过滤辐条；25-磁吸区域；26-调径板块；27-下落孔条；28-隔条扇形块；29-长隔条；210-短隔条；
[0025]231-中心转盘；232-平铺板；
[0026]31-软胶套圈；32-细过滤筛板；33-置位铁环；34-支架底座；35-振动电机；36-杂质收集口。
具体实施方式
[0027]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0028]如图1所示，本专利技术提供了一种面粉加工用谷物综合预处理装置，包括谷物通道1，以及设置在谷物通道1内集筛选、磁选和去浮尘于一体的过滤机构，过滤机构按照过滤顺序
依次由粗筛选组件2、吹尘组件和细筛选组件3组成，粗筛选组件2清理的大颗粒杂质和金属杂质均集中下落到细筛选组件3统一清理。
[0029]本实施方式与现有技术相比，将过滤清理大颗粒杂质与磁吸去除金属杂质的过程和结构进行融合，从而减少了谷物清理的使用装置，减少谷物预处理成本，减少谷物预处理的占用面积，集成化高，且操作简单方便。
[0030]本专利技术进一步提供了一种粗选装置，其中粗筛选组件2通过改变过滤孔径调控对大颗粒杂质的筛选尺寸，且粗筛选组件2同时磁吸筛选金属杂质，且粗筛选组件2在改变过滤孔径大小的过程中将大颗粒杂质清除下落至细筛选组件3表面收集，且粗筛选组件2改变过滤孔径大小后通过转动拨动金属杂质下落至细筛选组件3表面统一收集和清理。
[0031]通常情况下，对谷物的清理分为以下三个方面进行筛选，分别为颗粒状杂质、灰尘类杂质和金属类杂质，本实施方式使用的吹尘组件利用现有技术中的除尘机构即可，主要对粗筛选组件2进行设计，粗筛选组件2结合改变过滤孔径以筛除大颗粒杂质以及吸附金属杂质的双向功能，且粗筛选组件2筛选的颗粒杂质和金属杂质均下落至细筛选组件3表面统一收集和清理，相比现有技本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种面粉加工用谷物粗选装置，其特征在于：包括谷物通道(1)，以及集成设置在所述谷物通道(1)内且上下层叠分布的隔位下板(21)、过滤中板(22)和调控上板(23)，所述过滤中板(22)固定安装在所述谷物通道(1)内，且所述调控上板(23)和所述隔位下板(21)分别活动安装在所述过滤中板(22)的上下表面，所述过滤中板(22)设有多个均匀分布的切割过滤辐条(24)，两个相邻的所述切割过滤辐条(24)之间设有用于吸附金属杂质的磁吸区域(25)。2.根据权利要求1所述的一种面粉加工用谷物粗选装置，其特征在于：所述隔位下板(21)设有多个均匀分布且与所述切割过滤辐条(24)一一对应的调径板块(26)，所述调径板块(26)用于调控每个所述切割过滤辐条(24)的间隔尺寸以改变对谷物的过滤孔径。3.根据权利要求2所述的一种面粉加工用谷物粗选装置，其特征在于：每个所述调径板块(26)主要由隔条扇形块(28)和下落孔条(27)组成。4.根据权利要求3所述的一种面粉加工用谷物粗选装置，其特征在于：每个所述调径板块(26)的所述下落孔条(27)的尺寸与所述切割过滤辐条(24)一一对应，在转动所述下落孔条(27)与所述切割过滤辐条(24)位置匹配对应过程中清理所述调径板块(26)过滤出的大颗粒杂质，且在所述下落孔条(27)与所述切割过滤辐条(24)位置匹配对应后转动所述调控上板(23)以清理所述磁吸区域(25)...
【专利技术属性】
技术研发人员：侯华坦，许刚，许雪艳，
申请(专利权)人：泗县金丰面业有限公司，
类型：发明
国别省市：
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