基材检测设备制造技术

一种基材检测设备，其特征在于它包括机架、摄影机组、投光灯组、反光板组及系统主机；机架系由数纵向架杆及横向架杆纵横相接组设而成，其中枢设若干用以提供基材平整导入的滚筒；摄影机组包括ＣＣＤ摄影机及定位架组；摄影机组藉由定位架组以摄影机的镜头朝下可旋转调整方式定位于机架上端处；投光灯组包括至少一投光灯、套设于投光灯外侧用以限制其投光范围的灯罩及定位架组；投光灯组藉由定位架组组设于机架中并相对于基材传输平面的上方；反光板组包括宽度不小于基材宽度的反光板及固定架组；反光板藉固定架组组设于机架中并相对基材传输平面的下方处；系统主机系装置于机架外侧，并与摄影机组及投光灯组构成电性连接。（*该技术在2011年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术属于检测设备，特别是一种基材检测设备。前述电路板之类的基材，由于所使用含浸玻纤布的软质板若表面平整度不佳时，便有可能对后续制成的金属线路产生不好的影响；或是软质板表面镀设金属层后，因杂质残留、刮伤或皱折等，会使后续制成图案化的线路产生无法导通的断路现象。故电子产业对前述电路板之类的基材品质要求甚高，故基材制造后，均会再利用一组检测设备进行检测，以确保基材的品质。目前检测设备对基材进行检测工作，通常利用设备中的CCD摄影机配合投光灯组对导入设备中的基材进行取像；然后将影像资料传输至系统主机，经系统主机的分析判断，检测该基材表面平整度及是否有刮痕等现象，并提供基材生产作业的警示功能，于异常基材上标示记号，以利于品质管理人员对异常基材的处理，用以确保基材的品质及基材后续加工作业。习知的检测设备主要系以CCD摄影机配合投光灯组对基材表面进行取像，因此，习知的检测设备的检测能力除CCD摄影机的解析能力外，对于CCD摄影机是否位于最佳取像位置及相对投光灯组的反光角度，均会影响其取像效果；习知的检测设备虽提供一种可自动检测基材表面品质的设备，然因其CCD摄影机、投光灯组以及相对基材下方用以反射光源的反光板均采固定式结构设计，无法供使用者依不同表面类型的基材或取像清晰度作调整，以致使该检测设备的检测能力无法达到最佳化。本技术包括机架、摄影机组、投光灯组、反光板组及系统主机；机架系由数纵向架杆及横向架杆纵横相接组设而成，其中枢设若干用以提供基材平整导入的滚筒；摄影机组包括CCD摄影机及定位架组；摄影机组藉由定位架组以摄影机的镜头朝下可旋转调整方式定位于机架上端处；投光灯组包括至少一投光灯、套设于投光灯外侧用以限制其投光范围的灯罩及定位架组；投光灯组藉由定位架组组设于机架中并相对于基材传输平面的上方；反光板组包括宽度不小于基材宽度的反光板及固定架组；反光板藉固定架组组设于机架中并相对基材传输平面的下方处；系统主机系装置于机架外侧，并与摄影机组及投光灯组构成电性连接。其中反光板组反光板两侧分别设有用以分辨基材边界的数第一长孔及数长度较短的第二长孔；第一长孔呈平行状设置于反光板两端中间；第二长孔呈平行状设置于反光板中段处并位于第一长孔外侧。投光灯组的灯具可装设数种与不同基材相对应的不同色系的灯管；灯罩呈筒状且设有限制投光范围的缺槽；灯管藉旋转轴装置于筒状灯罩中，并旋转其灯管至投射的缺槽。投光灯组藉以组设于机架中的定位架组具有装置于机架中相对导入基材两侧的第一横向导轨、垂直组设于第一横向导轨的第一纵向导轨及装设于第一纵向导轨上用以连接投光灯组的灯具两端的第一枢座。反光板组藉以组设于机架中的固定架组具有装置于机架中相对导入基材两侧的第二横向导轨、两分别垂直组设于第二横向导轨上的第二纵向导轨及两分别组设于第二纵向导轨上以供反光板两端枢设的第二枢座。由于本技术包括由纵、横向架杆组设而成的机架、摄影机组、投光灯组、反光板组及系统主机；机架中枢设若干滚筒；摄影机组包括CCD摄影机及定位架组；摄影机组藉由定位架组以摄影机的镜头朝下可旋转调整方式定位于机架上端处；投光灯组包括至少一投光灯、灯罩及定位架组；投光灯组藉由定位架组组设于机架中并相对于基材传输平面的上方；反光板组包括宽度不小于基材宽度的反光板及固定架组；反光板藉固定架组组设于机架中并相对基材传输平面的下方处；系统主机系装置于机架外侧，并与摄影机组及投光灯组构成电性连接。使用时，令基材自机架一侧经滚筒平整导入，次经投光灯组对基材投光及反光板位于基材下方反射光源；摄影机组对基材被投光的区段撷取影像；撷取的影像资料传送至系统主机，并由系统主机根据摄影机组20取像的数据资料加以分析，从而判断基材取像部位是否有瑕疵。可提供使用者依不同表面类型的基材进行调整，以取得较清晰的基材表面影像，从而达到本技术的目的。图2、为本技术反光板组结构示意立体图。图3、为附图说明图1中A部局部放大图(调整状态)。图4、为本技术使用状态示意图。图5、为图4中B-B向视图。机架10系由数纵向架杆及横向架杆纵横相接组设而成的架体，其中枢设若干用以提供基材平整导入的滚筒11。摄影机组20包括CCD摄影机21及定位架组22。摄影机组20藉由定位架组22以摄影机21的镜头朝下方式定位于机架10上端处，并令其摄影机21的镜头可旋转调整其相对基材的取像角度，用以对基材表面撷取影像。投光灯组30包括灯具31及定位架组32。灯具31包括至少一投光灯及套设于投光灯外侧用以限制其投光范围的灯罩。投光灯组30藉由定位架组32组设于机架10中并相对于基材传输平面的上方，用以由上而下对基材特定范围投光照明，以利摄影机组20对基材的取像。反光板组40包括反光板41及固定架组42。反光板41宽度不小于基材宽度。反光板组40的反光板41藉固定架组42组设于机架10中并相对基材传输平面的下方处，用以于基材下方反射投光灯组30灯具31投光灯投射的光线及分辨基材的边界。固定架组42可横向调整反光板41的位置、高度及相对基材的倾斜角度。系统主机系装置于机架10外侧，并与摄影机组20及投光灯组30构成电性连接，用以控制投光灯组30以及根据摄影机组20对基材取像的数据资料加以分析判断是否有瑕疵。投光灯组30的灯具31可装设数种不同色系的灯管。灯罩呈筒状且设有限制投光范围的缺槽，灯管藉旋转轴装置于筒状灯罩中，并可旋转其灯管至投射的缺槽，从而能因应不同基材改变合适的投射色光，以增加摄影机组取像的清晰度。如图1所示，投光灯组30藉以组设于机架10中的定位架组32具有装置于机架10中相对导入基材两侧的第一横向导轨33、垂直组设于第一横向导轨33上的第一纵向导轨34及装设于第一纵向导轨34上用以连接投光灯组30的灯具31两端的第一枢座35。藉此，使投光灯组30的灯具31可沿第一纵向导轨34上下调整高度、沿第一横向导轨33调整其横向位置及利用枢座35调整灯具31投光角度，使投射的光源可以对准摄影机组20取像的位置。如图2所示，反光板组40反光板41两侧分别设有数第一长孔411及数长度较短的第二长孔412。第一长孔411呈平行状设置于反光板41两端中间；第二长孔412呈平行状设置于反光板41中段处并位于第一长孔411外侧。第一、二长孔411、412用以在光线投射下，因基材遮蔽第一、二长孔411、412所产生的明暗状态来分辨基材的边界。如图1、图2所示，反光板组40藉以组设于机架10中的固定架组42具有装置于机架10中相对导入基材两侧的第二横向导轨43、两分别垂直组设于第二横向导轨43上的第二纵向导轨44及两分别组设于第二纵向导轨44上以供反光板41两端枢设的第二枢座45，如图3所示，藉此，使反光板组40的反光板41可沿第二横向导轨43调整横向位置、沿第二纵向导轨44调整其高置及利用第二枢座45调整反光板41相对基材倾斜角度。使其可投射光源精确反射集聚于摄影机组20取像的位置处。使用时，先根据基材50的表面类型调整摄影机组20相对基材的取像角度，选择合适的投射色光及调整投光灯组30相对基材50的位置及高度及反光板41相对基材50的位置及距离；然后，如图4所示，令基材50自机架10一侧经滚筒11平整导入，次经投光灯组30对本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈天宝，
申请(专利权)人：台量科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：