试验箱部件老化判断方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

技术编号:27298954 阅读:20 留言:0更新日期:2021-02-06 12:09
本发明专利技术提供了一种试验箱部件老化判断方法、装置、电子设备和存储介质,通过获取目标试验箱的型号信息、位置信息、目标部件的类型和特征参数信息;根据所述目标试验箱的型号信息和位置信息,在试验箱运行数据库中选取邻近地区的多个同型号试验箱的运行数据作为参考数据;提取所述参考数据中与所述目标部件的类型和特征参数信息相对应的数据作为对比数据;根据所述目标部件的特征参数信息与所述对比数据判断所述目标部件的老化程度;其判断结果具有较高的准确性和可信度。有较高的准确性和可信度。有较高的准确性和可信度。

【技术实现步骤摘要】
试验箱部件老化判断方法、装置、电子设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及环境试验设备
,尤其涉及一种试验箱部件老化判断方法、装置、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]用于环境试验的试验箱随着使用时间的增加,其部件会逐渐老化,随着部件的老化,部件的一些特征参数会逐渐变化,例如,随着不断老化,压缩机的制冷量、工作电流、高低压差等特征参数均会逐渐变小;又例如,随着不断老化,电机的效率会逐渐降低、工作电流会逐渐上升、发热量会逐渐提高。目前,判断试验箱的部件是否老化,一般是把测得的特征参数与对应的出厂参数作对比,当测得值与出厂参数之间的差值超出一定范围,则判定该部件严重老化,从而提醒用户进行维护。
[0003]然而,出厂参数总是相对理想的,而且只是由生产厂家按照一定的环境条件测量得到,试验箱在不同的气候环境中使用时,其运行时各部件的参数也会不同,如果只是简单地与出厂参数进行对比,容易导致误判,准确性较低。

技术实现思路

[0004]鉴于上述现有技术的不足之处,本申请实施例的目的在于提供一种试验箱部件老化判断方法、装置、电子设备和存储介质,旨在解决现有技术中进行试验箱部件老化判断时仅用部件的特征参数与出厂参数作对比而导致准确性低的问题。
[0005]第一方面,本申请实施例提供一种试验箱部件老化判断方法,包括步骤:A1.获取目标试验箱的型号信息、位置信息、目标部件的类型和特征参数信息;A2.根据所述目标试验箱的型号信息和位置信息,在试验箱运行数据库中选取邻近地区的多个同型号试验箱的运行数据作为参考数据;A3.提取所述参考数据中与所述目标部件的类型和特征参数信息相对应的数据作为对比数据;A4.根据所述目标部件的特征参数信息与所述对比数据判断所述目标部件的老化程度。
[0006]所述的试验箱部件老化判断方法中,所述特征参数信息为当前时刻之前的预设时间段内的特征参数平均值。
[0007]所述的试验箱部件老化判断方法中,所述运行数据包括试验箱的型号信息和位置信息;步骤A2包括:A201.根据所述目标试验箱的型号信息在试验箱运行数据库中筛选出同型号试验箱的运行数据;A202.根据筛选出的运行数据中的位置信息,计算各筛选出的试验箱与所述目标试验箱的距离;
A203.选取所述距离小于预设距离阈值的试验箱的运行数据作为参考数据。
[0008]进一步的,若步骤A203中选取的参考数据的数量少于预设的数量阈值,则在所述预设距离阈值的基础上逐次增加预设的固定距离值得到新的距离阈值,并根据所述新的距离阈值重新选取参考数据,直到参考数据的数量不少于预设的数量阈值。
[0009]所述的试验箱部件老化判断方法中,所述对比数据包括不同使用时间对应的特征参数值以及目标部件的使用寿命信息;步骤A4包括:A401.根据步骤A1获取的特征参数信息分别在各对比数据中查询对应的使用时间,得到多个使用时间值;A402.根据所述多个使用时间值与对应对比数据中的使用寿命信息,计算得到多个第一剩余寿命值;A403.根据所述多个第一剩余寿命值计算所述目标试验箱的目标部件的第二剩余寿命值;A404.根据所述第二剩余寿命值判断所述目标试验箱的目标部件的老化程度。
[0010]一些实施方式中,步骤A403中,计算所述多个第一剩余寿命值的平均值作为所述目标试验箱的目标部件的第二剩余寿命值。
[0011]另一些实施方式中,步骤A403中,计算所述多个第一剩余寿命值的加权平均值作为所述目标试验箱的目标部件的第二剩余寿命值,其中,步骤A2中选取的试验箱离所述目标试验箱越远,其对应的第一剩余寿命值的权值越小。
[0012]第二方面,本申请实施例提供一种试验箱部件老化预测装置,包括:获取模块,用于获取目标试验箱的型号信息、位置信息、目标部件的类型和特征参数信息;筛选模块,用于根据所述目标试验箱的型号信息和位置信息,在试验箱运行数据库中选取邻近地区的多个同型号试验箱的运行数据作为参考数据;提取模块,用于提取所述参考数据中与所述目标部件的类型和特征参数信息相对应的数据作为对比数据;判断模块,用于根据所述目标部件的特征参数信息与所述对比数据判断所述目标部件的老化程度。
[0013]第三方面,本申请实施例提供一种电子设备,包括处理器和存储器,所述存储器中存储有计算机程序,所述处理器通过调用所述存储器中存储的所述计算机程序,用于执行所述的试验箱部件老化判断方法的步骤。
[0014]第四方面,本申请实施例提供一种存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时运行所述的试验箱部件老化判断方法的步骤。
[0015]有益效果:本申请实施例提供的一种试验箱部件老化判断方法、装置、电子设备和存储介质,通过获取目标试验箱的型号信息、位置信息、目标部件的类型和特征参数信息;根据所述目标试验箱的型号信息和位置信息,在试验箱运行数据库中选取邻近地区的多个同型号试验箱的运行数据作为参考数据;提取所述参考数据中与所述目标部件的类型和特征参数信息相对应的数据作为对比数据;根据所述目标部件的特征参数信息与所述对比数据判断所述目标
部件的老化程度;从而避免了现有技术中进行试验箱部件老化判断时仅用部件的特征参数与出厂参数作对比而导致准确性低的问题,其判断结果具有较高的准确性和可信度。
附图说明
[0016]图1为本申请实施例提供的试验箱部件老化判断方法的流程图。
[0017]图2为本申请实施例提供的试验箱部件老化判断装置的模块图。
[0018]图3为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。
[0019]图4为示例性的筛选区划分示意图。
具体实施方式
[0020]下面将结合本申请实施例中附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此,以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围,而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
[0021]应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时,在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0022]请参阅图1,本申请实施例提供一种试验箱部件老化判断方法,可应用于试验箱的监测装置,该监测装置可以是云服务器或者当地的监测装置,包括步骤:A1.获取目标试验箱的型号信息、位置信息、目标部件的类型和特征参数信息;A2.根据目标试验箱的型号信息和位置信息,在试验箱运行数据库中选取邻近地区的多个同型号试验箱的运行数据作为参考数据;A3.提取参考数据中与目标部件的类型和特征参数信息相对应的数据作为对比数本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种试验箱部件老化判断方法,其特征在于,包括步骤:A1.获取目标试验箱的型号信息、位置信息、目标部件的类型和特征参数信息;A2.根据所述目标试验箱的型号信息和位置信息,在试验箱运行数据库中选取邻近地区的多个同型号试验箱的运行数据作为参考数据;A3.提取所述参考数据中与所述目标部件的类型和特征参数信息相对应的数据作为对比数据;A4.根据所述目标部件的特征参数信息与所述对比数据判断所述目标部件的老化程度。2.根据权利要求1所述的试验箱部件老化判断方法,其特征在于,所述特征参数信息为当前时刻之前的预设时间段内的特征参数平均值。3.根据权利要求1所述的试验箱部件老化判断方法,其特征在于,所述运行数据包括试验箱的型号信息和位置信息;步骤A2包括:A201.根据所述目标试验箱的型号信息在试验箱运行数据库中筛选出同型号试验箱的运行数据;A202.根据筛选出的运行数据中的位置信息,计算各筛选出的试验箱与所述目标试验箱的距离;A203.选取所述距离小于预设距离阈值的试验箱的运行数据作为参考数据。4.根据权利要求3所述的试验箱部件老化判断方法,其特征在于,若步骤A203中选取的参考数据的数量少于预设的数量阈值,则在所述预设距离阈值的基础上逐次增加预设的固定距离值得到新的距离阈值,并根据所述新的距离阈值重新选取参考数据,直到参考数据的数量不少于预设的数量阈值。5.根据权利要求1所述的试验箱部件老化判断方法,其特征在于,所述对比数据包括不同使用时间对应的特征参数值以及目标部件的使用寿命信息;步骤A4包括:A401.根据步骤A1获取的特征参数信息分别在各对比数据中查询对应的使用时间,得到多个使用时间值;A402.根据所述多个...

【专利技术属性】
技术研发人员:叶南洋董明星
申请(专利权)人:广州市优仪科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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