一种封装芯片自动测试设备制造技术

本实用新型专利技术属于芯片测试设备技术领域，尤其为一种封装芯片自动测试设备，针对人工操作效率较低，且不便于将芯片固定，导致测试中稳定性与可靠性较差的问题，现提出如下方案，其包括固定座，所述固定座的内侧开设有第一空腔，第一空腔内转动安装有蜗杆，蜗杆的一端延伸至固定座外并固定安装有旋钮，固定座的内侧转动安装有两个转轴，两个转轴的底端均延伸至第一空腔内并转动安装在第一空腔的底部内壁上，两个转轴的外侧均固定套设有蜗轮，两个蜗轮均与蜗杆相啮合，固定座的内侧开设有两个第二空腔。本实用新型专利技术结构设计合理，在测试中保证了芯片不会发生移动，保证了测试的准确性，且适用于大小不同的芯片。且适用于大小不同的芯片。且适用于大小不同的芯片。

【技术实现步骤摘要】
一种封装芯片自动测试设备


[0001]本技术涉及芯片测试设备
，尤其涉及一种封装芯片自动测试设备。

技术介绍

[0002]在芯片
，随着半导体工艺的不断进步，芯片上集成电路的密集程度也越来越高，使得芯片的功能及运行速度都得到了极大的提高。最先进的集成电路是微处理器或多核处理器的核心，可以控制计算机到手机到数字微波炉的一切。存储器和特定应用集成电路是其他集成电路家族的例子，对于现代信息社会非常重要。虽然设计开发一个复杂集成电路的成本非常高，但是当分散到通常以百万计的产品上，每个集成电路的成本最小化。集成电路的性能很高，因为小尺寸带来短路径，使得低功率逻辑电路可以在快速开关速度应用。这些年来，集成电路持续向更小的外型尺寸发展，使得每个芯片可以封装更多的电路，而以此同时，对芯片性能参数的测试成本也越来越高。
[0003]对芯片测试大都通过人工进行，将芯片插入到测试插孔内，与测试平台对接，然后通电进行测试，但是人工操作效率较低，且不便于将芯片固定，导致测试中稳定性与可靠性较差，因此我们提出了一种封装芯片自动测试设备用于解决上述问题。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决人工操作效率较低，且不便于将芯片固定，导致测试中稳定性与可靠性较差的缺点，而提出的一种封装芯片自动测试设备。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0006]一种封装芯片自动测试设备，包括固定座，所述固定座的内侧开设有第一空腔，第一空腔内转动安装有蜗杆，蜗杆的一端延伸至固定座外并固定安装有旋钮，固定座的内侧转动安装有两个转轴，两个转轴的底端均延伸至第一空腔内并转动安装在第一空腔的底部内壁上，两个转轴的外侧均固定套设有蜗轮，两个蜗轮均与蜗杆相啮合，固定座的内侧开设有两个第二空腔，两个转轴的顶端均延伸至第二空腔内，两个第二空腔内均转动安装有第一螺纹杆，两个转轴的顶端与两个第一螺纹杆的外侧分别固定套设有第一锥形齿轮与第二锥形齿轮，两组第一锥形齿轮与第二锥形齿轮相啮合，两个第一螺纹杆的外侧均螺纹安装有固定杆，两个固定杆相互靠近的一侧均固定安装有夹板，固定座的内侧开设有放置槽，两个第二空腔均与放置槽相连通，两个夹板均延伸至放置槽内，固定座的顶部转动安装有第二螺纹杆，第二螺纹杆的外侧螺纹安装有支撑板，支撑板的底部固定安装有测试探针。
[0007]优选的，所述固定座的内侧固定安装有轴承的外圈，蜗杆与轴承的内圈固定套接，便于转动安装蜗杆。
[0008]优选的，两个固定杆的内侧均开设有螺纹孔，第一螺纹杆通过螺纹孔螺纹连接在固定杆的内侧，便于将第一螺纹杆与固定杆螺纹连接。
[0009]优选的，两个第二空腔的内侧均开设有两个限位槽，两个固定杆的外侧均固定安装有两个限位杆，限位杆均滑动连接在相对应的限位槽内，对固定杆起到一定的限位作用。
[0010]优选的，所述固定座的顶部固定安装有导向杆，导向杆活动连接在支撑板的内侧，对支撑板起到导向作用。
[0011]本技术中，所述的一种封装芯片自动测试设备，通过旋动旋钮带动蜗杆转动，然后通过蜗杆与两个蜗轮的啮合传动，带动两个蜗轮转动，从而使得两个蜗轮带动连个转轴转动，然后通过两组第一锥形齿轮与第二锥形齿轮的啮合传动带动两个第一螺纹杆转动，同时通过第一螺纹杆与固定杆的螺纹连接使得两个固定杆相互靠近移动，从而使得两个夹板相互靠近移动将芯片夹紧，便于将芯片夹紧固定，避免了在测试中芯片发生移动，导致影响测试效果的问题，提高了芯片的稳定性；
[0012]本技术结构设计合理，在测试中保证了芯片不会发生移动，保证了测试的准确性，且适用于大小不同的芯片。
附图说明
[0013]图1为本技术提出的一种封装芯片自动测试设备的结构示意图；
[0014]图2为本技术提出的一种封装芯片自动测试设备的A部分的结构示意图。
[0015]图中：1、固定座；2、第一空腔；3、蜗杆；4、旋钮；5、转轴；6、蜗轮；7、第二空腔；8、第一螺纹杆；9、第一锥形齿轮；10、第二锥形齿轮；11、固定杆；12、螺纹孔；13、限位槽；14、限位杆；15、夹板；16、放置槽；17、第二螺纹杆；18、支撑板；19、导向杆；20、测试探针。
具体实施方式
[0016]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0017]参照图1-2，一种封装芯片自动测试设备，包括固定座1，固定座1的内侧开设有第一空腔2，第一空腔2内转动安装有蜗杆3，蜗杆3的一端延伸至固定座1外并固定安装有旋钮4，固定座1的内侧转动安装有两个转轴5，两个转轴5的底端均延伸至第一空腔2内并转动安装在第一空腔2的底部内壁上，两个转轴5的外侧均固定套设有蜗轮6，两个蜗轮6均与蜗杆3相啮合，固定座1的内侧开设有两个第二空腔7，两个转轴5的顶端均延伸至第二空腔7内，两个第二空腔7内均转动安装有第一螺纹杆8，两个转轴5的顶端与两个第一螺纹杆8的外侧分别固定套设有第一锥形齿轮9与第二锥形齿轮10，两组第一锥形齿轮9与第二锥形齿轮10相啮合，两个第一螺纹杆8的外侧均螺纹安装有固定杆11，两个固定杆11相互靠近的一侧均固定安装有夹板15，固定座1的内侧开设有放置槽16，两个第二空腔7均与放置槽16相连通，两个夹板15均延伸至放置槽16内，固定座1的顶部转动安装有第二螺纹杆17，第二螺纹杆17的外侧螺纹安装有支撑板18，支撑板18的底部固定安装有测试探针20。
[0018]固定座1的内侧固定安装有轴承的外圈，蜗杆3与轴承的内圈固定套接，便于转动安装蜗杆3两个固定杆11的内侧均开设有螺纹孔12，第一螺纹杆8通过螺纹孔12螺纹连接在固定杆11的内侧，便于将第一螺纹杆8与固定杆11螺纹连接，两个第二空腔7的内侧均开设有两个限位槽13，两个固定杆11的外侧均固定安装有两个限位杆14，限位杆14均滑动连接在相对应的限位槽13内，对固定杆11起到一定的限位作用，固定座1的顶部固定安装有导向杆19，导向杆19活动连接在支撑板18的内侧，对支撑板18起到导向作用。
[0019]本技术中，在使用时，首先将需要测试的芯片放置在放置槽16内，然后旋动旋钮4带动蜗杆3转动，然后通过蜗杆3与两个蜗轮6的啮合传动，带动两个蜗轮6转动，从而使得两个蜗轮6带动连个转轴5转动，然后通过两组第一锥形齿轮9与第二锥形齿轮10的啮合传动带动两个第一螺纹杆8转动，同时通过第一螺纹杆8与固定杆11的螺纹连接使得两个固定杆11相互靠近移动，从而使得两个夹板15相互靠近移动将芯片夹紧，便于将芯片夹紧固定，避免了在测试中芯片发生移动，导致影响测试效果的问题，提高了芯片的稳定性，将芯片固定后，通过转动第二螺纹杆17，通过第二螺纹杆17与支撑板18的螺纹连接带动支撑板18向下移动，通过测试探针20对芯片进行测试。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种封装芯片自动测试设备，包括固定座(1)，其特征在于，所述固定座(1)的内侧开设有第一空腔(2)，第一空腔(2)内转动安装有蜗杆(3)，蜗杆(3)的一端延伸至固定座(1)外并固定安装有旋钮(4)，固定座(1)的内侧转动安装有两个转轴(5)，两个转轴(5)的底端均延伸至第一空腔(2)内并转动安装在第一空腔(2)的底部内壁上，两个转轴(5)的外侧均固定套设有蜗轮(6)，两个蜗轮(6)均与蜗杆(3)相啮合，固定座(1)的内侧开设有两个第二空腔(7)，两个转轴(5)的顶端均延伸至第二空腔(7)内，两个第二空腔(7)内均转动安装有第一螺纹杆(8)，两个转轴(5)的顶端与两个第一螺纹杆(8)的外侧分别固定套设有第一锥形齿轮(9)与第二锥形齿轮(10)，两组第一锥形齿轮(9)与第二锥形齿轮(10)相啮合，两个第一螺纹杆(8)的外侧均螺纹安装有固定杆(11)，两个固定杆(11)相互靠近的一侧均固定安装有夹板(15)，固定座(1)的内侧开设有放置槽(16)，两个第二空腔(7)均与放置槽(16)相连...

【专利技术属性】
技术研发人员：何秋生，黄峰荣，杨斌，
申请(专利权)人：遂宁合芯半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：