密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统和方法技术方案

本发明专利技术公开了一种密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统和方法，所述密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统包括工作台和检测组件，设有密封间隙的密封装置适于可转动地设在工作台上，检测组件包括X射线仪和成像仪，X射线仪和成像仪彼此相对地设在密封装置在第一方向上的两侧，X射线仪发射的X光至少部分可穿过密封间隙并在成像仪上成像，第一方向正交于密封装置的纵截面。本发明专利技术实施例的检测系统可以检测任何工作状态下密封间隙内磁性液体的分布状态，便于了解磁性液体的密封情况，避免危险情况发生。危险情况发生。危险情况发生。

【技术实现步骤摘要】
密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统和方法


[0001]本专利技术涉及磁性液体密封的
，更具体地，涉及一种密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统和密封间隙内磁性液体分布状态的检测方法。

技术介绍

[0002]磁性液体在工程领域有着广泛的应用，其中，旋转密封是磁性液体的众多应用之一。和传统密封技术相比，磁性液体旋转密封具有零泄漏、可靠性高、磨损低、寿命长等优点。
[0003]相关技术中，对于不同工作状态下的密封件内的磁性液体的分布状态，缺少一种有效的检测方法，无法在工作状态下观测磁性液体的密封情况，无法避免危险情况的发生。

技术实现思路

[0004]本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
[0005]为此，本专利技术的一方面的实施例提出了一种密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，该检测系统可以检测任何工作状态下密封装置内磁性液体的分布状态，便于了解磁性液体的密封情况，避免危险情况发生。
[0006]本专利技术的另一方面的实施例提出了一种密封间隙内磁性液体分布状态的检测方法。
[0007]根据本专利技术的第一方面的实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，所述密封间隙设在密封装置内，所述密封间隙内适于填充有磁性液体，所述检测系统包括：工作台，所述密封装置适于可转动地设在所述工作台上；检测组件，所述检测组件设在所述工作台上且包括X射线仪和成像仪，所述X射线仪和所述成像仪彼此相对地设在所述密封装置在第一方向上的两侧，所述X射线仪发射的X光至少部分可穿过所述密封间隙并在所述成像仪上成像，所述第一方向正交于所述密封装置的纵截面。
[0008]根据本专利技术实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，通过在密封装置在第一方向上的两侧设置X射线仪和成像仪，利用X射线仪发射的X光在穿过不同材质的物体时的衰减程度不同，X射线仪发射的X光在穿过密封装置中的密封间隙后在成像仪上会得到多个图像，且图像中各部分区域的明暗程度不同，根据该多个图像即可获得密封间隙内磁性液体分布状态，便于了解磁性液体的密封情况，避免危险情况发生。
[0009]在一些实施例中，所述X射线仪包括X射线源和准直器，所述X射线源、所述准直器和所述密封装置沿所述第一方向依次布置，所述准直器接收所述X射线源发射的沿不同方向延伸的X光并将沿不同方向延伸的X光约束为沿所述第一方向延伸的X光，以便沿所述第一方向延伸的X光可穿过所述密封间隙。
[0010]在一些实施例中，所述成像仪包括X光滤线器和成像板，所述X光滤线器具有第一侧面，所述成像板具有第二侧面，所述第一侧面和所述第二侧面均垂直于所述第一方向，沿所述第一方向延伸的X光依次穿过所述密封间隙和所述X光滤线器后在所述成像板上成像。
[0011]在一些实施例中，在垂直于所述第一方向的投影面上，所述准直器的投影的面积大于所述密封间隙的投影的面积。
[0012]在一些实施例中，所述准直器沿所述密封装置的长度方向可移动地设在所述工作台上，所述准直器相对于所述密封装置在第一位置和第二位置之间可移动，所述密封间隙位于所述第一位置和所述第二位置之间。
[0013]在一些实施例中，在垂直于所述第一方向的投影面上，所述准直器的投影的面积小于所述密封间隙的投影的面积。
[0014]在一些实施例中，所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统还包括数据处理器，所述数据处理器和所述成像仪相连，所述成像仪将其获得的图像数据传输到所述数据处理器，所述数据处理器对所述图像数据进行处理并输出处理结果。
[0015]根据本专利技术的第二方面的实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测方法，所述密封间隙设在密封装置内，所述密封间隙内适于填充有磁性液体，所述检测方法包括：
[0016]将所述密封装置可转动地设在工作台上；
[0017]将X射线仪和成像仪彼此相对地设在所述密封装置在第一方向上的两侧，所述第一方向正交于所述密封装置的纵截面，启动所述X射线仪和所述成像仪，所述X射线仪发射的X光至少部分可穿过所述密封间隙并在所述成像仪上成像，得到图像数据；
[0018]通过数据处理器对所述图像数据进行处理并输出处理结果。
[0019]根据本专利技术实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测方法，通过在密封装置在第一方向上的两侧设置X射线仪和成像仪，利用X射线仪发射的X光在穿过不同材质的物体时的衰减程度不同，X射线仪发射的X光在穿过密封装置中的密封间隙后在成像仪上会得到图像数据，通过数据处理器对该图像数据进行处理得到检测结果，根据该检测结果即可获得密封间隙内磁性液体分布状态，便于了解磁性液体的密封情况，避免危险情况发生。
[0020]在一些实施例中，所述X射线仪沿所述密封装置的长度方向可移动地设在所述工作台上，所述X射线仪相对于所述密封装置在第一位置和第二位置之间可移动，所述密封间隙位于所述第一位置和所述第二位置之间。
[0021]在一些实施例中，在将所述密封装置可转动地设在工作台上之前，所述密封装置静止设置，启动所述X射线仪和所述成像仪，所述X射线仪发射的X光至少部分可穿过所述密封间隙并在所述成像仪上成像，得到初始数据，通过所述数据处理器对所述初始数据进行处理并输出处理结果。
附图说明
[0022]图1是根据本专利技术实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统示意图，其中密封间隙在转轴的轴向上的尺寸相对较小。
[0023]图2是根据本专利技术实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统的正视图。
[0024]图3是根据本专利技术实施例的密封装置的示意图。
[0025]图4是图3中局部A的放大示意图。
[0026]图5是根据本专利技术实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统的示意图，其中密封间隙在转轴的轴向上的尺寸相对较大。
[0027]附图标记：
[0028]检测系统100，工作台1，第一升降件11，检测组件2，X射线仪21，X射线源22，准直器23，成像仪24，X光滤线器25，成像板26，数据处理器3，
[0029]密封装置200，密封间隙201，转轴202，极靴203。
具体实施方式
[0030]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0031]如图1-图5所示，根据本专利技术实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统100包括工作台1和检测组件2。
[0032]密封间隙201设在密封装置200内，密封间隙201内适于填充有磁性液体，密封装置200适于可转动地设在工作台1上。如图1-5所示，密封装置200包括转轴202和极靴203，极靴203套设在转轴202上，极靴203与转轴202之间的间隙即为密封间隙201，转轴202的轴向(如图2中所示的上下方向)垂直于工作台1的上表面，转轴202可绕其轴向自由旋转。
[0033]检测组件2设在工作台1上且包本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，所述密封间隙设在密封装置内，所述密封间隙内适于填充有磁性液体，其特征在于，所述检测系统包括：工作台，所述密封装置适于可转动地设在所述工作台上；检测组件，所述检测组件设在所述工作台上且包括X射线仪和成像仪，所述X射线仪和所述成像仪彼此相对地设在所述密封装置在第一方向上的两侧，所述X射线仪发射的X光至少部分可穿过所述密封间隙并在所述成像仪上成像，所述第一方向正交于所述密封装置的纵截面。2.根据权利要求1所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，其特征在于，所述X射线仪包括X射线源和准直器，所述X射线源、所述准直器和所述密封装置沿所述第一方向依次布置，所述准直器接收所述X射线源发射的沿不同方向延伸的X光并将沿不同方向延伸的X光约束为沿所述第一方向延伸的X光，以便沿所述第一方向延伸的X光可穿过所述密封间隙。3.根据权利要求2所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，其特征在于，所述成像仪包括X光滤线器和成像板，所述X光滤线器具有第一侧面，所述成像板具有第二侧面，所述第一侧面和所述第二侧面均垂直于所述第一方向，沿所述第一方向延伸的X光依次穿过所述密封间隙和所述X光滤线器后在所述成像板上成像。4.根据权利要求2所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，其特征在于，在垂直于所述第一方向的投影面上，所述准直器的投影的面积大于所述密封间隙的投影的面积。5.根据权利要求2所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，其特征在于，所述准直器沿所述密封装置的长度方向可移动地设在所述工作台上，所述准直器相对于所述密封装置在第一位置和第二位置之间可移动，所述密封间隙位于所述第一位置和所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：李德才，陈诺，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：