连接状态检测电路、方法及显示面板技术

本申请公开了一种连接状态检测电路、方法及显示面板，涉及显示器技术领域，所述检测电路包括：检测电源，与所述第一节点连接；测量单元，与所述第一节点连接，用于在所述检测电源向所述第一节点输入检测电压信号的情况下，获取所述第一节点的测量电压值，根据所述测量电压值确定所述第一节点和所述第二节点之间的发光单元连接状态。在第一节点和第二节点之间连接或未连接发光单元以及接触是否良好的情况下，测量单元检测到的第一节点的测量电压值不同，因此，通过分析该测量电压值，能够确定第一节点和所述第二节点之间的发光单元连接状态，从而能够避免使用光致发光技术测量该发光单元连接状态时对发光单元的尺寸限定。单元连接状态时对发光单元的尺寸限定。单元连接状态时对发光单元的尺寸限定。

【技术实现步骤摘要】
连接状态检测电路、方法及显示面板


[0001]本申请涉及显示器
，更具体地，涉及一种连接状态检测电路、方法及显示面板。

技术介绍

[0002]目前，对发光芯片中发光单元的连接状态的检测，大多采用光致发光技术，使用紫外光对发光芯片照射，发光芯片的对比度和波长差异可以通过设备收集并分析,从而在后续的数据分析中，可以确定芯片的发光单元的连接状态。但是，该光致发光技术要求芯片尺寸不能过小，否则，无法识别该连接状态。

技术实现思路

[0003]本申请提出了一种连接状态检测电路、方法及显示面板，以改善上述缺陷。
[0004]第一方面，本申请实施例提供了一种连接状态检测电路，应用于发光电路，所述发光电路包括第一节点和第二节点，所述第一节点和所述第二节点用于与发光单元连接，所述第二节点接入第一供电信号；所述检测电路包括：检测电源，与所述第一节点连接；测量单元，与所述第一节点连接，用于在所述检测电源向所述第一节点输入检测电压信号的情况下，获取所述第一节点的测量电压值，根据所述测量电压值确定所述第一节点和所述第二节点之间的发光单元连接状态。
[0005]第二方面，本申请实施例还提供了一种显示面板，包括发光电路和上述连接状态检测电路，所述发光电路包括第一节点和第二节点，所述第一节点和所述第二节点用于与发光单元连接，所述第二节点接入第一供电信号。
[0006]第三方面，本申请实施例还提供了一种连接状态检测方法，应用于显示面板的发光电路的检测，所述发光电路包括第一节点和第二节点，所述第一节点和所述第二节点用于与发光单元连接，所述第二节点接入第一供电信号，所述方法包括：在检测电源向所述第一节点输入检测电压信号的情况下，获取所述第一节点的测量电压值；根据所述测量电压值确定所述第一节点和所述第二节点之间的发光单元连接状态。
[0007]本申请提供的连接状态检测电路、方法及显示面板，应用于发光电路，所述发光电路包括第一节点和第二节点，所述第一节点和所述第二节点用于与发光单元连接，所述第二节点接入第一供电信号；所述检测电路包括检测电源和测量单元，检测电源和测量单元均与第一节点连接，在检测电源向所述第一节点输入检测电压信号的情况下，由于第一节点和第二节点之间在连接发光单元的时候，该发光单元会对第一节点的检测电压信号分压，因此，在第一节点和第二节点之间连接或未连接发光单元以及接触是否良好的情况下，测量单元检测到的第一节点的测量电压值不同，因此，通过分析该测量电压值，能够确定第一节点和所述第二节点之间的发光单元连接状态，从而能够避免使用光致发光技术测量该发光单元连接状态时对发光单元的尺寸限定。
[0008]本申请实施例的其他特征和优点将在随后的说明书阐述，并且，部分地从说明书
中变得显而易见，或者通过实施本申请实施例而了解。本申请实施例的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0009]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0010]图1示出了本申请一实施例提供的发光电路的示意图；
[0011]图2示出了本申请另一实施例提供的发光电路的示意图；
[0012]图3示出了本申请一实施例提供的发光阵列的示意图；
[0013]图4示出了本申请一实施例提供的连接状态检测电路的示意图；
[0014]图5示出了本申请另一实施例提供的连接状态检测电路的示意图；
[0015]图6示出了本申请又一实施例提供的连接状态检测电路的示意图；
[0016]图7示出了本申请另一实施例提供的发光阵列的示意图；
[0017]图8示出了本申请实施例提供的检测信号的时序图；
[0018]图9示出了本申请再一实施例提供的连接状态检测电路的示意图；
[0019]图10示出了本申请实施例提供的连接状态检测方法的方法流程图；
[0020]图11示出了本申请实施例提供的连接状态检测装置的模块框图；
[0021]图12示出了本申请实施例提供的显示面板的结构示意图；
[0022]图13示出了本申请实施例提供的电子设备的结构示意图；
[0023]图14出了本申请实施例提供的用于保存或者携带实现根据本申请实施例的方法的程序代码的存储单元。
具体实施方式
[0024]下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0025]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0026]新一代显示技术微型发光二极管(Micro-LED)与现有的OLED技术相比不仅具有发光效率高、亮度高、功耗更低的特点，而且不易受水蒸汽、氧气或高温的影响，因而其在稳定性、使用寿命、工作温度等方面具有明显的优势。与TFT-LCD的图像反应速度毫秒、OLED的微秒相比，Micro-LED的图像反应速度只有纳秒，其次，作为穿戴式电子设备的显示屏占比80％的耗电量；Micro-LED的低耗电量和快速响应速度等特点最适合于VR/AR设备、车载显
示和智能手机等，对于提升用户使用体验有着明显的优势。因此，从目前来看，Micro-LED市场最先可能集中在超小尺寸显示上，例如，车载显示器、智能手机、智能手表和VR/AR等。
[0027]但是，在制作Micro-LED显示面板时，需要先在一个基板上设置Micro-LED，然后再将Micro-LED转印到显示基板上(即巨量转移)，最后将Micro-LED焊接到显示基板上。大批量的转印和焊接，很容易造成Micro-LED丢失或焊接不良，进而导致显示器良率较低。快速且低成本的发现Micro-LED转移不良(丢失、焊接不良、破裂等问题)是巨量修复的前提，对于提升Micro-LED显示的良率具有重大的量产意义。
[0028]目前，可以通过光致发光(Photo Luminescence，PL)技术识别有缺陷的Micro-LED芯片。具体地，通过紫外光(Ultraviolet，UV)照射Micro-LED芯片，Micro-LED芯片的对比度和波长差异可以通过设备本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种连接状态检测电路，其特征在于，应用于显示面板的发光电路的检测，所述发光电路包括第一节点和第二节点，所述第一节点和所述第二节点用于与发光单元连接，所述第二节点接入第一供电信号；所述检测电路包括：检测电源，与所述第一节点连接；测量单元，与所述第一节点连接，用于在所述检测电源向所述第一节点输入检测电压信号的情况下，获取所述第一节点的测量电压值，根据所述测量电压值确定所述第一节点和所述第二节点之间的发光单元连接状态。2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述测量单元还用于：判断所述测量电压值是否等于所述检测电压值，所述检测电压值为所述检测电压信号的电压值；如果所述测量电压值等于所述检测电压值，确定所述发光单元连接状态为未连接状态，所述未连接状态用于表征所述第一节点和所述第二节点之间未连接发光单元；如果所述测量电压值不等于所述检测电压值，确定所述发光单元连接状态为连接状态，所述连接状态用于表征所述第一节点和所述第二节点之间连接有发光单元。3.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述连接状态包括不稳定连接，所述测量单元还用于：如果所述测量电压值不等于所述检测电压值，判断所述测量电压值是否大于指定电压值且小于所述检测电压值；如果大于所述指定电压值且小于所述检测电压值，确定所述发光单元连接状态为不稳定连接。4.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述连接状态包括稳定连接，所述测量单元还用于：如果所述测量电压值不等于所述检测电压值，判断所述测量电压值是否小于指定电压值；如果小于所述指定电压值，确定所述发光单元连接状态为稳定连接。5.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述检测电路还包括：检测开关，所述检测电源通过所述检测开关与所述第一节点连接，所述检测开关用于在接收到指定电平信号时将所述检测电源与所述第一节点导通；所述检测电源用于在所述检测电源与所述第一节点导通时，向所述第一节点输入检测电压信号。6.根据权利要求5所述的电路，其特征在于，所述发光单元为发光二极管，所述检测开关为第一晶体管器件，所述第一晶体管器件的源极与检测电源连接，所述第一晶体管器件的漏极与所述第一节点连接，所述第一晶体管器件的栅极用于接收指定电平信号，所述第一晶体管器件用于在所述第一晶体管器件的栅极接收到所述指定电平信号时将所述第一晶体管器件的源极与漏极导通。7.根据权利要求5所述的电路，其特征在于，所述检测电路还包括：测量开关，所述第一节点通过所述测量开关与所述测量单元连接，所述测量开关用于在接收到所述指定电平信号时将所述测量单元与所述第一节点导通。8.根据权利要求7所述的电路，其特征在于，所述发光单元为发光二极管，所述测量开
关为第二晶体管器件，所述第二晶体管器件的源极与所述第一节点连接，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：张健民，
申请(专利权)人：OPPO广东移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：