电阻片多柱分流试验方法技术

本发明专利技术提出了一种电阻片多柱分流试验方法，其是在多柱分流测试设备的多个支路上，将对应组电阻片按序号依次放入分流设备中对应序号的分流位置，进行一次电流冲击，记录每个分支的电流和每个分支电流的和即总电流，并计算出分流比依次填入表格；然后将电阻片柱位置顺序移动多次，每次进行一次电流冲击并记录每个分支的电流和每个分支电流的和即总电流，并计算出分流比依次填入表格；最后对数据整理得到电阻片的实际分流比值和分流设备的固有分流比值。本发明专利技术利用占流比移位相加法来测算分流设备的固有分流系数和电阻片柱的计算分流系数，并提出使用固有分流系数校准实验数据的方法。方法。方法。

【技术实现步骤摘要】
电阻片多柱分流试验方法


[0001]本专利技术涉及电阻片，具体涉及一种电阻片多柱分流试验方法。

技术介绍

[0002]随着电力行业的迅猛发展，直流特高压变流站、串联补偿设备、直流断路器等新型电力设备大量涌现，要求金属氧化物避雷器能够吸收巨大的能量；或者在较高的动作电流下，保证整只产品残压低于要求值。而单片电阻片的直径过大会由于制造工艺的原因，而不可避免的出现各种缺陷。因此多柱电阻片并联成为解决以上问题的主要方法。
[0003]由于电阻片柱并联情况下，每柱电压相等，因此避雷器组动作瞬间，每柱通过电流的大小即是每柱能量吸收的大小。由于金属氧化物电阻片的非线性，电阻片在多柱并联的情况下，每柱电流不会完全相等。而电流每柱间分布的差异决定了整个电阻片柱组的能量吸收。对于多柱氧化锌电阻片并联组，测量其电流分布的不均匀性成为制造多柱并联避雷器的关键生产工艺。
[0004]而现行的直流参考电压法、残压法均是间接测量。由于每个电阻片的特征参数测量的不准确，采样少，这些方法并不能排除各电阻片柱伏安特性差异较大，实际产品分流不均匀性与计算值不符，导致分流严重不均。新型分流测量设备的出现，极大提高了多柱并联电阻片柱组的分流不均匀性测试的准确性和直观性。
[0005]分流设备本身的准确性直接决定了电阻片柱组分流系数的准确性。因此，为保证试验结论的可靠性，首先应该对分流设备进行测量准确度分析。而测量准确度分析的方法暂时没有标准和前例可循。

技术实现思路

[0006]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种采用多柱移位相加法进行电阻片多柱分流试验方法。
[0007]为解决上述技术问题，本专利技术所采取的技术方案是：一种电阻片多柱分流试验方法，包括以下方法步骤：
[0008](1).在多柱分流测试设备的m个支路上，将m组电阻片按序号依次放入分流设备中对应序号的分流位置，进行一次电流冲击，记录每个分支的电流和每个分支电流的和即总电流，并计算出分流比依次填入表格；
[0009](2).将m个电阻片柱位置顺序移动，即第1个电阻片柱移到第2个分流位置上，第2个电阻片柱移到第3个分流位置上，
……
，第m-1个电阻片柱移到第m分流位置上,第m个电阻片柱移到第1个分流位置上,按步骤1的方法进行一次电流冲击，记录每个分支的电流和每个分支电流的和即总电流，并计算出分流比依次填入表格；
[0010](3).按步骤2的方法将m个电阻片柱位置顺序移动总共进行m次，分别进行一次电流冲击，记录每个分支的电流和每个分支电流的和即总电流，并计算出分流比依次填入表格；
[0011](4).数据整理，按位置和电阻片重新排列数据，保证同一行为同一电阻片在不同位置的占流比，同一列为同一位置不同电阻片的占流比；然后对每一行相加，每行的和值的比值是电阻片的实际分流比值；对每一列相加，每列的和值的比值是分流设备的固有分流比值。
[0012]所述步骤(1)的计算方法是在多柱分流测试设备的m个支路上，理想状态下每个支路的电流占总电流比应为1/m；设备固有的分流比设为k，每个支路固有分流比为K1……
k
m
；选择m个电阻片柱，这m个电阻片柱在不考虑设备误差的影响下，同一个冲击电流下的分流比设为n，m个电阻片柱的分流比为n1....n
m
，在相同的波形、相近的冲击电流下，设备固有的分流比k和电阻片自身的分流比n是不变的；每次冲击的总电流设为I
总
，分支电流为I1....I
m
，则：
[0013]I1＝I
总
×
n1×
k1ꢀꢀꢀꢀ
n1×
k1＝I1/I
总
[0014]I2＝I
总
×
n2×
k2ꢀꢀꢀꢀ
n2×
k2＝I2/I
总
[0015]…………
[0016]I
m
＝I
总
×
n
m
×
k
m
ꢀꢀꢀꢀ
n
m
×
k
m
＝I
m
/I
总
。
[0017]所述步骤(4)数据整理的方法,对每一行相加，第一行的和为n1，第二行的和为n2，
……
，第m行的和为n
m
；如前设定，在每次冲击电流相差不大的情况下，对应某行的k1……
k
m
变化很小，它们的和认为是个定值，则m行和值的比值可约去改定值，为n1:n2:
……
:n
m
，这就是电阻片的实际分流比值；同理，对每一列相加，第一列的和为k1，第二列的和为k2，第m列的和为k
m
，则m列和值的比值为k1:k2:
……
:k
m
，这就是分流设备的固有分流比值。
[0018]本专利技术采用上述技术方案所设计的电阻片多柱分流试验方法，根据实验数据分析了不同波形和电流冲击下电阻片柱的误差，提出了利用占流比移位相加法来测算分流设备的固有分流系数和电阻片柱的计算分流系数，并提出使用固有分流系数校准实验数据的方法。本专利技术通过试验验证，说明本专利技术采用的占流比移位相加法是可行有效的，特别是分流系数较大的情况下，效果更加明显。
附图说明
[0019]图1表示本专利技术多柱分流测试设备移位原理示意图；
[0020]图2表示操作波500A试验时8组测试后各电阻片占流比值；
[0021]图3表示操作波500A试验时电阻片分流比计算值；
[0022]图4表示操作波500A试验时设备固有分流比计算值；
[0023]图5表示操作波下电阻片计算分流比值；
[0024]图6表示8次顺序移动雷电冲击1000A下电阻片分流比实测值；
[0025]图7表示雷电波1000A下电阻片计算分流值；
[0026]图8表示雷电波1000A下设备固有分流系数值；
[0027]图9表示雷电波1000A下分流比较准前后对比图。
具体实施方式
[0028]本专利技术所使用的氧化锌电阻片多柱分流测试设备主要由控制台、冲击电流发生器、多柱并联氧化锌电阻片柱组测试台组成。冲击电流发生器可以产生模拟雷电冲击、操作
冲击等多种避雷器常用冲击波形下不通电流值的冲击电流。多柱并联氧化锌电阻片柱组测试台为圆盘状，通过气动工装使多柱电阻片柱按辐射状位置并联与测试设备，控制台有电压与电流采集装置，通过示波器将8路电流波形显示，并通过计算将不均匀系数直接提供。
[0029]本专利技术一种电阻片多柱分流试验准确度校准方法，其具体原理是：多柱分流测试设备由于结构中固有的电感电容电阻在不同波形的冲击电流下，即使电阻片柱完全均流，在不同的分流支路中分配也并不是绝对的平均的。以多柱分流测试设备有8个支路为例，包括以下方法步骤：
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电阻片多柱分流试验方法，其特征是包括以下方法步骤：(1).在多柱分流测试设备的m个支路上，将m组电阻片按序号依次放入分流设备中对应序号的分流位置，进行一次电流冲击，记录每个分支的电流和每个分支电流的和即总电流，并计算出分流比依次填入表格；(2).将m个电阻片柱位置顺序移动，即第1个电阻片柱移到第2个分流位置上，第2个电阻片柱移到第3个分流位置上，
……
，第m-1个电阻片柱移到第m分流位置上,第m个电阻片柱移到第1个分流位置上,按步骤1的方法进行一次电流冲击，记录每个分支的电流和每个分支电流的和即总电流，并计算出分流比依次填入表格；(3).按步骤2的方法将m个电阻片柱位置顺序移动总共进行m次，分别进行一次电流冲击，记录每个分支的电流和每个分支电流的和即总电流，并计算出分流比依次填入表格；(4).数据整理，按位置和电阻片重新排列数据，保证同一行为同一电阻片在不同位置的占流比，同一列为同一位置不同电阻片的占流比；然后对每一行相加，每行的和值的比值是电阻片的实际分流比值；对每一列相加，每列的和值的比值是分流设备的固有分流比值。2.根据权利要求1所述的电阻片多柱分流试验方法，其特征是所述步骤(1)的计算方法是在多柱分流测试设备的m个支路上，理想状态下每个支路的电流占总电流比应为1/m；设备固有的分流比设为k，每个支路固有分流比为K1……
k
m
；选择m个电阻片柱，这m个电阻片柱在不考虑设备误差的影响下，同一个冲击电流下的分流比设为n，m个电阻片柱的分流比为n1....n
m
，在相同的波形、相近的冲击电流下，设备固有的分流比k和电阻片自身的分流比n是不变的；每次冲击的总...

【专利技术属性】
技术研发人员：王春虎，贾付山，李秀坤，刘斌，康定增，陈成刚，徐建，陈展，穆洪伟，张新盼，高栋，秦梦华，吕伯安，盛孝涛，张帅辉，
申请(专利权)人：南阳中祥电力电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：