本申请实施例公开了一种显示面板及显示装置，其中，该显示面板包括：检测区域，所述显示面板还包括：衬底基板，包括第一子部，所述第一子部的位置与所述检测区域的位置对应；阳极层，包括检测端子，所述检测端子设于所述第一子部上；限定层，设于所述第一子部上，所述限定层上设置有开口区域，所述开口区域的位置与所述检测端子的位置对应；所述检测端子的高度至少大于所述限定层的高度；间隙子，设于所述限定层上。本申请实施例的显示面板及显示装置，可以提高产品良率。可以提高产品良率。可以提高产品良率。
【技术实现步骤摘要】
显示面板及显示装置
[0001]本申请涉及显示
，具体涉及一种显示面板及显示装置。
技术介绍
[0002]柔性显示面板由于其轻薄、可弯曲折叠等优势，近年来在电子设备中的占比越来越高，目前显示面板的阵列区域基本上都是采用的7T1C设计，由于涉及到补偿电路，所以对产品电性的要求较高；而产线上监控电性的设备基本上采用测试元件组(Test Element Group，TEG)。
[0003]TEG设备在测量产品电性时，需要进行两道识别工序，识别工序是通过图像识别设备抓取检测端子的图像以确定检测端子的位置，然后再将TEG的探针接在检测端子上。然而在最后一道识别工序时，容易受到其他膜层的干扰，导致无法准获取待检测端子的图像，从而无法接入探针，进而无法进行测量，降低了显示面板的产品良率。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供一种显示面板及显示装置，可以提高显示面板的产品良率。
[0005]本申请实施例提供一种显示面板，其包括：检测区域，所述显示面板还包括：
[0006]衬底基板，包括第一子部，所述第一子部的位置与所述检测区域的位置对应；
[0007]阳极层，包括检测端子，所述检测端子设于所述第一子部上；
[0008]限定层，设于所述第一子部上，所述限定层上设置有开口区域，所述开口区域的位置与所述检测端子的位置对应；所述检测端子的高度至少大于所述限定层的高度；
[0009]间隙子，设于所述限定层上。
[0010]本专利技术还提供一种显示装置，其包括上述显示面板。
[0011]本申请实施例的显示面板及显示装置，包括检测区域，所述显示面板还包括：衬底基板，包括第一子部，所述第一子部的位置与所述检测区域的位置对应；阳极层，包括检测端子，所述检测端子设于所述第一子部上；限定层，设于所述第一子部上，所述限定层上设置有开口区域，所述开口区域的位置与所述检测端子的位置对应；所述检测端子的高度至少大于所述限定层的高度；间隙子，设于所述限定层上；由于检测端子的高度大于限定层的高度，因此减小了检测端子与间隙子之间的高度差，从而避免受到间隙子的干扰，进而可以准获取待检测端子的图像，便于接入探针和测量，提高了显示面板的产品良率。
附图说明
[0012]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0013]图1为现有显示面板中第一检测区域的剖面示意图。
[0014]图2为现有显示面板中第二检测区域的剖面示意图。
[0015]图3为本申请一实施例提供的显示面板的局部剖面示意图。
[0016]图4为本申请一实施例提供的显示面板的剖面示意图。
[0017]图5为本申请另一实施例提供的显示面板的剖面示意图。
具体实施方式
[0018]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0019]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0020]如图1所示，现有的显示面板包括：第一检测区域和显示区域，第一检测区域包括衬底基板11、第一绝缘层12、第二绝缘层13以及第一检测端子14，所述第一检测端子14与显示区域内的源漏极同层设置。第一检测端子14的周边没有其他膜层的干扰，因此图像识别设备可以抓取第一检测端子的图像。
[0021]如图2所示，显示面板还包括：第二检测区域，第二检测区域包括衬底基板11、第一绝缘层12、第二绝缘层13、第二检测端子15、限定层16以及间隙子17，所述第二检测端子15与显示区域内的阳极同层设置，限定层16设置有开口区域，开口区域与第二检测端子15的位置对应，以将第二检测端子裸露在外。
[0022]然而，图像识别设备在聚焦时，会先聚焦间隙子17所在的膜层，而间隙子17和第二检测端子15之间存在近3um的高度差，从而影响图像识别设备对第二检测端子15的聚集效果，进而导致图像识别失败，导致接入探针失败，进而无法进行测量。
[0023]请参阅图3，图3为本申请一实施例提供的显示面板的局部剖面示意图。
[0024]如图3所示，本实施例的显示面板包括检测区域101和显示区域102，所述显示面板还包括：衬底基板21、阳极层26以及限定层27。
[0025]衬底基板21包括第一子部211，所述第一子部211的位置与所述检测区域101的位置对应；结合图4，衬底基板21包括第二子部212，所述第二子部212的位置与所述显示区域102的位置对应。
[0026]阳极层26包括检测端子261，所述检测端子261设于所述第一子部211上。结合图4，阳极层26还可包括阳极262。
[0027]限定层27，设于所述第一子部211上，所述限定层27上设置有开口区域(图中未标出)，所述开口区域的位置与所述检测端子261的位置对应；所述检测端子261的高度h2至少大于所述限定层27的高度h1；
[0028]间隙子28设于所述限定层27上。
[0029]由于检测端子的高度大于限定层的高度，因此减小了检测端子与间隙子之间的高度差，从而避免受到间隙子的干扰，进而可以准获取待检测端子的图像，便于接入探针和测
量，提高了显示面板的产品良率。
[0030]在另一实施例中，如图3和图4所示，所述显示面板还包括：第一金属层22。
[0031]第一金属层22包括第一金属部221，所述第一金属部221设于所述第一子部211和所述检测端子261之间，所述检测端子261设于所述第一金属部221的上方，其中所述检测端子261部分覆盖所述第一金属部221，或者说所述第一金属部221在第一子部211上的正投影的面积大于或等于所述检测端子261在第一子部211上的正投影的面积。由于在检测端子的下方增加第一金属部，因此增加了检测端子的高度，减小了检测端子与间隙子之间的高度差，从而避免受到间隙子的干扰。
[0032]在一实施方式中，如图4所示，为了进一步增大检测端子的高度，所述第一金属层22还包括：栅极222，所述栅极222位于所述显示区域102内；所述第一金属部221的厚度大于所述栅极222的厚度。当然，在其他实施方式中，第一金属部221的厚度也可等于所述栅极222的厚度。
[0033]在另一实施例中，如图3和图4所示，所述显示面板还包括：第本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示面板，其特征在于，包括：检测区域，所述显示面板还包括：衬底基板，包括第一子部，所述第一子部的位置与所述检测区域的位置对应；阳极层，包括检测端子，所述检测端子设于所述第一子部上；限定层，设于所述第一子部上，所述限定层上设置有开口区域，所述开口区域的位置与所述检测端子的位置对应；所述检测端子的高度至少大于所述限定层的高度；间隙子，设于所述限定层上。2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：第一金属层，包括第一金属部，所述第一金属部设于所述第一子部和所述检测端子之间，所述检测端子设于所述第一金属部的上方，所述检测端子覆盖部分所述第一金属部。3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：显示区域；所述第一金属层还包括：栅极，所述栅极位于所述显示区域内；所述第一金属部的厚度大于所述栅极的厚度。4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：第二金属层，设于所述第一金属层和所述阳极层之间，所述第二金属层包括第二金属部；所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭文龙，
申请(专利权)人：武汉华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。