一种AMOLED屏体外观视觉检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种AMOLED屏体外观视觉检测方法及其装置。其中方法包括以下步骤：S1.选取浅色载台，并将待检AMOLED屏体放置在浅色载台上；S2.频闪光源分别固定在待检AMOLED屏体侧上方，分别以高角度和低角度照射在待检AMOLED屏体上；S3.在频闪光源的反射光线方向安装线阵相机，线阵相机接受高角度和低角度的反射光线成像；S4.线阵相机对图像进行采集；S5.对图像进行分析处理并得到数据处理结果；S6.根据数据处理结果判断是否符合检测要求，若不符合，则进一步微调频闪光源角度，优化打光方案直至符合检出算法需求。本发明专利技术提高了外观检测的准确性，同时多张照片可以并行处理，提高检出速度。出速度。出速度。

【技术实现步骤摘要】
一种AMOLED屏体外观视觉检测方法及装置


[0001]本专利技术涉及外观检测领域，特别涉及一种AMOLED屏体外观视觉检测方法及其装置。

技术介绍

[0002]对于面板显示，特别是AMOLED平板显示制造行业，由于产品生产工艺流程较多，制造环节复杂，生产过程中无法避免会对产品外观造成一定的缺陷，例如划伤、凹凸点、脏污、破损等，而屏体的外观缺陷不仅会影响其美观，还可能对屏体性能造成影响，因此必须要对屏体进行外观检测，甄选优良产品流入模组工艺段，即可节省成本，又可为工艺改善提供依据。目前绝大多数的外观检测是通过人工检查的方式，此方式容易造成视觉疲劳，造成误判，而且检查速度慢，影响生产效率，因此基于机器视觉的外观检测设备开始进入，但因为AMOELD屏体结构的特殊性，例如存在AA区域非AA区，而且不同区域的材料特性、微观结构迥异，要在一个检测环节实现高效检出目前尚难达到，导致视觉检测设备并不能同时满足每个项目的检测要求。

技术实现思路

[0003]本专利技术针对现存问题，提供一种AMOLED屏体外观视觉检测方法及其装置，旨在解决现有屏体检测方式速度慢、效率低的问题。
[0004]本专利技术提供一种AMOLED屏体外观视觉检测方法，包括以下主要步骤：S1.选取浅色载台，并将待检AMOLED屏体放置在浅色载台上；S2.两个以上频闪光源分别固定在待检AMOLED屏体侧上方，分别以高角度和低角度照射在待检AMOLED屏体上；S3.在频闪光源的反射光线方向安装线阵相机，线阵相机接受高角度、低角度的反射光线成像；S4.按照频闪光源的频闪时序，利用线阵相机对图像进行时分采集；S5.对图像进行分析处理并得到数据处理结果；S6.根据数据处理结果判断是否符合待检AMOLED屏体在不同区域都能实施缺陷检测的要求，若不符合，则进一步微调频闪光源角度，优化打光方案直至符合检出算法需求。
[0005]作为本专利技术的进一步改进，所述步骤S1中，浅色载台的选取标准为待检AMOLED屏体边缘线路区成像清晰。
[0006]作为本专利技术的进一步改进，所述步骤S3具体包括：S31.在高角度频闪光源的反射光线方向附近安装线阵相机，线阵相机的安装角度以接收高角度频闪光源的反射光线并避开接收到最亮的光为基准；S32.低角度频闪光源的安装角度以线阵相机接收到的反射光线达到最亮为基准。
[0007]作为本专利技术的进一步改进，所述步骤S4具体包括：高角度和低角度的频闪光源之间以设定的频率进行交叉闪烁，光源控制器控制线阵相机分别在两个频闪光源照亮待检
AMOLED屏体的时间段内交替进行不间断采集图像，得到一张明暗相间的图像。
[0008]作为本专利技术的进一步改进，所述步骤S5包括：S51.根据线阵相机采集出明暗相间的图像，经图像处理将一张图片拆分成一张明场图像与一张暗场图像；S52.对两张图像分别进行图像重构、二值化处理、特征提取、数据分析，最后，将数据处理结果输出。
[0009]本专利技术还提供一种AMOLED屏体外观视觉检测装置，包括发出并反射光源的打光模块、采集图像的线扫成像模块、对图像进行分析处理并得到数据处理结果的图像分析处理模块，所述打光模块包括第一频闪光源、第二频闪光源、放置待检AMOLED屏体的浅色载台，所述线扫成像模块包括线阵相机，所述第一频闪光源、第二频闪光源分别以高角度、低角度固定在待检AMOLED屏体侧上方，所述线阵相机设置在第一频闪光源、第二频闪光源的反射光线方向上，所述线阵相机、浅色载台分别连接并传输数据到图像分析处理模块。
[0010]作为本专利技术的进一步改进，所述第一频闪光源以高角度照射在待检AMOLED屏体上，所述线阵相机设置在第一频闪光源的反射光线方向上并避开接收到最亮的光，所述第二频闪光源以低角度照射在待检AMOLED屏体上，所述第二频闪光源设置的角度以线阵相机接收到的反射光线达到最亮为准。
[0011]作为本专利技术的进一步改进，所述打光模块包括光源控制器，所述光源控制器一端分别连接并控制第一频闪光源、第二频闪光源，所述光源控制器另一端连接图像分析处理模块。
[0012]作为本专利技术的进一步改进，所述线扫成像模块包括变焦镜头、平稳运动的机械平台，所述变焦镜头连接在线阵相机的拍摄头处，所述线阵相机固定在机械平台上。
[0013]作为本专利技术的进一步改进，所述浅色载台放置待测的快速移动物体，所述第一频闪光源、第二频闪光源分别照射在物体移动路径上的一个区域，所述线阵相机接收第一频闪光源、第二频闪光源反射该区域的反射光线。
[0014]本专利技术的有益效果是：同步利用高角度与低角度频闪光源，线阵相机一次运动获得高角度与低角度两张图片，提高效率，减少成本；高角度图片AMOLED屏体表面具有凹凸感的瑕疵易于检测，同时减弱AMOLED屏体表面的微小划伤与脏污等瑕疵的影响，低角度对AMOLED屏体边缘的瑕疵易于检测，极大便利对AMOLED屏体的发光区和连接pin区进行自动视觉检测。提高了外观检测的准确性，同时两张照片可以并行处理，提高检出速度。
附图说明
[0015]图1: 本专利技术一种AMOLED屏体外观视觉检测方法的流程图；图2: 本专利技术一种AMOLED屏体外观视觉检测装置的结构示意图；图3: 本专利技术检测过程中浅色背景与深色背景对比图；图4: 本专利技术中外观缺陷检出示意图以及算法检出图。
具体实施方式
[0016]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。
[0017]实施例一：如图1和图2所示，本专利技术的一种面向AMOLED屏体的外观视觉检测方法及装置，通过光源的高低角度结合以及图像分析处理模块，保证外观检测的速度与准确性，主要用于AMOLED屏的外观AOI检测。
[0018]其中视觉检测方法具体流程包括以下步骤：S1.选取浅色载台4，并将待检AMOLED屏体3放置在浅色载台4上；S2.两个以上频闪光源分别固定在待检AMOLED屏体3侧上方，分别以高角度和低角度照射在待检AMOLED屏体3上；S3.在频闪光源的反射光线方向安装线阵相机5，线阵相机5接受高角度、低角度的反射光线成像；S4.按照频闪光源的频闪时序，利用线阵相机5对图像进行采集；S5.对图像进行分析处理并得到数据处理结果；S6.根据数据处理结果判断是否符合待检AMOLED屏体3在不同区域都能实施缺陷检测的要求，若不符合，则进一步微调频闪光源角度，优化打光方案直至符合检出算法需求。
[0019]利用高角度与低角度频闪光源，一次运动可分别拍出高角度与低角度两张照片，相当于两台相机分别拍出高角度与低角度，提高效率，减少成本；高角度照射对AMOLED屏表面具有凹凸感的瑕疵易于检测，同时可以减弱AMOLED屏表面的微小划伤与脏污等瑕疵，低角度照射对AMOLED屏边缘的瑕疵易于检测。
[0020]步骤S1中浅色载台4的选取标准为待检AMOLED屏体3边缘线路区成像清晰。载台选择浅色背景，确保外观边缘线路区可以清晰成像，避免误判。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种AMOLED屏体外观视觉检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1.选取浅色载台，并将待检AMOLED屏体放置在浅色载台上；S2.两个以上频闪光源分别固定在待检AMOLED屏体侧上方，分别以高角度和低角度照射在待检AMOLED屏体上；S3.在频闪光源的反射光线方向安装线阵相机，线阵相机接受高角度、低角度的反射光线成像；S4.按照频闪光源的频闪时序，利用线阵相机对图像进行时分采集；S5.对图像进行分析处理并得到数据处理结果；S6.根据数据处理结果判断是否符合待检AMOLED屏体在不同区域都能实施缺陷检测的要求，若不符合，则进一步微调频闪光源角度，优化打光方案直至符合检出算法需求。2.根据权利要求1所述AMOLED屏体外观视觉检测方法，其特征在于，所述步骤S1中，浅色载台的选取标准为待检AMOLED屏体边缘线路区成像清晰。3.根据权利要求1所述AMOLED屏体外观视觉检测方法，其特征在于，所述步骤S3具体包括：S31.在高角度频闪光源的反射光线方向附近安装线阵相机，线阵相机的安装角度以接收高角度频闪光源的反射光线并避开接收到最亮的光为基准；S32.低角度频闪光源的安装角度以线阵相机接收到的反射光线达到最亮为基准。4.根据权利要求1所述AMOLED屏体外观视觉检测方法，其特征在于，所述步骤S4具体包括：高角度和低角度的频闪光源之间以设定的频率进行交叉闪烁，光源控制器控制线阵相机分别在两个频闪光源照亮待检AMOLED屏体的时间段内交替进行不间断采集图像，得到一张明暗相间的图像。5.根据权利要求4所述AMOLED屏体外观视觉检测方法，其特征在于，所述步骤S5包括：S51.根据线阵相机采集出明暗相间的图像，经图像处理将一张图片拆分成一张明场图像与一张暗场图像；S52.对两张图像分别进行...

【专利技术属性】
技术研发人员：李娜，郑跃瑜，田欢欢，李浪浪，
申请(专利权)人：苏州佳智彩光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：