用于功率干扰指示的测量设备及其操作方法技术

本发明专利技术题为“用于功率干扰指示的测量设备及其操作方法”。系统和方法提供了响应于对绝缘导线中的电信号的限定缺陷的检测而显示缺陷指示器。测量系统可包括尺寸和形状被设定成握持在手中的外壳、用于感测电信号的一组电特性的一组传感器、一个或多个处理器、以及设置在外壳的表面上的显示器。测量系统可从一组传感器获得测量结果，并且基于一组测量结果来检测限定缺陷的存在。响应于检测到限定缺陷的存在，测量系统可显示表示所检测到的限定缺陷的缺陷指示器。缺陷指示器。缺陷指示器。

【技术实现步骤摘要】
用于功率干扰指示的测量设备及其操作方法


[0001]本公开整体涉及电特性的测量，并且更具体地讲，涉及电路中电参数的测量。

技术介绍

[0002]电测试设备用于测量电路中的电信号的电特性。例如，电压表测量电路中的交流（AC）电压和直流（DC）电压，而电流表可测量电路中的AC和/或DC电流。一些电测试设备的尺寸和形状可被设定成允许用户握持和携带该设备。然而，这种较小的形状因数限制了设备可提供的关于电路的测量的信息量。此类设备具有屏幕，该屏幕太小以至于不能充分详细地显示关于电路的信息，从而无法诊断电路中的某些状况。此外，这类电测试设备可不被配置为提供关于某些状况的诊断的有意义的信息。例如，前述手持式数字万用表中的一些仅被配置为显示关于检测的电压电平或检测的电流电平的瞬时测量结果。
[0003]在频谱的另一端，较高端的电测试设备具有被设计用于受控测试环境的形状因数，并且被配置为向用户显示波形。此类先进的电测试设备通常太大而不能被用户握持并从直接连接到待测试电路的测试探针接收输入。虽然这些先进的电测试设备提供了更高级别的细节，但它们也很麻烦，操作可能耗时，并且需要用户拥有大量专业知识来操作和理解。因此，在某些设置下检测电路中的问题可能是困难的、昂贵的和耗时的，诸如空间有限或在野外。

技术实现思路

[0004]本文所公开的测量系统和测量设备的实施方案具有尺寸和形状被设定成握持在手中的外壳。外壳包括一组传感器，该组传感器被配置为感测绝缘导线中的电信号的一组电特性而不与绝缘导线电接触，外壳设置有显示器，并且位于外壳中的一个或多个处理器可操作地耦接到该组传感器。
[0005]一个或多个处理器在操作中从一组传感器接收由一组传感器在测量时间间隔期间获得的一组测量结果。一组测量结果指示绝缘导线中的电信号的一组电特性。一个或多个处理器在操作中基于一组测量结果来检测与绝缘导线中的电信号相关联的限定缺陷，并且响应于检测到限定缺陷，在显示器上显示表示与绝缘导线中的电信号相关联的缺陷的缺陷指示器。在操作中，一个或多个处理器被配置为检测电信号中的多个限定缺陷，并且限定缺陷是多个限定缺陷中的一个限定缺陷。
[0006]在一些实施方案中，一组传感器包括：位于外壳中的电压传感器，在操作中，该电压传感器感测绝缘导线中的电压而不与绝缘导线电接触；和位于外壳中的电流传感器，在操作中，该电流传感器感测绝缘导线中的电流而不与绝缘导线电接触。缺陷指示器可为多个缺陷指示器中的一个缺陷指示器，该多个缺陷指示器包括各自表示与电信号相关联的电压缺陷的第一组缺陷指示器和各自表示与电信号相关联的电流缺陷的第二组缺陷指示器。在操作中，一个或多个处理器可使得显示器在显示器的限定区域中显示缺陷指示器。缺陷指示器可指示在电信号中检测到的缺陷状况的类型。一个或多个处理器可使得显示器显示
字母数字字符，该字母数字字符提供关于与缺陷指示器的显示相关联的限定缺陷的细节。
[0007]在一些实施方案中，测量系统的一个或多个处理器评估一组测量结果是否满足多个状况中的状况，多个状况中的每个状况与多个缺陷指示器中的对应缺陷指示器相关联。检测到限定缺陷可基于确定一组测量结果中的一个或多个测量结果满足该状况，并且所显示的缺陷指示器与该状况相关联。
[0008]在一些实施方案中，测量系统包括无线通信接口。在操作中，一个或多个处理器可被配置为使得无线通信接口经由该无线通信接口传输信号，该信号提供指示与缺陷相关联的缺陷指示器的信息。该信号可使得独立的基于处理器的设备向用户显示缺陷指示器。
[0009]测量设备的操作的方法包括由测量设备的处理器接收由测量设备的一组传感器在测量时间间隔期间获得的一组测量结果，该组测量结果指示绝缘导线中的电信号的一组电特性。该方法包括执行对一组测量结果的分析，以及基于分析的结果来检测电信号中是否存在多个限定缺陷中的限定缺陷。该方法包括，响应于确定电信号中存在限定缺陷，显示指示电信号中存在该缺陷的缺陷指示器。
[0010]有利地，测量设备或系统提供绝缘导线中的电信号中存在电缺陷的快速指示。缺陷指示可为用户可在测量设备或相关联设备的显示器上识别的符号、图像、数字或其他视觉指示器的形式。用户可基于缺陷指示确定对绝缘导线或与其相关联的系统的进一步调查是必要的，诸如通过用更先进的测试设备诊断问题。这在其中对待测试绝缘导线的访问受限或其中要测试大量绝缘导线的情况下可能是有用的。本领域的技术人员可理解本文所公开的附加优点。
附图说明
[0011]在附图中，相同的附图标记指示相似的元件或动作。附图中的元件的大小和相对位置不一定按比例绘制。例如，各种元件的形状和角度不一定按比例绘制，并且这些元件中的一些可能被任意地放大和定位，以提高附图的可读性。此外，绘制的元件的特定形状不一定意图传达关于特定元件的实际形状的任何信息，并且可能仅为了便于在附图中识别而被选择。
[0012]图1是根据至少一个例示的具体实施的环境的示意图，其中操作者可以使用测量系统来测量存在于绝缘导线的电信号的一组电特性，而无需与导线电接触；图2是可结合本公开的至少一些特征的示例性测量系统的前正视图；图3是根据至少一个例示的具体实施的测量系统的示意性框图；图4是根据一个或多个具体实施的测量系统的显示器的视图；图5是根据一个或多个具体实施的测量系统的显示器的视图；图6是根据一个或多个具体实施的用于在测量系统的显示器上显示的一组示例性缺陷指示器；图7是根据一个或多个具体实施的示例性测量系统的前正视图；图8是根据一个或多个具体实施作为遥感设备操作的示例性测量系统的前正视图；图9是根据一个或多个具体实施的示例性测量系统的前正视图；并且图10是根据一个或多个具体实施的测量系统的操作的方法。
具体实施方式
[0013]本公开的系统和方法提供由测量设备检测绝缘导线中的电信号的一组限定缺陷，并且由于该缺陷使得显示缺陷指示器。如本文所用，缺陷指示器是指表示检测到的对应缺陷状况的符号、图标或其他视觉图像。在至少一些实施方案中，测量设备被配置为测量绝缘导线中的一组电特性，而无需绝缘导线与测试电极或探针之间的电连接。整体上，本文公开了包括外壳的“非接触式测量系统”，该外壳包括非接触式电流传感器和非接触式电压传感器。非接触式电流传感器类型的非限制性示例包括磁场传感器，诸如各向异性磁阻(AMR)传感器、巨磁电阻(GMR)传感器、磁通门传感器、超导量子干涉传感器、光纤传感器、光泵传感器、核处理传感器、搜索线圈传感器、磁敏晶体管传感器、磁敏二极管传感器、磁光传感器、霍尔效应传感器、罗戈夫斯基线圈、电流互感器或其他类型的磁场传感器。非接触式电压传感器类型的非限制性示例为电容分压器型电压传感器、参考信号型电压传感器、多电容器型电压传感器等。下文更详细地讨论了电压传感器和电流传感器的示例性具体实施。
[0014]本文所公开的测量系统可包括感测绝缘导线中电信号的电特性的一组传感器以及从该组传感器接收测量结果的一个或多个处理器。该组传感器可包括电压传感器，该电压传感器被配置为生成指示绝缘导本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量设备，包括：外壳，所述外壳的尺寸和形状被设定成握持在手中；一组传感器，所述一组传感器被配置为感测绝缘导线中的电信号的一组电特性而不与所述绝缘导线电接触；显示器，所述显示器设置在所述外壳上；和位于所述外壳中的一个或多个处理器，所述一个或多个处理器操作地耦接到所述一组传感器，其中在操作中，所述一个或多个处理器：从所述一组传感器接收由所述一组传感器在测量时间间隔期间获得的一组测量结果，所述一组测量结果指示所述绝缘导线中的所述电信号的所述一组电特性；基于所述一组测量结果来检测与所述绝缘导线中的所述电信号相关联的限定缺陷；以及响应于检测到所述限定缺陷，在所述显示器上显示表示与所述绝缘导线中的所述电信号相关联的所述缺陷的缺陷指示器。2. 根据权利要求1所述的测量设备，其中所述一组传感器包括：电压传感器，所述电压传感器位于所述外壳中，在操作中，所述电压传感器感测所述绝缘导线中的电压而不与所述绝缘导线电接触；和电流传感器，所述电流传感器位于所述外壳中，在操作中，所述电流传感器感测所述绝缘导线中的电流而不与所述绝缘导线电接触。3.根据权利要求1所述的测量设备，其中所述缺陷指示器是多个缺陷指示器中的一个缺陷指示器，所述多个缺陷指示器包括各自表示与所述电信号相关联的电压缺陷的第一组缺陷指示器和各自表示与所述电信号相关联的电流缺陷的第二组缺陷指示器。4.根据权利要求1所述的测量设备，其中所述一个或多个处理器在操作中被配置为检测所述电信号中的多个限定缺陷，并且所述限定缺陷是所述多个限定缺陷中的一个限定缺陷。5.根据权利要求1所述的测量设备，其中所述一个或多个处理器在操作中使得所述显示器在所述显示器中的限定区域中显示所述缺陷指示器。6.根据权利要求1所述的测量设备，其中所述缺陷指示器指示在所述电信号中检测到的缺陷状况的类型。7.根据权利要求1所述的测量设备，其中在操作中，所述一个或多个处理器：评估所述一组测量结果是否满足多个状况中的状况，所述多个状况中的每个状况与多个缺陷指示器中的对应缺陷指示器相关联，其中所述限定缺陷的检测基于确定所述一组测量结果中的一个或多个测量结果满足所述状况，并且所显示的所述缺陷指示器与所述状况相关联。8.根据权利要求7所述的测量设备，其中所述多个状况包括选自以下的两个或更多个状况：具有标称电平的差值、波形失真、超过可接受偏差的变化、信号干扰事件、两个或更多个电信号之间的信号不平衡以及功率因数缺陷。9. 根据权利要求7所述的测量设备，其中所述状况为与多个限定信号电平中的限定信号电平的偏差相关的信号偏差状况，并且在操作中，所述一个或多个处理器：确定在所述测量时间间隔期间获得的所述一组测量结果与针对所述一组电特性中的
电特性的检测到的限定信号电平之间的差值满足所述信号偏差状况；以及由于所述差值的确定，使得所述显示器显示与所述信号偏差状况相关联的所述缺乏指示器。10.根据权利要求7所述的测量设备，其中所述状况是谐波失真状况，并且在操作中，所述一个或多个处理器：基于所述一组测量结果来计算与所述电信号相关联的谐波失真；确定所述谐波失真满足所述谐波失真状况；以及由于所述确定，使得所述显示器显示与所述谐波失真状况相关联的缺陷指示器。11.根据权利要求7所述的测量设备，其中所述状况是信号变化状况，并且在操作中，所述一个或多个处理器：计算所述一组测量结果中的测量结果的子集的代表性值，所述测量结果的子集对应于比所述测量时间间隔短的时间间隔；确定所述一组测量结果中的测量结果满足所述信号变化状况；以及由于所述确定，使得所述显示器显示与所述信号变化状况相关联的缺陷指示器。12. 根据权利要求7所述的测量设备，其中所述状况是信号干...

【专利技术属性】
技术研发人员：E，
申请(专利权)人：弗兰克公司，
类型：发明
国别省市：