一种图像校正方法、装置、设备和介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种图像校正方法、装置、设备和介质，所述方法包括：对待校正图像中的曲线进行检测，基于检测结果进行曲线拟合，得到上端校正曲线函数和下端校正曲线函数；基于所述上端校正曲线函数和所述下端校正曲线函数对所述待校正图像的像素点进行调整，得到第一校正图像；基于所述上端校正曲线函数的斜率和/或所述下端校正曲线函数的斜率对所述第一校正图像的像素点进行调整，得到第二校正图像。本发明专利技术的主要目的是实现基于曲线检测对扭曲图像进行校正。曲图像进行校正。曲图像进行校正。

【技术实现步骤摘要】
一种图像校正方法、装置、设备和介质


[0001]本专利技术涉及到图像处理领域，特别是涉及到一种图像校正方法、装置、设备和介质。

技术介绍

[0002]在日常生活、工作、学习中，用手机、摄像头、扫描仪等图像采集设备获取的图像可能存在一定程度的扭曲，这种扭曲的图像不便于阅读，也不便于对图像进行进一步处理。
[0003]目前，主要依靠photoshop、coreldraw等图像处理软件来校正扭曲的图像。然而，这种校正图像的方法不仅效率较低，而且在校正扭曲图像时难以保证校正效果。
[0004]目前，已经有了一些比较成熟的曲线检测方法，这些被检测的曲线可以是图像中的物体边缘线，也可以是图像中画出的曲线，这使得基于图像中的曲线进行图像校正成为可能。例如，之前，本申请人已向中国国家专利局提交了名称为“一种曲线检测方法、装置、设备和介质”的专利技术申请，申请号为“2020107882450”，该方法主要目的是提高对沿着水平方向或其他方向有一定程度弯曲的普通曲线的检测效果和效率；通过该方法，可获得曲线点集合，还可对曲线点集合中的点进行拟合得到曲线函数。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供了一种图像校正方法、装置、设备和介质，主要目的是实现基于曲线检测对扭曲图像进行校正。
[0006]本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的：
[0007]第一方面，本专利技术提供了一种图像校正方法，所述方法包括：
[0008]对待校正图像中的曲线进行检测，基于检测结果进行曲线拟合，得到上端校正曲线函数和下端校正曲线函数；
[0009]基于所述上端校正曲线函数和所述下端校正曲线函数对所述待校正图像的像素点进行调整，得到第一校正图像；
[0010]基于所述上端校正曲线函数的斜率和/或所述下端校正曲线函数的斜率对所述第一校正图像的像素点进行调整，得到第二校正图像。
[0011]优选地，所述基于所述上端校正曲线函数和所述下端校正曲线函数对所述待校正图像的像素点进行调整，得到第一校正图像，包括：
[0012]对所述待校正图像中每列像素点，设置上端参考点坐标(x，y01)和下端参考点坐标(x，y02)；
[0013]对所述待校正图像中每列像素点，计算所述上端校正曲线函数点坐标(x，y1)和所述下端校正曲线函数点坐标(x，y2)；
[0014]对所述待校正图像中每列像素点，计算上端标准偏移量Δy1和下端标准偏移量Δy2，其中，Δy1＝y01-y1，Δy2＝y02-y2；
[0015]对所述待校正图像每列的各像素点(x，y)，计算各点位置偏移量(0，Δy)，其中：Δ
y＝Δy1
×
[(y02-y)/(y02-y01)]+Δy2
×
[(y-y01)/(y02-y01)]，或Δy＝Δy1
×
[(y2-y)/(y2-y1)]+Δy2
×
[(y-y1)/(y2-y1)]；
[0016]基于所述各点位置偏移量对所述待校正图像的像素点进行调整，得到第一校正图像。
[0017]优选地，所述基于所述上端校正曲线函数的斜率和/或所述下端校正曲线函数的斜率对所述第一校正图像的像素点进行调整，得到第二校正图像，包括：
[0018]对所述第一校正图像中每列，获得所述列的校正斜率K
n
，其中，下标n是所述列的列数，K
n
表示第n列的校正斜率，K
n
等于所述上端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值或所述下端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值或所述上端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值与所述下端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值的均值；
[0019]设置所述校正斜率的梯度阈值和所述梯度阈值对应的插值列数；
[0020]对所述第一校正图像中每列，基于所述校正斜率K
n
、所述梯度阈值和所述梯度阈值对应的插值列数，在所述列进行像素点插值调整，得到第二校正图像。
[0021]优选地，所述梯度阈值包括阈值A和阈值B，其中，0.2≤所述阈值A≤0.4，0.5≤所述阈值B≤0.8；所述阈值A对应的插值列数为1，所述阈值B对应的插值列数为2。
[0022]优选地，所述基于所述上端校正曲线函数的斜率和/或所述下端校正曲线函数的斜率对所述第一校正图像的像素点进行调整，得到第二校正图像，包括：
[0023]对所述第一校正图像中每列，获得所述列的校正斜率K
n
，其中，下标n是所述列的列数，K
n
表示第n列的校正斜率，K
n
等于所述上端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值或所述下端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值或所述上端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值与所述下端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值的均值；
[0024]对所述第一校正图像中每列，计算从第1列到所述列(第n列)的累计扭曲量f(n):
[0025][0026]其中，f(n)为所述累计扭曲量，K
i
为第i列的所述校正斜率；
[0027]对所述第一校正图像中每列，基于所述累计扭曲量进行像素点插值调整，得到第二校正图像。
[0028]优选地，所述对所述第一校正图像中每列，基于所述累计扭曲量进行像素点插值调整，包括：
[0029]设置调整系数m和m
max
:
[0030][0031]其中，m为所述调整系数，K
max
为所述校正斜率中的最大值，c为常数且1≤c≤10，m
max
为常数且0<m
max
≤6，如果所述调整系数m＞m
max
取m＝m
max
；
[0032]计算调整步长β:
[0033][0034]其中，β为所述调整步长，K
max
为所述校正斜率中的最大值，m为所述调整系数；
[0035]对所述第一校正图像中每列，计算Z(n)，Z(n)等于f(n)
÷
β的整数部分值，其中，n
为所述列的列数，f(n)为所述累计扭曲量，β为所述调整步长；
[0036]对所述第一校正图像中每列，计算D(n)，D(n)＝Z(n)-Z(n-1)，其中，n为所述列的列数，n-1为所述列的前一列的列数；
[0037]对所述第一校正图像中每列，在所述列(第n列)进行插入D(n)列的像素点插值调整。
[0038]可选地，在所述对待校正图像中的曲线进行检测，基于检测结果进行曲线拟合，得到上端校正曲线函数和下端校正曲线函数之前，所述方法还包括：
[0039]对包含目标区域的图像中的曲线进行检测，基于检测结果获得所述目标区域的四个角点坐标；
[0040]将所述四个角点坐标范围内的图像变换成矩形图像，得到所述待校正图像。
[0041]第二方面，本专利技术还提供了一种图像校正装置，所述装置包括：<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像校正方法，其特征在于，所述方法包括：对待校正图像中的曲线进行检测，基于检测结果进行曲线拟合，得到上端校正曲线函数和下端校正曲线函数；基于所述上端校正曲线函数和所述下端校正曲线函数对所述待校正图像的像素点进行调整，得到第一校正图像；基于所述上端校正曲线函数的斜率和/或所述下端校正曲线函数的斜率对所述第一校正图像的像素点进行调整，得到第二校正图像。2.根据权利要求1所述的一种图像校正方法，其特征在于，所述基于所述上端校正曲线函数和所述下端校正曲线函数对所述待校正图像的像素点进行调整，得到第一校正图像，包括：对所述待校正图像中每列像素点，设置上端参考点坐标(x，y01)和下端参考点坐标(x，y02)；对所述待校正图像中每列像素点，计算所述上端校正曲线函数点坐标(x，y1)和所述下端校正曲线函数点坐标(x，y2)；对所述待校正图像中每列像素点，计算上端标准偏移量Δy1和下端标准偏移量Δy2，其中，Δy1＝y01-y1，Δy2＝y02-y2；对所述待校正图像每列的各像素点(x，y)，计算各点位置偏移量(0，Δy)，其中：Δy＝Δy1
×
[(y02-y)/(y02-y01)]+Δy2
×
[(y-y01)/(y02-y01)]，或Δy＝Δy1
×
[(y2-y)/(y2-y1)]+Δy2
×
[(y-y1)/(y2-y1)]；基于所述各点位置偏移量对所述待校正图像的像素点进行调整，得到第一校正图像。3.根据权利要求1所述的一种图像校正方法，其特征在于，所述基于所述上端校正曲线函数的斜率和/或所述下端校正曲线函数的斜率对所述第一校正图像的像素点进行调整，得到第二校正图像，包括：对所述第一校正图像中每列，获得所述列的校正斜率L
n
，其中，下标n是所述列的列数，K
n
表示第n列的校正斜率，K
n
等于所述上端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值或所述下端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值或所述上端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值与所述下端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值的均值；设置所述校正斜率的梯度阈值和所述梯度阈值对应的插值列数；对所述第一校正图像中每列，基于所述校正斜率K
n
、所述梯度阈值和所述梯度阈值对应的插值列数，在所述列进行像素点插值调整，得到第二校正图像。4.根据权利要求3所述的一种图像校正方法，其特征在于，所述梯度阈值包括阈值A和阈值B，其中，0.2≤所述阈值A≤0.4，0.5≤所述阈值B≤0.8；所述阈值A对应的插值列数为1，所述阈值B对应的插值列数为2。5.根据权利要求1所述的一种图像校正方法，其特征在于，所述基于所述上端校正曲线函数的斜率和/或所述下端校正曲线函数的斜率对所述第一校正图像的像素点进行调整，得到第二校正图像，包括：对所述第一校正图像中每列，获得所述列的校正斜率K
n
，其中，下标n是所述列的列数，K
n
表示第n列的校正斜率，K
n
等于所述上端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值或所述下端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值或所述上端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值与
所述下端校正曲线函数在所述列的斜率绝对值的均值；对所述第一校正图像中每列，计算从第1列到所述列(第n列)的累计扭曲量f(n):其中，f(n)为所述累计扭曲量，K
i
为第i列的所述校正斜率；对所述第一校正图像中每列，基于所述累计扭曲量进行像素点插值调整，得到第二校正图像。6.根据权利要求5所述的一种图像校正方法，其特征在于，所述对所述第一校正图像中每列，基于所述累计扭曲量进行像素点插值调整，包括：设置调整系数m和m
max
:其中，m为所述调整系数，K
max
为所述校正斜率中的最大值，c为常数且1≤c≤10，m
max
为常数且0&lt;m
max
≤6，如果所述调整系数m＞m
max
取m＝m
max
；计算调整步长β:其中，β为所述调整步长，K
max
为所述校正斜率中的最大值，m为所述调整系数；对所述第一校正图像中每列，计算Z(n)，Z(n)等于f(n)
÷
β的整数部分值，其中，n为所述列的列数，f(n)为所述累计扭曲量，β为所述调整步长；对所述第一校正图像中每列，计算D(n)，D(n)＝Z(n)-Z(n-1)，其中，n为所述列的列数，n-1为所述列的前一列的列数；对所述第一校正图像中每列，在所述列(第n列)进行插入D(n)列的像素点插值调整。7.根据权利要求1所述的一种图像校正方法，其特征在于，在所述对待校正图像中的曲线进行检测，基于检测结果进行曲线拟合，得到上端校正曲线函数和下端校正曲线函数之前，所述方法还包括：对包含目标区域的图像中的曲线进行检测，基于检测结果获得所述目标区域的四个角点坐标；将所述四个角点坐标范围内的图像变换成矩形图像，得到所述待校正图像。8.一种图像校正装置，其特征在于，所述装置包括：校正曲线函数获取单元，用于对待校正图像中的曲线进行检测，基于检测结果进行曲线拟合，得到上端校正曲线函数和下端校正曲线函数；第一校正单元，用于基于所述上端校正曲线函数和所述下端...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜乐强，
申请(专利权)人：成都市精卫鸟科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：