一种内孔测量规检具制造技术

本发明专利技术公开一种内孔测量规检具，用于检测轴承孔的内径，包括形状为圆柱体的塞规体，塞规体内部设置底部开放的腔室，所述的塞规体的外壁与轴承孔的内壁相匹配，所述塞规体的底圆直径方向上镜像对称可活动设置2个第一测砧；还包括和1个第二测砧，所述的第二测砧轴向垂直可活动穿设在所述的腔室内，所述的第二测砧的底部设置变径结构，所述的变径结构抵接于2个第一测砧的正中间；所述的2个第一测砧用于径向相对靠近变径结构方向移动进而挤压所述的变径结构向上轴向移动；所述的第二测砧的上端同轴设置检测件，所述的检测件用于检测第二测砧的轴向位移。该检具无需人工调整，测量快速。提高了检测精度，更加快速有效检测轴承孔加工尺寸。加工尺寸。加工尺寸。

【技术实现步骤摘要】
一种内孔测量规检具


[0001]本专利技术涉及量具检具
，具体涉及一种内孔测量规检具。

技术介绍

[0002]近年来，变速器产量日益增加，加工质量要求也在不断提升，壳体类零件中轴承孔一直采用内径百分表和校对规进行比对测量，轴承孔下方无结构支撑，为悬空结构，内径表操作过程中需要调试找到最小值，即为测量值，检测过程操作不便，操作手法不同，也会影响测量结果；测量截面随机，不固定。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种内孔测量规检具，用以解决现有技术中的壳体类零件中轴承孔内径测量时遇到的问题。
[0004]为了实现上述任务，本专利技术采用以下技术方案：
[0005]一种内孔测量规检具，用于检测轴承孔的内径，包括形状为圆柱体的塞规体，所述的塞规体内部设置底部开放的腔室，所述的塞规体的外壁与轴承孔的内壁相匹配，所述塞规体的底圆直径方向上镜像对称可活动设置2个第一测砧；
[0006]还包括和1个第二测砧，所述的第二测砧轴向垂直可活动穿设在所述的腔室内，所述的第二测砧的底部设置变径结构，所述的变径结构抵接于2个第一测砧的正中间；
[0007]所述的2个第一测砧用于径向相对靠近变径结构方向移动进而挤压所述的变径结构向上轴向移动；
[0008]所述的第二测砧的上端同轴设置检测件，所述的检测件用于检测第二测砧的轴向位移。
[0009]进一步的，所述的变径结构包括两个斜面，所述的两个斜面相交设置，交线与所述的第一测砧的轴线垂直；
[0010]所述的两个斜面均与所述的2个第一测砧的端部抵触，所述的斜面与所述的第二测砧的轴线之间的夹角为28
°
20'～28
°
30'。
[0011]进一步的，所述第一测砧包括沿塞规体的底圆直径方向依次设置的测头、测砧本体、连接传动杆和传动支撑座；
[0012]所述的测头穿设在所述塞规体的侧壁上，所述的测砧本体经过连接传动杆与所述的传动支撑座连接，所述的传动支撑座与所述的第二测砧接触。
[0013]具体的，所述的传动支撑座沿测砧本体轴向的一侧设置用于卡接所述连接传动杆的凹腔，所述的凹腔与所述的连接传动杆相匹配；
[0014]所述的传动支撑座沿测砧本体轴向的另一侧设置凸部，所述的凸部与所述的第二测砧的变径结构接触。
[0015]进一步的，所述的塞规体外壁套设可活动拆卸的限位件；
[0016]还包括校对环规，校对环规用于对塞规体底圆上的第一测砧进行校对归零。
[0017]进一步的，所述的第二测砧外部套设连接单元，所述的连接单元包括沿轴向自下而上依次设置的连接座、第一连接体和第二连接体；
[0018]所述的连接单元通过弹簧片单元与所述的传动支撑座连接。
[0019]具体的，所述的弹簧片单元包括与所述的第二测砧轴线平行的第一弹簧片和第二弹簧片。
[0020]进一步的，还包括连接固定在所述的塞规体上端面的端盖，所述的端盖套在所述的第一连接体外部。
[0021]具体的，所述的第二测砧顶部抵接设置测杆，沿所述的测杆轴向顶部设置安装段，所述的安装段外部套设第三弹簧，所述的安装段顶部连接设置检测件；
[0022]所述的测杆和所述的第三弹簧外部套设手柄，所述的手柄的底座压在所述的端盖上，所述的第二连接体设置在所述的手柄内部。
[0023]进一步的，所述的塞规体底部设置挡板。
[0024]本专利技术与现有技术相比具有以下技术效果：
[0025]本专利技术的精密塞规检具，采用为比较测量法，配置千分表，精度高；同时有限位圈，可根据需要固定测量某一深度的直径；该检具直接放置到所需孔径处测量，无需人工调整，测量快速，测量数值不受人工操作影响。提高了检测精度，更加快速有效检测轴承孔加工尺寸。
附图说明
[0026]图1为本专利技术的内孔测量规检具的剖面结构示意图；
[0027]图2为本专利技术的内孔测量规检具的测头组件爆炸结构示意图；
[0028]图3为本专利技术的内孔测量规检具的部分结构示意图；
[0029]图中标号代表：
[0030]1、校对环规；2、挡板；3、第一测砧；3-1、测头；3-2、连接传动杆；3-3、传动支撑座；3-3-1、第一连接孔；3-3-2、第二连接孔；3-3-3、凹腔；3-3-4、凸部；4、限位件；5、塞规体；6、测头组件；6-1、连接单元；6-1-1、第一连接座；6-1-2、第二连接座；6-1-3、第三连接孔；6-1-4、第四连接孔；6-1-5、第一连接体；6-1-6、第二连接体；6-2、第二测砧；6-2-1、斜面；6-3、第一弹簧片；6-3-1、第五连接孔；6-4、第二弹簧片；6-4-1、第六连接孔；7、端盖；8、手柄；8-1、第一手柄段；8-2、第二手柄段；8-3、底座；9、测杆；9-1、安装段；9-2、第三弹簧；10、千分表。
具体实施方式
[0031]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0032]需要说明，本专利技术在进行方位描述时，术语“上”、“下”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，“内”、“外”是指相应部件轮廓的内核外，不能将上述术语理解为对本专利技术的限制。
[0033]另外，在本专利技术中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。
[0034]在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0035]另外，本专利技术各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本专利技术要求的保护范围之内。
[0036]在本专利技术中“校对环规实测值”是指校对环规孔径尺寸的真实值。“校对环规实测值的偏差”是指与校对环规实测值(校对环规上会发印实测值)的差距，即测量轴承孔的内径时，2个第一测砧3的纵向位移经第二测砧6-2转换为轴向位移的位移值，此时，千分表的示数即为第二测砧6-2的轴向位移值。
[0037]该内孔测量规检具校零后，校对环规实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种内孔测量规检具，用于检测轴承孔的内径，包括形状为圆柱体的塞规体(5)，所述的塞规体(5)内部设置底部开放的腔室，其特征在于，所述的塞规体(5)的外壁与轴承孔的内壁相匹配，所述塞规体(5)的底圆直径方向上镜像对称可活动设置2个第一测砧(3)；还包括和1个第二测砧(6-2)，所述的第二测砧(6-2)轴向垂直可活动穿设在所述的腔室内，所述的第二测砧(6-2)的底部设置变径结构，所述的变径结构抵接于2个第一测砧(3)的正中间；所述的2个第一测砧(3)用于径向相对靠近变径结构方向移动进而挤压所述的变径结构向上轴向移动；所述的第二测砧(6-2)的上端同轴设置检测件，所述的检测件用于检测第二测砧(6-2)的轴向位移。2.根据权利要求1所述的内孔测量规检具，其特征在于，所述的变径结构包括两个斜面(6-2-1)，所述的两个斜面(6-2-1)相交设置，交线与所述的第一测砧(3)的轴线垂直；所述的两个斜面(6-2-1)均与所述的2个第一测砧(3)的端部抵触，所述的斜面(6-2-1)与所述的第二测砧(6-2)的轴线之间的夹角为28
°
20'～28
°
30'。3.根据权利要求2所述的内孔测量规检具，其特征在于，所述第一测砧(3)包括沿塞规体(5)的底圆直径方向依次设置的测头(3-1)、测砧本体、连接传动杆(3-2)和传动支撑座(3-3)；所述的测头(3-1)穿设在所述塞规体(5)的侧壁上，所述的测砧本体经过连接传动杆(3-2)与所述的传动支撑座(3-3)连接，所述的传动支撑座(3-3)与所述的第二测砧(6-2)接触。4.根据权利要求3所述的内孔测量规检具，其特征在于，所述的传动支撑座(3-3)沿测砧本体轴向的一侧设置用于卡接所述连接传动杆(3-2)的凹腔(3-3-3)，...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏雪姿，严鉴铂，寇植达，
申请(专利权)人：陕西法士特汽车传动集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：