一种高阻膜测试系统及其测试方法技术方案

本发明专利技术涉及一种高阻膜测试系统及其测试方法，包括上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置、附着力测量装置和控制装置。本发明专利技术的有益之处在于：能够通过硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置和附着力测量装置分别对高阻膜的硬度、厚度、透光效果、电阻值及附着力进行测试，降低人力投入，提高测试效率；除此之外，通过上卸料装置对高阻膜进行统一上卸料，保证检测过程的连续性，降低漏检几率，提高检测的准确性，并且降低整体空间占用。

【技术实现步骤摘要】
一种高阻膜测试系统及其测试方法
本专利技术涉及高阻膜测试领域，尤其涉及一种高阻膜测试系统及其测试方法。
技术介绍
In-Cell抗干扰高阻镀膜，是在液晶显示器的液晶像素中镀上一层抗干扰防静电的高电阻膜层，膜层电阻达到10^8欧姆，是一种既具有防触控信号干扰又具有防静电的功能薄膜。In-Cell：是将触控感应线路搭载于显示面板内部，在薄膜晶体管阵列基板与彩色滤光片之间形成的盒内部嵌入触摸传感器功能，能有效减少光学胶等多种材料的使用，增加透光性的同时减少显示器件的厚度。在镀膜结束后需要对镀膜的产品进行检测，现有技术都是通过人工手动进行检测，检测效率低，存在漏检风险。
技术实现思路
为了克服现有技术中的至少部分缺陷，本专利技术实施例提供了一种高阻膜测试系统及其测试方法，其能够快速完成对镀膜产品的检测。本专利技术提供的技术方案如下：一种高阻膜测试系统，包括上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置、附着力测量装置和控制装置，其中：所述硬度测量装置，用于对高阻膜的硬度进行检测，并将其与预设的硬度值进行对比，得出测试结果；所述厚度测量装置，用于对高阻膜的厚度进行检测，并将其与预设的厚度值进行对比，得出测试结果；所述亮度测量装置，用于对高阻膜的透光效果进行检测，并将其与预设的透光率进行对比，得出测试结果；所述电阻测量装置，用于对高阻膜的电阻进行检测，并将其与预设的电阻值进行对比，得出测试结果；所述附着力测量装置，用于对高阻膜的附着力进行检测，并将其与预设的电阻值进行对比，得出测试结果；所述上卸料装置，用于将待检测的高阻模转移到硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置和附着力测量装置的检测工位上，所述上卸料装置还用于将检测合格或不合格的产品移出检测工位；所述控制装置与上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置以及附着力测量装置信号连接，用于对上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置以及附着力测量装置进行控制。进一步地，所述上卸料装置包括转动盘和沿所述转动盘的圆周方向设置的若干个机械手，在所述转动盘上开设有检测凹槽和废品槽，所述机械手用于将所述高阻膜放置到所述检测凹槽、所述检测工位或所述废品槽中，所述上卸料装置还包括驱动所述转动盘转动的伺服电机，所述伺服电机与所述控制装置信号连接。进一步地，所述硬度测量装置包括硬度测试台和设置在所述硬度测试台上的硬度测试仪，所述硬度测试台包括可调节高度的支撑杆和连接在所述支撑杆上的支撑台面，所述支撑台面上开设有限位槽，所述硬度测试仪的底面位于所述限位槽中。进一步地，所述厚度测量装置包括基准台面和设置在所述基准台面一侧的厚度检测机构，所述厚度检测机构为膜厚台阶机。进一步地，所述亮度测量装置包括光源和检测透过所述高阻膜后的光线的亮度的亮度检测装置，所述高阻膜设置在所述光源和所述亮度检测装置之间。进一步地，所述电阻测量装置包括电阻检测基座、第一检测头、第二检测头和电阻检测仪，所述第一检测头设置在电阻检测基座上表面开设的凹槽中，所述第二检测头可上下移动的设置在所述凹槽上方，所述第一检测头和所述第二检测头均与所述电阻检测仪连接。进一步地，所述附着力测量装置包括划线台、划格机构和摄像头，所述划格机构包括横向划刀、纵向划刀、连接在横向划刀上的横向驱动结构和连接在所述纵向划刀上的纵向驱动结构，所述摄像头的拍摄方向正对放置在所述划线台上的高阻膜。进一步地，所述检测凹槽为匹配高阻膜的矩形凹槽，且所述检测凹槽与上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置和附着力测量装置分别对应，所述废品槽为开设在所述转动盘上的环形凹槽。本专利技术还提供一种高阻膜测试方法，应用于上述高阻膜测试系统，包括以下步骤：S1、通过上卸料装置将高阻膜移动至转动盘上，同时通过控制装置控制转动盘进行转动，然后在通过上卸料装置将高阻膜移动至检测工位上；S2、依次通过硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置和电阻测量装置对高阻膜进行检测，当任一项检测不合格时，通过上卸料装置将不合格的高阻膜转移到废品槽中；S3、当硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置和电阻测量装置的检测均合格时，将高阻膜通过上卸料装置转移至转动盘的检测凹槽中，当转动盘转动上检测合格的高阻膜转动到初始位置位置时，通过上卸料装置进行卸料。进一步地，还包括通过附着力测量装置对高阻膜进行抽检，首先通过上卸料装置随机抓取通过硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置和电阻测量装置的检测的高阻膜至划线台；然后由划格机构对高阻膜进行划线，划线结束后，在划线的部分黏贴胶带，然后快速将胶带撕起；再通过摄像头拍摄高阻膜的划线部分，通过连接在控制装置上的显示器对划线区域进行观察，对高阻膜的附着力进行计算。本专利技术相对于现有技术的有益效果：本专利技术涉及的高阻膜测试系统，包括上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置、附着力测量装置和控制装置，能够通过硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置和附着力测量装置分别对高阻膜的硬度、厚度、透光效果、电阻值及附着力进行测试，降低人力投入，提高测试效率；除此之外，通过上卸料装置对高阻膜进行统一上卸料，保证检测过程的连续性，降低漏检几率，提高检测的准确性，并且降低整体空间占用。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图图1是高阻膜测试系统的信号连接示意图。图2是高阻膜测试系统的整体结构示意图(不包括控制装置)。图3是图2中硬度测量装置的结构示意图。图4是图2中亮度测量装置的结构示意图。图5是图2中电阻测量装置的结构示意图。图6是图2中附着力测量装置的结构示意图。图7是高阻膜测试方法的步骤示意图。具体实施方式下面将结合附图以及具体实施例对本专利技术进行清楚完整地描述，显而易见的是，所列举的具体实施例仅仅是部分实施例，本领域的普通技术人员在没有付出创造性劳动的前提下所获得其他实施例，均属于本专利技术的保护范围。参照图1-图7，本专利技术一较佳实施例中的一种高阻膜测试系统，包括上卸料装置1、硬度测量装置2、厚度测量装置3、亮度测量装置4、电阻测量装置5、附着力测量装置6和控制装置，其中：所述硬度测量装置2，用于对高阻膜的硬度进行检测，并将其与预设的硬度值进行对比，得出测试结果；所述厚度测量装置3，用于对高阻膜的厚度进行检测，并将其与预设的厚度值进行对比，得出测试结果；所述亮度测量装置4，用于对高阻膜的透光效果进行检测，并将其与预设的透光率进行对比，得出测试结果；所述电阻本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高阻膜测试系统，其特征在于，包括上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置、附着力测量装置和控制装置，其中：/n所述硬度测量装置，用于对高阻膜的硬度进行检测，并将其与预设的硬度值进行对比，得出测试结果；/n所述厚度测量装置，用于对高阻膜的厚度进行检测，并将其与预设的厚度值进行对比，得出测试结果；/n所述亮度测量装置，用于对高阻膜的透光效果进行检测，并将其与预设的透光率进行对比，得出测试结果；/n所述电阻测量装置，用于对高阻膜的电阻进行检测，并将其与预设的电阻值进行对比，得出测试结果；/n所述附着力测量装置，用于对高阻膜的附着力进行检测，并将其与预设的电阻值进行对比，得出测试结果；/n所述上卸料装置，用于将待检测的高阻模转移到硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置和附着力测量装置的检测工位上，所述上卸料装置还用于将检测合格或不合格的产品移出检测工位；/n所述控制装置与上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置以及附着力测量装置信号连接，用于对上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置以及附着力测量装置进行控制。/n...

【技术特征摘要】
1.一种高阻膜测试系统，其特征在于，包括上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置、附着力测量装置和控制装置，其中：
所述硬度测量装置，用于对高阻膜的硬度进行检测，并将其与预设的硬度值进行对比，得出测试结果；
所述厚度测量装置，用于对高阻膜的厚度进行检测，并将其与预设的厚度值进行对比，得出测试结果；
所述亮度测量装置，用于对高阻膜的透光效果进行检测，并将其与预设的透光率进行对比，得出测试结果；
所述电阻测量装置，用于对高阻膜的电阻进行检测，并将其与预设的电阻值进行对比，得出测试结果；
所述附着力测量装置，用于对高阻膜的附着力进行检测，并将其与预设的电阻值进行对比，得出测试结果；
所述上卸料装置，用于将待检测的高阻模转移到硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置和附着力测量装置的检测工位上，所述上卸料装置还用于将检测合格或不合格的产品移出检测工位；
所述控制装置与上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置以及附着力测量装置信号连接，用于对上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置以及附着力测量装置进行控制。


2.根据权利要求1所述的高阻膜测试系统，其特征在于，所述上卸料装置包括转动盘和沿所述转动盘的圆周方向设置的若干个机械手，在所述转动盘上开设有检测凹槽和废品槽，所述机械手用于将所述高阻膜放置到所述检测凹槽、所述检测工位或所述废品槽中，所述上卸料装置还包括驱动所述转动盘转动的伺服电机，所述伺服电机与所述控制装置信号连接。


3.根据权利要求1所述的高阻膜测试系统，其特征在于，所述硬度测量装置包括硬度测试台和设置在所述硬度测试台上的硬度测试仪，所述硬度测试台包括可调节高度的支撑杆和连接在所述支撑杆上的支撑台面，所述支撑台面上开设有限位槽，所述硬度测试仪的底面位于所述限位槽中。


4.根据权利要求1所述的高阻膜测试系统，其特征在于，所述厚度测量装置包括基准台面和设置在所述基准台面一侧的厚度检测机构，所述厚度检测机构为膜厚台阶机。


5.根据权利要求1所述的高阻膜测试系统，其特征在于，所述亮度测量装置包括光源和检测透过所述高阻膜后的光线的亮...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜建峰，
申请(专利权)人：赫得纳米科技昆山有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32