异物入侵测试方法技术

本发明专利技术涉及一种异物入侵测试方法，特别是针对液晶模组产品的异物入侵测试方法。提供液晶模组；将液晶模组水平放置；将粉状物质填塞入液晶模组缝隙中；拍打摇晃液晶模组；点灯观察现象。该方法简单、有效，具有很高的可行性。模组点灯后，可观测到粉状物质在显示面分布的状况，根据其分布区域和面积大小，可得知异物侵入模组造成不良的位置和几率。拆卸模组后，根据粉状物质的散布可得知异物入侵模组的路径，由此可确定预防和改善的方向。

【技术实现步骤摘要】
异物入4I:测试方法
本专利技术涉及一种，特别是针对液晶模组产品的异物入 侵测试方法。
技术介绍
目前液晶显示器被广泛应用在各种电子产品中，液晶显示器以其轻薄、 无闪烁、无辐射等众多优点逐渐成为市场主流。液晶显示器各部件组装成模组后，在其流通运输过程中，与外界异物接 触，异物有一定几率通过缝隙侵入模组。在震动、挤压等外界因素作用下， 异物可能入侵至显示面，造成显示不良。如图l所示，为液晶模组结构剖面示意图。模组结构主要由铁框l、胶框 2、面板3、背板4等部件组成，由于生产工艺的限制，各部件尺寸均有波动， 组合后可能存在以下缝隙铁框1与面板3之间的缝隙A,铁框1与胶框2 之间的缝隙B，胶框2与背板4之间的缝隙C,还有背板4沖压扣爪后留下的 破孔D等等。各部件组装成模组后，在其流通运输过程中，异物容易通过以 上缝隙侵入^t组。异物入侵主要发生在^t组生产完成后，在外界条件作用下 发生不良。其不良产生的必然条件难以界定，异物入4曼;洛径也无法确定。目 前才莫组产品抗异物入4憂能力也无相关标准。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于提供一种简单有效的异物入侵液晶模组 的测试方法，可得知异物入侵模组的路径，以便确定预防和改善的方向。 本专利技术采用以下技术方案，包括以下步骤第一步骤，提供液晶模组；第二步 骤，将液晶模组水平放置；第三步骤，将粉状物质填塞入液晶模组缝隙中； 第四步骤，拍打摇晃液晶模组l-3分钟；第五步骤，点灯观察现象。所述第三步骤中的缝隙是液晶模组中铁框与面板之间的缝隙。 所述第三步骤中的缝隙是液晶模组中铁框与胶框之间的缝隙。 所述第三步骤中的缝隙是液晶模组中胶框与背板之间的缝隙。 所述第三步骤中的缝隙是液晶模组中背板沖压扣爪后留下的破孔。 所述第三步骤中粉状物质可用颗粒状物质代替。 所述第三步骤中粉状物质是食用面粉。 所述第四步骤中可采用震动机进行震动。该方法筒单、有效，具有很高的可行性。模组点灯后，可观测到粉状物 质在显示面分布的状况，根据其分布区域和面积大小，可得知异物侵入模组 造成不良的位置和几率。拆卸模组后，根据粉状物质的散布可得知异物入侵 才莫组的^ 各径，由此可确定预防和改善的方向。附图说明下面参照附图结合实施例对本专利技术作一详细说明。 图l是本专利技术中异物入侵路径示意图。图2A和图2B是本专利技术第一个实施例中不同背板食用面粉入侵状况对比 示意图。图3是本专利技术第一个实施例中采取措施后食用面粉入侵状况示意图。具体实施方式实施例一第一步骤，取液晶模组两块，其中所用背板厂商不同，胶框结构不同； 第二步骤，将液晶模组水平放置，显示面朝下；第三步骤，将食用面粉5填 塞入胶框2与背板4之间的缝隙C;第四步骤，采用震动机(震动频率为10Hz) 对液晶模组进行震动1分钟；第五步骤，点灯观察现象。结果显示面内有食用面粉5，不同厂商背板不良区域面积不同，可以 反应出其结构对抵抗异物入侵能力不同。拆开模组后，可观察到食用面粉5 入侵的详细路线，如图2A和图2B所示。对比两块背板，发现左侧中间位置胶框2与背板4之间的缝隙C容易进入食用面粉5。用绝缘胶片堵住该缝隙C，重复第二至第五步骤。结果如图3所示，堵住缝隙C后左侧侵入的食用面粉5大量减少，可进一步证明食用面粉5是由通孔侵入模组。 实施例二第一步骤，取液晶模组一块；第二步骤，水平放置，显示面朝上；第三 步骤，将食用面粉5填塞入面板3与铁框l之间的缝隙A;第四步骤，对液 晶模组拍打摇晃3分钟；第五步骤，点灯观察现象。结果显示面内没有发现食用面粉5，可说明异物难以从铁框1与面板3 之间缝隙A侵入。实例三第一步骤，取液晶模组一块；第二步骤，水平放置，显示面朝上；第三 步骤，将食用面粉5填塞入铁框1与胶框2之间的缝隙B;第四步骤，采用 震动机(震动频率为10Hz)对液晶模组进行震动2分钟；；第五步骤，点灯观 察现象。结果显示面内发现有食用面粉5,可说明异物是从铁框1与胶框2之间 的缝隙B侵入。以上实施例中以食用面粉作为测试材料，在实际应用中所有粉状、颗粒 状物质均可作为试验材料，颗粒大小可根据各产品所需进行选择。另外，背 板4冲压扣爪后留下的破孔D等缝隙均可采用以上方法一一进行试验。在试 验方法方面，以此原理为基础，可釆用手工或机械等方法进行操作，同时也 可将试^r条件参it化，以达到形成统一标准的目的。权利要求1. ，其特征在于包括以下步骤第一步骤，提供液晶模组；第二步骤，将液晶模组水平放置；第三步骤，将粉状物质填塞入液晶模组缝隙中；第四步骤，拍打摇晃液晶模组1-3分钟；第五步骤，点灯观察现象。2、 如权利要求1所述的，其特征在于所述第三步骤 中的缝隙是液晶模组中铁框与面板之间的缝隙。3、 如权利要求l所述的，其特征在于所述第三步骤 中的缝隙是液晶模组中铁框与胶框之间的缝隙。4、 如权利要求1所述的，其特征在于所述第三步骤 中的缝隙是液晶模组中胶框与背板之间的缝隙。5、 如权利要求l所述的，其特征在于所述第三步骤 中的缝隙是液晶模组中背板冲压扣爪后留下的破孔。6、 如权利要求l所述的，其特征在于所述第三步骤 中粉状物质可用颗粒状物质代替。7、 如权利要求l所述的，其特征在于所述第三步骤 中粉状物质是食用面粉。8、 如权利要求l所述的，其特征在于所述第四步骤 中可采用震动机进行震动。全文摘要本专利技术涉及一种，特别是针对液晶模组产品的。提供液晶模组；将液晶模组水平放置；将粉状物质填塞入液晶模组缝隙中；拍打摇晃液晶模组；点灯观察现象。该方法简单、有效，具有很高的可行性。模组点灯后，可观测到粉状物质在显示面分布的状况，根据其分布区域和面积大小，可得知异物侵入模组造成不良的位置和几率。拆卸模组后，根据粉状物质的散布可得知异物入侵模组的路径，由此可确定预防和改善的方向。文档编号G02F1/13GK101290404SQ200810110038公开日2008年10月22日 申请日期2008年5月30日 优先权日2008年5月30日专利技术者王剑森, 王永嘉 申请人:福建华映显示科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
异物入侵测试方法，其特征在于：包括以下步骤：第一步骤，提供液晶模组；第二步骤，将液晶模组水平放置；第三步骤，将粉状物质填塞入液晶模组缝隙中；第四步骤，拍打摇晃液晶模组１－３分钟；第五步骤，点灯观察现象。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王永嘉，王剑森，
申请(专利权)人：福建华映显示科技有限公司，
类型：发明
国别省市：35[中国|福建]