辅助测试板及硬件测试系统技术方案

本发明专利技术提供了一种辅助测试板及硬件测试系统，属于硬件测试领域，解决了现有硬件测试流程复杂的问题。包括控制模块和操作模块，所述控制模块内的MCU分别与交流电源、示波器、继电器以及所述操作模块连接，所述MCU块控制交流电源转直流电源的输出、接收所述操作模块发出的指令信号、发送控制信号给所述示波器和所述继电器；所述操作模块用于响应用户的操作，触发所述示波器的控制事件，并输出到所述控制模块的MCU；所述MCU块接收延迟指令，对测试环境所需的电源进行上电/掉电的延迟。本发明专利技术能够将AC上电/掉电、DC上电/掉电、延时上电等操作集成一体，在实质上降低测试复杂度，以实现单人操作完成。

【技术实现步骤摘要】
辅助测试板及硬件测试系统
本专利技术涉及硬件测试领域，尤其是涉及一种辅助测试板及硬件测试系统。
技术介绍
随着程序开发应用领域范围的扩大，随即衍生出各类硬件元器件，为了确保整体开发应用程序的顺利完成，对于各硬件的性能测试必不可少，下面以板卡硬件测试为例。通常的，板卡硬件测试包含PowerSequence测试、PowerLeakage测试、单调性测试、GPIO测试等等，对于服务器主板等复杂板卡来说，需要多人力、长时间才能完成这一测试；以PowerSequence测试为例，需要至少两个人力，一个人负责将示波器探头固定于测点处，另一人负责上电、断电、示波器信号名更改以及存图等动作，现有整体的PowerSequence测试流程较为复杂且耗费人力。目前硬件辅助测试技术中，只有部分技术是采用改善探头、增加夹具或者设计测试平台等方式去固定示波器探头，并未在实质上降低测试复杂度。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供能够加快板卡测试效率的辅助测试板及具有硬件辅助测试功能的板卡，以将AC上电/掉电、DC上电/掉电、延时上电等操作集成一体，在实质上降低测试复杂度，以实现单人操作完成。第一方面，本专利技术提供的一种辅助测试板，包括控制模块和操作模块，所述控制模块内的MCU分别与交流电源、示波器、继电器以及所述操作模块连接，所述MCU块控制交流电源转直流电源的输出、接收所述操作模块发出的指令信号、发送控制信号给所述示波器和所述继电器；所述操作模块用于响应用户的操作，触发所述示波器的控制事件，并输出到所述控制模块的MCU；所述MCU块接收延迟指令，对测试环境所需的电源进行上电/掉电的延迟。进一步的，所述辅助测试板还包括电源模块，所述电源模块通过插孔与被测板卡连接，通过所述MCU块控制所述插孔与所述被测板卡之间的电路通断。进一步的，所述MCU块连接交流电源，，在所述插孔与所述交流电源之间串联所述继电器，通过所述MCU块控制所述继电器的通断。进一步的，所述MCU块通过所述继电器控制所述插孔与被测板卡之间的直流电源的延时通断；所述MCU块通过所述继电器控制所述插孔与被测板卡之间的交流电源的延时通断。进一步的，所述操作模块包括ACON/OFF按键和DCON/OFF按键，所述ACON/OFF按键用来控制继电器通断，进而控制插在所述插孔上的被测板卡AC上电/掉电；所述DCON/OFF按键用来控制被测板卡的DC上电/掉电。进一步的，所述操作模块还包括Last按键、next按键和Mark按键，所述Last按键、next按键用来控制示波器根据设定好的顺序向前或者向后调整信号名、波形图名、波形设定等动作；所述Mark按键用来对测试过程中出现异常的波形就行标记，控制所述示波器将标记的图片存储在另一个Mark文件夹下。进一步的，所述操作模块还包括旋钮形电位器，所述旋钮形电位器与所述MCU块连接，用于控制所述MCU块对DC上电/掉电以及AC上电/掉电的延迟。进一步的，所述MCU块内设置有ADC转换模块，进行交流电源与直流电源之间的切换。进一步的，所述MCU块通过芯片W5200将SPI信号转换成RMII信号，输出符合网络连接的RJ45协议。第二方面，本专利技术还提供一种硬件测试系统，包括交换机和与所述交换机分别进行网络连接的示波器、用户端、被测试板以及权利要求1-9任一项所述的辅助测试板，所述辅助测试板内的MCU中存储有可在所述MCU上运行的计算机程序。本专利技术提供的辅助测试板及硬件测试系统，在MCU的控制下，能够同时对示波器进行按键操控、对测试过程所需的交流电源或者直流电源进行切换，以及，对测试环境所需的电源进行上电/掉电的延迟，能够在同一人操作下完成硬件测试的整体过程，包括对示波器成像波形的控制及标记，大大简化了测试过程，从实质上解决了硬件测试较复杂的问题，减少人力的不必要浪费，提高了测试效率。相应地，本专利技术实施例提供的一种辅助测试板及硬件测试系统，也同样具有上述技术效果。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的辅助测试板的详细设计框架；图2为本专利技术实施例提供的辅助测试板的拓扑图；图3为本专利技术实施例提供的硬件测试流程图；图4为本专利技术实施例提供的硬件测试系统操作流程。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例中所提到的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括其他没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。实施例1本实施例提供了一种辅助测试板，结合附图1-4对本实施例进行说明。一种辅助测试板，包括控制模块和操作模块，所述控制模块内的MCU分别与交流电源、示波器、继电器以及所述操作模块连接，所述MCU块控制交流电源转直流电源的输出、接收所述操作模块发出的指令信号、发送控制信号给所述示波器和所述继电器；所述操作模块用于响应用户的操作，触发所述示波器的控制事件，并输出到所述控制模块的MCU；所述MCU块接收延迟指令，对测试环境所需的电源进行上电/掉电的延迟。结合附图1和附图2可知，插孔与交流电源之间串联继电器，同时，MCU与继电器连接，从而实现MCU控制继电器的通断，即控制MCU的上电和掉电。具体的，操作模块具有ACON/OFF按键和DCON/OFF按键，所述ACON/OFF按键用来控制继电器通断，进而控制插在所述插孔上的被测板卡AC上电/掉电，即，触发ACON/OFF按键将上电/掉电的口令发送至MCU块，MCU接收该指令后控制继电器的通断；所述DCON/OFF按键用来控制被测板卡的DC上电/掉电，即，触发DCON/OFF按键将上电/掉电的口令发送至MCU块，MCU接收该指令后控制继电器的通断。在本实施例的辅助测试板上，MCU块通过所述继电器还可以控制所述插孔与被测板卡之间的直流电源的延时通断；所述MCU块通过所述继电器还可以控制所述插孔与被测板卡之间的交流电源的延时通断。针对本方案的延时设计，操作模块设有旋钮形电位器，旋钮形电位器与所述MCU块连接，旋转旋钮形电位器，将延时指令发送至MCU块，MCU接收延时指令后控制DC上电/掉电的延迟以及AC上电/掉电的延迟。另外，操作模块还包本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种辅助测试板，其特征在于，包括控制模块和操作模块，所述控制模块内的MCU分别与交流电源、示波器、继电器以及所述操作模块连接，所述MCU块控制交流电源转直流电源的输出、接收所述操作模块发出的指令信号、发送控制信号给所述示波器和所述继电器；所述操作模块用于响应用户的操作，触发所述示波器的控制事件，并输出到所述控制模块的MCU；所述MCU块接收延迟指令，对测试环境所需的电源进行上电/掉电的延迟。/n

【技术特征摘要】
1.一种辅助测试板，其特征在于，包括控制模块和操作模块，所述控制模块内的MCU分别与交流电源、示波器、继电器以及所述操作模块连接，所述MCU块控制交流电源转直流电源的输出、接收所述操作模块发出的指令信号、发送控制信号给所述示波器和所述继电器；所述操作模块用于响应用户的操作，触发所述示波器的控制事件，并输出到所述控制模块的MCU；所述MCU块接收延迟指令，对测试环境所需的电源进行上电/掉电的延迟。


2.根据权利要求1所述的辅助测试板，其特征在于，所述辅助测试板还包括电源模块，所述电源模块通过插孔与被测板卡连接，通过所述MCU块控制所述插孔与所述被测板卡之间的电路通断。


3.根据权利要求2所述的辅助测试板，其特征在于，所述MCU块连接交流电源，在所述插孔与所述交流电源之间串联所述继电器，通过所述MCU块控制所述继电器的通断。


4.根据权利要求3所述的辅助测试板，其特征在于，所述MCU块通过所述继电器控制所述插孔与被测板卡之间的直流电源的延时通断；所述MCU块通过所述继电器控制所述插孔与被测板卡之间的交流电源的延时通断。


5.根据权利要求1所述的辅助测试板，其特征在于，所述操作模块包括ACON/OFF按键和DCON/OFF按键，所述ACON/OFF按键用来控制继电器通断，进而控制插在所述插...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘孟龙，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32