一种电子通信设备的测试方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种电子通信设备的测试方法和装置，涉及通信设备测试技术领域，既能够开展无线通信设备的OTA(空口辐射)方式测试，也能够进行电子通信设备的电磁兼容测试，功能多、占地面积小、覆盖频率宽且操作简便；该装置为渐变同轴结构；所述渐变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体，所述内导体设于所述外导体内部，且两者之间具有封闭的绝缘空间；所述内导体和所述外导体的横截面均具有渐变性质；渐变性质具体为：横截面沿一个方向逐渐变大、逐渐缩小或者先变大再缩小，变大或缩小的过程是线性的或者非线性的；该装置包括单锥结构和双锥结构两种形式。本发明专利技术提供的技术方案适用于电子通信设备OTA测试和电磁兼容测试的过程中。

【技术实现步骤摘要】
一种电子通信设备的测试方法和装置
本专利技术涉及通信设备测试
，尤其涉及一种电子通信设备的测试方法和装置。
技术介绍
随着电子通信设备的发展，从300kHz的中波通信频段，到6GHz以下的移动通信频段，再到毫米波5G/B5G通信系统、卫星通信系统、无线物联网与工业互联网等无线通信系统的发展，无线通信终端设备使用的频段越来越宽。传统上对于无线通信设备收发信机的测量主要有两种方式：(1)传导方式，即使用线缆或者波导连接测试仪器和通信设备射频接口，但是随着有源集成一体化天线的发展，通信设备本身很难有单独的射频接口可以引出，这种测试方法变得难于适用，而且集成天线本身也需要测试；(2)OTA方式，即空口辐射方式，这种方式目前主要依赖电波暗室和天线系统，缺点是电波暗室占地面积大、投资成本高；而测试用天线一般都是分频段器件，单一天线很难覆盖300kHz到毫米波的超宽频率范围，需要多个天线分频段组合使用，所以在测试多频或者是宽带移动通信设备时，需要更换天线，操作繁琐成本高。此外，传统上射频测试和电磁兼容测试是分开进行的，占用设备多，操作复杂繁琐。因此，有必要研究一种电子通信设备的测试方法和装置来应对现有技术的不足，以解决或减轻上述一个或多个问题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种电子通信设备的测试方法和装置，既能够开展无线通信设备的OTA(空口辐射)方式测试，也能够进行电子通信设备的电磁兼容测试，功能多、占地面积小、覆盖频率宽且操作简便。一方面，本专利技术提供一种电子通信设备的测试装置，其特征在于，所述测试装置为渐变同轴结构；所述渐变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体，所述内导体设于所述外导体内部，且两者之间具有封闭的绝缘空间；所述内导体和所述外导体的横截面均具有渐变性质；所述渐变同轴结构的一端作为馈电端，另一端设有电磁波吸收结构。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述电磁吸收结构为负载。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，渐变性质具体为：横截面沿一个方向逐渐变大、逐渐缩小或者先变大再缩小，变大或缩小的过程是线性的或者非线性的。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述渐变同轴结构为单锥结构；所述单锥结构具体为：所述外导体和所述内导体均为圆锥体形，且两者锥度不同；所述内导体的圆锥底面处设有用于吸收电磁波的负载，所述负载位于所述绝缘空间内部；所述圆锥体的顶点作为馈电端。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述渐变同轴结构为双锥结构；所述双锥结构具体为：所述外导体和所述内导体均包括两个底面相互衔接的圆锥体；所述双锥结构的一端作为馈电端，另一端设有用于吸收电磁波的负载。所述双锥结构的两个圆锥体的锥度可以是相同的也可以是不同的。同一侧的内导体和外导体的锥度是不同的。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，两个圆锥体的底面衔接方式为直接衔接、直线衔接或者曲线衔接。直线衔接具体为两个底面之间的连接段为横截面固定的圆柱体形。曲线衔接具体为两个底面之间的连接段为中间突起的鼓状。不管是直接衔接、直线衔接还是曲线衔接，内导体和外导体的衔接段同样为同轴设置。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述测试装置能够实现2kHz～90GHz的电磁场生成。另一方面，本专利技术提供一种电子通信设备的测试方法，其特征在于，所述测试方法采用如上任一所述的测试装置对电子通信设备进行测试；测试时将待测电子通信设备置于内导体和外导体之间的绝缘空间内，测试装置的馈电端与外部测试设备连接。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述测试方法的步骤包括：S1、确定从所述测试装置的馈电端到被测端的路径损耗；S2、根据对待测电子通信设备的测试要求以及路径损耗，确定外部测试设备的输入参数；S3、根据确定的输入参数进行测试。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述被测端具体为待测电子通信设备所在位置，该位置靠近所述内导体的椎体底面。第三方面，本专利技术提供一种电子通信设备的OTA测试系统，其特征在于，所述测试系统包括如上任一所述的测试装置、与所述测试装置馈电端连接的无线通信综合测试仪以及用于放置被测电子通信设备的转台；所述转台设于所述测试装置的内部，用于携带被测电子通信设备实现其天线指向角度的变化。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述转台为双轴转台，包括第一旋转轴、第二旋转轴和用于固定被测电子通信设备的夹持部，所述第一旋转轴与所述第二旋转轴相互垂直设置并与所述夹持部连接，所述第一旋转轴和所述第二旋转轴的旋转动作叠加实现天线指向角全角度遍历。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述夹持部的任意位置设有若干过孔，用于降低材料的等效介电常数。第四方面，本专利技术提供一种电子通信设备的辐射骚扰测试系统，其特征在于，所述测试系统包括如上任一所述的测试装置以及与所述测试装置馈电端连接的电磁骚扰接收机或者与所述馈电端同时连接的无线通信综合测试仪和电磁骚扰接收机。与所述测试装置馈电端连接的电磁骚扰接收机或者与所述馈电端同时连接的无线通信综合测试仪和电磁骚扰接收机又称为辐射骚扰测试系统。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，无线通信综合测试仪和/或电磁骚扰接收机的端口处设有滤波器。第五方面，本专利技术提供一种电子通信设备的辐射抗扰测试系统，其特征在于，所述测试系统包括如上任一所述的测试装置以及与所述测试装置馈电端连接的信号发生器或者与所述馈电端同时连接的无线通信综合测试仪和信号发生器。与所述测试装置馈电端连接的信号发生器或者与所述馈电端同时连接的无线通信综合测试仪和信号发生器又称为辐射抗扰测试系统。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，信号发生器处设有用于放大信号发生器发出的信号的功率放大器。与现有技术相比，本专利技术可以获得包括以下技术效果：本申请的电子通信设备的测试方法和装置，既能够开展无线通信设备的OTA方式测试，也能够进行电子通信设备的电磁兼容测试，功能多、占地面积小、覆盖频率宽且操作简便；测试装置能够实现2kHz～90GHz的电磁场生成；具有降低介电常数的转台结构，且两轴结构可以实现球面遍历扫描(即全角度遍历扫描)。当然，实施本专利技术的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有技术效果。【附图说明】为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。图1是本专利技术一个实施例提供的单锥测试装置结构图；图2是本专利技术一个实施例提供的双锥测试装置结构图；其中，2(a)为侧视切本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子通信设备的测试装置，其特征在于，所述测试装置为渐变同轴结构；所述渐变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体，所述内导体设于所述外导体内部，且两者之间具有封闭的绝缘空间；所述内导体和所述外导体的横截面均具有渐变性质。/n

【技术特征摘要】
1.一种电子通信设备的测试装置，其特征在于，所述测试装置为渐变同轴结构；所述渐变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体，所述内导体设于所述外导体内部，且两者之间具有封闭的绝缘空间；所述内导体和所述外导体的横截面均具有渐变性质。


2.根据权利要求1所述的电子通信设备的测试装置，其特征在于，渐变性质具体为：横截面沿一个方向逐渐变大、逐渐缩小或者先变大再缩小，变大或缩小的过程是线性的或者非线性的。


3.根据权利要求1所述的电子通信设备的测试装置，其特征在于，所述渐变同轴结构为单锥结构；所述单锥结构具体为：所述外导体和所述内导体均为圆锥体形，且两者锥度不同；所述内导体的圆锥底面处设有用于吸收电磁波的负载，所述负载位于所述绝缘空间内部。


4.根据权利要求1所述的电子通信设备的测试装置，其特征在于，所述渐变同轴结构为双锥结构；所述双锥结构具体为：所述外导体和所述内导体均包括两个底面相互衔接的圆锥体；所述双锥结构的一端作为馈电端，另一端设有用于吸收电磁波的负载。


5.根据权利要求4所述的电子通信设备的测试装置，其特征在于，两个圆锥体的底面衔接方式为直接衔接、直线衔接或者曲线衔接。


6.一种电子通信设备的测试方法，其特征在于，所述测试方法采用如权利要求1-5任一所述的测试装置对电子...

【专利技术属性】
技术研发人员：周峰，纪锐，袁修华，孙景禄，张培艳，安旭东，刘宝殿，孙向前，王磊，周宇，刘政，
申请(专利权)人：中国信息通信研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11