管道环焊缝相控阵检测对比试块及其检测方法技术

本申请涉及一种管道环焊缝相控阵检测对比试块及其检测方法，涉及相控阵超声的领域，本申请相控阵超声的领域包括试块本体、收纳盒、定位撑座、让位转座和清理刷板，收纳盒上设置有收纳组件；定位撑座固定设置在收纳盒开口端的一侧外侧壁上，让位转座转动设置在收纳盒开口端与定位撑座相对的侧壁上，收纳盒上设置有定位件；让位转座和定位撑座均与清理刷板相连，清理刷板位于定位撑座与让位转座相对的侧壁上，清理刷板位于让位转座沿转动方向相对于定位撑座的侧壁上；当让位转座转动至两清理刷板相对时，两清理刷板与试块本体的探头面抵接；让位转座和定位撑座上均设置有排料组件。本申请可以提高对试块本体上耦合剂的清理便捷性。

【技术实现步骤摘要】
管道环焊缝相控阵检测对比试块及其检测方法
本申请涉及相控阵超声的领域，尤其是涉及一种管道环焊缝相控阵检测对比试块及其检测方法。
技术介绍
相控阵超声是利用相位延迟、合成孔径技术、数字合成技术，进行超声无损检测的一项技术。一般进行相控阵无损检测前，需要对系统的组合性能对不同形状的试块进行校准，从而得到可靠的相控阵超声无损检测系统。但是，在试块的检测过程中，检测探头上会涂膜耦合剂，耦合剂会残留在试块与探头的接触面上，造成对试块后续使用时的精度造成影响。公告号为CN211453486U的中国专利，公开了一种管道环焊缝相控阵检测对比试块，涉及超声波检测试块
，其包括试块本体，试块本体一侧开设有第一弧段和第二弧段，第二弧段的直径落于第一弧段的直径范围内，试块本体上还开设有若干横穿试块本体两侧的校准孔，若干校准孔沿试块高度方向阵列设置，校准孔与第二弧段之间还开设有横穿试块本体的阶梯孔，试块本体垂直与阶梯孔横穿面的两侧面为探头面，还包括用于罩设试块本体的试块盒，试块盒两侧对应探头面开设有清理口，清理口内设置有用于对试块本体粘附耦合剂的探头面进行清理的清理部件。针对上述中的相关技术，专利技术人认为：上述专利将试块本体放入试块盒的时候，在将试块本体推入试剂盒内的同时，还要通过按压清理部件中的清理块，使清理部件中的刮槽对试块本体的探头面进行清理，才能在试块本体收纳起来前将残留的耦合剂清理下来，十分麻烦。
技术实现思路
为了提高对试块本体上残留耦合剂的清理效果，本申请提供一种管道环焊缝相控阵检测对比试块及其检测方法。第一方面，本申请提供一种管道环焊缝相控阵检测对比试块，采用如下的技术方案：一种管道环焊缝相控阵检测对比试块，包括试块本体、收纳盒、定位撑座、让位转座和清理刷板，所述收纳盒一端开口设置，所述收纳盒上设置有收纳组件，所述收纳组件用于将试块本体从收纳盒的开口端收入收纳盒中；所述定位撑座固定设置在收纳盒开口端的一侧外侧壁上，所述让位转座转动设置在收纳盒开口端与定位撑座相对的侧壁上，所述收纳盒上设置有用于固定让位转座的定位件；所述让位转座和定位撑座均与清理刷板相连，所述清理刷板位于定位撑座与让位转座相对的侧壁上，所述清理刷板位于让位转座沿转动方向相对于定位撑座的侧壁上；当所述让位转座转动至两清理刷板相对时，两所述清理刷板与试块本体的探头面抵接；所述让位转座和定位撑座上均设置有排料组件，所述排料组件用于排出清理出的试剂。通过采取上述技术方案，在对试块本体进行检测之后，转动让位转座，使得让位转座为试块本体让出空间，可以将试块本体顺利放置到收纳组件中的规定位置，同时试块本体的一侧探头面与定位撑座清理刷板抵接；然后反转让位转座，使得让位转座上的清理刷板抵在试块本体上的另一探头面上；从而在利用收纳组件将试块本体推入到收纳盒中的过程中，清理刷板可以抵着试块本体的探头面滑移，将粘附在试块本体探头面上的耦合剂清理下来，同时排料组件可以将清理下来的耦合剂收集起来，从而本申请在将试块本体推入到收纳盒中的过程中，可以直接对试块本体探头面上的耦合剂进行清理，方便快捷。可选的，所述收纳组件包括抵板、推板、连板，所述抵板滑移设置在收纳盒的内侧壁上，所述收纳盒与开口端相邻的侧壁上贯穿设置有滑移槽，所述连板与滑移槽槽壁滑移连接且与抵板固定连接，所述收纳盒上设置有驱动连板滑移的滑移件；所述推板设置在连板远离抵板的一端；所述试块本体与探头面相邻的端壁与抵板和推板抵接，所述试块本体与探头面相邻的周壁与收纳盒内侧壁抵接。通过采取上述技术方案，收起试块本体的时候，将推板拉出收纳盒，并使得连板带动抵板移动到收纳盒的开口端，从而将让位转座转离后，将试块本体抵接在定位撑座的清理刷板上的同时，试块本体与探头面相邻一端端壁与推板抵接，试块本体与探头面相邻的另一端端壁与抵板抵接，从而在操作滑移件移动连板的时候，推板和抵板可以带动试块本体同步移动到收纳盒中。可选的，所述让位转座和定位撑座上的排料组件均包括集料板、吸料管、弹性的吸料囊、排料管、第一控制阀和第二控制阀，所述定位撑座沿连板滑移方向且远离收纳盒的侧壁与集料板相连，所述集料板远离定位撑座的端壁远离试块本体的探头面，所述集料板两侧侧壁上设置有挡料片，所述挡料片的端壁与定位撑座固定连接，所述挡料片与试块本体相邻于探头面的周壁抵接，所述挡料片、集料板和定位撑座的侧壁形成集料腔，所述吸料管嵌设在定位撑座上，所述吸料管的进料端延伸至集料腔中，所述吸料管的出料端延伸出定位撑座，所述吸料管的出料端与吸料囊可拆卸连接，所述排料管设置在吸料囊远离吸料管的一端，所述第一控制阀设置在吸料管上，所述第二控制阀设置在排料管上；所述让位转座沿连板滑移方向且远离收纳盒的侧壁与集料板相连，所述集料板远离让位转座的端壁远离试块本体的探头面，所述集料板两侧侧壁上设置有挡料片，所述挡料片的端壁与让位转座固定连接，所述挡料片与试块本体相邻于探头面的周壁抵接，所述挡料片、集料板和让位转座的侧壁形成集料腔，所述吸料管嵌设在让位转座上，所述吸料管的进料端延伸至集料腔中，所述吸料管的出料端延伸出让位转座，所述吸料管的出料端与吸料囊可拆卸连接，所述排料管设置在吸料囊远离吸料管的一端，所述第一控制阀设置在吸料管上，所述第二控制阀设置在排料管上。通过采取上述技术方案，在试块本体向收纳盒中滑动前，吸料囊处于压缩状态；在试块本体向收纳盒中滑动的过程中，清理刷板抵在试块本体探头面上滑移，残留在试块本体探头面上的耦合剂越过集料板后与清力刷板接触而被清理下来，此过程中，耦合剂会逐渐堆积到集料腔中，此时打开第一控制阀，即可利用吸料囊的内外压差，将耦合剂通过吸料管吸到吸料囊中，将试块本体收起来后，再将吸料囊取下，打开第二控制阀，将耦合剂排出吸料囊即可；同时在将试块本体拉出收纳盒的时候，清理刷板可以对试块本体进行进一步地清洁。可选的，所述清理刷板包括固定基板和清洁板，所述定位撑座与让位转座与固定基板连接，所述固定基板安装侧侧壁上设置有燕尾连槽，所述燕尾连槽的一端贯穿设置，所述清洁板远离清洁侧的侧壁上设置有燕尾连块，所述燕尾连块的与燕尾连槽插接。通过采取上述技术方案，将试块本体受到收纳盒中后，可以将清洁板从固定基板上抽出，从而可以对清洁板进行清理，保持清洁板的洁净性，从而可以进一步提高对试块本体上耦合剂的清理效果。可选的，所述滑移件包括滑移块和复位弹簧，所述滑移槽槽壁上设置有导向槽，所述滑移块与导向槽槽壁滑移连接，所述滑移块伸出导向槽的端壁与连板固定连接，所述导向槽远离收纳盒开口端的槽壁上设置有复位槽，所述复位弹簧连接在复位槽与连板的相对侧壁间。通过采取上述技术方案，将推板拉离收纳槽的时候，连板逐渐远离复位槽，此时复位弹簧被拉伸，从而在需要将试块本体收进收纳盒中的时候，在复位弹簧的弹力作用下，复位弹簧可以之间拉动连板移动，从而推板和抵板可以将试块本体带入收纳盒中。可选的，所述吸料管内设置有单向阀。通过采取上述技术方案，使得耦合剂只会从集料腔中进入到吸料管，从而可减少吸料管中的耦合剂反流到集料腔中，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种管道环焊缝相控阵检测对比试块，其特征在于：包括试块本体(1)、收纳盒(2)、定位撑座(3)、让位转座(4)和清理刷板(5)，所述收纳盒(2)一端开口设置，所述收纳盒(2)上设置有收纳组件(6)，所述收纳组件(6)用于将试块本体(1)从收纳盒(2)的开口端收入收纳盒(2)中，所述定位撑座(3)固定设置在收纳盒(2)开口端的一侧外侧壁上，所述让位转座(4)转动设置在收纳盒(2)开口端与定位撑座(3)相对的侧壁上，所述收纳盒(2)上设置有用于固定让位转座(4)的定位件(7)；所述让位转座(4)和定位撑座(3)均与清理刷板(5)相连，所述清理刷板(5)位于定位撑座(3)与让位转座(4)相对的侧壁上，所述清理刷板(5)位于让位转座(4)沿转动方向相对于定位撑座(3)的侧壁上；当所述让位转座(4)转动至两清理刷板(5)相对时，两所述清理刷板(5)与试块本体(1)的探头面(11)抵接；所述让位转座(4)和定位撑座(3)上均设置有排料组件(8)，所述排料组件(8)用于排出清理出的试剂。/n

【技术特征摘要】
1.一种管道环焊缝相控阵检测对比试块，其特征在于：包括试块本体(1)、收纳盒(2)、定位撑座(3)、让位转座(4)和清理刷板(5)，所述收纳盒(2)一端开口设置，所述收纳盒(2)上设置有收纳组件(6)，所述收纳组件(6)用于将试块本体(1)从收纳盒(2)的开口端收入收纳盒(2)中，所述定位撑座(3)固定设置在收纳盒(2)开口端的一侧外侧壁上，所述让位转座(4)转动设置在收纳盒(2)开口端与定位撑座(3)相对的侧壁上，所述收纳盒(2)上设置有用于固定让位转座(4)的定位件(7)；所述让位转座(4)和定位撑座(3)均与清理刷板(5)相连，所述清理刷板(5)位于定位撑座(3)与让位转座(4)相对的侧壁上，所述清理刷板(5)位于让位转座(4)沿转动方向相对于定位撑座(3)的侧壁上；当所述让位转座(4)转动至两清理刷板(5)相对时，两所述清理刷板(5)与试块本体(1)的探头面(11)抵接；所述让位转座(4)和定位撑座(3)上均设置有排料组件(8)，所述排料组件(8)用于排出清理出的试剂。


2.根据权利要求1所述的管道环焊缝相控阵检测对比试块，其特征在于：所述收纳组件(6)包括抵板(61)、推板(62)、连板(63)，所述抵板(61)滑移设置在收纳盒(2)的内侧壁上，所述收纳盒(2)与开口端相邻的侧壁上贯穿设置有滑移槽(21)，所述连板(63)与滑移槽(21)槽壁滑移连接且与抵板(61)固定连接，所述收纳盒(2)上设置有驱动连板(63)滑移的滑移件(64)；所述推板(62)设置在连板(63)远离抵板(61)的一端。


3.根据权利要求1所述的管道环焊缝相控阵检测对比试块，其特征在于：所述让位转座(4)和定位撑座(3)上的排料组件(8)均包括集料板(81)、吸料管(82)、弹性的吸料囊(83)、排料管(84)、第一控制阀(85)和第二控制阀(86)，所述定位撑座(3)沿连板(63)滑移方向且远离收纳盒(2)的侧壁与集料板(81)相连，所述集料板(81)两侧侧壁上设置有挡料片(813)，所述集料板(81)远离定位撑座(3)的端壁远离试块本体(1)的探头面(11)，所述挡料片(813)的端壁与定位撑座(3)固定连接，所述挡料片(813)与试块本体(1)相邻于探头面(11)的周壁抵接，所述挡料片(813)、集料板(81)和定位撑座(3)的侧壁形成集料腔(87)，所述吸料管(82)嵌设在定位撑座(3)上，所述吸料管(82)的进料端延伸至集料腔(87)中，所述吸料管(82)的出料端延伸出定位撑座(3)，所述吸料管(82)的出料端与吸料囊(83)可拆卸连接，所述排料管(84)设置在吸料囊(83)远离吸料管(82)的一端，所述第一控制阀(85)设置在吸料管(82)上，所述第二控制阀(86)设置在排料管(84)上；
所述让位转座(4)沿连板(63)滑移方向且远离收纳盒(2)的侧壁与集料板(81)相连，所述集料板(81)远离让位转座(4)的端壁远离试块本体(1)的探头面(11)，所述集料板(81)两侧侧壁上设置有挡料片(813)，所述挡料片(813)的端壁与让位转座(4)固定连接，所述挡料片(813)与试块本体(1)相邻于探头面(11)的周壁抵接，所述挡料片(813)、集料板(81)和让位转座(4)的侧壁形成集料腔(87)，所述吸料管(82)嵌设在让位转座(4)上，所述吸料管(82)的进料端延伸至集料腔(87)中，所述吸料管(82)的出料端延伸出让位转座(4)，所述吸料管(...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱超，赵志刚，束方勇，何伟，黄伟才，张金龙，
申请(专利权)人：南京金陵检测工程有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32