用于生成测试计划的方法和装置、用于测试测量对象的方法和装置以及计算机程序产品制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于生成用于测试测量对象(2)的测试计划的方法和装置，其中，提供了表示该测量对象(2)的数据记录(DS)，其中，基于数据来设置参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)，其中，将至少一个参考结构特定的测试特征分配给该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)，其中，针对表示该测量对象(2)的该数据记录(DS)基于数据来测试是否存在与该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)类似或相同的结构(S)，其中，将该参考结构特定的测试特征分配给每个类似或相同的结构(S)作为结构特定的测试特征，其中，该测试计划包括由此确定的这些结构特定的测试特征；并且涉及一种用于测试该测量对象的方法和装置并且涉及一种计算机程序。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于生成测试计划的方法和装置、用于测试测量对象的方法和装置以及计算机程序产品本专利技术涉及一种用于生成用于测试测量对象的测试计划的方法和装置以及一种用于测试该测量对象的方法和装置。进一步，本专利技术涉及一种计算机程序产品。用于测试或测量工件的所谓的测试计划的生成是已知的，这种测试计划定义了测试过程的参数，通过该测试计划可以确定工件或测量对象的质量。举例来说，可以基于某些通用标准或制造商说明书或客户说明书来建立这种测试计划。这里，测试计划通过适当的测试或测量器具来执行，例如，通过所谓的坐标测量机来执行。此测试计划包含要测量的工件的要测试的测试特征或与这些测试特征有关的信息项。举例来说，这种测试特征可以是两个孔的中心之间的距离、自由形式表面上的测量点与目标形式的偏差、孔的中心的相对位置、孔的直径等。同样，测试计划可以包含与要测试的工件例如在测试坐标系中的相对位置和形状有关的信息项以及与测试特征的目标值有关的信息项。与形状有关的信息项可以例如以CAD模型的形式包含在测试计划中。这种CAD模型还可以设置上述目标值。进一步，测试计划可以包括测试特征的公差规范。进一步，测试计划可以设置用于执行由测试计划定义的测试的工作指令(例如，以命令的形式)、要设置的用于执行此测试并生成数据的测试参数(例如，照明参数或探测力)以及要用于执行此测试的测试部件(例如，传感器)。另外，测试计划可以包含测试参数，这些测试参数可以在测试运行时进行设置或更改，例如，以适应稍后的(部分的)测试过程。进一步，可以通过测试计划来设置要遍历用于执行测试的例如传感器的测试轨迹。测试结果文档编制也可以通过测试计划设置。在执行测试计划时生成的实际信息项(例如，测量点、图像或测量值)同样可以存储在测试计划中。如上文所解释的，可以基于测试计划来设置要由测量设备或测量器具捕获的测量点，所述测量点是评估测试特征所需的。然后，可以定义测量程序，以便由此捕获要测量的工件的表面上的测量点。然后，通过测量器具在测试步骤或测量步骤中完成这样设置的测量程序，由此，所需测量点随后根据通过测试计划设置的测量程序而被捕获并存储。此后，基于记录的测量点来评估测试计划的各个测试特征，并且因此获得创建测量方案所必需的数据。举例来说，文档DE19821371A1描述了一种用于利用自动化测量程序来测量工件的方法以及对应地被配置成执行该方法的坐标测量机。该方法包括三个基本的方法步骤。在第一方法步骤中，指定自动化测量程序，其中，该自动化测量程序是基于要在测量程序期间评估的测试特征来指定的。在过程中，使用工件的CAD数据选择工件表面上的几何元素，这些几何元素是测试期望的测试特征所需的。另外，指定了用于扫描相应几何元素的传感器的移动路径。在第二方法步骤中，然后根据测量程序扫描工件。在第三方法步骤中，然后基于在测量程序中记录的测量数据来评估要测试的测试特征，并以未更详细描述的形式将这些要测试的测试特征输出到坐标测量机的用户。这种输出通常以测量方案的形式进行，该测量方案生成为电子文档，例如，PDF文档。WO2014/19130A1披露了一种用于生成测量对象的虚拟图像表示的方法。还已知其中需要测量大体上具有相同形状的工件组的应用，然而，工件在至少一个维度上有所不同。举例来说，此维度可以是总长度。为了测量这种工件组，用户需要在测量器具的软件中不断地改变参数(例如，总长度)或者需要每次都重新测量工件长度。产生了以下技术问题：开发一种用于生成用于测试测量对象或工件的测试计划的方法、程序和装置，该方法、程序和装置简化、更具体地加速测试计划的生成并且因此有助于简化、更具体地加速对测量对象的测量和测试。根据具有独立权利要求1、13和14的特征的主题，技术问题的解决方案显而易见。根据从属权利要求，本专利技术的另外的有利配置显而易见。还不言而喻的是，除非另外指定或显而易见的，否则在介绍性描述中提及的特征也可以在本案披露的解决方案中单独地或以任何期望的组合提供。专利技术人已经认识到，如果对于与已知结构类似或相同的具有相同或类似的测量对象的结构，采用此已知结构的已现有测试特征，则可以减少用于创建测试计划的费用。提出了一种用于生成用于测试测量对象的测试计划的方法，该测量对象可以是例如工件。具体地，可以以电子形式生成测试计划。如上文所解释的，这种测试计划包含要测量的测量对象的至少一个测试特征、优选地多个测试特征或对测试特征进行编码。然后可以基于测试计划来定义要捕获的测量点以及用于通过适当的测量设备、尤其是坐标测量机来测量测量对象的测量程序。用于设置测量点以及用于从测试计划生成测量程序的方法是本领域的技术人员已知的并且不是本专利技术的主题。在第一步骤中，提供表示测量对象的数据记录。这里，此数据记录可以例如从其中存储有数据记录的存储设备中检索。具体地，如果数据记录是目标数据记录(例如，测量对象的CAD数据记录)，则可以实施对数据记录的这种检索。替代性地，还可以生成表示测量对象的数据记录(尤其是通过测量测量对象)。这里，可以通过适当的测量设备、尤其是通过坐标测量机来执行测量。测量对象可以是部件或工件(尤其是已经通过工业制造的部件或工件)、组合件或通用技术系统。可以基于测量测量对象的几何性质来生成数据记录。具体地，数据记录可以包含或定义信息项，这些信息项允许推断出测量对象的对应几何性质或者指定这些几何性质(比如，其外形、轮廓和/或形式)。用于描述这种信息项或性质的合适的数据格式或内容是本领域的技术人员已知的。另外地或作为其替代方案，可以在测量的范围内在预定的坐标系中确认测量对象的取向和/或位置，并且优选地还可以将其保存在数据记录中(或作为另外的数据记录部分)。数据记录通常可以包括不同的子集或部分数据记录，然而，这些子集或数据记录总体上优选地组合关于通过测量获得的测量对象的信息项。可以将不同的测量原理应用于测量(例如，测量对象的触觉捕获或光学捕获)，以生成对应的数据记录。因此，表示测量对象的数据记录可以是目标数据记录或通过测量生成的数据记录。可以通过合适的测量设备和/或合适的测量传感器来执行测量。具有安装在其上的触觉或非接触式测量传感器的坐标测量机是测量设备的示例。测量还可以例如基于三角测量、条纹投影和/或照相机捕获而实现为光学对象测量。另外地或作为其替代方案，可以基于使辐射穿过对象来执行测量，其中，例如可以使用磁辐射和/或X射线辐射。一个示例涉及通过计算机断层扫描(CT)来测量对象。进一步，测量对象可以使用光投影和/或通过投射阴影来测量。在另外的、尤其是第二步骤中，基于数据来设置参考结构。在本披露内容的范围内，术语“基于数据”通常可以意味着使用和/或评估预定或确认的数据(或其至少子集)，以便执行或提示基于该数据的另外的测量。这里，设置可以自动地、半自动地或手动地、尤其是通过用户的适当输入来实施。具体地，基于数据可以意味着在这种情况下的参考结构由数据记录的参考结构特定的集合(子集)表示。然后可以自动地、半自动地或手动地选择此参考结构特定的集合(子集)。举例来说，可以确定数据本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于生成用于测试测量对象(2)的测试计划的方法，/n其中，提供了表示该测量对象(2)的数据记录(DS)，/n其中，基于数据来设置参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)，/n其中，将至少一个参考结构特定的测试特征分配给该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)，其中，针对表示该测量对象(2)的该数据记录(DS)基于数据来测试是否存在与该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)类似或相同的结构(S)，其中，将该参考结构特定的测试特征分配给每个类似或相同的结构(S)作为结构特定的测试特征，/n其中，该测试计划包括由此确定的这些结构特定的测试特征。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于生成用于测试测量对象(2)的测试计划的方法，
其中，提供了表示该测量对象(2)的数据记录(DS)，
其中，基于数据来设置参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)，
其中，将至少一个参考结构特定的测试特征分配给该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)，其中，针对表示该测量对象(2)的该数据记录(DS)基于数据来测试是否存在与该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)类似或相同的结构(S)，其中，将该参考结构特定的测试特征分配给每个类似或相同的结构(S)作为结构特定的测试特征，
其中，该测试计划包括由此确定的这些结构特定的测试特征。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将至少一个几何元素分配给该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)，其中，该参考结构特定的测试特征是基于该至少一个几何元素来确定的。


3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，表示该测量对象(2)的该数据记录(DS)是通过测量相应测量对象(2)来生成的，或者所述数据记录是目标数据记录。


4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，针对表示该测量对象(2)或另外的测量对象的另外的数据记录(DS)基于数据来测试是否存在与该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)类似或相同的结构，其中，将该参考结构特定的测试特征分配给每个类似或相同的结构(S)，
其中，该测试计划包括由此确定的这些测试特征。


5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，该另外的数据记录是通过测量该测量对象(2)或相同种类的测量对象来生成的。


6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，在基于数据测试该另外的数据记录中是否存在与该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)类似或相同的结构(S)期间将预先已知或预先确定的结构特定的位置信息项和/或取向信息项考虑在内。


7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，表示该测量对象(2)的数据记录(DS)是三维数据记录。


8.根据权利要求1到6中任一项所述的方法，其特征在于，表示该测量对象(2)的数据记录(DS)是二维数据记录。


9....

【专利技术属性】
技术研发人员：AC迈尔亚当，S里格，F迈耶，
申请(专利权)人：卡尔蔡司工业测量技术有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE