显示面板调试方法及显示面板技术

本发明专利技术提供一种显示面板的调试方法及显示面板，所述显示面板的调试方法包括获取步骤、第一分析步骤、转化步骤、第二分析步骤、输入步骤、信号转换步骤以及跳频步骤。本发发明专利技术通过面板的同步信号获取噪声的频域以及时域位置，进而在打入驱动波形的时候可以避开噪声在频域与时域位置，可以提高显示面板的信噪比。

【技术实现步骤摘要】
显示面板调试方法及显示面板
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种显示面板调试方法及显示面板。
技术介绍
如图1以及图2所示，目前柔性有源矩阵有机发光二极体(Active-matrixorganiclight-emittingdiode，AMOLED)触控显示屏，大多数为Oncell(将触摸屏嵌入到显示屏的彩色滤光片基板和偏光片之间的方法，即在面板上配触摸传感器)结构；图1中的结构从下至上依次为：阵列基板21，阳极22，显示功能层23，阴极24，薄膜封装层25以及触控层26，其中触控层26中的驱动电极20与感应电极10通常为金属网格(MetalMesh)，并将触控电极(驱动电极20与感应电极10)图案直接制作在柔性AMOLED的薄膜封装层25上表面，同时由于金属网格不透明，因此在设计的时候应将金属网格线路避开下方阵列基板21的R/G/B发光像素点(如图3所示)。一般金属网格触控电极为架桥结构，其中驱动电极20与感应电极10位于同一层上，驱动电极20与感应电极10十字交叉位置电性绝缘，位于感应电极两侧的驱动电极通过导电桥连接在一起，被隔断的TX电极子单元通过导电桥桥连接在一起，其中金属桥同样避开下方的R/G/B发光像素点。在上述方案中，触控电极直接制作在柔性OLED的薄膜封装层的上表面，因此距离面板阴极非常小，只有10um左右。而且驱动电极的驱动波形信号的电压范围在3.3v～12v之间，而感应电极的驱动波形信号的电压范围为1.8v～6v之间；由于触控电极与面板阴极之间的距离非常近，导致触控电极与阴极电极之间的寄生电容(Cp)值较大，同时阵列基板的子像素显示信号容易串扰至触控电极层，形成非常大的信号噪声干扰。由于镂空的金属网格的触控电极本身的有效电极面积比较小，其电容信号量非常小，当遇到大的信号噪声干扰时，容易造成本身就微弱的触控信号无法被感测到，从而导致触控功能失效。触控性能有几项关键指标，其中最关键的一项指标就是信噪比(SNR)，而对于柔性AMOLED来讲，如何提高信噪比是当前急需解决的问题，信噪比(SNR)的高低又与触控固件的调试方法息息相关，其决定了驱动信号的扫描方式以及工作芯片的坐标计算方法。因此，有必要提供一种显示面板调试方法及显示面板，可以提高显示面板的信噪比。
技术实现思路
本专利技术一目的提供一种显示面板调试方法，通过设置一延迟时间，使驱动信号避开噪声，进而可以提高显示面板的信噪比。为了达到上述目的，本专利技术提供一种显示面板的调试方法，包括：获取步骤，量测和抓取一显示面板的触控电极在不同画面下的信号噪声，所述信号噪声由触控电极下方的子像素显示耦合至所述触控电极所产生；第一分析步骤，针对所述信号噪声进行时域波形分析得到多个信号噪声的波形图，并获取所述信号噪声相对应于所述显示面板显示的同步信号的噪声时域；转化步骤，将所述多个信号噪声的波形图分析并转化成相应的频谱图；第二分析步骤，根据所述频谱图定量分析得到所述多个信号噪声的频点位置；输入步骤，输入一预设的驱动波形至所述触控电极，并在所述同步信号对应所述噪声位置设置一延迟时间，所述延迟时间用以使驱动波形的起始点在某一帧显示时间内且避开所述噪声时域，其中，所述驱动波形的频率避开所述信号噪声的频点。进一步地，所述第一分析步骤具体包括：采集步骤，根据不同显示电压跳转的画面采集信号噪声的波形图；第三分析步骤，查看所述信号噪声的波形图中电压幅度，并找出大于一电压阈值的尖峰；抓取步骤，抓取所述尖峰相对应于显示面板显示的同步信号的噪声时域；进一步地，所述电压阈值的范围为300～500mv；和/或，所述同步信号包括水平同步信号和垂直同步信号。进一步地，所述尖峰对应所述同步信号的上升沿和下降沿的时间差；所述尖峰的周期与所述同步信号的周期呈正相关。进一步地，所述输入步骤中，若在所述某一帧显示时间内，噪声出现的时间无法满足打入完整的所述驱动波形所需的时间时，则所述显示面板的调试方法还包括：信号转换步骤，将时域噪声信号转换成频域噪声信号；跳频步骤，将芯片的工作频点切换至一噪声较小工作频点进行工作。进一步地，所述输入步骤中，若在所述某一帧显示时间内，噪声出现的时间无法满足输入完整的所述驱动波形所需的时间时，则所述显示面板的调试方法还包括：设置步骤，将所述驱动波形设置成包含有多个不同的频率波形的集合。进一步地，所述驱动波形的工作频率范围在200Khz～300Khz之间。进一步地，所述驱动波形包括：自感应信号和共有感应信号；所述自感应信号包括连续的方波或正弦波；所述共有感应信号包括连续的方波或正弦波；所述共有感应信号的波形电压大于所述自感应信号的波形电压。进一步地，所述自感应信号的电压范围为0～3.3v；所述共有应信号的电压范围为6～12v。本专利技术的另一目的提供一种显示面板，其中，所述显示面板采用的制备方法包括所述的显示面板的调试方法进行调试。本专利技术的有益效果是：本专利技术显示面板及其调试方法通过获取噪声的频域以及时域位置，进而在打入驱动波形的时候可以避开噪声在频域与时域位置，可以提高显示面板的信噪比。附图说明下面结合附图，通过对本专利技术的具体实施方式详细描述，将使本专利技术的技术方案及其它有益效果显而易见。图1为现有技术显示面板的结构图。图2为现有技术触控电极图案的示意图。图3为现有技术触控电极走线与显示像素的示意图。图4为本专利技术一实施例提供的显示面板的调试方法的流程图。图5为本专利技术一实施例提供的显示面板的调试方法中第一分析步骤的流程图。图6为本专利技术一实施例提供的设置延迟时间的示意图。图7为本专利技术一实施例提供的驱动信号的波形图。图8为本专利技术另一实施例提供的显示面板的调试方法的流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本专利技术的不同结构。为了简化本专利技术的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本专利技术。此外，本专利技术可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本专利技术提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。如图4所示，本专利技术一实施例提供一种显示面板的调试方法，本专利技术通过获取噪声的频域以及时域位置，进而在打入驱动波形的时候可以避开噪声在频域与时域位置，可以提高显示面板的信噪比。所述显示面板的调试方法包括如下步骤S1～S7。S1、获取步骤，量测和抓取一显示面板的触控电极在不同画面下的信号噪声，所述信号噪声由触控电极下本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板的调试方法，其特征在于，包括：/n获取步骤，量测和抓取一显示面板的触控电极在不同画面下的信号噪声，所述信号噪声由触控电极下方的子像素显示耦合至所述触控电极所产生；/n第一分析步骤，针对所述信号噪声进行时域波形分析得到多个信号噪声的波形图，并获取所述信号噪声相对应于所述显示面板显示的同步信号的噪声时域；/n转化步骤，将所述多个信号噪声的波形图分析并转化成相应的频谱图；/n第二分析步骤，根据所述频谱图定量分析得到所述多个信号噪声的频点位置；/n输入步骤，输入一预设的驱动波形至所述触控电极，并在所述同步信号对应所述噪声位置设置一延迟时间，所述延迟时间用以使驱动波形的起始点在某一帧显示时间内且避开所述噪声时域，其中，所述驱动波形的频率避开所述信号噪声的频点。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的调试方法，其特征在于，包括：
获取步骤，量测和抓取一显示面板的触控电极在不同画面下的信号噪声，所述信号噪声由触控电极下方的子像素显示耦合至所述触控电极所产生；
第一分析步骤，针对所述信号噪声进行时域波形分析得到多个信号噪声的波形图，并获取所述信号噪声相对应于所述显示面板显示的同步信号的噪声时域；
转化步骤，将所述多个信号噪声的波形图分析并转化成相应的频谱图；
第二分析步骤，根据所述频谱图定量分析得到所述多个信号噪声的频点位置；
输入步骤，输入一预设的驱动波形至所述触控电极，并在所述同步信号对应所述噪声位置设置一延迟时间，所述延迟时间用以使驱动波形的起始点在某一帧显示时间内且避开所述噪声时域，其中，所述驱动波形的频率避开所述信号噪声的频点。


2.如权利要求1所述的显示面板的调试方法，其特征在于，
所述第一分析步骤具体包括：
采集步骤，根据不同显示电压跳转的画面采集信号噪声的波形图；
第三分析步骤，查看所述信号噪声的波形图中电压幅度，并找出大于一电压阈值的尖峰；
抓取步骤，抓取所述尖峰相对应于所述显示面板显示的同步信号的噪声时域。


3.如权利要求2所述的显示面板的调试方法，其特征在于，
所述电压阈值的范围为300～500mv；和/或，
所述同步信号包括水平同步信号和垂直同步信号。


4.如权利要求2所述的显示面板的调试方法，其特征在于，
所述尖峰对应所述同步信号的上升沿和下降沿的时间差；<...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶剑，
申请(专利权)人：武汉华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42