一种检验芯片功能是否正常的检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种检验芯片功能是否正常的检测装置，所述检测装置包括:位于待测芯片和两个USB连接器之间的以GPIO设置的一开关；所述的GPIO开关通过数据线将待测芯片的两个引脚分别与两个USB连接器连接；所述待测芯片的两个引脚分别为USB_D+和USB_D‑两根差分线；所述的两个USB连接器分别为连接PC的第一USB连接器和连接U盘的第二USB连接器；所述两个USB连接器分别各有两个引脚引出的两根数据线能够与所述GPIO开关中的第一位置或第二位置相连接，通过控制GPIO开关决定连通两个USB连接器中的一个；当开关打到第一位置时，连通待测芯片与第一USB连接器进而通过数据线与PC连接，当开关打到第二位置时，连通待测芯片与第二USB连接器进而与U盘连接。本实用新型专利技术的结构简单。

【技术实现步骤摘要】
一种检验芯片功能是否正常的检测装置
本技术涉及芯片检测领域，特别涉及一种检验芯片功能是否正常的检测装置。
技术介绍
随着科技的发展，芯片的应用越来越广泛。在芯片制作过程中，每一个芯片在出厂前都要进行功能测试,其中芯片要放到系统功能测试板进行功能测试，测试芯片的USB功能时，通常是将USB_D+和USB_D-连接到USBconnector，再通过USBcable与PC机连接，PC机作为host(主设备)，芯片作为slave(外设)，测试芯片和PC机通讯是否正常来验证芯片的USB功能。如图1所示。然而，USBOTG设备不管是做host还是slave，传输数据都是用USB_D+和USB_D-这两根差分数据线，上述测试方案是芯片接PC机测试，PC机是host，芯片是slave，测试芯片和PC机通讯，来验证芯片作为slave的功能是否正常。而对于支持USBOTG功能的芯片，还要测试芯片的host功能，需要接一个U盘作为slave，但是芯片测试在系统功能测试机上是自动化测试，不可能人工手动去插入U盘测试，这就导致芯片作为host与slave(比如U盘)的通讯功能在系统功能测试机的自动化测试情况下测不到，无法验证芯片的host功能。现有技术中的常用术语如下：USBOTG：USBOTG是USBOn-The-Go的缩写，是USB2.0标准的补充。USB设备通讯时一般分为(HOST)主设备(通常是PC机)和从设备(SLAVE),只有当一台HOST与一台SLAVE连接时才能实现数据的传输，两个外设之间的数据交换必须通过HOST(PC机)中转才能完成，效率较低，不大方便。而USBOTG技术可以使手机等USB设备，从传统认知的USB从设备(SLAVE)变为USB主机，例如手机可以和U盘直接连接，把手机中的照片存储到U盘里。同时让支持OTG的USB设备仍然可以作为传统USB设备使用。USBOTG设备就是既能充当主设备(HOST)，亦能充当从设备(SLAVE)。USB_D+,USB_D-:差分数据线，数据通过这两根数据线在设备间传输。系统功能测试板：测试芯片各种功能的测试板。系统功能测试机：系统功能测试板固定在测试机上，测试机通过机械手抓取芯片，然后把芯片放进测试板上的socket里进行芯片测试，测试结束后，机械手再从socket里抓取芯片放回tray盘，然后抓取下一颗芯片进行测试。SOCKET：一种BGA封装芯片测试装置，里面有和芯片锡球数量相同的探针，芯片放到里面，探针一端和芯片的锡球接触，另一端和测试板上的焊盘接触，通过外力下压芯片，芯片的锡球通过探针和测试板的焊盘连接，就相当于芯片焊接到了板子上。BGA封装：BallGridArrayPackage，球栅阵列封装，是一种芯片封装形式。DUT：Device–Under–Test的简称，即为接受检测设备。
技术实现思路
为了解决现有技术中的问题，本技术的目的在于：针对上述USBOTG功能测试不完全，提出一种检测装置在系统功能测试机自动化测试时，解决USBhost功能没有测试到的问题。具体地，本技术提供一种检验芯片功能是否正常的检测装置，所述检测装置包括:两个USB连接器；位于待测芯片和两个USB连接器之间设置的GPIO作为的一开关；所述的开关通过数据线将待测芯片的两个引脚分别与两个USB连接器连接；所述待测芯片的两个引脚分别为USB_D+和USB_D-两根差分线；所述的两个USB连接器分别为连接PC的第一USB连接器和连接U盘的第二USB连接器；所述两个USB连接器分别各有两个引脚引出的两根数据线能够与所述GPIO开关中的第一位置或第二位置相连接，通过控制所述的开关决定连通两个USB连接器中的一个；当开关打到第一位置时，连通待测芯片与第一USB连接器进而通过数据线与PC连接，当开关打到第二位置时，连通待测芯片与第二USB连接器进而与U盘连接。所述GPIO开关为数据线连接的两个单刀双掷开关。所述的第二USB连接器进而与U盘连接是指U盘插入第二USB连接器。所述GPIO开关能够通过程序配成输出口，并由GPIO输出高低电平来决定开关打开的方向进而确定是位于第一位置或是第二位置。由此，本申请的优势在于：本技术的结构简单，只需要在旧有设备中增加一GPIO作为开关以及两个USB连接器，通过GPIO与两个USB连接器连接并通过控制GPIO开关的切换方向，即可实现USBOTG作为host和slave两种角色的测试，满足了芯片自动化测试的要求。附图说明此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本技术的限定。图1是现有技术中芯片检测设备的示意图。图2是本技术的具体实施例的示意图。具体实施方式为了能够更清楚地理解本技术的
技术实现思路
及优点，现结合附图对本技术进行进一步的详细说明。如图2所示，本技术提供了一种检验芯片功能是否正常的检测装置，所述检测装置包括:两个USB连接器；位于待测芯片和两个USB连接器之间的一GPIO开关；所述的GPIO开关通过数据线将待测芯片的两个引脚分别与两个USB连接器连接；所述待测芯片的两个引脚分别为USB_D+和USB_D-两根差分线；所述的两个USB连接器分别为连接PC的第一USB连接器和连接U盘的第二USB连接器；所述两个USB连接器分别各有两个引脚引出的两根数据线能够与所述GPIO开关中的第一位置或第二位置相连接，通过控制GPIO开关决定连通两个USB连接器中的一个；当开关打到第一位置时，连通待测芯片与第一USB连接器进而通过数据线与PC连接，当开关打到第二位置时，连通待测芯片与第二USB连接器进而与U盘连接。所述GPIO开关为数据线连接的两个单刀双掷开关。所述的第二USB连接器进而与U盘连接是指U盘插入第二USB连接器。所述GPIO开关能够通过程序配成输出口，并由GPIO输出高低电平来决定开关打开的方向进而确定是位于第一位置或是第二位置。当开关打到第一位置时，所述的USB_D+和USB_D-两根差分线接到第一USB连接器，通过USB数据线与PC机连接，PC机做host，芯片做slave，测试芯片和PC通讯，验证芯片作为slave功能是否正常；芯片的slave功能测试结束后，通过GPIO的电平变化，所述开关打到第二位置，所述的USB_D+和USB_D-两根差分线接到第二USB连接器，U盘插入第二USB连接器里，芯片作为host，U盘作为slave，测试芯片和U盘通讯，验证芯片作为host功能是否正常。本技术也可以按如下方式解释为：本技术方案是在两根数据线到USB连接器之间加一个开关，通过程序将一个GPIO(GeneralPurposeInput/Outputpin,通用输入输出引脚)配成输出口，由GPIO输出高低电平来决定开关打开的方向，中间方框部分是两个单刀双掷开关，当开关打到黑色实线开本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检验芯片功能是否正常的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括:两个USB连接器；位于待测芯片和两个USB连接器之间设置为GPIO的一开关；所述的开关通过数据线将待测芯片的两个引脚分别与两个USB连接器连接；所述待测芯片的两个引脚分别为USB_D+和USB_D-两根差分线；所述的两个USB连接器分别为连接PC的第一USB连接器和连接U盘的第二USB连接器；所述两个USB连接器分别各有两个引脚引出的两根数据线能够与所述GPIO开关中的第一位置或第二位置相连接，通过控制所述的开关决定连通两个USB连接器中的一个；当开关打到第一位置时，连通待测芯片与第一USB连接器进而通过数据线与PC连接，当开关打到第二位置时，连通待测芯片与第二USB连接器进而与U盘连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种检验芯片功能是否正常的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括:两个USB连接器；位于待测芯片和两个USB连接器之间设置为GPIO的一开关；所述的开关通过数据线将待测芯片的两个引脚分别与两个USB连接器连接；所述待测芯片的两个引脚分别为USB_D+和USB_D-两根差分线；所述的两个USB连接器分别为连接PC的第一USB连接器和连接U盘的第二USB连接器；所述两个USB连接器分别各有两个引脚引出的两根数据线能够与所述GPIO开关中的第一位置或第二位置相连接，通过控制所述的开关决定连通两个USB连接器中的一个；当开关打到第一位置时，连通待测芯片与第一USB连接器进而通过数据线与PC连接，当开关打到第二位置时，连通待测芯片与第二USB连接器进而与U盘连接。


2.根据权利要求1所述的一种检验芯片功能是否正常的检测装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：任科飞，
申请(专利权)人：北京君正集成电路股份有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11