【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种反射膜,其特征在于膜系结构为:基材/N1/N2/N1/Ag/Al,其中介质层N1相对于介质层N2具有较高的折射率,反射面为前表面结构。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:许生,胡云慧,高涵达,梁锐生,
申请(专利权)人:深圳豪威真空光电子股份有限公司,
类型:实用新型
国别省市:94[中国|深圳]
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