光学机构调整测试板制造技术

一种光学机构调整测试板，由片状基板［１］构成，其基板［１］正面设有光学机构校验样板图形［２］以及测试板的定位标记［３］，所述定位标记［３］由至少三个相同的十字形构成，三个十字形分布在同一平面内其中心连线构成三角形，其特征在于：十字形的边缘上设有等分的齿形［４］结构构或等分的孔形［５］结构。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及扫描仪、数码相机等光学影像产品的一种光学机构调整校验工具，具体涉及上述产品调整校验光学机构时所使用的一种光学测试板。
技术介绍
光机头是扫描仪的核心，其光学效果好坏不仅与各光学影像部件有关，而且与装配、调测等工艺有关。从某种程度上讲，光机头装配后的光学调整非但不可缺少，而且相当重要，因为这种调整最直接的效果是发挥其最高光学性能。光机头主要由光头架、镜头和CCD/B光电耦合器等组成，装配时镜头插装在光头架的镜头孔中，CCD/B光电耦合器安装在镜头成像位置上，从而构成光机头组件。当光机头组装完成后需要用OMA-光学机构调整器具对其MTF值进行检测，而这种测试设备上设有光学测试板。一般情况下在进行OMA作业前需要对其设备上的光学测试板位置进行校验，以确定该位置的正确性。以往校验方式一般采用专用校验铁块进行定位，但由于测试板上的定位标记为三个相同的十字形，确定位置时通过目视，凭借经验估计偏差，无法精确读取位置偏差的数据，故难以调整测试板相对OMA校验器具的位置偏差到一个很准确的位置，同时因无法读取精确数据，也无法采用OMA软体方式进行位置修正。为此，本技术设计了一种适合采用放大镜观察读数，而且校验精确的测试板，以快速有效的方式简化校验操作。
技术实现思路
为达到上述目的，本技术采用的技术方案是一种光学机构调整测试板，由片状基板构成，其基板正面设有光学机构校验样板图形以及测试板的定位标记，所述定位标记由至少三个相同的十字形构成，三个十字形分布在同一平面内其中心连线构成三角形，十字形的边缘上设有等分的齿形结构或等分的孔形结构。上述技术方案的有关内容和变化解释如下1、所述“样板图形”是测试板上用于校验光学机构的一种标准图形，它随着产品和要求的不同而变化。所述“定位标记”是指专门用来校正和确定测试板相对光学调整治具(OMA治具)位置的平面或立体形状。当定位标记为平面形状时主要是指平面几何形状；当定位标记为立体形状时，主要是指凹凸的几何形状。测试板上所设的定位标记从数量上至少要三个，而且三个布置在一个平面内，而不能布置在一条直线上，其原因是测试板的定位是平面定位，而三点定位可以确定一个平面的位置。所述“等分”的概念是指至少所做的分割是等间距的。2、上述技术方案中，当十字形的边缘上设有等分的齿形时，齿形较好地方案为矩形，而且齿宽与齿间距相等。其中以正方形作为齿形，而且齿宽等于齿间距为最佳方案。3、上述技术方案中，当十字形的边缘上设有等分的孔形时，孔形较好地方案为矩形，而且孔宽与孔间距相等。其中以正方形作为孔形，而且孔宽等于孔间距为最佳方案。本技术工作原理是将测试板上原来的十字形定位标记的边缘上设计成带有等分性质的几何齿形或孔形，并将齿形或孔形的宽度和间距按一定尺寸确定下来作为刻度来表示，比如每格刻度为0.05mm或0.1mm等，参见附图4所示，因此在测试板定位时，由于十字形定位标记标有刻度型几何图形，外加校验块(GAUGE)以及放大镜的配合，可以对测试板的定位偏差进行校验和准确读数，快速有效地对测试板进行精确定位。由于上述技术方案运用，本技术与现有技术相比具有下列优点1、本技术在校验和定位时可以在校验块(GAUGE)和放大镜的配合下准确读出位置偏差数值，为进一步校正提供准确依据。2、本技术由于能够目视观察位置偏差读数，因此可以采用OMA软体方式进行位置修正。3、本技术定位时精度高，结构简单，以快速有效的方式简化校验操作，从而获得了突出的效果，为提高光机头调测效率发挥了积极作用。附图说明附图1为本技术测试板平面图；附图2为齿型十字定位标记示意图；附图3为孔型十字定位标记示意图；附图4为本技术测试板定位原理图。以上附图中1、基板； 2、样板图形； 3、定位标记； 4、齿形； 5、孔形。具体实施方式以下结合附图及实施例对本技术作进一步描述实施例一参见附图1、图2所示，一种光学机构调整测试板，由长方形条状基板1构成，其基板1正面设有光学机构校验样板图形2以及测试板的定位标记3，所述定位标记3由三个相同的十字形构成，其中一个布置在条状基板1的一端，另两个布置在条状基板1的另一端，三个十字形为平面几何形状并处于基板1正面的同一平面内其中心连线构成三角形，十字形的每条侧边的边缘上设有5个等分的齿形4，齿形4为正方形而且齿宽与齿间距相等，其尺寸为0.05mm。实施例二参见附图1、图3所示，一种光学机构调整测试板，由长方形条状基板1构成，其基板1正面设有光学机构校验样板图形2以及测试板的定位标记3，所述定位标记3由三个相同的十字形构成，其中一个布置在条状基板1的一端，另两个布置在条状基板1的另一端，三个十字形为平面几何形状并处于基板1正面的同一平面内其中心连线构成三角形，十字形的每条侧边的边缘上设有5个等分的孔形5，孔形5为正方形而且齿宽与齿间距相等，其尺寸为0.05mm。权利要求1.一种光学机构调整测试板，由片状基板构成，其基板正面设有光学机构校验样板图形以及测试板的定位标记，所述定位标记由至少三个相同的十字形构成，三个十字形分布在同一平面内其中心连线构成三角形，其特征在于十字形的边缘上设有等分的齿形结构构或等分的孔形结构。2.根据权利要求1所述的光学机构调整测试板，其特征在于所述齿形为矩形，而且齿宽与齿间距相等。3.根据权利要求2所述的光学机构调整测试板，其特征在于所述齿形为正方形。4.根据权利要求1所述的光学机构调整测试板，其特征在于所述孔形为矩形，而且孔宽与孔间距相等。5.根据权利要求4所述的光学机构调整测试板，其特征在于所述孔形为正方形。专利摘要一种光学机构调整测试板，由片状基板构成，其基板正面设有光学机构校验样板图形以及测试板的定位标记，所述定位标记由至少三个相同的十字形构成，三个十字形分布在同一平面内其中心连线构成三角形，其特征在于十字形的边缘上设有等分的齿形结构或等分的孔形结构。所述齿形或孔形最好为正方形，而且齿宽与齿间距相等。本方案将原来的十字形定位标记的边缘上设计成带有等分性质的几何齿形或孔形，并按一定尺寸确定下来作为刻度来表示，如每格为0.05mm，因此定位时在校验块(GAUGE)以及放大镜的配合，可以对测试板的定位偏差进行准确读数，以快速有效地进行精确定位。文档编号G02B27/62GK2556672SQ0226346公开日2003年6月18日 申请日期2002年7月29日 优先权日2002年7月29日专利技术者余陆青 申请人:力捷电脑(中国)有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：余陆青，
申请(专利权)人：力捷电脑中国有限公司，
类型：实用新型
国别省市：